减少箔皱褶的组件和方法

文档序号:2943746阅读:231来源:国知局
专利名称:减少箔皱褶的组件和方法
技术领域
本发明涉及一种用于減少在电子束产生设备的电子逸出窗ロ箔中的皱褶的组件和方法,该皱褶能够因在装配过程中出现的过剩箔而产生,该箔粘接到支承板。
背景技术
电子束产生设备可以使用在物品的消毒中,例如举例而言在包装材料、食品包装或者医疗设备中的消毒,或者它们可以使用在例如墨汁的固化中。通常,这些设备包括由至少ー个箔和支承板形成的电子逸出窗ロ组件。优选地由铜制成的支承板具有多个孔,在操作期间电子将从电子束产生设备通过所述孔射出。支承板形成电子束产生设备的真空密封(vacuum-tight)壳体的壁,并且为了保持真空,支承板的孔由箔覆盖。所述箔具有大约6-10 μ m的厚度,并且优选地由钛制成。由于该厚度,大多数电子能够穿过它。
箔通过粘接在支承板的圆周处或附近密封到支承板。术语粘接在此应该解释为ー般术语。可能的粘接技术可以是激光焊接、电子束焊接、钎焊、超声波焊接、扩散粘接和胶

ロ ο在装配过程中箔的精密处理期间,例如由于箔被拉伸或因其他方式会出现过剩箔。由于箔和支承板在粘接线处互相固定在一起,一旦在壳体中应用真空,过剩箔会导致在箔中产生皱褶。大的皱褶对电子束产生设备的操作是有害的,不仅因为降低了让电子穿过的效率,而且因为沿着皱褶有出现破裂的风险。箔事实上是非常脆弱的。

发明内容
因此,本发明的ー个目的在于提供一种支承板和逸出窗ロ箔的组件,所述支承板设计来高效和周密地减少在箔中的皱褶。该目的由使用在电子束产生设备中的支承板和逸出窗ロ箔的组件来实现。所述支承板设计来減少在所述箔中的皱褶,该皱褶可能由于在装配过程中出现的过剩箔而产生,所述箔沿着限定在支承板上的设置有孔和箔支承部的区域的边界的闭合粘接线粘接到支承板,并且在该区域中所述箔适于用作电子束产生设备的真空密封壳体的壁的一部分。所述组件的特征在于,在所述区域内所述支承板设置成孔和箔支承部相互间隔(alternately)的模式(pattern),当在所述壳体产生真空时该模式适于形成基本上吸收任何过剩箔的拓扑轮廓。重要的是应该认识到,在产生过剩箔的地方,需要小心处理由例如伸长箔产生的过剩箔。所述支承板和所述箔在粘接线处互相粘接在一起,并且在所述箔和所述支承板之间会导致过剩箔在某些区域中累积的任何移动也将可能导致皱褶产生。因此,过剩箔需要尽可能多地被直接向下吸收到支承板内,即沿着与支承板的平面垂直的方向吸收到支承板内。因此,可以控制所述箔不沿着所述支承板的平面的方向相对于支承板显著地移动。在此和在下面,术语“吸收”使用来表示,所述箔应该以这样的方式接纳在轮廓表面上,该方式即允许任何额外箔区域以受控方式向下突出以产生“张紧的”箔。在此和在下面,术语“张紧的”使用来表示,当在壳体中产生真空时,所述箔不能形成大的不可控皱褶。然而,所述箔没有被张紧意味着在所述箔中产生了拉伸应力。在所述组件的当前优选实施例中,以这样的方式实现吸收,即所述箔的实质上的主要弯曲产生在所述孔中。已经认识到,支承板的模式应该促进所述箔的单弯曲并且尽可能地避免双弯曲。已经发现有害的皱褶更可能发生在箔被显著双弯曲的区域中。在本发明中,通过给所述箔在每个孔中的主要弯曲,很大程度地減少了双弯曲。在此和在下面,术语“主要弯曲”定义为主要单弯曲,或者包括较少或较小双弯曲成分的单弯曲。难以完全消除所述箔的双弯曲,但是如果迫使箔尽可能地沿着ー个方向突出或弯曲,从而产生沿着该方向的主要弯曲,那么可以减少沿着任何其他方向的附加较小弯曲的影响。应用主要弯曲,是因为非常期望所述箔应该在支承板的每个单孔中局部地弯曲,并且因为非常期望所述箔应该整体地,也就是在多个相邻孔上弯曲。 在从属权利要求3-12中描述了本发明的进ー步的当前优选实施例。本发明还包括一种用于減少在电子束产生设备的逸出窗ロ箔中的皱褶的方法,该皱褶可以由于在装配过程中出现的过剩箔而产生,所述箔沿着限定在支承板上的设置有孔和箔支承部的区域的边界的闭合粘接线粘接到支承板,并且在该区域中所述箔适于用作电子束产生设备的真空密封壳体的壁的一部分。所述方法包括如下步骤,在所述区域内,提供在所述支承板中的孔和箔支承部相互间隔的模式,当在所述壳体产生真空时该模式适于形成基本上吸收任何过剩箔的拓扑轮廓。本发明还包括一种在填充机器中用于消毒例如举例而言包装材料卷等包装材料的方法,所述方法包括使用包含根据权利要求I所述的组件的电子束产生设备的步骤。


