专利名称：检测电路及信号检测方法
技术领域：
本发明涉及一种检测电路及信号检测方法，特别是涉及一种并非专门 用来撷取检测器的电流输出信号的检测电路及信号检测方法。
背景技术：
在检测器的应用中，检测装置(如二极管或是晶体管)检测一状态，并产 生相对应的输出电流。电流检测器的应用范围很广。举例而言，检测装置 可为光检测器或是温度检测器，用以检测亮度状态或是温度状态。检测器
用以测量实际特性，如亮度、温度、应变(strain)或是其它应力(forces)。
检测器所产生的输出电流通常很小，并且为了确保信号的准确度，特
别是信号的信噪比，通常会放大检测器的输出电流。在此例中，必需先对
电流进行取样。在多个检测器(以阵列方式排列)同时产生多个输出电流的情
况下，亦需对电流进行取样。
已知的电流取样电路的处理速度很慢，特别是在需取样的电流很小的
情况下。
图1显示现有技术的取样电路。举例而言，需要被取样的电流为光电 流。在此，是以电流源IO代表需要被取样的电流。电流通过P型的驱动晶 体管Tlp。电容C1耦接在驱动晶体管Tip的源极与栅极之间，因此，电容 Cl可根据需要被取样的电流，而储存相对应的栅-源极电压。
现有技术的取样电路具有第一开关Sl。第一开关Sl由时钟信号clkl(如 图2所示)控制。第一开关Sl耦接在驱动晶体管Tip的栅极与漏极之间， 用以导通驱动晶体管Tlp。因此，驱动晶体管Tip便可提供需要被取样的 电流。第二开关S2耦接在驱动晶体管Tip与检测器之间。第二开关S2由 时钟信号clk2 (如图2所示)控制。第三开关S3耦接在驱动晶体管Tip与取 样电路的输出端OUT之间。第三开关S3由时钟信号clk3(如图2所示)控制。
图2为时钟信号的示意图。在取样期间S,第一开关Sl及第二开关S2 被导通，第三开关S3不被导通。因此，电流便可被取样。由于第一开关S1被导通，故驱动晶体管Tip的栅极与漏极的电压相等。因此，驱动晶体管
Tip的漏极电流会等于需要被取样的光电流。此时，电容C1储存驱动晶体 管Tip的栅极与源极之间的压差。在维持期间H,第一开关S1及第二开关 S2不被导通，第三开关S3被导通。藉由电容Cl,驱动晶体管Tlp的栅极 与源极之间的压差会被维持住，并等于在取样期间S的压差，因此，输出 端OUT便可输出被取样的光电流。
取样期间S的长短取决于(Cl+Cd)/gml，其中Cd为检测器(如光二极管) 的等效电容，gml为驱动晶体管Tip的跨导(trans-conductance)。当需要被 取样的电流太小时，驱动晶体管Tip会操作在次阈值区(sub-threshold region)。在次阈值区中，gml会与漏极电流Idl成比例。因此，当需要被取 样的电流太小时，取样期间S便会被延长。
利用图3所示的取样电路，便可缩短取样期间S。
在图3中，是利用N型的晶体管Tln取代图1的驱动晶体管Tlp。另 外，图3具有放大器20。反相放大器20耦接在晶体管Tln的源极与栅极之 间。电容Cl耦接在晶体管Tln的源极与栅极之间。晶体管Tln的漏极接收 高电压VDD。在图3中，取样期间S是取决于(Cl+Cd)/(A'gml)，其中A 为反相放大器20的增益。藉由增加晶体管Tln的跨导的有效值，便可缩短 取样期间S。
第四开关S4为一放大输出开关，由时钟信号clk4(如图4所示)控制， 用以导通或不导通放大回授路径。第五开关S5由时钟信号clk5(如图4所示) 控制，用以重置(reset)反相放大器20。
图4为时钟信号的示意图。在取样期间S，第二开关S2及第四开关S4 被导通，第三开关S3及第五开关S5不被导通。因此，晶体管Tln的源极 电压便可被放大。电容C1储存晶体管Tln的栅极与源极间的压差。藉由晶 体管Tin的栅极与源极间的压差，便可使得晶体管Tin的漏极电流等于光 电流。在维持期间H,第二开关S2及第四开关S4不被导通，第三开关S3 及第五开关S5被导通。输出端OUT便可输出取样电流。由于反相放大器 20的输入端及输出端连接在一起，故可维持检测器的节点(如光二极管的阴 极)电压。
