环状体、环状体张紧装置和成像设备的制作方法

文档序号:2817876阅读:252来源:国知局

专利名称::环状体、环状体张紧装置和成像设备的制作方法
技术领域
:本发明涉及环状体、环状体张紧装置和成像设备。
背景技术
:在使用电子照相方式的成像装置中,在作为包含无机或有机材料的光导电性感光体的图像保持体上形成均匀电荷,利用由图像信号调制的激光形成静电潜像,并用带电的调色剂使静电潜像显影从而获得可视化的调色剂图像。之后,通过经由中间转印体或者直接地将调色剂图像静电转印至诸如记录纸等转印材料上,得到所要的再生图像。特别是,已知有日本特开昭62-206567号公报中公开的装置作为采用下述方式的成像装置将图像保持体上形成的调色剂图像一次转印至中间转印体,进而将中间转印体上的调色剂图像二次转印至记录纸。作为用于采用中间转印方式的成像装置的材料,己经提出使用环带,其中将导电性赋予下述热塑性树脂,例如聚碳酸酯树脂(特开平6-095521号公报)、PVDF(聚偏二氟乙烯,特开平5-200904号公报和特开平6-228335号公报)、聚邻苯二甲酸亚垸基酯(特开平6-149081号公报)、PC(聚碳酸酯yPAT(聚对苯二甲酸亚垸基酯)的混合材料(特开平6-149083号公报)或ETFE(乙烯四氟乙烯共聚物)/PC、ETFE/PAT或PC/PAT的混合材料(特开平6-149079号公报)。此外,作为用于采用中间转印方式的成像装置的带材料,特开平9-305038号公报和特开平10-240020号公报中已经提出了包含增强材料的弹性带,所述增强材料通过层积诸如聚酯等织物和弹性部件而获得。作为可用于该中间转印带或转印传送带的半导电性带,例如,在特开平5-77252号公报和特开平10-63115号公报中已经提出了通过将导电性填料分散在具有优异的机械性质或耐热性的聚酰亚胺树脂中而得到的中间转印带。作为单层聚酰亚胺带,在很多情况中使用下述带,所述带包含3,3',4,4'-联苯四羧酸二酐、对苯二胺和作为聚合物的聚酰胺酸(U-Vamish-S)作为聚酰亚胺树脂的原料,并且其中分散有低成本和环境变动较小的炭黑。特开2001-265135号公报公开了对带的内表面进行导电化处理的方法。此外,特开平10-226028号公报、特开2002-283368号公报和特开2003-277522号公报中公开了具有外表面和内表面的单层带,所述内外表面例如通过沿着带的厚度方向逐渐改变带的材料的电阻率而具有不同的表面电阻率。
发明内容通常,当由于纸的种类、环境、使用方式等改变所致而在转印过程中发生放电时,过大的电压瞬间施加于中间转印带,并且中间转印带的电阻急剧降低,这会导致大电流流过。因此,调色剂的电荷逆转,导致图像上出现由调色剂形成的白点。尽管在诸如办公用途等用途中发生放电时白点的尺寸可能较小,不过在需要高图像品质的诸如印刷市场或图形艺术等用途中发生放电时白点的尺寸可能会变大。己知针对该现象的解决方案在于增大中间转印带的体积电阻率。不过,增大体积电阻率时,在二次转印位置从支撑辊在中间转印带的内表面发生放电,导致形成薄片状图案。考虑到上述现象,本发明提供一种抑制在中间转印带的内表面发生放电的环状体。也就是,本发明的示例性实施方式的一个方面是<1〉一种环状体,所述环状体具有包括基材层的内表面,所述基材层包含树脂和导电剂,并且所述内表面包含炭化区域。本发明的示例性实施方式<1>的另一个方面是<2>:<1>的环状体,其中,所述炭化区域通过对所述环状体的所述内表面进行导电处理而形成。本发明的示例性实施方式<1〉的另一个方面是<3>:<1>的环状体,其中,所述环状体的所述内表面的表面电阻率为约1x1011Q/口约1x1013Q/口,并且所述环状体的所述内表面的表面电阻率比所述环状体的外表面的表面电阻率低约0.51ogQ/口约2.01ogQ/口。本发明的示例性实施方式<1>的另一个方面是<4>:<1>的环状体,其中,所述炭化区域的厚度为约10pm以下。本发明的示例性实施方式<1>的另一个方面是<5>:<1>的环状体,其中,所述炭化区域的厚度为约0.1nrn约7.0pm。本发明的另一个示例性实施方式的一个方面是<6>,一种环状体张紧装置,所述装置包括<1><5>中任一项的环状体;和利用张力从所述环状体的内周面侧外推所述环状体的张紧单元。本发明的另一个示例性实施方式的一个方面是<7〉,一种成像设备,所述成像设备包括图像保持单元;充电单元,该单元用于对所述图像保持单元的表面充电;潜像形成单元,该单元用于在所述图像保持单元的表面上形成潜像;显影单元,该单元用于将所述潜像显影为调色剂图像;一次转印单元,该单元用于将所述调色剂图像转印至中间转印体;二次转印单元,该单元用于将所述调色剂图像从所述中间转印体转印至记录介质;和定影单元,该单元用于将所述调色剂图像定影在所述记录介质上,所述中间转印体是<1><5>中任一项的环状体。本发明的又一个示例性实施方式的一个方面是<8>,一种<1><5>中任一项的环状体的形成方法,所述方法包括通过对所述环状体的内表面进行导电处理而形成炭化区域。本发明的示例性实施方式<8>的另一个方面是<9>:<8>的方法,其中,对所述环状体的所述内表面的所述导电处理包括使纸与所述环状体的所述内表面接触从而为所述环状体提供电场。根据<1>,可以抑制在内表面发生的放电。根据<2〉,在调整表面电阻率的同时可以容易地形成炭化区域。根据<3>,可以更有效地抑制在内表面发生的放电。根据<4>,可以抑制在炭化区域和其他区域之间的边界(炭化区域和其他区域的界面)处发生的电荷蓄积。根据<5>,可以更确定地抑制在炭化区域和其他区域的边界(炭化区域和其他区域的界面)处发生的电荷蓄积。根据<6>,可以形成已经抑制了薄片状图案生成的图像。根据<7>,可以更有效地抑制在内表面发生的放电。根据<8>,在控制表面电阻率的同时可以容易地形成炭化区域。根据<9>,可以更加容易地形成炭化区域。下面,将参考下列附图对本发明的示例性实施方式进行详细说明,其中图1是描述根据本发明的一个方面的一个示例性实施方式的中间转印带的示意性构成图2是描述图1的中间转印带的截面示意图3A是描述圆形电极的一个实例的平面示意图,图3B是其截面示意图4是说明对中间转印带的内表面进行导电处理的示意图;和图5是描述本发明的一个方面的成像设备的示例性实施方式的示意性构成图。