专利名称：一种lcm测试装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种LCM测试装置，尤其是实现对复杂LCM的测试装置。
背景技术：
随着通讯技术的快速发展，手机已逐渐普及。手机的功能也逐渐增加，以满足人们各种各样的需求。手机将从简单的通话工具演变成为集合通信功能、计算功能、电子消费品功能、日用品功能、时尚装饰品功能的“私人助理”。
而LCM(LCD Module，液晶显示模块)作为手机的一个重要组成部分，随着手机体积的逐步缩小和功能的逐步增加，有很多其他功能逐步集成到了LCM上，如Camera控制芯片，触摸屏控制芯片，背光控制芯片，受话器，扬声器，马达电路等，其总线宽度有许多也从8位增加到了16位。这就给LCM的测试带来了很大的麻烦，因为其控制线越来越多，控制复杂程度也随之增加。这样就使现在通常用8051系列单片机来进行测试的方法面临着许多的困难。如数据总线宽度不够(8051系列单片机总线为8位)，存储容量不足(单片机程序存储器寻址空间为64K)，控制线不足，处理数据速度不够快，测试效果与LCD在手机上的显示效果不一致等问题。
发明内容本实用新型的主要目的就是为了解决现有技术中的问题，提供一种高速度、低成本的LCM测试装置，实现各种复杂LCM的测试。
为实现上述目的，本实用新型提出的一种LCM测试装置，包括测试控制电路和用于将测试控制电路和被测试LCM连接在一起的扩展电路，测试控制电路包括ARM(AdvancedRISC Machines)控制芯片、与ARM控制芯片相连的存储器和用于将ARM控制芯片与扩展电路相连的第一接口，所述扩展电路包括用于与第一接口相连的第二接口和用于与LCM连接的第三接口，所述第二接口和第三接口通过线路连接。
所述测试控制电路还包括SDRAM。
优选地，所述存储器为闪存。
优选地，所述第一接口和第二接口为64针的通用接口。
进一步地，所述测试控制电路还包括用于将ARM控制芯片与仿真器连接的JTAG(Joint Test Action Group，联合测试行动组，是开发IEEE1149.1标准的组织名称。该标准定义了用于在线测试集成电路器件的边界扫描体系结构。JTAG接口指ARM芯片的调试接口)接口。
更进一步地，所述测试控制电路还包括用于将ARM控制芯片与电脑连接的串行接口。
还包括用于控制复位、中断、指示灯的按键电路，所述按键电路与第二接口相连，以便于通过第二接口和第一接口与ARM控制芯片相连。
本实用新型的有益效果是ARM控制芯片为基于ARM公司设计的芯核开发的芯片。用ARM芯片作测试，一方面运行速度较快，可以有较宽的数据总线和地址总线。另一方面可以扩展较大容量的外部存储器。而且一般手机上用的主控制芯片也是基于ARM架构的，因此测试效果可以最大程度的接近手机主板的实测效果。
本实用新型的特征及优点将通过实施例结合附图进行详细说明。
图1是本实用新型ARM测试控制电路的结构示意图；图2是本实用新型的ARM芯片引脚图；图3是本实用新型的存储器电路；图4是本实用新型的JTAG接口电路；图5是本实用新型的按键电路电路。
具体实施方式如图1所示，本实用新型的LCM测试装置包括测试控制电路1和扩展电路2，测试控制电路1中，ARM控制芯片为核心，如图2所示，闪存、SDRAM(同步动态内存)、JTAG接口、第一接口和串行接口分别和ARM控制芯片相连。闪存和SDRAM的电路图如图3所示，程序存储在闪存中。JTAG接口用于将ARM控制芯片和仿真器连接，以便对程序进行调试，如图4所示，JTAG接口的TDI脚、TMS脚、TCK脚、TDO脚与ARM控制芯片的相应输入或输出端连接，nTRST脚、nRESET脚与仿真器相连，从而使ARM控制芯片和仿真器之间进行数据交换。串行接口用于将ARM控制芯片和电脑的串口相连，检测测试控制电路的状态。第一接口是一个64PIN的接口，和扩展电路的64PIN的第二接口的信号定义一一对应。64PIN的接口是一个双排针接口，数据线、电源线、控制线等都从排针传向扩展电路的电路板。这种架构可使扩展电路板与ARM测试控制电路板可靠接触，并节约空间。
如图1所示的扩展电路2中，第二接口与第三接口通过线路相连，本实施例中，第二接口与第三接口通过线路板上的走线相连。第二接口也是一个64PIN的接口，与测试控制电路的第一接口相连，第三接口用于连接被测试的LCM。第二接口还连接有按键电路和电源，按键电路通过第二接口、第一接口耦合到ARM控制芯片，用于复位、中断、指示灯等信号的控制，其电路如图5。每个按键开关都是第一端连接电源，第二端接地，将开关的第一端连接到ARM控制芯片的相应输入端，当按键开关按下时，其第一端为低电平，当按键开关打开时，其第一端为高电平，通过程序设定高电平有效还是低电平有效即可实现复位、中断、指示灯等信号的控制。
电源为外部5V电源输入接口，向扩展电路板供电，电压经过降压后通过64PIN接口给ARM测试控制电路提供电源。
ARM测试控制电路为通用型，可以适用于不同LCM的测试。而扩展电路为专用型，随着LCM的不同，其电路也有所不同，具体不同在于与LCM连接的第三接口根据LCM的型号不同而不同，但与ARM控制电路相连接的64PIN接口是固定的。通过更换不同的扩展电路板，可以实现对多款LCM的测试。
权利要求1.一种LCM测试装置，包括测试控制电路和用于将测试控制电路和被测试LCM连接在一起的扩展电路，其特征在于测试控制电路包括ARM控制芯片、与ARM控制芯片相连的存储器和用于将ARM控制芯片与扩展电路相连的第一接口，所述扩展电路包括用于与第一接口相连的第二接口和用于与LCM连接的第三接口，所述第二接口和第三接口通过线路连接。
2.如权利要求1所述的LCM测试装置，其特征在于所述测试控制电路还包括SDRAM。
3.如权利要求1所述的LCM测试装置，其特征在于所述存储器为闪存。
4.如权利要求1所述的LCM测试装置，其特征在于所述第一接口和第二接口为64针的通用接口。
5.如权利要求1至4所述的LCM测试装置，其特征在于所述测试控制电路还包括用于将ARM控制芯片与仿真器连接的JTAG接口。
6.如权利要求5所述的LCM测试装置，其特征在于所述测试控制电路还包括用于将ARM控制芯片与电脑连接的串行接口。
7.如权利要求1所述的LCM测试装置，其特征在于还包括用于控制复位、中断、指示灯的按键电路，所述按键电路与第二接口相连，以便于通过第二接口和第一接口与ARM控制芯片相连。
专利摘要本实用新型涉及LCM的测试，公开了一种LCM测试装置，包括测试控制电路和用于将测试控制电路和被测试LCM连接在一起的扩展电路，测试控制电路包括ARM控制芯片、与ARM控制芯片相连的存储器和用于将ARM控制芯片与扩展电路相连的第一接口，所述扩展电路包括用于与第一接口相连的第二接口和用于与LCM连接的第三接口，所述第二接口和第三接口通过线路连接。用ARM芯片作测试，运行速度较快，可以有较宽的数据总线和地址总线，可以扩展较大容量的外部存储器，测试效果可以最大程度的接近手机主板的实测效果。
文档编号G01R31/00GK2788203SQ20042010549
公开日2006年6月14日 申请日期2004年12月3日 优先权日2004年12月3日
发明者王俊现 申请人:比亚迪股份有限公司