液晶显示面板及其制作方法与检测方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及液晶显示技术领域，尤其涉及一种液晶显示面板及其制作方法与检测方法。
【背景技术】
[0002]液晶显示面板是液晶显示器的重要组成部分。液晶显示面板是在薄膜晶体管阵列基板(Thin Film Transistor Array Substrate，TFT Array Substrate)与彩色滤光片(Color Filter, CF)基板之间加入液晶分子，并在两片基板上施加驱动电压来控制液晶分子的旋转方向，改变光的偏振状态，并藉由偏光板实现光路的穿透与阻挡，实现显示目的。
[0003]为了使CF基板和TFT阵列基板之间密封，以切断液晶分子与外界的接触、维持CF基板和TFT阵列基板之间的盒厚、以及确保液晶显示面板的显示效果。CF基板和TFT阵列基板通过框胶(Sealant)进行贴合，框胶位于液晶显示面板的四周。框胶一般由压克力、环氧树脂、光起始剂等组成，通过UV光照射和加热进行固化。
[0004]目前一般通过氮气挤压或螺杆推动使框胶材料从针筒中吐出，并通过针筒、龙门、基台的相对移动，使框胶按照需要的路径涂布在基板上。然而针筒、龙门、基台的对位和移动不可避免的会存在误差，所以框胶的涂布位置容易出现偏差；另外，框胶的涂布宽度受压力、喷嘴高度、框胶粘度、移动速度等诸多因素的影响，也不可避免的存在误差。
[0005]框胶涂布位置或宽度出现偏差时都有可能会影响显示效果或影响切割工艺良率。因此在新产品试产或量产品开线时需要进行大量测试，量产阶段也会对产品进行抽检以保证广品品质。
[0006]目前出于对液晶显示产品窄边框的需求，在CF基板一侧，通常将框胶设置于黑色矩阵(Black Matrix, BM)上面；在TFT阵列基板一侧，通常将框胶设置于周边金属电路上面，即框胶位于黑色矩阵及TFT阵列基板上的周边金属电路之间。由于黑色矩阵为不透光，TFT阵列基板上的周边金属电路透光间隙很窄而透光率很低，则不能直接从TFT阵列基板侧或CF基板侧直接对框胶进行观察检测。
[0007]因此，将框胶涂布于黑色矩阵和TFT阵列基板的周边线路之间，虽然能够减小液晶显示面板的宽度，但是无法直接量测框胶的宽度和位置，需要先将TFT阵列基板和CF基板分离，再量测框胶的宽度和位置。这种胶框量测效率低，而且是破坏性的，会损失良品。
【发明内容】
[0008]本发明的目的在于提供一种液晶显示面板，TFT阵列基板上设有检测视窗，能够直接对框胶的宽度和位置进行检测，进而提高了胶框的检测效率。
[0009]本发明的目的还在于提供一种液晶显示面板的制作方法，胶框涂布后，通过TFT阵列基板上的检测视窗直接量测框胶的宽度和位置，从而及时调整框胶的涂布参数，进而提尚液晶显不面板的生广效率、及广品良率。
[0010]本发明的目的又在于提供一种液晶显示面板的检测方法，通过TFT阵列基板上的检测视窗直接量测框胶的宽度和位置，检测效率高，不会损失良品。
[0011]为实现上述目的，本发明提供了一种液晶显示面板，包括:CF基板与所述CF基板相对设置的TFT阵列基板、及连接所述CF基板和TFT阵列基板的框胶；
[0012]所述TFT阵列基板包括板体、及设于板体上的金属线路；
[0013]所述CF基板、及所述TFT阵列基板共同形成用于显示画面的显示区域、及位于所述显示区域外围的周边区域；所述金属线路在所述TFT阵列基板的周边区域围出数个透光的检测视窗，用于检测框胶的宽幅精度、及位置精度。
[0014]所述金属线路在所述数个检测视窗处设有尺寸标示线。
[0015]所述数个检测视窗为连续分布。
[0016]本发明还提供一种液晶显示面板的制作方法，包括如下步骤:
[0017]步骤1、提供一 CF基板整板和一 TFT阵列基板整板，所述CF基板整板上设有多个CF基板，所述TFT阵列基板整板上对应所述数个CF基板设有数个TFT阵列基板；
[0018]所述TFT阵列基板包括板体、及设于板体上的金属线路；所述CF基板、及所述TFT阵列基板共同形成用于显示画面的显示区域、及位于所述显示区域外围的周边区域；所述金属线路在所述TFT阵列基板的周边区域围出数个透光的检测视窗；
[0019]步骤2、在所述数个CF基板或所述数个TFT阵列基板的周边区域上涂布框胶，将所述CF基板整板和所述TFT阵列基板整板相对贴合；
[0020]步骤3、对所述框胶进行固化，在所述框胶进行固化前、或者进行固化后，通过所述数个检测视窗检测所述框胶的位置精度和宽度精度；根据对所述框胶的检测数据，对框胶涂布参数进行调整；
[0021 ] 步骤4、对所述CF基板整板及TFT阵列基板整板进行切割作业，得到数个液晶显示面板。