在下文中,将參考附图更详细地描述本发明的当前优选实施例,其中图I为根据现有技术所示的电子束产生设备的示例性剖视图;图2表示根据本发明的组件的第一实施例的示例性剖视图,该组件安装到电子束产生设备的局部不出壳体;图3表示图2的实施例的示例性俯视图;图4表示图2和3的实施例的支承板的等距局部剖视图;图5表示支承板和箔的示例性等距局部剖视图,所述箔示出为承受来自(未示出的)壳体内侧的真空;图6表示图5的示例性剖面正视图的一部分,所述剖面为沿着图3的线A剖开而成;图7表示图5的示例性剖面正视图的一部分,所述剖面为沿着图3的线B剖开而成;图8表示沿着图3的线C剖开而成的局部剖面的特别示例性视图,示出第二组支承条的支承条和所述箔的联接;图9表示在来自图3的小示意图D中的主要弯曲;图10表示支承板的第二实施例的局部俯视图;图11表示根据第三实施例的支承板的示例性俯视图12表示图11的支承板的第一支承板构件,但是是以等距局部剖视图显示,以及图13表示沿着图11的线D剖开而成的局部剖面的特别示例性视图。在不同实施例中对相似特征使用相同的附图标记。
具体实施例方式图I表示电子束产生设备10的示例的特别示例性视图。该设备包括电子逸出窗ロ 12,电子通过逸出窗ロ 12向要照射的目标发射。根据本发明的设计,电子束产生设备10通常包括真空腔14,在其内提供细丝16和控制网格18。细丝16优选地由钨制成。当电流流过细丝16时,细丝的电阻导致细丝被加热到2000°C级别的温度。该加热导致细丝16辐射电子云。控制网格18提供在细丝16的前面,并且帮助以受控方式分布电子。电子被在网格18与逸出窗ロ 12之间的电压加速。电子束产生设备10大体上表示低电压电子束发射器,该发射器通常具有300kV以下的电压。在本发明的设计中,加速电压处于70-85kV的级别。该电压相对于每个电子产生70-85keV的动(动态)能。 如图2所示,电子逸出窗ロ 12是支承板22和电子逸出窗ロ箔20的组件。箔20附接到支承板22的外表面24,其在图2中所示为支承板22的上表面。因此,支承板22提供在箔20内側,即箔20面向周围环境,而支承板22面向电子束产生设备10内側。沿着连续粘接线26 (在附图中仅显示为两个点)实现箔20与支承板22的附接。粘接线26,其整体以及由其所限定边界的区域,由在图3中的虚线表示,该附图示出图2的组件。在优选实施例中,支承板22和箔20基本上为矩形并且粘接线26限定具有基本上相似形状的区域的边界。该区域称为矩形,但如可以从附图中见到的,该区域具有带圆角的基本上呈矩形的形状。该矩形具有第一侧部I和与第一侧部I相対的第二侧部2。并且,该矩形具有第三侧部3和与第三侧部3相対的第四侧部4。每ー对相应的侧部中的侧部是基本平行的。第一和第二侧部1、2基本上与第三和第四侧部3、4垂直。用于将箔20粘接到支承板22的可能粘接技术可以是例如激光焊接、电子束焊接、钎焊、超声波焊接、扩散粘接和胶合。粘接线26是连续的以便能够保持在电子束产生设备10内侧的真空。术语“连续的”使用来定义线是环状或者闭合的。箔20对电子基本上是透明的,并且优选地由金属,例如钛,或者由多种材料的叠层结构制成。箔20的厚度是在大约6-10 μ m的级别。支承板22用作箔20的支承部。在示出实施例中,支承板22包括两个构件,支承箔20的中部的第一支承板构件22a和具有框架的形状、设置有箔粘接线26的第二支承板构件22b。