在取样期间S，电容Cl连接在反相放大器20的输入端及输出端之间。 由于反相放大器20的输入端与地之间的等效容值为A.C1，并且因米勒效应(Millereffect)的影响，将增加电容C1的有效值。反相放大器20的输入端 与地之间的等效电容并联电容Cd,使得电流的速度变慢。
图3所示的电路仍受限于需要被取样的电流。需要被取样的电流固定 晶体管Tin的栅极与源极之间的压差，其中晶体管Tin的栅极与源极之间 的压差需储存在电容C1的中。假设，需要被取样的电流为350pA时，则晶 体管Tin的^t极与源极之间的压差约为700mV,其中晶体管Tin的栅极与 源极之间的压差对应于反相放大器的特定操作点(operating point)。
图5为反相放大器的特性示意图。纵轴为反相放大器的增益(gain)。横 轴为反相放大器的输出端电压(Vout)与输入端电压(Vin)之间的压差 (Vout-Vin)。在取样期间，由于第二开关S2及第四开关S4被导通，故晶体 管Tin的源极耦接至反相放大器20的输入端，其栅极耦接至反相放大器20 的输出端。因此，在取样期间，图5的横轴可看作是晶体管Tin的栅极与 源极之间的压差。由图5可知，当反相放大器的增益为最大值时，可能对 应到不同的电压(即晶体管Tln的栅极与源极之间的压差)。另一方面，反相 放大器20并不是操作在最理想的操作点。这表示接近图3的基本限制。
发明内容
本发明提供一种电流取样电路，包括一电流取样晶体管、 一电容组、 一放大器以及一开关组。电流取样晶体管具有一栅极以及一源极。电容组 设置在该栅极与该源极之间，用以储存该栅极与该源极之间的压差。该栅 极与该源极之间的压差对应于 一欲取样电流。放大器具有 一输入端以及一 输出端，并且在该栅极与源极之间，提供一回授路径。开关组对该电容值 所储存的一栅源电压进行取样。该4册源电压对应于该名夂取样电流。该电容 组具有一第一电容电路以及一第二电容电路。在一第一取样期间，该第一 电容电路对该栅极与该源极之间的压差进行取样。在一第二取样期间，该 第一及第二电容电路对该栅极与该源极之间的压差进行取样。该开关组可 根据该第一取样期间的取样结果，在该第一及第二取样期间，位移该放大 器的一操作点。
在一粗略取样期间，改变该放大器的操作点，尤其是改变输出端的电 压。因此，在接下来的细微取样期间，放大器便可提供更佳的效能。
开关组具有一开关。在该第一取样期间，该开关使该第一电容电路耦接于该源极与该栅极之间。在该第二取样期间，该开关使该第一及第二电 容电^4禹接于该源极与该栅极之间。因此，不同的期间^使用不同的电容结构。
开关电路具有 一第 一放大输出开关以及一第二放大输出开关。在该第 一取样期间，该第 一放大输出开关将该输出端与该4册极连接在一起。在该 第二取样期间，该第二放大输出开关将该输出端耦接到该第 一及第二电容 电路之间的一节点。因此，藉由改变放大器的输出端电压，便可改变放大 器的操作因素。
在该第一及第二取样期间之间具有一重置期间。在该重置期间，该输 出端与该输入端耦接在一起。
第一或第二电容电路具有一第一电容以及一第二电容。该第一电容串 联该第二电容。在一取样期间，该第一及第二电容之间的一节点耦接至一 参考电平。因此，可解决米勒效应所造成的影响。
本发明亦提供一种电流取样电路，其可克服米勒效应并包括一 电流取 样晶体管、 一电容组、 一放大器以及一开关组。电流取样晶体管具有一栅 极以及一源极。电容组设置在该栅极与该源极之间，用以储存该栅极与该 源极之间的压差。该栅极与该源极之间的压差对应于一欲取样电流。放大 器具有一输入端以及一输出端，并且在该栅极与源极之间，提供一回授路 径。开关组用以对该电容值所储存的一栅源电压进行取样。该栅源电压对 应于该欲取样电流。该电容组具有一第一电容以及一第二电容。该第一电 容串联该第二电容。该开关组具有一开关，用以将该第一及第二电容之间
