Δ e (k) - Δ e (k_l) ] ; (5)
[0097] Δ e (k) = e (k) _e (k_l) ; (6)
[0098] e(k) = I ASOA-0.0 11 ； (7)
[0099] Δ SOA表示差值绝对值；
[0100] k表示最新一次调整对应的结果，k-1表示相邻前一次调整对应的结果；
[0101] Kp、Ki、Kd分别表示训练得到的比例、积分、微分系数。
[0102] 上述各公式中的相关初始取值的设置方式可参照前述装置实施例中的相应说明， 此处不再赘述。
[0103] 综上所述，以上仅为本发明的较佳实施例而已，并非用于限定本发明的保护范围。 凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的 保护范围之内。
【主权项】
1. 一种X射线成像装置，其特征在于，包括：图像采集模块、图像质量评价模块以及反 馈控制模块； 所述图像采集模块，用于当每次接收到所述反馈控制模块发送来的电压值时，按照最 新接收到的电压值对待测物体进行图像采集，并将采集到的图像发送给所述图像质量评价 丰吴块； 所述图像质量评价模块，用于当每次接收到所述图像采集模块发送来的图像时，确定 出最新接收到的图像的质量评价值，并将该质量评价值发送给所述反馈控制模块； 所述反馈控制模块，用于当每次接收到所述图像质量评价模块发送来的质量评价值 时，根据最新接收到的质量评价值确定出是否需要进行电压值调整，如果是，则进一步确定 出调整后的电压值，并将该电压值发送给所述图像采集模块。2. 根据权利要求1所述的装置，其特征在于， 所述图像质量评价模块中包括：提取单元和评价单元； 所述提取单元，用于按照预定的位置要求，从最新接收到的图像中提取出一幅子图像， 并将该子图像发送给所述评价单元； 所述评价单元，用于计算出最新接收到的子图像的线性散布度和平均对比度，并根据 线性散布度和平均对比度进一步计算出质量评价值，将该质量评价值发送给所述反馈控制 模块。3. 根据权利要求2所述的装置，其特征在于， 所述线性散布度其中，n表示每幅子图像中包括的像素点数； Ik(i)表示最新接收到的子图像Ik中任一坐标位置的像素点i的灰度值； 工^⑴表示相邻前一次接收到的子图像Ih中、相同坐标位置的像素点i的灰度值；P#P2分别表示根据所构成的灰度点分布图拟合出的直线系数； 灰度点分布图中共包括n个坐标点，每个坐标点i分别对应一个像素点i，且坐标点i的横坐标为Ih(i)，坐标点i的纵坐标为Ik(i)。4. 根据权利要求2所述的装置，其特征在于， 所述平均对比度其中，G_表示最新接收到的子图像中的各像素点的灰度值中的最大值； Gmin表示最新接收到的子图像中的各像素点的灰度值中的最小值； Ga表示最新接收到的子图像中的各像素点的灰度值的平均值。5. 根据权利要求2所述的装置，其特征在于， 所述质量评价值其中，Vld表示线性散布度； AC表示平均对比度；a和0表示设定的评价系数。6. 根据权利要求1~5中任一项所述的装置，其特征在于， 所述反馈控制模块中包括：第一控制单元和第二控制单元； 所述第一控制单元，用于计算出最新接收到的质量评价值与相邻前一次接收到的质量 评价值的差值绝对值，并将该差值绝对值与预定目标值进行比较，如果大于目标值，则确定 需要进行电压值调整，并将该差值绝对值发送给所述第二控制单元； 所述第二控制单元，用于根据最新接收到的差值绝对值确定出调整后的电压值，并将 该电压值发送给所述图像采集模块。7. 根据权利要求6所述的装置，其特征在于， 所述目标值为0.01 ; 所述调整后的电压值u(k) =u(k-l) +Au(k); 其中，Au(k) =KpAe(k)+Kie(k)+Kd[Ae(k)-Ae(k_l)]; A e (k) =e(k)-e(k-l)；e(k) = | ASOA-0.0 11； ASOA表示差值绝对值； k表示最新一次调整对应的结果，k-1表示相邻前一次调整对应的结果； Kp、Ki、Kd分别表示训练得到的比例、积分、微分系数。