具体实施例方式下面,将参考附图对本发明的示例性实施方式进行详细描述。图1是描述根据本发明的一个示例性实施方式的中间转印带的示意性构成图。图2是描述图l所示的中间转印带的截面示意图。如图l所示,中间转印带101形成为环状,并包括包含单层基材层的环状体,所述基材层至少包含树脂和导电剂。尽管此处例示的中间转印带101包括单层基材在中间转印带101的内表面上存在炭化区域IOIA,其对应于中间转印带101的内表面(内周面)被炭化的区域。炭化区域101A具有给定的表面形状(例如,诸如圆形或椭圆形等斑点状形状)。多个炭化区域101A以散布方式存在于内表面上。炭化区域101A由通过炭化构成基材层的树脂和杂质(如离子性物质)而得到的产物形成。"内表面被炭化的区域"是指存在于从中间转印带的内表面至带厚度方向上的中间转印带的给定深度的炭化部分的区域。炭化区域101A作为带的内表面的导电通路(导电部位)发挥作用,因而带的内表面的表面电阻率可低于带的外表面的表面电阻率。带的内表面的表面电阻率的下降可以因炭化区域101A的存在而实现,该区域的厚度可小于通常可对带所设置的导电层的厚度。因此,当使用示例性实施方式的中间转印带101时,由于在内表面不会发生放电,因而可以形成薄片图案的生成得以抑制的图像。炭化区域101A的存在可通过XPS分析(X射线光电子光谱分析)证实。XPS分析方法通常用于材料最外表面的元素-分析测定,具有优异的灵敏度和再现性。所述测定可利用光电子光谱仪JPS-9010(商品名,由曰本电子株式会社制造)进行。具体而言,炭化区域101A的存在可通过检测来自带的外表面中的碳键的峰面积相对于来自带的外表面中的所有化学键的峰面积的比率与来自带的内表面中的碳键的峰面积相对于来自带的内表面中的所有化学键的峰面积的比率的差值(相对值)而确认。更具体而言,炭化区域101A的存在可通过观测带的外表面中的-C-C-键(碳键)相对于带的外表面中所有元素的化学键的含量和带的内表面中的-C-C-键相对于带的内表面中所有元素的化学键的含量的差值而确认。在示例性实施方式中,"存在炭化区域101A"是指存在上述差值(相对值)。所述差值可以是在后述的对带的内表面进行导电处理前后的带的内表面中碳的峰面积相对于带的内表面中所有化学键的峰面积的比率的差值。用于检测所述差值的XPS分析可以在氩气氛围中、约10kV的加速电压和约20mA的电流下进行。炭化区域101A的厚度的界限(即,带厚度方向的深度或长度)根据将在后面描述的形成方法可以为距内表面约10pm以下。考虑到效果的有效实现,其厚度优选为距内表面约O.lpm约7.0pm。当厚度超过上述范围时,在炭化区域和其他区域之间的边界(炭化区域和其他区域的界面)处可能会发生电荷蓄积,这有时会导致出现半色调的不均匀等。在用包装纸逐渐研磨中间转印带101的内表面的同时测定内表面的表面电阻率时,发现通过研磨从内表面除去具有研磨厚度的一部分(膜)之后显露出一点,在该点测定出的表面电阻率基本上等于中间转印带的外表面的表面电阻率。炭化区域101A的厚度可由研磨厚度得到。更具体而言,研磨厚度可由中间转印带的初始厚度和研磨至其表面电阻率基本上等于中间转印带的外表面的表面电阻率而得到的中间转印带的厚度求算,将由此获得的研磨厚度视为炭化区域101A的厚度。作为选择,在带的内表面,测定在进行将在后面描述的导电处理前的表面电阻率,并确定研磨至发现表面电阻率达到一致后的中间转印带的厚度,由此计算研磨厚度,可将该厚度定义为炭化区域101A的厚度。带的厚度可采用常用的涡电流式膜厚计测定。涡电流式膜厚计的具体实例包括FISCHERSCOPEMMS(商品名,由FISCHER制造)和CTR-1500E(商品名,由SankoElectronicsCo"Ltd.制造)。优选的是形成炭化区域101A以使中间转印带的内表面的表面电阻率低于中间转印带的外表面的表面电阻率,并使表面电阻率的差值为约0.51ogQ/口约2.0logQ/口,优选为约0.71ogQ/口约1.5logQ/口,更优选为约0.81ogQ/口约1.0logQ/口。优选的是中间转印带的内表面本身的表面电阻率为约1x1011Q/口约1x1013Q/口,优选为约5x1011Q/口约1x10130/口,更优选为约1x10120/口约1x10"Q/口。"表面电阻率"是在将约500V施加约10秒钟的条件下进行测定所得到的值。当中间转印带的内表面的表面电阻率和外表面的表面电阻率近似时,细线再现性、调色剂粉尘的抑制性等可能会恶化。另一方面,当中间转印带的内表面的表面电阻率和外表面的表面电阻率的差值过大时,半色调的不均匀性可能会增加。此外,当中间转印带的内表面的表面电阻率超过上述范围时,有可能会产生薄片状图案,而当中间转印带的内表面的表面电阻率低于上述范围时,可能会出现白斑。通过降低中间转印带的内表面的电阻率可以抑制薄片状图案的形成。不过,当中间转印带是单层带时很难区分其表面和里面的电阻率。尽管可以考虑这样的方法,即,例如通过沿着带的厚度方向逐渐改变带的材料的电阻率来使单层带的内表面的电阻率和外表面的电阻率差异化,不过由于该方法是通过调整制造方法而生效,因此控制电阻率的自由度较小,从而使得难以将电阻率控制为所需值,因此其使用不现实。另一方面,当仅仅减小多层结构的中间转印带的内表面的电阻率时,电荷可在电阻率不同的边界处蓄积,导致发生诸如半色调图像等中反差图像的不均匀性。当内表面的电阻率和外表面的电阻率的差值较大并且内表面层的膜厚较大时该不均匀性可能显著产生。特别是,在中间转印带具有多层结构的情况中,即使当内表面层的膜厚为10pm时也可能出现不均匀性。尽管可以通过涂布形成具有数微米厚度的层,不过通过涂布成膜可能会造成膜厚变化,从而导致上述的不均匀性。表面电阻率可以使用圆形电极(如,商品名URPROBEofHIRESTA-UP,由MitsubishiChemicalCO.,Ltd&DAIAINSTRUMENTSCO.,Ltd.