的一节点耦接至一参考电平。
本发明的电流取样电路可应用在检测电路中，用以对一检测器所产生 的输出电流进行取样。
本发明亦提供一种电流取样方法。在一第一取样期间，利用一放大器， 放大 一 电流取样晶体管的 一 源极的电压，并将放大后的结果传送至该电流 取样晶体管的一栅极；利用一第一电容电路，取样该栅极与该源极之间的 压差，该栅极与该源极之间的压差与一欲取样电路有关；以及利用取样结 果位移该放大器的一操作点。在一第二取样期间，利用该放大器，放大该
源极的电压，并将放大后的结果传送至该栅极；以及利用一电容组，对该 栅极与源极之间的压差进行取样，该栅极与源极之间的压差与该欲取样电路有关，该电容组具有一第一电容电路以及一第二电容电路。
本发明还提供一种电流取样方法。在一取样期间，利用一放大器，放 大一 电流取样晶体管的 一源极的电压，并将放大后的结果传送至该电流取
样晶体管的一栅极；以及利用一电容电路，取样该栅极与该源极之间的压
差。该栅极与该源极之间的压差与一欲取样电路有关。该电容电路具有一 第一电容以及一第二电容。该第一电容串联该第二电容。在该取样期间， 将该第一及第二电容之间的一节点耦接至一参考电平。在一维持期间，将 取样结果传送至一输出端，并且将该第一及第二电容之间的该节点与该参 考电平作隔离。
本发明的电流取样方法对应于本发明的电流取样电路使用。本发明的 电流取样方法可应用在信号检测方法中。利用 一检测器执行一检测功能， 故可产生 一 电流输出。该电流输出即为本发明的电流取样方法欲耳又样的电流。
本发明所提供的电路及方法提供两种方法，第一种方法是在取样期间， 消除米勒效应所造成的影响。这方法是将受到米勒效应影响的电容切分成 两串联电容，并且将两串联电容之间的共通节点连接至一参考电平(如地)。
第二种方法是使用两取样期间。在第一取样期间，将一粗略电压储存 在一电容的中。在第二取样期间，根据电容所储存的粗略电压，对放大器 的操作点进行位移。因此，放大器便可操作在最大增益区的中，因而缩短 取样时间，并不需改变晶体管特性。上述两种方法可整合在一电路或一方 法的中。
为使本发明的上述和其他目的、特征、和优点能更明显易懂，下文特 举出较佳实施例，并结合附图详细说明如下。
图1为已知的电流取样电路。
图2为控制图l的时钟信号的示意图。
图3显示另一已知的电流取样电路。
图4为控制图3的时钟信号的示意图。
图5为反相放大器的操作点示意图。
图6a为本发明的电流取样电路的一可能实施例。图6b为控制图6a的时钟信号的示意图。
图7a为本发明的电流取样电路的另一可能实施例。
图7b为控制图7a的时钟信号的示意图。
图8a为本发明的电流取样电路的另 一可能实施例。
图8b为控制图8a的时钟信号的示意图。
附图符号说明
Tlp、 Tin:晶体管；10电流源；
S4':开关；Sl第一开关；
S2:第二开关；S3第三开关；
S4:第四开关；S5第五开关；
S6: 第六开关；S7第七开关；
S8:第八开关；clkl' clklO:时钟信号;
S、 Sa、 Sb:取样期间；Rl二重置期间；
H:保持期间；PR:预充期间；
Cl、 Cd、 Cla、 Clb、 C2、 C2a、 C2b:电容。
具体实施例方式
具有相同功能的元件均以相同的符号表示，并且叙述过的功能不再重
智久。
本发明可解决两问题， 一是米勒效应所造成的电容问题，另一是放大 器的操作点问题。以下将说明检测电路如何解决上述问题。
藉由图6a及6b,便可解决米勒效应所造成的电容问题，并缩短图3的 取样期间。由于米勒效应的存在，故将电容Cl(图3所示)切分成电容Cla 及Clb。在本实施例中，电流取样电路具有开关S4'。开关S4'将电容Cla 及Clb之间的节点连接至一参考电平VSS1。开关S4'由时钟信号clk4(如图 6b所示)控制。
