一种不良点多向定位装置及液晶面板无损检测装置制造方法
【专利摘要】本实用新型公开了一种不良点多向定位装置及液晶面板无损检测装置，不良点多向定位装置，包括：一正多角星形的定位片，每个角均设有顶角圆片；一驱动机构，包括方向按钮、位置按钮、方向传动线圈、位置传动线圈以及传动线圈锁定器；一控制定位片位置的吸附片，该吸附片分别通过方向传动线圈和位置传动线圈连接至方向按钮和位置按钮；以及一标记元件。本实用新型通过吸附片吸附定位片的方法，对不良的位置进行精确描定，使位于定位片上的顶角圆片与不良位置对应，再通过标记元件对顶角圆片位置进行标记，由于顶角圆片采用实心结构，从而使不良位置以外部分被标记，而没有被标记元件标记区则为不良位置区，在进行拆屏分析时，极大地缩小了所需观察的不良位置范围，提高不良分析的效率。
【专利说明】—种不良点多向定位装置及液晶面板无损检测装置
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及一种定位装置，用于液晶面板无损检测中不良点的定位。
【背景技术】
[0002]TFT-LCD因其体积小，功耗低、无辐射等特点，在当前的平板显示器市场占据了主导地位。TFT-LCD器件是由阵列玻璃基板和彩膜玻璃基板对盒而形成的。在阵列基板中相互交叉地配置定义像素区域的栅极线和信号线，在各像素区域中配置像素电极和薄膜晶体管。将驱动信号施加到栅极线上，图像数据通过信号线施加到像素电极。在彩膜基板上配置黑底，使光不能透过除了像素电极以外的区域，在各像素区域配置滤色层，在此基础上在配置公共电极。在阵列基板和彩膜基板中充入液晶，通过上述的加载驱动和信号的像素电极的电压来控制液晶的偏转来控制光线的强弱，配合彩膜基板的功能，在基板上显示出所要表达的图像。
[0003]TFT -1XD在制造过程中为了保证产品的品质，需要经过多道检测工序，无损检测(ET检测)为完成成盒(CELL)工艺后的检测，其目的是为了检测液晶面板完成成盒工艺后的电学不良。检测时通过在液晶面板的测试台上加上检测电信号，通过无损检测设备的背光源及对应的偏光片对液晶面板进行观察，判断是否有不良发生，若有不良发生，通常通过手描的方式找到不良的位置点，再对不良原因进行分析。
[0004]传统的TFT-1XD在进行无损检测时，不良位置的描定通常通过手描的方式进行，所描的区域通常范围较大，在进行不良分析时，特别是在进行拆屏分析时，要找到对应的不良点，一般要花费大量的时间确认，检测和分析的效率很低。
[0005]有鉴于此，特提出本实用新型。
实用新型内容
[0006]本实用新型的主要目的在于提供一种快速准确描定液晶面板在进行无损检测时不良位置的定位装置，可极大地提高液晶面板不良分析的效率。
[0007]为实现上述目的，本实用新型采用如下技术方案:
[0008]一种不良点多向定位装置，包括:
[0009]一正多角星形的定位片，每个角均设有顶角圆片；
[0010]一驱动机构，包括方向按钮、位置按钮、方向传动线圈、位置传动线圈以及传动线圈锁定器；
[0011]一控制定位片位置的吸附片，该吸附片分别通过方向传动线圈和位置传动线圈连接至方向按钮和位置按钮；
[0012]以及一标记元件。
[0013]其中，所述的定位片为铁片，所述的吸附片为磁片。
[0014]其中，所述的定位片具有4?8个角。
[0015]进一步地，优选所述的定位片为正六角星形。[0016]所述正六角星形每个角呈30?60°。
[0017]本实用新型所述的定位装置，其中所述顶角圆片的直径为100-200μπι。
[0018]其中，所述顶角圆片为实心结构。
[0019]本实用新型所述的定位装置，所述的吸附片为圆形。
