构成为例，最终在离心超滤管的外管中得到的是粒径尺寸小于或等于预设值的细化后的第一纳米颗粒，留在离心超滤管的内管中的细化后粒径不符合要求的第一纳米颗粒，这一部分颗粒的粒径仍然较大，可进行留存，以便下次使用，进一步提高原材料的利用率。
[0067]在上述基础上进一步的，参考图4所示，上述数据收集装置还与磁场控制装置相连，用于收集磁场控制装置的磁场参数。
[0068]这里，磁场参数可以包括磁场大小、磁场方向，通过调整磁场参数可以改变磁场大小和/或磁场方向。磁场控制装置与数据收集装置相连，可以将磁场参数数据实时地传回数据收集装置，便于实验参数的进一步优化。
[0069]以上所述，仅为本发明的【具体实施方式】，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。
【主权项】
1.一种纳米颗粒的粒径细化方法，其特征在于，所述方法包括: 在溶液中加入第二纳米颗粒;其中，所述溶液包括第一纳米颗粒和分散剂;所述第二纳米颗粒的粒径尺寸小于所述第一纳米颗粒的粒径尺寸； 对加入有所述第二纳米颗粒的所述溶液进行超声振荡处理，使所述第二纳米颗粒与所述第一纳米颗粒发生碰撞，以细化所述第一纳米颗粒的粒径尺寸； 从所述溶液中分离得到细化后的第一纳米颗粒。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述从所述溶液中分离得到细化后的第一纳米颗粒的步骤，包括: 通过离心分离装置从所述溶液中分离得到粒径尺寸小于或等于预设值的细化后的所述第一纳米颗粒和所述第二纳米颗粒； 其中，所述第二纳米颗粒与所述第一纳米颗粒为同种材料； 所述第二纳米颗粒的粒径尺寸小于或等于所述预设值； 所述离心分离装置具有超滤膜，所述超滤膜的孔径等于所述预设值。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述从所述溶液中分离得到细化后的第一纳米颗粒的步骤，包括: 根据所述第一纳米颗粒与所述第二纳米颗粒在所述分散剂中的不同分散状态，将所述第二纳米颗粒从所述溶液中分离出； 从分离有所述第二纳米颗粒的所述溶液中分离得到细化后的第一纳米颗粒； 其中，所述第二纳米颗粒与所述第一纳米颗粒为不同种材料，且所述第二纳米颗粒在所述分散剂中的分散状态与所述第一纳米颗粒不同。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述从所述溶液中分离得到细化后的第一纳米颗粒的步骤，包括: 将承装有加入所述第二纳米颗粒的所述溶液的第一容器放置在磁场中，使所述第二纳米颗粒聚集在所述第一容器的底部或侧壁上； 将所述第一容器中的所述溶液转移至第二容器中； 从分离有所述第二纳米颗粒的所述溶液中分离得到细化后的第一纳米颗粒； 其中，所述第一纳米颗粒为非磁性材料，所述第二纳米颗粒为磁性材料。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述磁性材料由铁、镍以及钴中的至少一种元素构成。6.根据权利要求3或4所述的方法，其特征在于，所述从分离有所述第二纳米颗粒的所述溶液中分离得到细化后的第一纳米颗粒的步骤，包括: 通过离心分离装置从所述溶液中分离得到粒径尺寸小于或等于预设值的细化后的所述第一纳米颗粒； 其中，所述离心分离装置具有超滤膜，所述超滤膜的孔径等于所述预设值。7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第二纳米颗粒与所述第一纳米颗粒均为量子点。8.一种用于纳米颗粒粒径细化的系统，其特征在于，所述系统包括: 超声振荡装置，用于对加入有第二纳米颗粒的溶液进行超声振荡，使所述第二纳米颗粒与所述溶液中的第一纳米颗粒发生碰撞，细化所述第一纳米颗粒的粒径尺寸;其中，所述溶液包括所述第一纳米颗粒和分散剂;所述第二纳米颗粒的粒径尺寸小于所述第一纳米颗粒的粒径尺寸； 分离装置，用于从所述溶液中分离得到细化后的第一纳米颗粒。9.根据权利要求8所述的系统，其特征在于，所述分离装置包括:离心分离装置； 通过所述离心分离装置从所述溶液中分离得到粒径尺寸小于或等于预设值的细化后的所述第一纳米颗粒和所述第二纳米颗粒； 其中，所述第二纳米颗粒与所述第一纳米颗粒为同种材料;所述第二纳米颗粒的粒径尺寸小于或等于所述预设值； 所述离心分离装置具有超滤膜，所述超滤膜的孔径等于所述预设值。10.根据权利要求9所述的系统，其特征在于，所述离心分离装置包括:离心超滤管和离心机； 所述离心超滤管的内管中具有所述超滤膜； 在所述离心超滤管的外管中得到粒径尺寸小于或等于预设值的细化后的所述第一纳米颗粒和所述第二纳米颗粒。11.根据权利要求8所述的系统，其特征在于，所述第一纳米颗粒为非磁性材料，所述第二纳米颗粒为磁性材料;所述第二纳米颗粒和所述溶液承装在第一容器中； 所述系统还包括: 磁场控制装置，用于使所述第二纳米颗粒聚集在所述第一容器的底部或侧壁上； 所述分离装置包括:离心分离装置； 通过所述离心分离装置从分离有所述第二纳米颗粒的所述溶液中分离得到粒径尺寸小于或等于预设值的细化后的所述第一纳米颗粒； 其中，所述离心分离装置具有超滤膜，所述超滤膜的孔径等于所述预设值。12.根据权利要求10所述的系统，其特征在于，所述离心分离装置包括:离心超滤管和离心机； 所述离心超滤管的内管中具有所述超滤膜； 在所述离心超滤管的外管中得到粒径尺寸小于或等于预设值的细化后的所述第一纳米颗粒。13.根据权利要求9至12任一项所述的系统，其特征在于，所述系统还包括: 分别与所述超声振荡装置、所述离心分离装置相连的数据收集装置，用于收集所述超声振荡装置的超声振荡参数和所述离心分离装置的离心参数。14.根据权利要求13所述的系统，其特征在于，在所述系统包括有所述磁场控制装置的情况下，所述数据收集装置还与所述磁场控制装置相连，用于收集所述磁场控制装置的磁场参数。
【专利摘要】本发明实施例提供了一种纳米颗粒的粒径细化方法及用于纳米颗粒粒径细化的系统，涉及纳米材料领域，可细化纳米颗粒的粒径，提高原材料的利用率。该粒径细化方法包括；在溶液中加入第二纳米颗粒；其中，所述溶液包括第一纳米颗粒和分散剂；所述第二纳米颗粒的粒径尺寸小于所述第一纳米颗粒的粒径尺寸；对加入有所述第二纳米颗粒的所述溶液进行超声振荡处理，使所述第二纳米颗粒与所述第一纳米颗粒发生碰撞，以细化所述第一纳米颗粒的粒径尺寸；从所述溶液中分离出细化后的第一纳米颗粒。用于纳米颗粒的粒径细化。
【IPC分类】B82Y30/00, B82B3/00, B82Y40/00
【公开号】CN105621354
【申请号】CN201610045875
【发明人】张渊明, 李延钊
【申请人】京东方科技集团股份有限公司
【公开日】2016年6月1日
【申请日】2016年1月22日