光纤带的制造方法、异常检测方法以及制造系统的制作方法
【专利摘要】利用使多个光纤并列且间歇性地连结而成的光纤带所特有的现象来检测光纤的异常。本发明涉及一种光纤带的制造方法，其特征在于，具有：通过一边对并列排列的多个光纤施加张力一边形成将邻接的上述光纤连结的连结部从而形成间歇性地配置有上述连结部的光纤带的工序；使施加于上述光纤带的张力减小的工序；以及从与上述光纤带的路径的带面平行的方向测定使张力减小后的上述光纤带的厚度的工序。
【专利说明】
光纤带的制造方法、异常检测方法以及制造系统
技术领域
[0001]本发明涉及光纤带的制造方法、异常检测方法以及制造系统。
【背景技术】
[0002]专利文献I记载了检查使多个光纤并列且间歇性地连结而成的光纤带的连结部的检查装置以及制造装置。
[0003]在专利文献I中记载了在制造使多个光纤并列且间歇性地连结而成的光纤带时，使多个光纤通过涂覆模具，一边在邻接的光纤之间形成连结部以及非连结部(分离部)一边涂覆粘合剂(紫外线固化树脂)，向该粘合剂照射紫外线。另外，在该检查装置中，使具有台阶部的引导辊支承光纤带，从而使光纤的非连结部分离，测定光纤带的边缘间隔、边缘根数等，来检测光纤的连结部的异常。
[0004]此外，在专利文献I记载的检查装置中，为了检查使多个光纤并列且间歇性地连结而成的光纤带的连结部，在光纤带的路径(路线)中，从垂直于带面的方向测定光纤带。
[0005]专利文献I:日本特开2012-42354号公报
【发明内容】
[0006]在使多个光纤通过涂覆模具的光纤通孔时，对光纤施加阻力，施加于光纤的张力会产生异常。若施加于光纤的张力产生异常，则构成光纤带的多个光纤产生线长差。若多个光纤产生线长差，则会产生信号延迟差，所以优选抑制线长差。另外，若在施加于光纤的张力产生异常的状态下(多个光纤产生线长差的状态下)继续制造光纤带，则对涂覆模具中的光纤施加过大的阻力，担心光纤损伤或光纤断线。
[0007]因此，在制造使多个光纤并列且间歇性地连结而成的光纤带时，优选在施加于光纤的张力产生异常时能够迅速检测出该异常。但是，在专利文献I记载的检查装置中，即使施加于光纤的张力产生异常也无法检测出该异常。
[0008]本发明的目的是利用使多个光纤并列且间歇性地连结而成的光纤带所特有的现象来检测光纤的异常。
[0009]用于实现上述目的主要发明是一种光纤带的制造方法，其特征在于，具有:通过一边对并列排列的多个光纤施加张力一边形成将邻接的上述光纤连结的连结部从而形成间歇性地配置有上述连结部的光纤带的工序;使施加于上述光纤带的张力减小的工序；以及从与上述光纤带的路径的带面平行的方向测定使张力减小后的上述光纤带的厚度的工序。
[0010]本发明的其它特征通过后述的说明书以及附图的记载来阐明。
[0011]根据本发明，在制造使多个光纤并列且间歇性地连结而成的光纤带时，能够检测出因施加于光纤的张力的异常所引起的带厚的变化。
【附图说明】
[0012]图1是间歇固定型光纤带I的制造系统10的说明图。
[0013]图2是间歇固定型光纤带I的一个例子的说明图。
[0014]图3A是粘合剂涂覆部24的涂覆模具241的说明图。图3B是粘合剂涂覆后的光纤3的集线的说明图。
[0015]图4是另一涂覆模具241的说明图。
[0016]图5是具有线长差的间歇固定型光纤带I的厚度变化的说明图。上图是减小张力前的状态下的间歇固定型光纤带I的说明图。下图是减小张力后的状态下的间歇固定型光纤带I的说明图。
[0017]图6A以及图6B是光纤带I的路径与带厚测定部40的位置关系的说明图。
[0018]图7A是测定没有线长差的间歇固定型光纤带I的厚度的情形的说明图。图7B是测定具有线长差的间歇固定型光纤带I的厚度的情形的说明图。
[0019]图8是光纤带I的制造处理的流程图。
[0020]图9是光纤带I的制造处理的变形例的流程图。
[0021]图10是带厚以及线长差相对于追加负载的图表。