制造)根据已知的表面电阻率测定方法JISK6911测定。表面电阻率的测定方法将参考附图具体说明。图3A是显示圆形电极的一个实例的平面示意图,图3B是其截面示意图。图3A和3B中所示的圆形电极设置有第一电压施加电极A和板状绝缘体B。第一电压施加电极A设置有圆柱状电极部C和圆筒环状电极部D,圆筒环状电极部D的内径大于圆柱状电极部C的外径,并且以一定的间隔包围圆柱状电极部C。中间转印体T夹持在第一电压施加电极A处的圆柱状电极部C及圆筒环状电极部D,和板状绝缘体B之间,电压V(V)施加至第一电压施加电极A处的圆柱状电极部C和圆筒环状电极部D之间,并测定流经其间的电流I(A),中间转印体T的转印表面的表面电阻率ps(Q/口)可由下述等式求算。在下列等式中,d表示圆柱状电极部C的外径(mm),D表示圆筒环状电极部D的内径(mm)。等式ps=7ix(D+d)/(D-d)x(V/I)形成炭化区域101A的方法的实例包括对中间转印带(基材层)进行导电处理。对中间转印带进行的导电处理包括使纸与中间转印带的内表面接触,从而为带提供电场。对中间转印带的内表面进行的导电处理能够在调节带的表面电阻率的同时容易地形成炭化区域。进行导电处理时,中间转印带和纸之间的放电作为高应力发挥作用。因此,优选重复进行中间转印带和纸之间的接触-分离,从而引发放电。下面将参考附图描述对中间转印带进行的导电处理。图4是说明对中间转印带的内表面进行导电处理的示意图。如图4所示,其外周面上巻绕有纸102的支持辊103与中间转印带101的内周面接触,电压施加辊104与中间转印带101接触,由此中间转印带位于用作辊对的支持辊103和电压施加辊104之间。因此,纸102与中间转印带101的内表面接触。处于该状态时,在旋转辊对的同时通过电压施加辊104施加电压,中间转印带101和纸102相互重复接触和分离,引发二者之间的分离放电。由于放电现象,中间转印带101的内表面被炭化,从而形成炭化区域101A。通过在旋转辊对的同时施加电压,可以进行在带的内表面的全周长上的导电处理。该方式可用在对中间转印带的导电处理的一个示例性实施方式中。作为选择,还可以采用这样的方法在中间转印带101中形成电位差的同时进行电晕放电或沿表面方向的电弧放电。通常不能限定对中间转印带进行导电处理时所施加的电压,因为该电压随给电方式或给电材料的电阻而变。优选的是,施加的电压可通过电流值控制。优选的是,流经中间转印带的电流值为约10^A约100(优选为约30^tA约100pA)。对中间转印带进行的导电处理可通过高电流值在短时间内进行。不过,当中间转印带101和纸102的总厚度在约150pm约600pm的范围内时,可能形成等于或大于约10kV的电位差,从而导致膜破裂。当电流值低于上述范围时,放电可能较弱,对中间转印带的内表面进行的导电处理可能要进行较长的时间。当电流值超过上述范围时,导致介质击穿的可能性会变大,尽管其取决于中间转印带101的膜厚和电阻值。对中间转印带的内表面进行导电处理时低湿度环境是有效的。作为此处的一个参考,以绝对湿度计,优选为等于或小于2.7g/m3,更优选为等于或小于1.3g/m3。对中间转印带的内表面进行导电处理时,接触-分离的次数在约20和约2g/m3的条件下约为5,000次,在约40和约2g/m3的条件下约为200次,不过这些次数只是这里采用的参考。对其次数不做规定,因为次数会随着绝对湿度、给电方式或电源能力而变。上述方式中所采用的接触-分离次数是指将沿带的圆周方向旋转一圈定义为一次的次数。下面将描述用于对中间转印带进行导电处理的纸102。(以下省略对附图标记的说明)。优选将所谓的普通纸用作所述纸,因为普通纸在低湿环境下是高电阻体,具有可曲性,与中间转印带的附着性良好,并且能够以低成本获得。所述纸的具体实例包括由以下材料形成的纸对木材、棉花、大麻或韧皮等纤维原料进行化学处理而制得的化学浆,其实例包括阔叶树的经漂白牛皮纸浆、阔叶树的未漂白牛皮纸浆、针叶树的经漂白牛皮纸浆、针叶树的未漂白牛皮纸浆、阔叶树的经漂白亚硫酸盐牛皮纸浆、阔叶树的未漂白亚硫酸盐牛皮纸浆、针叶树的经漂白亚硫酸盐牛皮纸浆和针叶树的未漂白亚硫酸盐牛皮纸浆;通过对木材或木屑进行机械处理而制得的磨木浆;用化学溶液浸渍木材或木屑然后进行机械处理而制得的化学-机械浆;或用蒸汽煮解木屑直至木屑变软,然后用精磨机对蒸汽煮解过的木屑进一步处理而制得的热机械浆。这些材料可以仅由原浆制成,也可以用添加了回收纸浆的物质制成。纸还可包含为调整其不透明度、白度和表面性质而添加的填料。填料的实例包括无机填料和有机填料。无机填料的实例包括诸如重质碳酸钙、沉淀碳酸钙或白垩等碳酸钙;诸如高岭土、煅烧粘土、叶蜡石、绢云母或滑石等硅酸类;皂石;钙蒙脱石;钠蒙脱石;或膨润土,有机填料的实例包括脲醛树脂和淀粉纤维。纸还可包含表面施胶剂。表面施胶剂的实例包括松香类施胶剂、合成施胶剂、石油树脂类施胶剂、中性施胶剂、淀粉和聚乙烯醇。纸还可以包含导电剂以调整其表面电阻值。导电剂的实例包括无机电解质,例如硫酸钠、碳酸钠、碳酸锂、偏硅酸钠、三聚磷酸钠或偏磷酸钠;阴离子型表面活性剂,例如磺酸盐、硫酸酯盐、羧酸盐或磷酸盐;阳离子型表面活性剂;非离子型表面活性剂,例如聚乙二醇、甘油或山梨糖醇;两性表面活性剂;以及高分子电解质。尽管对于一般纸的性质存在优选值,不过优选值只是用于纸的稳定性的参考值,而不能被视作限制性条件。例如,纸在23匸的气温和50%的相对湿度(相当于JISP8111-1998中规定的标准环境)下具有的表面电阻值可以是约5x109Q约1x1012Q。表面电阻值可通过JISK6911的方法测定。根据JISP8124(ISO5361995的修改版)称重的纸的重量优选为约75g/m2约95g/m2。根据JISP8119(ISO56271995的修改版)测定的纸的表面和里面的Bekk平滑度均优选为约65秒约120秒。根据JISP8U8(ISO5341988的修改版)测定的纸的密度优选为等于或大于约0.80g/cm3。当条件由温度20。C湿度65°/。RH变为温度20'C湿度25%RH时,纸在横向(CD:相对于抄纸机行进方向的直角方向)上的收縮率优选为约0.45%。