图6b为时钟信号的示意图。在取样期间S,第二开关S2及第四开关 S4被导通，第三开关S3及第五开关S5不被导通。因此，可形成一放大回 授路径，并且电容Cla及Clb之间的节点被连接至参考电平VSS1。第二开 关S2可称为取样开关。第三开关S3可作为输出开关。在此期间，便可消除米勒效应，并且改善取样电^各的设定时间。在取
样期间S,电容Cla及Clb之间的节点被连接至参考电平VSS1(如地)。因 此，电容Cla可看作成是由反相放大器的输出端所驱动的电容，而电容Clb 可看作成反相放大器的输入电容。
在维持期间H,电容Cla及Cl串联在一起，故电容Cla及Cl所储存 的总电压便可使晶体管Tin提供取样电流。晶体管Tin可称为电流取样晶 体管。
图7a为本发明的电流取样电路的另一可能实施例。图7b为控制图7a 的时钟信号的示意图。在图7b中，具有第一取样期间Sa、重置期间Rl、 第二取样期间Sb以及维持期间H。
如图7a所示，电容Cl及C2串联在晶体管Tin的栅极与源极之间，用 以储存晶体管Tin的栅极与源极之间的压差，其中电容Cl及C2所储存的 电压与需被取样的电流有关。在本实施例中，在第一取样期间Sa,利用电 容Cl储存晶体管Tin的栅极与源极之间的压差，其中电容Cl所储存的电 压与需被取样的电流有关。在第二取样期间Sb,电容C1及C2串联在晶体 管Tin的栅极与源极之间，用以储存晶体管Tin的栅极与源极之间的压差， 其中电容C1及C2所储存的电压与需被取样的电流有关。
第一取样期间Sa可看作成粗略的取样期间，而第二取样期间Sb为细 微的取样期间，用以设定反相放大器20的操作点。
第六开关S6由时钟信号clk6(如图7b所示)控制，用以决定是否让电容 Cl在第一取样期间Sa，串联于晶体管Tln的栅极与源极之间，或是让电容 Cl及C2在第二取样期间Sb,串联于晶体管Tln的栅极与源极之间。
反相放大器20的输出端可通过第四开关S4而耦接至晶体管Tin的栅 极，或是通过第七开关S7而连接至电容Cl及C2之间的节点。第七开关 S7可作为一放大输出开关。在第一取样期间Sa,第四开关S4根据时钟信 号clk4,让反相放大器20的输出端耦接至晶体管Tln的栅极。在第二取样 期间Sb，第七开关S7根据时钟信号clk7,让反相放大器20的输出端耦接 至电容C1及C2之间的节点。在本实施例中，反相放大器20的操作点是由 电容C1所储存的电压所决定。
在第一取样期间Sa,第二开关S2、第四开关S4及第六开关S6被导通， 而第三开关S3、第五开关S5以及第七开关S7不被导通。因此，电容C2被短路，晶体管Tin根据电容Cl所储存的粗略的电压(即晶体管Tin的栅 极与源极之间的压差Vgs)，提供取样电流。
在重置期间Rl,第五开关S5根据时钟信号clk5而被导通。因此，反 相放大器20的输入端及输出端耦接在一起。第四开关S4不被导通，使得 反相放大器20被重置，并且不提供回授路径。
在重置期间Rl,反相放大器20 —直偏压在自己的阈值(threshold)，并 且晶体管Tin的源极为放大阈值。由于电容C1的一端为高阻抗，故晶体管
Tin的栅极会随着源极电压变化而变化。电容C2被短路在反相放大器的两
二山 >而。
在第二取样期间Sb，第六开关S6及第五开关S5不被导通，第七开关 S7被导通。反相放大器的输出端耦接至电容C1及C2之间的节点，其中电 容C1及C2串联在晶体管Tln的栅极与源极之间。
在第二取样期间Sb中，电容C1维持粗略电压(即晶体管Tin的栅极与 源极之间的压差Vgs)。因此，在第一及第二取样期间，电容C1均是储存粗 略电压(即晶体管Tin的栅极与源极之间的压差Vgs)。电容C2所储存的电 压用以校正晶体管Tin的栅极与源极之间的压差。