[0020]进一步地，本实用新型提供了一种含有上述不良点多向定位装置的液晶面板无损检测装置。
[0021]除不良点多向定位装置外，本实用新型所述的液晶面板无损检测装置，还包括:
[0022]—移动式背光源；
[0023]依次设于背光源上方的移动式下偏光片和可翻转的上偏光片，以及
[0024]垂直于背光源且相对设置的支柱台和检测台，所述支柱台与检测台将液晶面板固定在上下偏光片之间，支柱台上设有与液晶面板平行且相互搭接的支撑片，检测台上设有可插入液晶面板的凹槽
[0025]所述不良点多向定位装置可移动式连接至液晶面板。
[0026]进一步地，所述液晶面板包括CF基板及TFT基板，所述吸附片(磁片)位于CF基板之上，并将定位片(铁片)吸附固定于TFT基板相应位置的下方。
[0027]本实用新型通过吸附片吸附定位片的方法，通过旋动方向按钮与位置按钮对不良的位置进行精确描定，使位于定位片上的顶角圆片与不良位置对应，再通过标记元件对顶角圆片位置进行标记，顶角圆片采用实心结构，从而使不良位置以外部分被标记，而没有被标记元件标记区则为不良位置区，在进行拆屏分析时，极大地缩小了所需观察的不良位置范围，提闻不良分析的效率。
【专利附图】
【附图说明】
[0028]图1为本实用新型所述装置结构的侧视图；
[0029]图2为本实用新型所述装置结构的俯视图；
[0030]图3为本实用新型所述六向定位器的结构示意图；
[0031]其中，110:移动式背光源，120:移动式下偏光片，130:支撑片，140:支柱台，150:上偏光片，160:液晶面板，170:检测台，180:位置按钮，190:方向按钮，210:磁片，211:位置传动线圈锁定器，212:方向传动线圈锁定器，220:定位铁片，221:顶角圆片。
【具体实施方式】
[0032]本实用新型涉及一种不良点多向定位装置，其包括:一正多角星形的定位片，该定位片的每个角均设有顶角圆片；以及包括方向按钮、位置按钮、方向传动线圈、位置传动线圈以及传动线圈锁定器的驱动机构；同时，该不良点多向定位装置还包括一控制定位片位置的吸附片，该吸附片分别通过方向传动线圈和位置传动线圈连接至方向按钮和位置按钮；以及一标记元件。
[0033]上述装置中，吸附片吸附定位片，通过旋动方向按钮及位置按钮驱动磁片带动定位片位移，并将不良点定位在顶角圆片内，定位完成后对传动线圈锁定器锁定，用标记元件对顶角圆片的位置进行标记，完成不良点的定位。
[0034]本实用新型中，要求吸附片对定位片形成有效的吸附力，以控制定位片的位置，本领域技术人员可选择合适的材料作为吸附片和定位片来实现技术方案，如利用磁力，或其他已知的相互作用力等，本实用新型对此不作特别限定，仅优选所述的定位片为铁片，所述的吸附片为磁片。
[0035]本实用新型所述方向按钮及位置按钮位于吸附片上，其中所述的方向按钮控制吸附片在前后方向的位移，位置按钮控制吸附片在左右方向的位移，两个按钮控制吸附片的坐标系统。
[0036]其中，所述的定位片具有4?8个角，如正五角星形，正六角形形等，以更方便地对不良点进行定位，缩小检测范围。
[0037]进一步地，优选所述的定位片为正六角星形，采用六向设计的作用是使液晶面板在进行描定时无死角，即通过改变六向定位片的方向即可描定液晶面板任意一处。
[0038]本实用新型优选所述正六角星形每个角呈30?60°。
[0039]本实用新型所述的定位装置，其中所述顶角圆片的直径D为100-200μπι，为液晶面板子像素宽度的3-5倍，可将每一顶角圆片描定不良区域限定在5个子像素范围内，极大提闻描定位置的准确性，提闻不良分析时的效率。
[0040]其中，所述顶角圆片为实心结构，以便标记元件标记。