当根据JIS-P-8118对纸进行预处理时,纸在横向上的张紧弹性模量(E(kgfmm勺)与纸的厚度(t(mm))优选满足关系E't320.26。此外,由超声波透射法测定的关于纵向(MD:抄纸机的行进方向)相对于横向的纤维的取向比优选为约1.10约1.30。下面,将详细描述构成中间转印带的各成分。示例性实施方式的中间转印带由至少包含树脂和导电剂的基材层构成。尽管树脂的杨氏模量可以根据带的厚度改变,不过考虑到满足作为带的机械性质,树脂的杨氏模量优选为等于或大于3,500MPa,更优选为等于或大于4,000MPa。对所述树脂没有特别限定,只要树脂满足杨氏模量的条件即可。树脂的实例包括聚酰亚胺树脂、聚酰胺树脂、聚酰胺酰亚胺树脂、聚醚醚酯树脂、聚芳酯树脂、聚酯树脂和添加有增强剂的聚酯树脂。根据实质上与ISO527-31995—致的JISK7127(1999)进行张紧试验,得到应力-应变曲线的初期应变区域的曲线,基于该曲线的切线的斜率可以确定杨氏模量。可以使用矩形测试片(宽度为约6mm,长度为约130mm)和哑铃l号、在约500mm/分钟的测试速率下、将厚度调节为带的本体厚度而进行上述测定。在上述的树脂中,优选的是具有高杨氏模量的树脂,因为在驱动(支持辊、清洁刮刀等的应力)由这种树脂形成的带时,由于该树脂具有较小的变形性,因而几乎不发生诸如调色剂形成的彩色图像的重合失调等图像缺陷。特别优选的是可使中间转印带具有高杨氏模量的聚酰亚胺树脂。由于聚酰亚胺树脂是具有高杨氏模量的材料,因此驱动时的变形(即,支持辊或清洁刮刀的应力导致的变形)较小。因而,通过使用聚酰亚胺树脂作为主要成分,可以得到几乎不造成色彩重合失调等图像缺陷的中间转印带。通常可以作为由等摩尔的四羧酸二酐或其衍生物与二胺在溶剂中进行聚合反应而生成的聚酰胺酸溶液而得到聚酰亚胺树脂。四羧酸二酐的实例包括由下式(I)表示的二酐。式(I)<formula>formulaseeoriginaldocumentpage14</formula>式(I)中,R是四价有机基团,并且是芳香族基团、脂肪族基团、脂环族基团、芳香族基团和脂肪族基团的组合、或经取代的上述任一种基团。四羧酸二酐的具体实例包括均苯四酸二酐、3,3',4,4'-二苯甲酮四羧酸二酐、3,3,,4,4,-联苯四羧酸二酐、2,3,3,,4-联苯四羧酸二酐、2,3,6,7-萘四羧酸二酐、1,2,5,6-萘四羧酸二酐、1,4,5,8-萘四羧酸二酐、2,2,-双(3,4國二羧基苯基)磺酸二酐、茈-3,4,9,10-四羧酸二酐、双(3,4-二羧基苯基)醚二酐和乙烷四羧酸二酐。另一方面,二胺的具体实例包括4,4,-二氨基二苯基醚、4,4,-二氨基二苯基甲烷、3,3'-二氨基二苯基甲烷、3,3,-二氯对联苯胺、4,4,-二氨基二苯基硫化物、3,3'-二氨基二苯基砜、1,5-二氨基萘、间苯二胺、对苯二胺、3,3'-二甲基-4,4,-联苯二胺、联苯胺、3,3'-二甲基联苯胺、3,3'-二甲氧基联苯胺、4,4'-二氨基二苯基砜、4,4'-二氨基二苯基丙烷、2,4-双((3-氨基叔丁基)甲苯、双(对-P-氨基-叔丁基苯基)醚、双(对-P-甲基-5-氨基苯基)苯、双_对_(1,1_二甲基_5_氨基_戊基)苯、l-异丙基-2,4-间苯二胺、间二甲苯基二胺、对二甲苯基二胺、二(对氨基环己基)甲烷、1,6-己二胺、1,7-庚二胺、1,8-辛二胺、1,9-壬二胺、1,10-癸二胺、二氨基丙基四亚甲基、3-甲基-1,7-庚二胺、4,4-二甲基-1,7-庚二胺、2,11-二氨基十二烷、1,2-双-3-氨基丙氧基乙烷、2,2-二甲基-丙二胺、3-甲氧基-l,6-己二胺、2,5-二甲基-1,7-庚二胺、3-甲基-l,7-庚二胺、5-甲基-l,9-壬二胺、2,17-二氨基二十烷(2,17-diaminoeicosadecane)、1,4-二氨基环己烷、1,10-二氨基-l,10-二甲基癸烷、12-二氨基十八烷、2,2-双[4-(4-氨基苯氧基)苯基]丙垸、哌嗪、H2N(CH2)30(CH2)20(CH2)NH2、H2N(CH2)3S(CH2)3NH2和H2N(CH2)3N(CH3)2(CH2)3NH2。四羧酸二酐和二胺进行聚合反应时,从溶解性的角度考虑溶剂的优选例包括极性溶剂(有机极性溶剂)。作为极性溶剂,优选N,N-二烷基酰胺,其实例包括低分子量的N,N-二甲基甲酰胺、N,N-二甲基乙酰胺、N,N-二乙基甲酰胺、N,N-二乙基乙酰胺、N,N-二甲基甲氧基乙酰胺、二甲基亚砜、六甲基磷酰三胺、N-甲基-2-吡咯烷酮、吡啶、四亚甲基砜和二甲基四亚甲基砜。这些溶剂可以单独使用,或者多种组合使用。接着,将描述导电剂。导电性或半导电性微粉末可以用作导电剂。对导电剂的导电性没有特别限制,只要其便于稳定地为带提供所需的电阻即可。导电剂的实例包括炭黑,如科琴黑、乙炔黑或pH等于或小于5的经氧化处理的炭黑;金属,如铝或镍;金属氧化物化合物,如氧化锡;以及钛酸钾。这些物质可以单独使用也可以组合使用,考虑到价格优势时优选炭黑。此处使用的"导电性"是指体积电阻率低于约107Qcm。此夕卜,"半导电性"是指体积电阻率为约10^cm约1013Qcm。在下列说明中采用相同含义。两种或多于两种的炭黑可以组合使用。组合使用的炭黑优选具有彼此不同的导电性。例如,可以使用诸如氧化处理的程度、DBP吸油量或使用氮吸附的BET法(由吸附的氮量计算表面积/g的方法)测定的比表面积等物理性质不同的炭黑的组合。此处,DBP吸油量(cc/100g)表示可以被100g炭黑吸附的邻苯二甲酸二丁酯(DBP)的量,并且是由ASTM(美国标准测试法)D2414-6TT定义的值。BET法由JISK6217定义。当两种或多于两种的具有不同导电性的炭黑组合用于中间转印带时,通过先添加表现高导电性的炭黑然后再添加具有低导电性的炭黑可以调整带的表面电阻率。中间转印带中包含两种或多于两种的炭黑时,通过使用酸性炭黑作为其中的至少一种炭黑可以增强炭黑的混合和分散。