术语“框架”在此应该解释为具有中心孔配置的元件。并且,应该限定粘接线26沿着框架的孔配置延伸,但是是在框架的外周内。优选地,粘接线26以距框架的外周一定距离延伸。此外,制作至少ー个粘接线26。因此,可以制作两个或更多的粘接线。例如,可以在框架上制造内和外粘接线,并且两个线可以例如是互相共心的。在装配状态中,两个支承板构件22a和22b互相粘接在一起。两个构件可以由不同材料或者由相似材料制成。在优选实施例中,第一支承板构件22a由铜或钛制成,而第二支承板构件22b由不锈钢制成。在图2和3中,还局部示出真空腔壳体14,支承板22附加到其上。
如图2所示,粘接线26定位在高台28上。支承板的第二构件22b (即框架)相对于第一支承板构件22a以这样的方式定位框架的上表面形成高台28,S卩,它形成以比第一支承板构件22a的上表面30更高的平面定位的表面,该表面意指相对于第一支承板构件22a的上表面30升闻的表面。第一实施例示出在图3-9中。第一支承板构件22a设置有多个孔32,孔32中的ー些是通孔以便电子可以穿过。并且,支承板22设置有箔支承部34。箔支承部34具有顶表面,其设计为在电子束产生设备10中提供真空时与箔22接触。在由粘接线26限定边界的区域内,支承板22设置成这些孔32和箔支承部34相互间隔的模式,该模式在壳体14中产生真空时适于形成箔20的基本上吸收任何过剩箔的拓扑轮廓。通过吸收过剩箔,可以很大程度避免或至少减少皱褶。术语“拓扑轮廓”使用来描述,箔20将具有非平坦的轮廓表面,在那里相对于彼此ー些区域或点被升高,并且ー些区域或点下沉。 在当前优选实施例中,孔32和箔支承部34的模式以这样的方式设计在孔32中形成箔20的主要弯曲。在该实施例中,由粘接线26限定边界的区域分成三个段,其中每个该段包括多个孔32。在每个该段中,在相邻孔32中沿着相同方向产生主要弯曲。这在下面将关联支承板22的设计来更详细的描述。在该第一实施例中,第一支承板构件22a的箔支承部34形成为箔支承条36。第一组箔支承条设置在该区域的第一段38中。该第一段是第一支承板构件22a的中间段。在下面,这些条将被表示为第一支承条36a。第二组箔支承条设置在第一支承板构件22a的第ニ侧面段40中,其中在第一中间段38的每个侧面上提供ー个该第二侧面段40。在下面,这些条将被表示为第二支承条36b。在图3中,已经增加了三维坐标系统。坐标系统的第一轴,表示为Y,限定一般性方向,并且引导为与构成由粘接线26限定边界的区域的矩形的第一和第二侧部1、2垂直。第二轴,表不为X,限定另ー个一般性方向,并且引导为与矩形的第三和第三侧部3、4垂直。第一组支承条的支承条36a沿着第一轴Y延伸,并且第二组箔支承条的支承条36b沿着第ニ轴X延伸。这样意味着相应支承条将具有它们的跟随相应轴的长度方向延伸部。将会示出这些轴应解释为一般性的,并且在优选实施例中这些条具有它们的沿着更多特定和本地轴的实际延伸部。第三轴,表示为Z,限定构成组件的深度的附加一般性方向。第一组支承条36a沿着弯曲路径延伸。弯曲路径在形状上基本上等于弧并且形成为弧。在弧形支承条36a之间具有相等的距离,并且它们朝向相同方向以便在两个弧之间的距离不沿着第二方向X改变。并且,这些第一组支承条36a的箔支承上表面42在沿着第三轴Z方向的高度是相等的,所述高度比在那里粘接箔20的高台28的上表面的高度低。这可以在图6和7中见到。当在操作中,电子束产生设备10将被加热时,结果是也加热了箔支承板22。第一组支承条36a形成为弧形以控制在形状方面由于热膨胀导致的任何潜在改变,也就是,将防止第一组支承条36a的任何非受控歪曲或皱褶。当加热时,在材料中的任何热膨胀将带来在支承条36a产生カ的风险,其会使支承条开始歪曲。通过提供弧形支承条36a,该カ将直接具有沿着第二方向X的分力,其将促进沿着该方向进ー步弯曲,即该条将变得具有更大弧度。