[0041]本实用新型所述的标记元件可采用记号笔，该记号笔为现有技术公开的已知产品，仅用于实现特定位置的标记，本实用新型对此不作特别限定。
[0042]本实用新型所述的定位装置，所述的吸附片可采用各种形状，基于观察和定位的需求，吸附片的面积要小于定位片，优选吸附片为圆形。
[0043]基于定位装置的改进，本实用新型进一步提供了一种含有上述不良点多向定位装置的液晶面板无损检测装置。
[0044]除不良点多向定位装置外，本实用新型所述的液晶面板无损检测装置，还包括:一移动式背光源；
[0045]依次设于背光源上方的移动式下偏光片和可翻转的上偏光片，以及
[0046]垂直于背光源且相对设置的支柱台和检测台，所述支柱台与检测台将液晶面板固定在上下偏光片之间，支柱台上设有与液晶面板平行且相互搭接的支撑片，检测台上设有可插入液晶面板的凹槽；
[0047]所述不良点多向定位装置可移动式连接至液晶面板。
[0048]上述无损检测装置中，检测台上可供液晶面板插入的凹槽和支柱台上的支撑片共同支撑液晶面板，防止液晶面板进行检测时发生抖动或破损。检测台内设置液晶面板进行ET检测时所对应的电信号pin。
[0049]进一步地，所述液晶面板包括CF基板及TFT基板，所述吸附片位于CF基板之上，并将定位片吸附固定于TFT基板相应位置的下方。
[0050]为了进一步阐述该装置的原理及使用方法，以下结合附图及【具体实施方式】作进一步说明。
[0051]实施例1
[0052]如图2和图3所示，本实施例中不良点多向定位装置，包括:正多角星形的定位铁片220，每个角均设有顶角圆片221 ;驱动机构，包括方向按钮190、位置按钮180、传动线圈(包括方向传动线圈及位置传动线圈)以及传动线圈锁定器(包括位置传动线圈锁定器211及方向传动线圈锁定器212);控制定位铁片220位置的磁片210，该磁片210分别通过方向传动线圈和位置传动线圈连接至方向按钮190和位置按钮180 ;以及记号笔(图中未标示)。
[0053]上述装置中，磁片210吸附定位铁片220，通过旋动方向按钮190及位置按钮180驱动磁片210带动定位铁片220位移,并将不良点定位在顶角圆片221内，定位完成后对传动线圈锁定器锁定，用记号笔对顶角圆片221的位置进行标记，完成不良点的定位。
[0054]本实施例中，定位铁片220为正六角星形，图3为定位铁片220结构示意图，采用六向三角片设计，其三角片的顶部设计有顶角圆片221，用来对不良位置的描定。采用六向设计的作用是使液晶面板在进行描定时无死角，即通过改变六向定位铁片220的方向即可描定液晶面板任意一处。该正六角星形每个角呈60°。
[0055]其中所述顶角圆片221的直径D为150 μ m，为液晶面板子像素宽度的3-5倍，可将每一顶角圆片221描定不良区域限定在5个子像素范围内，极大提高描定位置的准确性，提高不良分析时的效率。定位铁片220与圆形磁片210搭配，圆形磁片210置于液晶面板CF面板之上，定位铁片220置于液晶面板TFT面板之下，通过圆形磁片210的吸附使定位铁片220保持在定位时位置不变，在进行位置和方向调节时，与圆形磁片210相对运动。
[0056]实施例2
[0057]与实施例1相比，区别点仅在于，本实施例中，定位铁片220为正八角星形，该正八角星形每个角呈30°，顶角圆片221的直径为100 μ m。
[0058]实施例3
[0059]与实施例1相比，区别点仅在于，本实施例中，定位铁片220为正四角星形，该正八角星形每个角呈45°，顶角圆片221的直径为200 μ m。
[0060]实施例4