酸性炭黑的具体实例包括PRINTEX150T(pH:4.5,挥发分10.0%)、SPECIALBLACK350(pH:3.5,挥发分2.2%)、SPECIALBLACK100(pH:3.3,挥发分2.2%)、SPECIALBLACK250(pH:3.1,挥发分2.0%)、SPECIALBLACK5(pH:3.0,挥发分15.0°/。)、SPECIALBLACK4(pH:3.0,挥发分14.0%)、SPECIALBLACK4A(pH:3.0,挥发分:14.0%)、SPECIALBLACK550(pH:2.8,挥发分2.5%)、SPECIALBLACK6(pH:2.5,挥发分18.0%)、SPECIALBLACKFW200(pH:2.5,挥发分20.0%)、COLOURBLACKFW2(pH:2.5,挥发分16.5%)禾口COLOURBLACKFW2V(pH:4.5,挥发分16.5%)(以上均由Degussa制造);和MONARCH1000(pH:2.5,挥发分9.5%)、MONARCH1300(pH:2.5,挥发分9.5°/。)、MONARCH1400(pH:2.5,挥发分9.0°/0)、MOGULL(pH:2.5,挥发分5.0%)和REGAL400R(pH:4.0,挥发分3.5%)(以上均由CabotCorporation制造)。此处使用的炭黑可以是市售品,也可以是通过纯化市售品而得到的产物。纯化是除去在制造过程中所混入的杂质(例如残余的氧化剂、处理剂、副产物、其他的无机杂质或有机杂质)的过程。纯化过程可包括:在惰性气体或真空下于大约50(TC大约100(TC的高温加热炭黑;使用二硫化碳、甲苯等进行的有机溶剂处理;或者混合水浆料或有机酸的水溶液以除去杂质。尽管对纯化过程不作限制只要可由此纯化炭黑即可,不过包括粉末加热的纯化过程在制造过程中难以处理,而且可能利用较多的能量。优选的是,纯化过程可以是主要使用有机溶剂或水的过程。特别是,从安全角度考虑时,优选主要使用水的纯化过程。为了防止杂质所造成的污染,优选使用离子交换水、超纯水、蒸馏水或超滤水等水。炭黑的表面具有很高的活性,因此容易吸附物质。因而,需要在正要使用前进行炭黑的纯化。具体而言,优选在使用前72小时,更优选在使用前48小时进行纯化。当炭黑的纯化早于使用前72小时而进行时,杂质可能会再次吸附于炭黑表面,这可能导致纯化效果下降。具体而言,纯化过程可优选包括制备其中混合有作为必要成分的炭黑和水的混合物、混合所述混合物以形成浆料、然后从浆料中分离炭黑。考虑到改善炭黑表面的润湿性时,纯化过程的体系中可以添加具有表面活性作用的物质,例如所谓的表面活性剂或醇类。尽管必要时可将水溶性有机溶剂添加至纯化过程的体系中,不过优选的是没有水溶性有机溶剂残留在由其制造的中间转印带上。因此,优选使用在低沸点时显示表面活性作用的溶剂。这种溶剂的实例包括甲醇、乙醇、正丙醇、异丙醇、仲丁醇、叔丁醇、2-甲氧基醇和烯丙基醇。此外,还可以在适当的时机添加无机酸。优选的是混合浆料的方法能够分解可能存在于浆料中的凝集体,从而使各酸性炭黑颗粒具有尽可能大的一次粒径。鉴于此,优选采用常见分散机或均质器处理浆料。用于混合法的装置的实例包括胶体磨、流式喷射磨、浆纱磨(slashermill)、高速分散机、球磨机、磨碎机、砂磨机、砂磨器、超细磨、Eiger动力磨(Eigermotormill)、Dino磨、珠磨机、搅拌磨、Cobol磨、三辊磨、二辊磨、挤出机、捏合机、微射流机、实验室均质器、超声波均质器和喷射磨。这些分散机和均质器可以单独使用或组合使用。此外,为了抑制无机杂质的污染,优选使用不采用分散介质的分散法。使用微射流机、超声波均质器、喷射磨等是适宜的。从桨料中分离炭黑的方法的实例包括离心分离、过滤和将酸性炭黑转移至非水溶性有机溶剂中,由此可以得到纯化的酸性炭黑。非水溶性有机溶剂的实例包括甲苯、二甲苯、苯、氯仿、己垸和庚垸。考虑到确保安全性时,优选的是将离心分离或过滤用于所述分离。尽管优选在惰性气体中加热以干燥分离所得到的炭黑,不过干燥过程不是必需的,因为在下述的转印带制造过程中会进行加热处理。相对于浆料中的水,炭黑的含量可以为例如约5重量%约30重量%。更优选为约5重量%约20重量%。当炭黑的含量小于约5重量%时,纯化产率会降低,并且可能无法获得足够的生产性。此外,当炭黑的含量超过约30重量%时,浆料的粘度可能变得过高而难以进行混合,在一些情况中导致纯化效率下降。与普通炭黑相比,酸性炭黑由于在其表面上存在的含氧官能团的影响而具有更高的在树脂组合物中的分散性。因此,优选增大其作为导电剂的添加量,因为它能够增大炭黑在中间转印带中的量,这使得可发挥使用经氧化处理的炭黑的效果,例如抑制中间转印带的表面电阻率的面内变化。因此,优选将酸性炭黑的含量调整为10重量%30重量%。由此发挥酸性炭黑的效果,例如抑制中间转印带的表面电阻率的面内变化。当其含量低于10重量%时,电阻的均匀性可能会下降,表面电阻率的面内不均匀性和电场依赖性可能变大。相反,当其含量超过30重量%时,则可能难以得到所需的电阻值。此外,当将酸性炭黑的含量调整为18重量%30重量%时,其效果得到进一步发挥,由此显著抑制表面电阻率的面内不均匀性和电场依赖性。接着,将在下面描述使用聚酰胺酸溶液(其中分散有炭黑作为导电剂)制造中间转印带的示例性实施方式,不过中间转印带的制造方法并不限于此。首先,制备纯化的炭黑,并将其分散在有机极性溶剂中。所述分散可优选为包括在进行初步搅拌后用分散机或均质器分散炭黑的方法。另外,所述分散还可以优选为不使用介质的无介质分散法,这是因为微细介质的污染可能会降低炭黑的纯化效果,这与炭黑的精制类似。无介质分散法的特别优选的实例包括利用喷磨机的方法,因为其能够分散高粘度的溶液,同时抑制炭黑分散度的不均匀。将二胺成分和酸酐成分溶解在由此得到的炭黑分散液中,然后进行聚合以制备其中分散有炭黑的聚酰胺酸溶液。待溶解在炭黑分散液中的单体的浓度(即,溶剂中的二胺成分的浓度和酸酐成分的浓度)可根据不同的条件分别确定,并分别优选为约5重量%约30重量%。此外,可将聚合反应温度调节成优选为等于或低于约8(TC,特别优选为约5"C约5(TC。反应时间为约5小时约10小时。