如前面所述,第二支承条36b提供在第一支承板构件22a的第二外侧面段40中,第二支承条36b在第一组支承条36a的每侧上。并且,第二支承条36b沿着第二方向X延伸。此外,它们是基本上笔直的,基本上互相平行,并且优选地平均地分布在第二段40中以便在它们之间具有相等的距离。然而,其他分布和非相等距离当然也是可行的。它们的支承上表面44是斜坡,參见图4-7。该斜坡设置为,支承条36b在第一支承条36a附近具有其最小闻度以及在粘接线26附近具有其最大闻度。上表面44的最小闻度小于第一支承条36a的上表面42的高度。上表面44的最大高度小于高台28的上表面的高度,即,高台28的上表面是支承板22的最上的表面。第一与每个相应第二段之间表示为第三段的小接ロ区域中设置有支承条46,其具有与弧形第一支承条36a相似的形状和延伸部。在下面,该支承条46表示为第三支承条 46。它的上表面48定位在比第一支承条36a的上表面42低的水平。第二支承条36b与该第三支承条46连接,并且该第三支承条46的上表面48处于与第二支承条36b的倾斜上表面44的最下侧的水平面相等的水平面处。如前面所述,孔32设置在支承条36之间。在第一支承条36a之间的第一中间区域中,孔32是通孔,即孔32完全延伸通过支承板22以便支承板22对于电子来说是透明的。然而,在第一支承板构件22a的外周周围,孔32是非通孔。作为替代,支承条36、46在此通过具有上表面52的互连区域50互相连接,上表面52相对于支承条36、46的上表面42、44、48下沉。在支承条36、46的上表面42、44、48与互连区域50的上表面52之间的距离足够大以保证箔20不与互连区域50接触。如上所述,互连区域50绕着第一支承板构件22a的外周延伸。在图3和4中,可以发现互连区域50不仅在第二支承条36b与第三支承条46之间延伸,而且在第一支承条36a的端部之间延伸。并且,在第一支承条36a的中间区域中,在那里孔32是通孔,设置有薄的互连部54。从图4-7,可以发现这些互连部54具有上表面56,其具有比第一支承条36a的上表面42所处的高度更小的高度。沿着第三方向Z,在第一支承条36a的上表面42与互连部54的上表面56之间的距离是足够大以保证箔20不与该互连部接触。互连部54的功能是保持所有第一支承条36a之间的相同距离。该薄互连部54具有它们的沿着第二方向X的长度方向延伸部,參见图3,但不是笔直的中心线,作为替代,它们沿着第一方向Y从(未图示)虚拟的中心线移动一定距离。每个第二部向支承板22的第一侧部I移动并且其余向第二侧部2移动,形成Z字形线。通过形成Z字形线,取代沿着第二方向X的笔直线,能够防止皱褶,即互连部54的笔直线会产生沿着第二方向X延伸的条,该条会形成潜在的皱褶。弧形支承条36a沿着第二方向X的厚度为大约O. 55mm并且基本上中心定位的互连部54沿着第一方向Y的厚度为大约O. 4mm。第三支承条46沿着第二方向X的厚度为大约O. 55mm。第二支承条36b沿着第一方向Y的厚度为大约O. 55mm。在下面,关于图5-8,将描述一旦从电子束产生设备10的内侧应用真空,箔20将如何被接收在支承板22中。当应用真空吋,孔32和箔支承部34将形成箔20的基本上吸收任何过剩箔的拓扑轮廓,否则这些过剩箔会产生破坏性皱褶。
通常优选地,箔20应该向内突出在孔中,产生箔20的绕着在支承板22的虚拟平面中的与粘接线26基本上垂直的轴的实质上的主要弯曲。这意味着,因为在优选实施例中粘接线基本上为矩形,在第一和第二段38、40中主要弯曲的方向将优选地不相同。在第一段38中,箔20将向内突出在支承条36a之间的孔32中,产生箔20的绕着第一轴Y的实质上的主要弯曲。在第二侧面段40中,在支承条36b之间的实质上的主要弯曲将是绕着第二轴X的。在两种情况中将沿着第三轴Z的负方向实现箔20的突出或吸收。至此,总体上已经描述绕着第一轴Y实现在第一段38中的主要弯曲。然而,可以理解这样某种程度上是真实情况的简化。第一支承条36a是弧形的并且将沿着跟随弧的形状的轴形成主要弯曲。该轴可以由随机的本地坐标系统的轴Y1表示,參见图3。轴1的方向将跟随弧的形状,并且因此将在沿着弧的每个点互相不同。轴Y1应该被看作更一般性轴Y的小调整。