[0061]本实施例公开了一种液晶面板无损检测装置，图1所示为该装置的侧视部分结构示意图。该装置包括移动式背光源110，依次设于背光源110上方的移动式下偏光片120和可翻转的上偏光片150，以及垂直于背光源110且相对设置的支柱台140和检测台170，所述支柱台140与检测台170将液晶面板160固定在上下偏光片150和120之间，支柱台140上设有与液晶面板160平行且相互搭接的支撑片130，检测台170上设有可插入液晶面板160的凹槽；以及用于定位液晶面板不良点位置的不良点多向定位装置。
[0062]图2为无损检测装置的俯视图，通过该图对液晶面板160在进行无损检测时不良位置的描定方法进行阐述。当无损检测中出现不良点，位置传动丝线锁定器211与方向传动丝线锁定器212配合使用(圆形磁片210通过传动丝线与位置按钮180和方向按钮190相连)，使定位铁片220的顶角圆片221定位至液晶面板160的不良点，当定位完成后即可对两个锁定器进行全部锁定。然后再将底部移动式背光源110和移动式下偏光片120抽离原来位置，使底部留出空间，用记号笔对定位装置中定位的顶角圆片221进行标记。定位铁片220的顶角圆片221采用实心结构设计，当记号笔进行标记时，被顶角圆片221遮挡的部分没有记号笔的标记，而被记号笔标记的区域则为不良区以外的正常像素区。通过该种方式可以极大的提高液晶面板160在进行拆屏时对不良位置的确定。
[0063]以上实施方式仅用于说明本实用新型，而并非对本实用新型的限制，有关【技术领域】的普通技术人员，在不脱离本实用新型的精神和范围的情况下，还可以做出各种变化和变型，因此所有等同的技术方案也属于本实用新型的范畴，本实用新型的专利保护范围应由权利要求限定。
【权利要求】
1.一种不良点多向定位装置，其特征在于，其包括: 一正多角星形的定位片，每个角均设有顶角圆片； 一驱动机构，包括方向按钮、位置按钮、方向传动线圈、位置传动线圈以及传动线圈锁定器； 一控制定位片位置的吸附片，该吸附片分别通过方向传动线圈和位置传动线圈连接至方向按钮和位置按钮； 以及一标记元件。
2.根据权利要求1所述的不良点多向定位装置，其特征在于，所述的定位片为铁片，所述的吸附片为磁片。
3.根据权利要求1或2所述的不良点多向定位装置，其特征在于，所述的定位片具有4?8个角。
4.根据权利要求3所述的不良点多向定位装置，其特征在于，所述的定位片为正六角星形；所述正六角星形每个角呈30?60°。
5.根据权利要求1所述的不良点多向定位装置，其特征在于，所述顶角圆片的直径为100-200 μm。
6.根据权利要求5所述的不良点多向定位装置，其特征在于，所述顶角圆片为实心结构。
7.根据权利要求1所述的不良点多向定位装置，其特征在于，所述吸附片为圆形。
8.一种液晶面板无损检测装置，其特征在于，其包括权利要求1-2、4-7中任一项所述的不良点多向定位装置。
9.根据权利要求8所述的液晶面板无损检测装置，其特征在于，还包括: 一移动式背光源； 依次设于背光源上方的移动式下偏光片和可翻转的上偏光片，以及垂直于背光源且相对设置的支柱台和检测台，所述支柱台与检测台将液晶面板固定在上下偏光片之间，支柱台上设有与液晶面板平行且相互搭接的支撑片，检测台上设有可插入液晶面板的凹槽； 所述不良点多向定位装置可移动式连接至液晶面板。
10.根据权利要求9所述的液晶面板无损检测装置，其特征在于:所述液晶面板包括CF基板及TFT基板，所述吸附片位于CF基板之上，并将定位片吸附固定于TFT基板相应位置的下方。
【文档编号】G02F1/13GK203732841SQ201420140304
【公开日】2014年7月23日 申请日期:2014年3月26日 优先权日:2014年3月26日
【发明者】沈奇雨 申请人:北京京东方光电科技有限公司, 京东方科技集团股份有限公司