专利名称：晶片分选用无影灯箱的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及晶片分选领域，特别的是一种晶片分选用无影灯箱。
背景技术：
晶片外观分选是频率片加工的最终工序，其质量的好坏直接影响到频率器件的电阻、DLD和寄生等电性能。特别是小型化的SMD晶片，外观分选尤其重要。在一些的晶片生产工厂里，采用从上面照射到放在黑布上的晶片上，一些细微的外观缺陷，如亮点。刮伤、腐蚀印和脏污，无法准确的判别出来。
实用新型内容针对现有技术的不足，本实用新型提供一种能够方便快捷挑选出瑕疵晶片的晶片分选用无影灯箱。为解决上述问题，本实用新型采用如下技术方案实现晶片分选用无影灯箱，包括灯箱本体，所述的灯箱本体为中空四方体，其内部设置有用于照明的节能灯，所述的灯箱本体的一侧设置有用于放大分选晶片的光源放大器，所述的灯箱本体上表面设置有无痕玻璃面，所述的灯箱本体内部还设置有用于放置合格晶片的良品收集盒和用于放置不合格晶片的不良品收集盒，所述的灯箱本体下表面设置有防止反光的衬底盘。所述的无痕玻璃面设置在光源放大器使用区域内。所述的衬底盘为黑色。所述的灯箱本体上表面还设置有遮光板，所述的遮光板设置在无痕玻璃面的一侧。本实用新型的有益效果在于由于采用了在灯箱本体内部装置节能灯，且灯箱本体为中空结构，这样可以使整个灯箱本体借助节能灯的照明，使得设置在灯箱本体上表面的无痕玻璃面产生光亮，这样有利于晶片的分选，同时在灯箱本体的一侧设置有用于放大分选晶片的光源放大器，这样能够更准确的分选出存在晶片表面肉眼看不到的外观缺陷， 另外本实用新型还采用了在灯箱本体内部设置有用于放置合格晶片的良品收集盒和用于放置不合格晶片的的不良品收集盒，方便操作人员工作，节省了工作时间，提高了工作效率，在灯箱本体下表面设置有防止反光的黑色衬底盘，这样使得整个灯箱不会出现反光现象，确保了质量，本实用新型结构简单，使用方便。
图1为本实用新型的结构示意图 1为节能灯，2为灯箱本体，3为遮光板，4为不良品收集盒，5为无痕玻璃面，6为光源放大器，7为良品收集盒，8为黑色衬底盘。
具体实施方式
下面通过具体实例对本实用新型做详细的描述。晶片分选用无影灯箱，包括灯箱本体2，所述的灯箱本体2为中空四方体，其内部设置有用于照明的节能灯1，所述的灯箱本体2的一侧设置有用于放大分选晶片的光源放大器6，所述的灯箱本体2上表面设置有无痕玻璃面5，所述的无痕玻璃面5设置在光源放大器6使用区域内，所述的灯箱本体2内部还设置有用于放置合格晶片的良品收集盒7和用于放置不合格晶片的不良品收集盒4，所述的灯箱本体2下表面设置有防止反光的黑色衬底盘8。打开灯箱本体2内部的节能灯1，将适量晶片倒在无痕玻璃面5上，用排笔拨开，光源从下向上穿透晶片，操作人员调整光源放大器6，便可清晰的观测到晶片的外观缺陷，然后按要求将晶片移入良品收集盒7或不良品收集盒4中即可。
权利要求1.晶片分选用无影灯箱，其特征在于包括灯箱本体，所述的灯箱本体为中空四方体， 其内部设置有用于照明的节能灯，所述的灯箱本体的一侧设置有用于放大分选晶片的光源放大器，所述的灯箱本体上表面设置有无痕玻璃面，所述的灯箱本体内部还设置有用于放置合格晶片的良品收集盒和用于放置不合格晶片的不良品收集盒，所述的灯箱本体下表面设置有防止反光的衬底盘。
2.根据权利要求1所述的晶片分选用无影灯箱，其特征在于所述的无痕玻璃面设置在光源放大器使用区域内。
3.根据权利要求1所述的晶片分选用无影灯箱，其特征在于所述的衬底盘为黑色。
4.根据权利要求1所述的晶片分选用无影灯箱，其特征在于所述的灯箱本体上表面还设置有遮光板，所述的遮光板设置在无痕玻璃面的一侧。
专利摘要本实用新型公开了一种晶片分选用无影灯箱，包括灯箱本体，所述的灯箱本体为中空四方体，其内部设置有用于照明的节能灯，所述的灯箱本体的一侧设置有用于放大分选晶片的光源放大器，所述的灯箱本体上表面设置有无痕玻璃面，所述的灯箱本体内部还设置有用于放置合格晶片的良品收集盒和用于放置不合格晶片的不良品收集盒，所述的灯箱本体下表面设置有防止反光的衬底盘，本实用新型结构简单，使用方便，大大提供了工作效率与准确率。
文档编号B07C7/04GK201969698SQ20102069002
公开日2011年9月14日 申请日期2010年12月30日 优先权日2010年12月30日
发明者任先林, 陈俊 申请人:常州松晶电子有限公司