由于其中分散有炭黑的聚酰胺酸溶液是高粘度溶液,配制溶液时产生的气泡不能自然地从中除去,因此涂布该溶液用于形成带时可能发生由于气泡所导致的突起、凹陷或空穴等缺陷。鉴于此,最好对聚酰胺酸溶液进行消泡处理。优选的是消泡后尽可能快地进行聚酰胺酸溶液的涂布。当形成无缝带作为本发明的中间转印带时,该无缝带的形成可以根据常用方法由适宜方法进行,例如包括下述步骤的方法通过诸如使溶液浸没圆筒状模具的外周面、将溶液涂布在圆筒状模具的内周面并可进一步离心、或将溶液填充在注模中等适宜的方式使聚酰胺酸溶液展开为环状;干燥展开的层以使膜成形为带形;加热带形成型体以使聚酰胺酸转化为酰亚胺;并从模具将其回收(例如,参见特开昭61-95361号公报、特开昭64-22514号公报和特开平3-180309号公报)。在形成无缝带时可以对模具进行防粘处理。通过对聚酰胺酸进行约200'C以上的高温处理通常可以将聚酰胺酸转化为酰亚胺。温度低于约20(TC时转化可能进行得不够充分。相反,尽管使用高温的转化对于酰亚胺转化是有利的从而获得稳定的性质,不过使用高温的转化的热效率较差,并且由于使用了热能而需要高成本。因此,可根据中间转印带的特性和生产性确定转化所用的加热温度。对带形成型体的内表面进行导电处理,从而形成以散布方式存在于内表面上的炭化区域。可由此制得本发明的一个示例性实施方式的环状体,如中间转印带。下面将描述示例性实施方式的中间转印带的特性。示例性实施方式的中间转印带的外表面(转印表面)的硬度按照表面微小硬度计优选为等于或低于约30,更优选为等于或低于约25。表面微小硬度通过测定压头压入样品有多远的方法来确定,该方法不同于例如在广泛用于金属材料的硬度测定等的Vickers硬度中包括确定缺口的对角线长度的那些方法。当测试荷重被定义为P(mN),压头压入样品的侵入量(压入深度)被定义为D(微米)时,表面微小硬度DH根据下述等式计算。DH三aP/D2该等式中,a表示符合压头形状的常数,在三棱锥压头的情况中a可以为3.8584。表面微小硬度是指基于挤压压头过程中所提供的过重荷载和由此得到的压入深度而确定的硬度,其表示处于塑性变形以及弹性变形状态的材料的强度性质。此外,由于待侧面积微小,接近调色剂的粒径,因此可以对硬度进行更准确的测定。在由此得到的表面微小硬度和空心文字(在经转印的线状图像中形成图像缺失的现象)的发生程度之间存在极为准确的相关性。更具体而言,当将中间转印带的转印表面的表面微小硬度调整至上述范围内时,中间转印带的转印表面可能会因二次转印部中偏压辊的推力而发生变形,这可能使得集中于中间转印带上的调色剂上的推力可以被分散。因此,调色剂不会凝集,并且可以抑制诸如其中线状图像缺失的空心文字等图像品质缺陷。表面微小硬度可根据下述方式获得。将构成中间转印带的表面层的片材切成约5mm见方的小片,然后用瞬干胶将小片固定在玻璃板上。使用超微小硬度计(商品名DUH-201S,由株式会社岛津制作所制造)测定样品表面的表面微小硬度。测定条件如下。测定环境23°C,55°/。RH使用的压头三棱锥压头测试模式3(软质材料试验模式)测试荷重0.70gf负荷速度0.0145gf/秒保持时间5秒在示例性实施方式的中间转印带中,杨氏模量与驱动带时的扰动(负荷变动)所致的带的位移量之间的关系由下述等式表示。△1=P.l'a/(t,E)此处,Al表示带的位移量(^im),P表示负荷(N),1表示两个张紧辊之间的带的长度(mm),a表示系数,t表示带的厚度(mm),w表示带的宽度(mm),和E表示带的材料的杨氏模量(N/mm2)。驱动带时的扰动(负荷变动)所致的带的伸长-收縮(位移量)与带材料的杨氏模量和厚度成反比。使用具有较高杨氏模量的带材料时,驱动带时的扰动(荷重变动)所致的带的位移量减小,这使得驱动时相应于应力的带的变形减小,可以稳定地获得良好的图像品质。带的厚度增大时,在驱动辊等带的弯曲部,带的外表面的变形可能变大,这会导致难以获得良好的图像品质,并且带的外侧和内侧的变形加大,这会导致因局部反复的应力而导致带的破裂。示例性实施方式的中间转印带的厚度按总厚度计优选为约0.05mm约0.5mm,更优选为约0.06mm约0.30mm,进而更优选为约0.06mm约0.15mm。当中间转印带的总厚度低于上述范围时,可能难以满足中间转印带所需的机械性质。当中间转印带的总厚度超过上述范围时,带表面上的应力可能会因辊弯曲部的变形而集中,这在一些情况中可能会导致在表面上产生裂纹等。示例性实施方式的中间转印带的体积电阻率在将500V施加10秒钟的条件下优选为约1x1011Qcm约1x10"Qcm。体积电阻率低于上述范围时,由于通过转印发生的放电,形成的图像上可能出现微小白点。当体积电阻率超过上述范围时,电荷可能蓄积,因此电荷可能残留至转印带的下一循环,在一些情况中由于反复使用而导致图像转印不良。因此,可能额外需要除电装置。此处,体积电阻率可使用圆形电极(例如,商品名URPROBEofHIRESTA-UP,由MitsubishiChemicalCO.,Ltd制造)根据JISK6911测定。将参考附图描述体积电阻率的测定方法。体积电阻率可通过与用于测定表面电阻率的相同装置测定,不过图3A和3B中所示的圆形电极设置有第二电压施加电极B'而不是板状绝缘体B。中间转印体T夹持在第一电压施加电极A处的圆柱状电极部C及环状电极部D,和第二电压施加电极B'之间,电压V(V)施加至第一电压施加电极A处的圆柱状电极部C和第二电压施加电极B'之间,测定流经其间的电流I(A),中间转印带T的体积电阻率pv(Qcm)可由下述等式求算。此处,t表示半导电性中间转印带T的厚度(cm)。pv=19.6x(V/I)xt图5是显示本发明的一个方面的成像设备的一个示例性实施方式的示意图。示例性实施方式中的成像设备是具有不同颜色的四个感光体鼓的输出机。如图5所示,示例性实施方式中的成像设备具有成像单元10Y、10M、IOC禾口10K。