[0022]所述步骤3中，在所述框胶固化前，通过所述数个检测视窗检测所述框胶的位置精度和宽度精度，具体为，采用CCD图像采集系统对所述数个检测视窗处框胶的分布数据进行采集，与所述CCD图像采集系统相连接的计算机根据该分布数据进行分析并反馈框胶的位置精度、宽度精度，并对步骤2中框胶涂布参数进行调整。
[0023]所述步骤3中，在所述框胶固化后，通过所述数个检测视窗检测所述框胶的位置精度和宽度精度，具体为，采用CCD图像采集系统对所述数个检测视窗处框胶的分布数据进行采集，与所述CCD图像采集系统相连接的计算机根据该分布数据进行分析并反馈框胶的位置精度、宽度精度，并对步骤2中框胶涂布参数进行调整。
[0024]所述步骤3中，在所述框胶固化后，采用光学显微镜观察所述数个检测视窗处框胶的分布情况并分析，得出所述框胶的位置精度、宽度精度，根据分析结果，对所述步骤2中框胶涂布参数进行调整。
[0025]所述金属线路在所述数个检测视窗处设有尺寸标示线。
[0026]所述数个检测视窗为连续分布。
[0027]本发明还提供一种液晶显示面板的检测方法，采用光学显微镜观察所述数个检测视窗处框胶的分布情况并分析，判断所述液晶显示面板上的框胶为合格或不合格。
[0028]本发明的有益效果:本发明提供的一种液晶显示面板及其制作方法与检测方法。本发明的液晶显示面板，TFT阵列基板上的金属线路在周边区域形成数个透光的检测视窗，从而不需要分离TFT阵列基板和CF基板，可直接通过检测视窗对框胶进行检测，有效提高框胶的检测效率；本发明的液晶显示面板的制作方法，通过调整TFT阵列基板周边区域上金属线路的分布，使金属线路围出数个透光的检测视窗，涂布框胶后，通过TFT阵列基板上的检测视窗直接检测框胶的宽度和位置，检测中不需分离TFT阵列基板和CF基板，不对产品进行破坏，从而能及时反馈异常，并及时对框胶涂布参数进行调整，提高了产线生产效率、及产品良率，节省成本；本发明的液晶显示面板的检测方法，通过TFT阵列基板上的检测视窗直接量测框胶的宽度和位置，检测效率高，不会损失良品。
[0029]为了能更进一步了解本发明的特征以及技术内容，请参阅以下有关本发明的详细说明与附图，然而附图仅提供参考与说明用，并非用来对本发明加以限制。
【附图说明】
[0030]下面结合附图，通过对本发明的【具体实施方式】详细描述，将使本发明的技术方案及其它有益效果显而易见。
[0031]附图中，
[0032]图1a为本发明的液晶显示面板的剖面结构示意图；
[0033]图1b为图1a中沿A-A方向的剖面示意图；
[0034]图2a为本发明的检测视窗在TFT阵列基板上的分布示意图；
[0035]图2b为检测视窗在TFT阵列基板上的另一种分布不意图；
[0036]图3为本发明的液晶显示面板的制作方法的步骤3中通过检测视窗检测到正常的框胶的示意图；
[0037]图4为本发明的液晶显示面板的制作方法的步骤3中通过检测视窗检测到宽度过宽的框胶的示意图；
[0038]图5为本发明的液晶显示面板的制作方法的步骤3中通过检测视窗检测到宽度过窄的框胶的示意图；
[0039]图6为本发明的液晶显示面板的制作方法的步骤3中通过检测视窗检测到偏移的框胶的示意图。
【具体实施方式】
[0040]为更进一步阐述本发明所采取的技术手段及其效果，以下结合本发明的优选实施例及其附图进行详细描述。
[0041]如图la、图1b所示，本发明首先提供一种液晶显示面板，包括:CF基板10、与所述CF基板10相对设置的TFT阵列基板20、及连接所述CF基板10和TFT阵列基板20的框胶30 ；
[0042]所述TFT阵列基板20包括板体21、及设于板体21上的金属线路22 ;
[0043]所述CF基板10上设有黑色矩阵11，所述框胶30位于所述黑色矩阵11与金属线路22之间；
[0044]所述CF基板10、及所述TFT阵列基板20共同形成用于显示画面的显示区域、及位于所述显示区域外围的周边区域；结合图1b和图2a，所述金属线路22在所述TFT阵列基板20的周边区域围出数个透光的检测视窗221，用于检测框胶30的宽幅精度、及位置精度。
[0045]具体的，所述金属线路22在所述数个检测视窗221处设有尺寸标示线，以便于对框胶宽度精度、位置精度的检测；位于TFT阵列基板20周边区域上的金属线路22包括门电极驱动(Gate Driver on Array，GOA)元件、静电防护(Electro-Static discharge，ESD)电路、扇出(Fan out)引线、以及地线(Ground，GND)，则通过在形成门电极驱动(Gate Driveron Array, GOA)元件、静电防护(Electro-Static discharge, ESD)电路、扇出(Fan out)引线、或地线(Ground，GND)时进行微调位置，修改金属线路22的透光间