藉由电容Cl所储存的粗略电压(即晶体管Tin的栅极与源极之间的压 差Vgs),便可将反相放大器的操作点移至高增益区。
藉由重置期间Rl,便可避免晶体管Tin的漏极电流在第二取样期间Sb 的起始点发生突起(spike)。突起形成的原因为，在第七开关S7被导通时， 电容C1的一端会被看作成已被放大的源极电压，因而影响晶体管Tln的栅 极电压，而形成一额外的电流。
由于在重置期间Rl,重置反相放大器，故可将校正电压建立在电容Cl 及C2的端点。
在维持期间H，第三开关S3及第五开关S5被导通，第二开关S2及第 七开关S7不被导通。电容C1及C2串联在一起，因此，电容C1及C2的 总电压即为粗略电压与细微校正电压的总合。电容C1及C2的总电压为晶 体管Tln的最终栅-源极电压。晶体管T1根据电容C1及C2的总电压，将 取样后的结果由输出端OUT输出。
图7b所显示的双取样期间与取样电流的变化量无关。
图8a为本发明的电流取样电路的另一可能实施例。图8b为控制图8a的时钟信号的示意图。在本实施例中，藉由切分与米勒效应有关的电容(图
7a的电容C2),便可再减短取样期间。米勒效应已在图6a说明。
图8a相似图7a,不同之处在于，图8a具有预充晶体管Pl及P2以及 将图7a所示的电容C2切分成电容C2a及C2b。第八开关S8根据时钟信号 clk8(显示于图8b中)，将电容C2a及C2b之间的节点连接至一固定电平。
在第一取样期间Sa、第二取样期间Sb以及重置期间Rl,第八开关S8 被导通。在维持期间H,第八开关S8不被导通。
由于图8a具有预充晶体管Pl及P2，故在图8b中，需要预充期间PR。
预充晶体管Pl耦接于晶体管Tin的栅极与高电压VDD之间。预充晶 体管P2耦接于晶体管Tin的漏极与高电压VDD之间。预充晶体管Pl及 P2分别由时钟信号clk9及clkl0所控制。
在预充期间，预充晶体管P1被导通，而不导通预充晶体管P2。同时， 第二开关S2、第六开关S6以及第八开关S8被导通。预充晶体管P1使得高 电压VDD被传送至晶体管Tin的栅极，并且晶体管Tin的源极与反相放大 器的阈值。因此，电容C1、 C2a及C2b约为高电压VDD的一半VDD/2。
预充晶体管P2隔离晶体管Tln与高电压VDD,用以避免额外的电流 流经晶体管Tln。预充期间可确保在下个第一取样期间Sa时，流经晶体管 Tin的初始电流大于需要被取样的光电流，其中流经晶体管Tin的初始电 流系由电容C1所储的电压所决定。在这样的条件下，取样电路便可快速地 得知光电流的变化量，因此，提供较快的取样时间。在其它期间(第一取样 期间Sa、重置期间Rl、第二取样期间Sb及维持期间H)中，预充晶体管P1 不被导通，而预充晶体管P2被导通。因此，晶体管Tln的漏极便可接收到 高电压VDD,相关说明与其它电路相同。
这个电路可以特别地使用在检测器的应用中，尤其是在检测出较小的 电流时，可即时得知电流的变化。举例而言，在检测亮度、温度或是DNA 混合(hybridization)时，均需检测较小的电流。
本发明可应用在显示装置中，用以处理光检测器的输出信号。藉由检 测光线，便可使得显示器的亮度随着外界光线的强度而变化。显示器的亮 度控制方式为本领域技术人员所深知。
上述的电路结果只是部分实施例，并且可利用晶体管取代电路内的开 关。若电流取样电路整合在其它装置(如显示器)的基板上时，亦可利用电流取样电路里的开关控制基板上的其它电路元件。本领域技术人员均深知， 实现上述电路的方式。
虽然本发明已以较佳实施例揭示如上，然其并非用以限定本发明，本 领域技术人员在不脱离本发明的精神和范围的前提下可作若干的更动与润 饰，因此本发明的保护范围以本发明的权利要求为准。
权利要求