[0022]图11是另一带厚测定部40的说明图。
【具体实施方式】
[0023]根据后述的说明书以及附图的记载至少可以明确以下的事项。
[0024]明确了如下的光纤带的制造方法，其特征在于，具有:通过一边对并列排列的多个光纤施加张力一边形成将邻接的上述光纤连结的连结部从而形成间歇性地配置有上述连结部的光纤带的工序;使施加于上述光纤带的张力减小的工序；以及从与上述光纤带的路径的带面平行的方向测定使张力减小后的上述光纤带的厚度的工序。
[0025]根据这样的制造方法，能够利用使多个光纤并列并间歇性地连结而成的光纤带所特有的现象来检测光纤的异常。
[0026]优选根据测定出的上述光纤带的厚度，检测施加于上述光纤的上述张力的异常。由此，能够利用使多个光纤并列并间歇性地连结而成的光纤带所特有的现象来检测张力的异常。
[0027]优选根据测定出的上述光纤带的厚度，检测构成上述光纤带的上述多个光纤的线长差的异常。由此，能够利用使多个光纤并列并间歇性地连结而成的光纤带所特有的现象来检测光纤的线长差的异常。
[0028]优选根据测定出的上述光纤带的厚度，控制形成上述光纤带的工序。由此，能够抑制具有异常的光纤带的制造。
[0029]优选根据测定出的上述光纤带的厚度，使形成上述光纤带的工序停止。由此，能够抑制光纤的损伤。
[0030]优选在形成上述光纤带的带形成部与使施加于上述光纤带的张力减小的张力减小部之间，配置有从上述带形成部牵引上述光纤带的牵引机，使比上述牵引机更靠上游侧的上述光纤带的张力与比上述牵引机更靠下游侧的上述光纤带的张力不同。由此，利用张力减小部使光纤带的张力减小，也能够保持带形成部中的光纤带的张力。
[0031]明确了一种异常检测方法，其特征在于，具有:通过一边对并列排列的多个光纤施加张力一边形成将邻接的上述光纤连结的连结部从而形成间歇性地配置有上述连结部的光纤带的工序;使施加于上述光纤带的张力减小的工序;从与上述光纤带的路径的带面平行的方向测定使张力减小后的上述光纤带的厚度的工序；以及根据测定出的上述光纤带的厚度来检测施加于上述光纤的上述张力的异常的工序。
[0032]根据这样的异常检测方法，能够利用使多个光纤并列并间歇性地连结而成的光纤带所特有的现象，来检测施加于光纤的张力的异常。
[0033]明确了一种异常检测方法，其特征在于，具有:通过一边对并列排列的多个光纤施加张力一边形成将邻接的上述光纤连结的连结部从而形成间歇性地配置有上述连结部的光纤带的工序;使施加于上述光纤带的张力减小的工序;从与上述光纤带的路径的带面平行的方向测定使张力减小后的上述光纤带的厚度的工序；以及根据测定出的上述光纤带的厚度来检测构成上述光纤带的上述多个光纤的线长差的异常的工序。
[0034]根据这样的异常检测方法，能够利用使多个光纤并列并间歇性地连结而成的光纤带所特有的现象，来检测光纤的线长差的异常。
[0035]明确了一种光纤带的制造系统，其特征在于，具有:形成部，其通过一边对并列排列的多个光纤施加张力一边形成将邻接的上述光纤连结的连结部从而形成间歇性地配置有上述连结部的光纤带；张力减小部，其使施加于上述光纤带的张力减小；以及带厚测定部，其从与上述光纤带的路径的带面平行的方向测定使张力减小后的上述光纤带的厚度。
[0036]根据这样的制造系统，能够利用使多个光纤并列并间歇性地连结而成的光纤带所特有的现象，来检测光纤的异常。
[0037]本实施方式
[0038]< 构成 >
[0039]图1是间歇固定型光纤带I的制造系统10的说明图。图2是间歇固定型光纤带I的一个例子的说明图。
[0040]在以下的说明中，如图2所示那样定义各方向。即，将与构成光纤带I的光纤3平行的方向称为“光纤方向”，将构成光纤带I的多个光纤3的排列方向称为“带宽方向”，将与光纤带I的带面平行的方向称为“厚度方向”。图1的光纤带I的输送方向是与光纤方向平行的方向。