成像单元10Y、10M、10C和10K分别包括用作图像保持体的感光体鼓12Y、12M、12C和12K(此处,Y赋予用于黄色的装置,M赋予用于品红色的装置,C赋予用于青色的装置,K赋予用于黑色的装置),并且还在感光体鼓12Y、12M、12C和12K的周围包括分别对感光体鼓12Y、12M、12C和12K的表面进行充电的充电装置14Y、14M、14C和14K;分别在各带电的感光体鼓12Y、12M、12C和12K的表面上形成静电潜像的曝光装置16Y、16M、16C和16K;使用显影剂中包含的调色剂分别将各感光体鼓12Y、12M、12C和12K的表面上形成的静电潜像显影为调色剂图像的显影装置18Y、18M、18C和18K;将调色剂图像转印至中间转印带24的一次转印装置20Y、20M、20C和20K(例如,转印辊);以及在图像转印后除去感光体鼓12Y、12M、12C和12K表面上残留的调色剂的感光体鼓清洁器22Y、22M、22C和22K。另外,设置中间转印带24作为中间转印体,使其面向成像单元IOY、IOM、IOC和IOK。中间转印带24穿过感光体鼓12Y、12M、12C和12K和一次转印装置(例如,一次转印辊)20Y、20M、20C和20K之间的空间行进。中间转印带24以可旋转的方式支持,通过驱动辊26a、防止中间转印带24扭曲或蛇行的张紧控制辊26c、支持辊26b、26d和26e以及支撑辊28利用张力将该带从其内周面侧向外推,由此构成带张紧装置25。隔着中间转印带24,在面向支撑辊28的位置在中间转印带24的外周上设置二次转印装置30(例如,二次转印辊),另外,在中间转印带24的旋转方向的二次转印装置30的下游设置带清洁器32。配置从二次转印装置30传送带有转印图像的记录纸P(记录介质)的传送装置34。此外,在传送方向的传送装置34的下游位置配置定影装置36。在示例性实施方式的成像设备中,成像单元10Y中的感光体鼓12Y在图5中顺时针旋转,其表面通过充电装置14Y带电。通过激光写入装置等曝光装置16Y在带电的感光体鼓12Y上形成第一色(黄色:Y)的静电潜像。用由显影装置18Y供给的调色剂(包含调色剂的显影剂)将静电潜像显影,以获得可视化的调色剂图像。通过感光体鼓12Y的旋转,调色剂图像行进至临时转印区,在此处调色剂图像被一次转印至图5中沿逆时针方向旋转的中间转印带24,同时从一次转印装置20Y向调色剂图像施加相反极性的电场。同样,第二色(M)的调色剂图像、第三色(C)的调色剂图像和第四色(K)的调色剂图像通过成像单元IOM、IOC和IOK顺次形成,调色剂图像叠加在中间转印带24上,形成多色调色剂图像。然后,通过中间转印带24的旋转,转印至中间转印带24上的多色调色剂图像行进至布置有二次转印装置30的二次转印区。在二次转印区,通过静电排斥将调色剂图像转印至记录纸P,同时在二次转印装置30和隔着中间转印带24在面向二次转印装置30的位置配置的支撑辊28之间施加与调色剂图像极性相同的偏压(转印电压)。通过拾取辊(图5中未示出)从收容在记录纸容器(图5中未示出)中的记录纸堆中逐一拾取记录纸P,并通过供给辊(图5中未示出)将其以特定时机供给至二次转印区中的中间转印带24和二次转印装置30之间的空间。通过由二次转印装置30和支撑辊28施加压力和转印电压,并通过中间转印带24的旋转,将中间转印带24上保持的调色剂图像转印至所供给的记录纸P上。将其上已经转印有调色剂图像的记录纸P通过传送装置34供给至定影装置36,在此通过加压加热将调色剂图像定影为永久图像。多色调色剂图像转印至记录纸P后残留在中间转印带24上的调色剂可通过设置在二次转印区下游位置的带清洁器32除去,然后进入下一转印循环。另外,诸如调色剂颗粒或纸粉等转印时附着的异物可通过二次转印装置30中的清洁刷(图5中未示出)除去。在转印单色图像的情况中,单色的一次转印调色剂图像被二次转印并送至定影装置。在转印叠加有多色的多色图像的情况中,中间转印带24的旋转和感光体鼓12Y、12M、12C和12K的旋转同步进行,以使调色剂图像准确地叠加在一次转印区而不会产生任何位置偏差。由此,可以在示例性实施方式的成像设备中的记录纸P(记录介质)上形成图像。实施例下面,通过实施例描述本发明,不过实施例仅是为举例而提供,应当理解本发明的范围并不由此受到限制。环带1的制备提供包含联苯四羧酸二酐(BPDA)和对苯二胺(PDA)的含有聚酰胺酸的NMP(N-甲基吡咯烷酮)溶液(商品名UIMIDE,由Unitika制造/固形物浓度20重量%),以相对于含有聚酰胺酸的NMP溶液为18重量%的量(以固形物质量比计)将炭黑(商品名SPECIALBLACK4,由Degussa制造)加入其中,然后用喷射磨分散机(商品名GEANUSPY,由Genus制造)在200N/mn^和5次(5-pass)的条件下进行分散。使所制得的分散有炭黑的聚酰胺酸溶液通过20)am的不锈钢筛以除去异物和炭黑凝集物。然后,进行真空消泡以形成最终的涂布液。接着,将由此得到的聚酰胺酸溶液通过分散机涂布在圆筒状模具(外径302mm,长度500mm,厚度10mm)的外表面,以使形成的涂布膜的厚度为0.5mm。然后,将所得物在1500rpm旋转15分钟。之后,在以250rpm旋转模具的同时从模具的外侧对其施用热风(6(TC)30分钟。然后,将模具在15(TC加热60分钟。之后,将模具竖立,并将温度升至煅烧温度(30(TC)以进行酰亚胺转化,由此得到聚酰亚胺带。带的厚度为100pm。切掉带的两端,从而得到具有所需宽度的最终产物(环带1)。环带2的制备以与环带1相同的方式制备环带2,不同之处在于添加至含聚酰胺酸的NMP溶液中的炭黑的量按照固形物质量比计变为相对于含聚酰胺酸的NMP溶液为16重量%。环带3的制备以与环带1相同的方式制备环带3,不同之处在于添加至含聚酰胺酸的NMP溶液中的炭黑的量按照固形物质量比计变为相对于含聚酰胺酸的NMP溶液为21重量%。实施例16对得到的环带13的内表面进行如上说明的导电处理(参见图4)。使用纸P(商品名,由富士施乐株式会社制造)。在各实施例中,在施加的电流值和接触-分离的次数如表1所示的条件下,对各环带的内表面进行导电处理,从而获得具有以散布方式存在于其内表面上的炭化区域的中间转印带。对带的内表面的导电处理可以在温度为l(TC和湿度为15%(绝对湿度为1.36g/m"的条件下进行。