图9表示在图3的小视图D中的箔的主要弯曲。它特别示例性地示出在两个支承条之间的孔中的空间。箔具有绕着轴Y1的主要弯曲,并且向下突出,即沿着第三轴Z的方向。图8表示沿着图3的线C剖开而形成的局部剖面的特别示例性视图,其示出来自第二组支承条中的支承条36b与箔20的联接。目的在于示出当应用真空时箔20沿着第一轴Y的拓扑轮廓。可以发现箔20向下突出在第二支承条36b之间的孔32中,并且在此绕着第二轴X实现在每个孔中的主要弯曲。因为第二支承条36b是笔直的并且具有沿着第二方向X的延伸部,因此可以使用一般性坐标系统。然而,在另ー个优选实施例中,第二组支承条的条可以具有另ー种配置。图10表示支承板22的第二实施例的局部视图,其中第二支承条36b’相对于第三支承条46以扇形结构设置。支承条36b’在该实施例中可以例如被引导(direct)为与弯曲的第三支承条46的切线垂直。在该实例中将绕着本地坐标系统的轴X2实现主要弯曲。轴X2应该看作为更一般性轴X的小调整。为了实现在第一和第二段38、40中的弯曲之间的平滑过渡,參见图7,在接ロ区域中,第三支承条46的上表面48与第一支承条36a的上表面42相比是较低的。以这样的方式,在该区域中将不张紧箔20,并且箔20在被迫使从ー个主要弯曲移动到另ー个主要弯曲的同时,在该区域中将不会被压在支承条上面。这也是为什么第二支承条36b其最低高度向第一支承条36a倾斜的原因。从图5-8,但是特别參考图5,发现箔20将不是笔直地布置在支承板22上,而是将形成吸收任何过剩箔的拓扑轮廓。图11-13表示支承板22的第三优选实施例。在该实施例中,与第一和第二实施例相似,绕着第一轴Y形成在第一中间段38中的主要弯曲,并且绕着第二轴X形成在第二侧面段40中的主要弯曲。第一中间段38包括具有第一支承条36a的形状的与前面已经參考第一和第二实施例描述的支承条相同的箔支承部34。总体上讲,在第一中间段38中的设计至少基本上与在前面描述的第一和第二实施例中的相同。并且,第三段,作为在包括第三支承条46的在第一和第二段之间的小的接ロ区域,也基本上与前面已经描述的相同。在该第三实施例中,具有在第一和第二段38、40两者上延伸的上表面52的互连区域50也与前面描述的实施例中的相同。然而,在第二侧面段40中箔支承部34的设计和分布基本上与前面描述的不同。第二侧面段40每个包括作为椭圆形元件58的箔支承部。所述椭圆形元件58定位在互连区域50的上表面52上并且具有上表面60,该上表面60与第一支承条36a的上表面42处于相同的高度。并且,所述椭圆形元件58成排互相分离地布置。所述成排的元件58沿着弯曲路径延伸。弯曲路径是弧形的。该弧形基本上与第一和第三支承条36a、46的弧形一致。因此,成排的椭圆形元件58可以在某种意义上看作形成与第一和第三支承条36a、46相应的附加条。每个椭圆形元件58具有其最长延伸部,该最长延伸部跟随弧的长度。每个元件58的长度可以相等或者在元件58之间可以不相同。在示出实例中,在弧的端部中的元件58比在弧的中部的元件58长。该长度间隔优选为在2-4mm之间。元件58沿着与长度方向垂直的方向的厚度为大约I. 6mm。如上所述,绕着第二轴X形成在第二侧面段40中的主要弯曲。更具体地,在该实例中绕着随机的本地坐标系统的轴X3形成主要弯曲。轴X3应该看作更一般性轴X的小调整。沿着弯曲路径引导轴Y3,并且轴X3基本上设置为与弯曲路径的切线垂直。为了获得期望的主要弯曲,在成排的后续元件58之间的距离或间距基本上等于或者长于从元件58到第三支承条46的距离以及从元件58到构成第二支承板构件22b的框架的距离。