[0041]间歇固定型光纤带I是将多个光纤3并列且间歇性地连结而成的光纤带。邻接的两芯光纤3由连结部5连结。连结邻接的两芯光纤3的多个连结部5沿光纤方向间歇性地配置。另外，光纤带I的多个连结部5沿光纤方向以及带宽方向二维地间歇性配置。在涂覆作为粘合剂的紫外线固化树脂后照射紫外线进行固化从而形成连结部5。此外，也可以利用热塑性树脂构成连结部5。邻接的两芯光纤3间的除了连结部5以外的区域成为非连结部7(分离部)。在非连结部7中，邻接的两芯光纤3彼此不被束缚。由此，能够卷绕光纤带I使之成为筒状(束状)或将其折叠，而能够高密度地收纳多个光纤3。
[0042]间歇固定型光纤带I不限定于图2所示的结构。例如，构成光纤3的光纤3也可以是其它数量(例如12芯)。另外，也可以改变间歇性地配置的多个连结部5的配置。
[0043]如图1所示，制造系统10具有带形成部20、张力减小部30、带厚测定部40。控制部50负责制造系统10的控制，进行带形成部20、张力减小部30以及带厚测定部40的控制。此外，控制系统10具有从带形成部20牵引光纤带I的牵引机61(牵引辊)、和用于卷取光纤带I的卷取机62(卷取鼓)，控制部50还进行牵引机61以及卷取机62的控制。
[0044]带形成部20是形成间歇固定型光纤带I的装置。带形成部20具有多个光纤供给部22、粘合剂涂覆部24、光源26。光纤供给部22是将光纤3向粘合剂涂覆部24供给的供给装置(供给源)。粘合剂涂覆部24是向光纤3之间涂覆粘合剂的装置，具有涂覆模具241(后述)。光源26是照射紫外线的照射装置。光源26由预固化用光源26A和正式固化用光源26B这两种构成。
[0045]图3A是粘合剂涂覆部24的涂覆模具241的说明图。涂覆模具241是向光纤3之间涂覆粘合剂(这里是紫外线固化树脂)的部件，具有多个光纤通孔242。在涂覆模具241的内部空间填充有粘合剂，在该内部空间向光纤3之间涂覆粘合剂。在涂覆模具241的光纤通孔242的出口附近设置有粘合剂除去部244A作为间歇涂覆部244。粘合剂除去部244A将被涂覆到光纤3之间的粘合剂的一部分保留并且将一部分除去。由此，在从涂覆模具241的光纤通孔242出来紧后(经过了作为间歇涂覆部244的粘合剂除去部244A紧后)，成为间歇性地将粘合剂涂敷到光纤3之间的状态。
[0046]图3B是粘合剂涂覆后的光纤3的集线的说明图。在图3B中，夸大示出了光纤3的间隔、粘合剂的除去部分的形状等。在从涂覆模具241的光纤通孔242出来紧后，光纤3彼此的间隔空开，粘合剂的除去部分空开，在该状态下预固化用光源26A向粘合剂照射紫外线，使作为粘合剂的紫外线固化树脂预固化。
[0047]图4是另一涂覆模具241的说明图。在该涂覆模具241的光纤通孔242的出口附近设置有挡板244B作为间歇涂覆部244。挡板244B是切换涂覆粘合剂与遮挡粘合剂的部件。挡板244B间歇性地向光纤3之间涂覆粘合剂，从而成为间歇性地将粘合剂涂敷到光纤3之间的状态。此外，在这种情况下，在从涂覆模具241的光纤通孔242出来紧后，光纤3彼此的间隔空开，在该状态下预固化用光源26A向粘合剂照射紫外线，使作为粘合剂的紫外线固化树脂预固化。
[0048]此外，在使用图3A以及图4中的任意一个涂覆模具241的情况下，在粘合剂预固化后，逐渐减小光纤3彼此的间隔，将多个光纤3并列排列集线为带状。在正式固化前将多个光纤3集线，粘合剂也预固化，所以在粘合剂除去部分不使粘合剂彼此附着即可。若正式固化用光源26B照射紫外线使粘合剂固化，则形成图2所示的间歇固定型光纤带I。
[0049]在上述带形成部20中，一边对并列排列的多个光纤3施加张力，一边形成将邻接的光纤3连结的连结部5，从而形成间歇固定型光纤带1(间歇性地配置有连结部5的光纤带I)。但是，在将多个光纤3通过涂覆模具241的光纤通孔242时，阻力施加于光纤3，施加于光纤3的张力会产生异常。阻力施加于光纤3的原因例如可举出光纤3与涂覆模具241的异常接触、光纤3的表面的光滑性不好、涂覆模具241的内部存积有垃圾等。此外，光纤3与涂覆模具241的异常接触的原因可举出光纤3的线偏移、光纤3的直径相对于光纤通孔242较粗、光纤3由于静电而相对于光纤通孔242倾斜等。
