技术总结
本发明提供一种OLED驱动薄膜晶体管的K值侦测方法，该方法通过设置数据信号提供两不同的数据电压，使得驱动薄膜晶体管形成两不同的栅源极电压，再通过外部的侦测处理电路分别侦测在该两不同的栅源极电压下流过驱动薄膜晶体管的电流，中央处理器通过两栅源极电压、两电流数据、以及以驱动薄膜晶体管电流公式为基础的计算公式计算得出OLED驱动薄膜晶体管的K值，能够准确获取OLED显示器件中每个像素的驱动薄膜晶体管的K值，改善OLED驱动薄膜晶体管的K值补偿效果，提升OLED显示品质。
技术研发人员：王利民;黄泰钧;梁鹏飞
受保护的技术使用者：深圳市华星光电技术有限公司
文档号码：201611247314
技术研发日：2016.12.29
技术公布日：2017.03.22