如果该距离相 等,那么将仍然绕着X3产生主要弯曲,因为皱褶更可能垂直于粘接线26而产生,在该实例中垂直于矩形的侧部3和4而产生。为了更好地理解,在图11中已经增加了粘接线26。图13表示沿着图11的线C,即沿着弯曲路径剖开而形成的局部剖面的特别示例性视图,椭圆形元件58沿着该弯曲路径布置。附图示出椭圆形元件58与箔20的联接。目的在于示出当应用真空时箔20在椭圆形元件58上方的轮廓。可以发现箔20向下突出在椭圆形元件58之间的间隙中并且在此绕着第二轴X形成在每个间隙中的主要弯曲。本发明还包括ー种方法,很大程度上已经关联所述组件描述了该方法。该方法包括在所述区域内提供在支承板22中的孔32和箔支承部34相互间隔的模式的步骤,当在壳体14中产生真空时,该模式适于形成基本上吸收任何过剩箔的箔20的拓扑轮廓。优选地,以这样的方式,箔20的实质上的主要弯曲发生在每个孔32中。本发明还包括一种在填充机器中用于消毒例如举例而言包装材料卷等包装材料的方法,所述方法包括使用开始參考图I描述的类型的电子束产生设备的步骤,该电子束产生设备包括根据本发明所述的组件。当形成食品包装时使用的包装材料卷可以包括包装层压材料,该包装层压材料包括纸芯层和内及外聚合物层。在将所述卷形成为包装之前,所述卷借助电子束产生设备10来消毒。电子束产生设备10包括前面描述类型的组件。具有前述类型组件的电子束产生设备也可以使用来消毒包装容器的外表面。优选地,电子束产生设备引导朝向包装容器的侧面并且使包装容器旋转以便在整个外侧表面上实现消毒。适于消毒常规包装材料卷的电子束产生设备将具有比前面在附图中已经描述的具更规则矩形形状的电子逸出窗ロ组件。实际上,组件的透明中心部分(即电子可以穿过该组件的部分)为大约40mm长(沿着第一方向Y)以及大约400mm宽(沿着第二方向X)。然而,在具更规则矩形形状的组件中,支承板22的整个设计将基本上不相同。由于较大的宽度,支承条的第一段38由于具有更多第一支承条36a而较大。在消毒期间,包装材料卷将穿过电子产生设备10的电子逸出窗ロ 12。所述卷的行进方向将与第一方向Y相应,即行进方向与第一方向Y对准。
虽然已经就现有优选实施例描述了本发明,但是可以理解在不脱离本发明如由附属权利要求限定的目标和范围情况下可以作出各种修改和改变。第一支承条36a已经描述为沿着弯曲路径延伸,并且在当前优选实施例中为弧形的。另ー种描述弯曲路径的方法是使用数学术语多项式。例如在图3中示出的弧是ニ阶多 项式。在某些应用中,在支承板的支承条中的热膨胀将被聚焦并且期望最小化热膨胀的效应。在那些情况中支承条的替代设计包括例如三阶或四阶多项式。在支承条之间的互连部分可以提供在多项式的轴交叉点中。
权利要求
1.ー种使用在电子束产生设备(10)中的支承板(22)和逸出窗ロ箔(20)的组件,所述支承板(22)被设计来減少在所述箔(20)中的皱褶,该皱褶能够因在装配过程中出现的过剩箔而产生,所述箔(20)沿着限定支承板(22)的设置有孔(32)和箔支承部(34)的区域的边界的闭合粘接线(26)粘接到支承板(22),并且在该区域中所述箔(20)适于用作电子束产生设备(10)的真空密封壳体(14)的壁的一部分, 所述组件的特征在干, 在所述区域内所述支承板(22)设置成孔(32)和箔支承部(34)相互间隔的模式,当在所述壳体(14)产生真空时该模式适于形成基本上吸收任何过剩箔的所述箔(20)的拓扑轮廓。
2.根据权利要求I所述的组件,其特征在干,以在所述孔(32)中产生所述箔(20)的实质上的主要弯曲这样的方式实现所述吸收。
3.根据权利要求2所述的组件,其特征在于,绕着被引导基本上与在所述支承板(22)的平面中的粘接线(26 )垂直的轴形成所述主要弯曲。
4.根据权利要求2-3任意ー项所述的组件,其特征在干,由所述粘接线(26)限定边界的区域分成至少两段(38、40),每个段包括至少ー个孔(32),并且在每个相应段(38、40)中,在相邻孔(32)中沿着相同方向产生所述主要弯曲。