[0050]若施加于光纤3的张力产生异常，则导致构成光纤带I的多个光纤3产生线长差。若多个光纤3产生线长差，则导致产生信号延迟差，所以优选抑制线长差。另外，若在施加于光纤3的张力产生异常的状态下(多个光纤3产生线长差的状态下)继续光纤带I的制造，则涂覆模具241对光纤3施加过大的阻力，担心光纤3损伤或光纤3断线。因此，优选在光纤3的张力产生异常时能够迅速检测出异常。
[0051]因此，在本实施方式中，在使施加于间歇固定型光纤带I的张力减小后，测定间歇固定型光纤带I的厚度，从而检测异常(施加于光纤3的张力的异常、产生线长差)。这里，对能够根据使张力减小后的间歇固定型光纤带I的厚度来检测异常的理由进行说明。
[0052]图5是具有线长差的间歇固定型光纤带I的厚度变化的说明图。上图是减小张力前的状态(施加有比较强的张力的状态)下的间歇固定型光纤带I的说明图。下图是减小张力后的状态(施加有比较弱的张力的状态)下的间歇固定型光纤带I的说明图。此外，两图都是从带宽方向(与光纤带I的带面平行的方向)观察光纤带I的图。
[0053]如图5的上图所示，在构成间歇固定型光纤带I的光纤3产生线长差的情况下，若比较强的张力施加于光纤带1，则各光纤3被拉伸而成为笔直的状态。在该状态下，张力异常的光纤3与正常的光纤3都是笔直的状态，所以光纤3间不形成间隙。因此，在该状态下难以观察光纤3的线长差。
[0054]若使光纤带I的张力减小，则光纤3收缩。此时，施加有异常张力的光纤3比正常的光纤3收缩更多。其结果，若使光纤带I的张力减小，则如图5的下图所示，正常的光纤3在厚度方向挠曲变形。这样，在间歇固定型光纤带I的光纤3存在线长差的情况下，若使光纤带I的张力减小，则从带宽方向(与光纤带I的带面平行的方向)观察的间歇固定型光纤带I看起来较厚。该现象是间歇性地配置有连结部5的间歇固定型光纤带I所特有的现象(S卩，在不具有非连结部7的通常的光纤带中不会产生的现象)。
[0055]在本实施方式中，利用间歇固定型光纤带I所特有的上述现象，使光纤3的异常显现化来检测异常。本实施方式的制造系统10为了在使施加于间歇固定型光纤带I的张力减小后测定间歇固定型光纤带I的厚度，而如图1所示，具备张力减小部30以及带厚测定部40。
[0056]张力减小部30是使施加于间歇固定型光纤带I的张力减小的装置。张力减小部30具备浮动辊31。使光纤带I的张力减小的方法不限于使用浮动辊31，也可以是其它方法。张力减小部30配置于带厚测定部40的上游侧，利用张力减小部30减小了张力的光纤带I被供给至带厚测定部40。
[0057]此外，在张力减小部30与带形成部20之间配置有从带形成部20牵引光纤带I的牵引机61(牵引辊)。牵引机61从带形成部20牵引光纤带I，从而能够使比牵引机61更靠上游侧的光纤带I的张力、与比牵引机61更靠下游侧的光纤带I的张力不同。因此，即使张力减小部30使光纤带I的张力减小，也能保持比牵引机61更靠上游侧的光纤带I的张力，所以带形成部20中的光纤带1(或者光纤3)的张力不会减小。若带形成部20中的光纤带I的张力减小，则担心导致光纤3与涂覆模具241的异常接触等不良情况，但在本实施方式中不会产生这样的不良情况。在本实施方式中，由于具有牵引机61(牵引辊)，所以张力减小部30成为使下游侧的光纤带I的张力从张力减小部30减小的装置。换言之，张力减小部30是使从张力减小部30到卷取机62(卷取鼓)之间的光纤带I的张力减小的装置。