8. -种X射线成像方法，其特征在于，包括： 针对待测物体，进行以下处理： A、 按照最新调整后的电压值对待测物体进行图像采集； B、 确定出最新采集到的图像的质量评价值； C、 根据最新确定出的质量评价值确定出是否需要进行电压值调整，如果是，则进一步 确定出调整后的电压值，之后重复执行步骤A，否则，结束处理。9. 根据权利要求8所述的方法，其特征在于， 所述确定出最新采集到的图像的质量评价值包括： 按照预定的位置要求，从最新采集到的图像中提取出一幅子图像； 计算出最新提取出的子图像的线性散布度和平均对比度，并根据线性散布度和平均对 比度进一步计算出质量评价值。10. 根据权利要求9所述的方法，其特征在于， 所述线性散布度其中，n表示每幅子图像中包括的像素点数； Ik(i)表示最新接收到的子图像Ik中任一坐标位置的像素点i的灰度值； 工^⑴表示相邻前一次接收到的子图像Ih中、相同坐标位置的像素点i的灰度值；P#P2分别表示根据所构成的灰度点分布图拟合出的直线系数； 灰度点分布图中共包括n个坐标点，每个坐标点i分别对应一个像素点i，且坐标点i的横坐标为Ih(i)，坐标点i的纵坐标为Ik(i)。11. 根据权利要求9所述的方法，其特征在于， 所述平均对比度其中，G_表示最新接收到的子图像中的各像素点的灰度值中的最大值； Gmin表示最新接收到的子图像中的各像素点的灰度值中的最小值； Ga表示最新接收到的子图像中的各像素点的灰度值的平均值。12. 根据权利要求9所述的方法，其特征在于， 所述质量评价值其中，Vld表示线性散布度； AC表示平均对比度；a和0表示设定的评价系数。13. 根据权利要求8~12中任一项所述的方法，其特征在于， 所述根据最新确定出的质量评价值确定出是否需要进行电压值调整包括： 计算出最新确定出的质量评价值与相邻前一次确定出的质量评价值的差值绝对值，并 将该差值绝对值与预定目标值进行比较，如果大于目标值，则确定需要进行电压值调整； 所述确定出调整后的电压值包括：根据最新计算出的差值绝对值确定出调整后的电压 值。14. 根据权利要求13所述的方法，其特征在于， 所述目标值为0.01 ; 所述调整后的电压值u(k) =u(k-l) +Au(k); 其中，Au(k) =KpAe(k)+Kie(k)+Kd[Ae(k)-Ae(k_l)]; A e (k) =e(k)-e(k-l)；e(k) = | ASOA-0.0 11； ASOA表示差值绝对值； k表示最新一次调整对应的结果，k-1表示相邻前一次调整对应的结果； Kp、Ki、Kd分别表示训练得到的比例、积分、微分系数。
【专利摘要】本发明公开了一种X射线成像装置，包括：图像采集模块，用于当每次接收到反馈控制模块发送来的电压值时，按照最新接收到的电压值对待测物体进行图像采集，并将采集到的图像发送给图像质量评价模块；图像质量评价模块，用于当每次接收到图像采集模块发送来的图像时，确定出最新接收到的图像的质量评价值，并将该质量评价值发送给反馈控制模块；反馈控制模块，用于当每次接收到图像质量评价模块发送来的质量评价值时，根据最新接收到的质量评价值确定出是否需要进行电压值调整，如果是，则进一步确定出调整后的电压值，并将该电压值发送给图像采集模块。本发明同时公开了一种X射线成像方法。应用本发明所述方案，能够提高成像效率。
【IPC分类】A61B6/00
【公开号】CN104983436
【申请号】CN201510278903
【发明人】陈平, 韩焱, 赵康, 潘晋孝, 王黎明, 苏新彦
【申请人】中北大学
【公开日】2015年10月21日
【申请日】2015年5月27日