5.根据权利要求2-4任意ー项所述的组件,其特征在干,由所述粘接线(26)限定边界的所述区域基本上为矩形,并且绕着被引导基本上与所述矩形的第一侧部(I)以及与所述第一侧部(I)相対的第二侧部(2)垂直的第一轴(Y)形成在第一中间段(38)中的所述主要弯曲,并且绕着被引导基本上与所述矩形的第三侧部(3)和相应的第四侧部(4)垂直的第ニ轴(X)形成在第二侧面段(40)中的所述主要弯曲,所述矩形的所述第三和第四侧部(3、4)基本上与所述第一和第二侧部(1、2)垂直。
6.根据权利要求5所述的组件,其特征在于,所述箔支承部(34)形成为箔支承条(36)。
7.根据权利要求6所述的组件,其特征在于,第一组箔支承条(36a)提供在所述支承板(22)的所述第一中间段(38)中,并且第二组箔支承条(36b、36b’)提供在所述支承板(22)的第二侧面段(40)中,其中在所述支承板(22)的端部区域中的所述第一段(38)的每个侧面上提供ー个该第二侧面段(40 )。
8.根据权利要求7所述的组件,其特征在于,所述第一组支承条的所述支承条(36a)沿着被弓I导基本上与所述矩形的所述第一和第二侧部(I、2)垂直的所述第一轴(Y)延伸。
9.根据权利要求8所述的组件,其特征在于,所述第一组箔支承条的所述箔支承条(36a)沿着弯曲路径延伸。
10.根据权利要求7所述的组件,其特征在于,所述第二组箔支承条的所述箔支承条(36b、36b’)沿着被引导基本上与所述矩形的所述第三侧部(3)和相应的第四侧部(4)垂直的第二轴(X)延伸。
11.根据权利要求5所述的组件,其特征在于,在所述第二侧面段(40)中的所述箔支承部(34)是成排互相分离布置的元件(58),所述排基本上跟随所述第一轴(Y)。
12.根据前述权利要求任意ー项所述的组件,其特征在于,所述粘接线(26)定位在所述支承板(22)的高台(28)。
13.ー种用于减少在电子束产生设备(10)的逸出窗ロ箔(20)中的皱褶的方法,该皱褶能够因在装配过程中出现的过剩箔而产生,所述箔(20)沿着限定支承板(22)的设置有孔(32)和箔支承部(34)的区域的边界的闭合粘接线(26)粘接到支承板(22),并且在该区域中所述箔(20)适于用作电子束产生设备(10)的真空密封壳体(14)的壁的一部分, 所述方法包括如下步骤 在所述区域内,提供在所述支承板(22)中的孔(32)和箔支承部(34)相互间隔的模式,当在所述壳体(14)产生真空时,该模式适于形成基本上吸收任何过剩箔的箔(20)的拓扑轮廓。
14.根据权利要求13所述的方法,其中以在所述孔(32)中产生所述箔(20)的实质上的主要弯曲这样的方式实现所述吸收。
15.一种在填充机器中用于消毒例如举例而言包装材料卷等包装材料的方法,所述方 法包括使用包含根据权利要求I所述的组件的电子束产生设备的步骤。
全文摘要
本发明涉及一种使用在电子束产生设备中的支承板(22)和逸出窗口箔(20)的组件。所述支承板(22)被设计来减少在所述箔(20)中的皱褶。所述箔(20)沿着限定支承板(22)的设置成孔和箔支承部相互间隔的模式的区域的边界的闭合粘接线粘接到支承板(22)。当在所述壳体中产生真空时,所述模式适于形成基本上吸收任何过剩箔的所述箔(20)的拓扑轮廓。本发明还涉及一些方法,该些方法中的一种是在填充机器中用于消毒包装材料卷的方法。
文档编号H01J33/04GK102725816SQ201180006832
公开日2012年10月10日 申请日期2011年2月1日 优先权日2010年2月8日
发明者乌尔丽卡·林耐, 安德斯·克里斯蒂安松, 库尔特·霍尔姆, 托妮·瓦贝尔, 沃纳·哈格, 马蒂亚斯·亨里克松 申请人:利乐拉瓦尔集团及财务有限公司
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