[0058]带厚测定部40是测定光纤带I的厚度的装置。带厚测定部40例如具备CCD传感器42和照明装置44，也可以不具有照明装置4LCXD传感器42可以是一维传感器(线性传感器)，也可以是二维传感器(区域传感器)。另外，控制部50可以实现测定带的厚度的功能的一部分，例如控制部50可以将CCD传感器42的拍摄图像中的光纤带I的边缘(光纤带I的上边缘与下边缘)抽出来测定光纤带I的厚度。
[0059]图6A以及图6B是光纤带I的路径与带厚测定部40的位置关系的说明图。图中示出了正常的光纤带I在路径上处于正常的状态。
[0060]带厚测定部40从与光纤带I的路径的带面平行的方向测定光纤3的厚度。这里，“光纤带I的路径的带面”是指正常的光纤带I在路径上处于正常的状态下的光纤带I的带面。因此，例如在光纤带I相对于路径倾斜的情况下，“光纤带I的路径的带面”不变化而是相同的面(相同的位置)，但“光纤带I的路径的带面”与实际的带面变得不同。
[0061]带厚测定部40配置于张力减小部30的下游侧。因此，带厚测定部40测定张力减小了的光纤带I的厚度。
[0062]图7A是测定没有线长差的间歇固定型光纤带I的厚度的情形的说明图。图7B是测定具有线长差的间歇固定型光纤带I的厚度的情形的说明图。如已经说明的那样，在间歇固定型光纤带I的光纤3具有线长差的情况下，若使光纤带I的张力减小，则从带宽方向(与光纤带I的带面平行的方向)观察的间歇固定型光纤带I变厚。若将图7A所示的带厚设为D1，将图7B所示的带厚设为D2，将阈值Dth设定为比Dl大且比D2小(Dl<Dth<D2)，则通过比较带厚测定部40的测定结果与阈值Dth，能够检测出异常(施加于光纤3的张力的异常、产生线长差)的有无。
[0063]图7C是光纤带I相对于路径倾斜的情况下的说明图。若沿输送方向输送张力减小的具有线长差的光纤带1(参照图5的下图)，则由于蜿蜒的光纤3的影响等而产生光纤带I从路径跳起的现象(线偏移)，如图7C所示那样光纤带I相对于路径变得倾斜。其结果，即使光纤带I的厚度不变化，带厚测定部40测定的带厚D3也会变厚。因此，在产生由光纤3的线长差引起的线偏移的情况下，通过比较带厚测定部40的测定结果与阈值Dth，从而也能够检测出光纤的异常(施加于光纤3的张力的异常、产生线长差)的有无。
[0064]图8是光纤带I的制造处理的流程图。
[0065]首先，控制部50使间歇固定型光纤带I的制造(SlOl)开始。此时，控制部50—边对并列排列的多个光纤3施加张力一边在带形成部20形成间歇固定型光纤带I。
[0066]接下来，控制部50测定间歇固定型光纤带I的厚度(S102)。此时，控制部50利用张力减小部30使间歇固定型光纤带I的张力减小，并且使带厚测定部40测定减小张力后的光纤带I的厚度。
[0067]接下来，控制部50比较测定出的光纤带I的厚度(带厚)与阈值Dth(S103)。若带厚比阈值Dth小(S103中为否)，则控制部50继续光纤带I的制造。
[0068]另一方面，若带厚比阈值Dth大(S103中为是)，则控制部50停止制造系统10的动作(S104)。在带厚比阈值Dth大的情况下，认为施加于光纤3的张力存在异常，构成光纤带I的光纤3产生线长差，所以通过使制造系统10的动作停止，能够抑制具有线长差的光纤带I的制造，并且能够抑制光纤3的损伤、断线。另外，通过使制造系统10的动作停止，还能够抑制涂覆模具241的损伤。
[0069]制造停止后，作业者进行制造系统10的检查、修补(S105)。特别是由于认为施加于光纤3的张力存在异常，所以作业者检查向涂覆模具241供给的光纤3的张力、涂覆模具241与光纤3的位置关系等并进行修补。此外，作业者还可以进行涂覆模具241、光纤3的静电的除去、涂覆模具241的粘合剂的供给压等的调整等。
[0070]S105的制造系统10的检查.修补后，控制部50使间歇固定型光纤带I的制造再次开始(S106)。再次开始后，控制部50继续间歇固定型光纤带I的带厚测定(S102)和带厚的异常检测(S103)。