<table>tableseeoriginaldocumentpage25</column></row><table>实施例711以与实施例16相同的方式制备实施例711的中间转印带,不同之处在于,通过将施加的电流值和接触-分离次数的条件分别变为如表2中所示而对带的内表面进行导电处理。表2实施例7实施例8实施例9实施例10实施例11电流值8pA100nA40接触-分离次数100000次3次100次100次40次环带环带l环带l环带2环带l环带l比较例1将环带1直接用作中间转印带,而不对其内表面进行导电处理。比较例2将其中分散有石墨的异丙醇(商品名AERODAGG,由JapanAtison制造)喷在环带1的内表面上,然后在常温(25"C)干燥。由于总膜厚变为112pm,因此推定内表面上形成的导电层的膜厚为12mn。比较例3相比于比较例2,减少喷射的异丙醇的量以使导电层的厚度进一步减小。不过,发生涂布不均,因此比较例3不能用作中间转印带。评价对由此得到的各中间转印带进行下述项目的评价。结果显示在表3中。表面电阻率和体积电阻率的评价根据具体实施方式中的说明测定中间转印带的体积电阻率及其各外表面和内表面的表面电阻率。在温度为22'C和湿度为55%RH的环境中施加500V的电压10秒钟之后,使用圆形电极(商品名URprobeofHIRESTERIP,由MitsubishiChemicalCorporation制造,圆柱状电极C的外径16mm,环状电极的内径30mm,环状电极的外径40mm)测定电流值。然后,基于所测定的电流值计算中间转印带的体积电阻率及其各外表面和内表面的表面电阻率。炭化区域的厚度的测定在用Sumitomo3MLimited制造的包装膜研磨材#10000研磨带的内表面侧的同时测定表面电阻率。将具有与对环带内表面进行导电处理前的该内表面的表面电阻率相等的所测定的表面电阻率时的研磨厚度定义为炭化区域的厚度。表面电阻率采用涡电流式膜厚计(商品名CTR-1500E,由SankoElectronicsCo.,Ltd.制造)测定。炭化区域存在的检测使用JPS-9010(商品名,由日本电子株式会社制造),通过获得对环带的内表面进行导电处理前所测定的-C-C-键的峰面积(碳-碳键的峰面积)相对于全部化学键的峰面积的比率,与对环带的内表面进行导电处理后所测定的-C-C-键的峰面积相对于全部化学键的峰面积的比率的差值来确认炭化区域的形成。测定在氩气氛围中、10kV的加速电压和20mA的电流的条件下进行。在5个点进行测定,然后取所测定值的平均值作为差值(增量)。各实施例和比较例的差值(增量)显示在表3中。图像品质的评价使用通过将中间转印带安装在DocuCentreColor2220(商品名,由富士施乐株式会社制造)上而改造的机器对中间转印带进行图像品质评价。通过目测观察具有20%、30%或50%的色调值和12点文字的样品半色调图像中的图像品质缺陷(薄片状图案沐进行图像品质的评价。Gl:目测观察确认完全没有薄片状图案。G2:目测观察到轻微的薄片状图案,不过在可以接受的范围内。G3:目测观察到清晰的薄片状图案。表3<table>tableseeoriginaldocumentpage28</column></row><table>从以上结果可以理解,与比较例相比,本发明的实施例可以提供抑制了薄片状图案形成的图像。尽管与实施例16相比在实施例7和8中略微观察到薄片状图案,不过其程度在实用上基本不存在问题。虽然在实施例9、10和11中未观察到薄片状图案,但是在其中分别观察到白点、较差的文字再现性和半色调的不均匀。权利要求1.一种环状体,所述环状体具有包括基材层的内表面,所述基材层包含树脂和导电剂,并且所述内表面包含炭化区域。2.如权利要求1所述的环状体,其中,所述炭化区域通过对所述环状体的所述内表面进行导电处理而形成。3.如权利要求1所述的环状体,其中,所述环状体的所述内表面的表面电阻率为1x1011Q/口1x1013Q/口,并且所述环状体的所述内表面的表面电阻率比所述环状体的外表面的表面电阻率低0.51ogQ/口2.01ogQ/口。4.如权利要求1所述的环状体,其中,所述炭化区域的厚度为10以下。5.如权利要求l所述的环状体,其中,所述炭化区域的厚度为O.lpm7.0fxm。6.—种环状体张紧装置,所述装置包括权利要求15中任一项所述的环状体;和利用张力从所述环状体的内周面侧外推所述环状体的张紧单元。7.—种成像设备,所述成像设备包括图像保持单元;充电单元,该单元用于对所述图像保持单元的表面充电;潜像形成单元,该单元用于在所述图像保持单元的表面上形成潜像;显影单元,该单元用于将所述潜像显影为调色剂图像;一次转印单元,该单元用于将所述调色剂图像转印至中间转印体;二次转印单元,该单元用于将所述调色剂图像从所述中间转印体转印至记录介质;和定影单元,该单元用于将所述调色剂图像定影在所述记录介质上,所述中间转印体是权利要求15中任一项所述的环状体。8.—种权利要求15中任一项所述的环状体的形成方法,所述方法包括通过对所述环状体的所述内表面进行导电处理而形成炭化区域。9.如权利要求8所述的环状体的形成方法,其中,对所述环状体的所述内表面进行的所述导电处理包括使纸与所述环状体的所述内表面接触从而为所述环状体提供电场。全文摘要本发明涉及环状体、环状体张紧装置和成像设备。所述环状体具有包括基材层的内表面,所述基材层具有树脂和导电剂,并且所述内表面包含炭化区域。所述环状体张紧装置具有所述环状体;和利用张力从所述环状体的内周面侧外推所述环状体的张紧单元。所述成像设备配有所述环状体作为中间转印体。本发明还提供所述环状体的形成方法,该方法包括通过对所述环状体的所述内表面进行导电处理而形成炭化区域。文档编号G03G15/01GK101576727SQ200910006170公开日2009年11月11日申请日期2009年2月5日优先权日2008年5月8日发明者一泽信行申请人:富士施乐株式会社
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