[0071]此外，在上述制造处理中，在检测出带厚的异常时(S103中为是)，控制部50使制造系统10的动作停止(S104)，作业者进行制造系统10的检查.修补(S105)。但是，在检测出带厚的异常时(S103中为是)，控制部50也可以代替使制造系统10的动作停止，而是降低光纤3的线速、调节向涂覆模具241供给的光纤3的张力、进行涂覆模具241、光纤3的静电的除去、调节涂覆模具241的粘合剂的供给压等，来进行制造系统10(主要是带形成部20)的自动调整。
[0072]图9是光纤带I的制造处理的变形例的流程图。在变形例中，在检测出带厚的异常时(S103中为是)，控制部50不立即使制造系统10的动作停止，而是暂时降低光纤3的线速(S201)，在即使降低线速带厚也比第二阈值Dth2大的情况下(S202中为是)，停止制造系统10的动作(S104)。根据该变形例，在降低光纤3的线速时(S201)，若带厚的异常被消除(S202为否)，则能够继续制造系统10的动作。
[0073].实施例1(没有线长差的间歇固定型光纤带I的厚度的测定)
[0074]使用图1所示的制造系统10，一边对并列排列的12根光纤3施加张力一边形成没有线长差的12芯的间歇固定型光纤带I，利用带厚测定部40测定光纤带I的厚度。使用的光纤3的直径约为250μπι，连结部5的长度(相当于图2的长度LI)为15_，非连结部7的长度(相当于图2的长度L2)为17mm。此外，将带厚测定部40中的光纤带I的张力设定为3种(300gf/12芯、200gf/12芯、100gf/12芯)，测定各张力下的带厚。
[0075]3种的张力下的带厚的测定结果在0.3mm?0.5mm的范围内。
[0076].实施例2(具有线长差的间歇固定型光纤带I的厚度的测定)
[0077]使用图1所示的制造系统10，一边对并列排列的12根光纤3施加张力一边形成12芯的间歇固定型光纤带I，利用带厚测定部40测定光纤带I的厚度。为了具有线长差，在形成间歇固定型光纤带I时仅对12根光纤3中的第一条光纤3施加追加负载，从而一边对第一条光纤3施加比其它光纤3高的张力，一边形成12芯的间歇固定型光纤带I。该追加负载设定为5种(Ogf、50gf、100gf、150gf、200gf)。在施加追加负载并形成的间歇固定型光纤带I的形成后，在张力减小部30将光纤带I的张力减小为100gf/12芯，利用带厚测定部40测定光纤带I的厚度(mm)。
[0078]另外，为了确认形成有具有线长差的间歇固定型光纤带I，将对第一条光纤3施加追加负载而形成的间歇固定型光纤带I按照1m切断，分别测定被切断后的各光纤3(12根光纤3)的长度。将测定出的光纤3的最大长度与最短长度之差除以1m所得到的值作为线长差(%)进行评价。此外，最短长度的光纤3是施加了追加负载的第一条光纤3。
[0079]图10是带厚以及线长差相对于追加负载的图表。横轴表示仅对12根光纤3中的第一条光纤3施加的追加负载(gf)。右侧的纵轴表示带厚(mm)。左侧的纵轴表示线长差(% )。
[0080]如线长差的图表所示那样，确认出追加负载越大，线长差越大。认为这是因为若对特定的光纤3(这里为第一条光纤3)施加追加负载，则对该光纤3施加比其它光纤3高的张力，所以产生了线长差。
[0081]另外，如带厚的图表所示那样，确认出追加负载越增大，间歇固定型光纤带I测定得越厚。由此，确认出若线长差变大，则间歇固定型光纤带I测定得较厚。
[0082]因此，确认出能够根据间歇固定型光纤带I的厚度的测定结果，检测施加于光纤3的张力存在异常、构成光纤带I的光纤3产生线长差。此外，没有线长差的间歇固定型光纤带I的厚度的测定结果最大为0.5mm(实施例1)，所以确认出若将图8的S103的阈值Dth设定为比0.5大的值(例如0.55左右)，则能够根据测定出的带厚，检测施加于光纤3的张力存在异常、构成光纤带I的光纤3产生线长差(例如0.05%以上的线长差)。
[0083]其它
[0084]上述实施方式是为了便于本发明的理解，并非用于限定和解释本发明。本发明可以不脱离其宗旨地进行改变.改进，并且本发明当然也可以包含其等价物。
[0085]在上述实施方式中，带厚测定部40的CCD传感器42以及照明装置44配置在与带宽平行的方向。但是，如图11所示，CCD传感器42以及照明装置44也可以相对于带宽方向倾斜地配置。利用这样的带厚测定部40，也能够从与路径的带面平行的方向测定带厚。
[0086]附图标记的说明
[0087]I…光纤带；3…光纤；5…连结部；7…非连结部；10...制造系统；20...带形成部；22...光纤供给部；24...粘合剂涂覆部；241…涂覆模具；242…光纤通孔;244…间歇涂覆部；244A...粘合剂除去部;244B...挡板;26...光源;26A...预固化用光源;26B...正式固化用光源；30...张力减小部;31…浮动辊;40…带厚测定部;42…CCD照相机;44…照明装置;50…控制部;61...牵引机;62...卷取机。
【主权项】
1.一种光纤带的制造方法，其特征在于，具有: 通过一边对并列排列的多个光纤施加张力一边形成将邻接的上述光纤连结的连结部从而形成间歇性地配置有上述连结部的光纤带的工序； 使施加于上述光纤带的张力减小的工序；以及 从与上述光纤带的路径的带面平行的方向测定使张力减小后的上述光纤带的厚度的工序。2.根据权利要求1所述的光纤带的制造方法，其特征在于， 根据测定出的上述光纤带的厚度，检测施加于上述光纤的上述张力的异常。3.根据权利要求1所述的光纤带的制造方法，其特征在于， 根据测定出的上述光纤带的厚度，检测构成上述光纤带的上述多个光纤的线长差的异常。4.根据权利要求1?3中任一项所述的光纤带的制造方法，其特征在于， 根据测定出的上述光纤带的厚度，控制形成上述光纤带的工序。5.根据权利要求4所述的光纤带的制造方法，其特征在于， 根据测定出的上述光纤带的厚度，使形成上述光纤带的工序停止。6.根据权利要求1?5中任一项所述的光纤带的制造方法，其特征在于， 在形成上述光纤带的带形成部与使施加于上述光纤带的张力减小的张力减小部之间，配置有从上述带形成部牵引上述光纤带的牵引机， 使比上述牵引机更靠上游侧的上述光纤带的张力与比上述牵引机更靠下游侧的上述光纤带的张力不同。7.一种异常检测方法，其特征在于，具有: 通过一边对并列排列的多个光纤施加张力一边形成将邻接的上述光纤连结的连结部从而形成间歇性地配置有上述连结部的光纤带的工序； 使施加于上述光纤带的张力减小的工序； 从与上述光纤带的路径的带面平行的方向测定使张力减小后的上述光纤带的厚度的工序；以及 根据测定出的上述光纤带的厚度来检测施加于上述光纤的上述张力的异常的工序。8.一种异常检测方法，其特征在于，具有: 通过一边对并列排列的多个光纤施加张力一边形成将邻接的上述光纤连结的连结部从而形成间歇性地配置有上述连结部的光纤带的工序； 使施加于上述光纤带的张力减小的工序； 从与上述光纤带的路径的带面平行的方向测定使张力减小后的上述光纤带的厚度的工序；以及 根据测定出的上述光纤带的厚度来检测构成上述光纤带的上述多个光纤的线长差的异常的工序。9.一种光纤带的制造系统，其特征在于，具有: 形成部，其通过一边对并列排列的多个光纤施加张力一边形成将邻接的上述光纤连结的连结部从而形成间歇性地配置有上述连结部的光纤带； 张力减小部，其使施加于上述光纤带的张力减小；以及 带厚测定部，其从与上述光纤带的路径的带面平行的方向测定使张力减小后的上述光纤带的厚度。
【文档编号】G02B6/44GK106030364SQ201580002603
【公开日】2016年10月12日
【申请日】2015年10月27日
【发明人】佐岛由惠, 伊佐地瑞基, 大里健, 山中正义
【申请人】株式会社藤仓