1. 一种检测电路，包括一电流取样电路，包括一电流取样晶体管，具有一栅极以及一源极；一电容组，设置在该栅极与该源极之间，用以储存该栅极与该源极之间的压差，该栅极与该源极之间的压差对应于一欲取样电流；一放大器，具有一输入端以及一输出端，并且在该栅极与源极之间，提供一回授路径；以及一开关组，用以对该电容值所储存的一栅源电压进行取样，该栅源电压对应于该欲取样电流，其中该电容组具有一第一电容电路以及一第二电容电路，在一第一取样期间，该第一电容电路对该栅极与该源极之间的压差进行取样，在一第二取样期间，该第一及第二电容电路对该栅极与该源极之间的压差进行取样；该开关组可根据第一取样期间的取样结果，在该第一及第二取样期间，位移该放大器的操作点；以及一检测器，产生该欲取样电流。
2. 如权利要求1所述的检测电路，其中该开关电路具有一第一放大输出 开关以及一第二放大输出开关，在该第一取样期间，该第一放大输出开关 将该输出端与该栅极连接在一起，在该第二取样期间，该第二放大输出开 关将该输出端耦接到该第一及第二电容电路之间的一节点，其中该开关组 可提供一重置期间，该重置期间位于该第一及第二取样期间之间，在该重 置期间，该输出端与该输入端耦接在一起。
3. 如权利要求1所述的检测电路，其中该开关组具有一取样开关以及一 输出开关，该取样开关将该电流取样电路与 一 电流源连接在 一起，该输出 开关将该电流取样晶体管与该电流取样电路的 一输出端连接在 一起。
4. 如权利要求1所述的检测电路，其中该第一及第二电容电路的一个具 有一第一电容以及一第二电容，该第一电容串联该第二电容，该开关组具 有一开关，用以将该第 一及第二电容之间的一节点耦接至一参考电平。
5. —种检测电路，包括 一电流耳又样电路，包括 一电流取样晶体管，具有一栅极以及一源极；一电容组，设置在该栅极与该源极之间，用以储存该栅极与该源极之 间的压差，该栅极与该源极之间的压差对应于 一欲取样电流；一放大器，具有一输入端以及一输出端，并且在该栅极与源极之间， 提供一回授路径；以及一开关组，用以对该电容值所储存的 一栅源电压进行取样，该栅源电 压对应于该欲取样电流，其中该电容组具有 一第 一 电容以及一 第二电容， 该第一电容串联该第二电容，该开关组具有一开关，用以将该第一及第二电容之间的一节点耦接至一参考电平；以及一检测器，用以提供该欲取样电流。
6. —种信号检测方法，包括利用 一检测器执行一检测功能，用以产生 一欲取样电流；以及 在一第一取样期间利用一放大器，放大一电流取样晶体管的一源极的电压，并将放大后 的结果传送至该电流取样晶体管的 一栅极；利用一第一电容电路，取样该栅极与该源极之间的压差，该栅极与该 源极之间的压差与该欲取样电路有关；以及利用取样结果位移该放大器的一操作点；以及 在一第二取样期间利用该放大器，放大该源极的电压，并将放大后的结果传送至该栅极； 利用一电容组，对该栅极与源极之间的压差进行取样，该栅极与源极之间的压差与该欲取样电路有关，该电容组具有一第一电容电路以及一第二电容电路。
7. 如权利要求6所述的信号检测方法，还包括 在该第一取样期间将该第一电容电路耦接在该源极与该栅极之间；以及 将该放大器的一输出端耦接该栅极；以及 在该第二取样期间将该第一及第二电容电路耦接在该源极与该一册极之间；以及 将该放大器的该输出端耦接在该第一及第二电容电路之间的一节点。
8. 如权利要求6所述的信号检测方法，还包括在该第一及第二取样期 间，提供一重置期间，在该重置期间，该放大器的一输出端耦接该放大器的一输入端。
9. 如权利要求6所述的电流取样方法，还包括在一取样期间，将该电 流取样晶体管耦接至一电流源；在一维持期间，将该电流取样晶体管耦接 至一输出端；该第一及第二电容电路的一个具有一第一电容以及一第二电 容，该第一电容串联该该第二电容，在该取样期间，该第一及第二电容之 间的 一节点耦接至一参考电平。
10. —种信号检测方法，包括利用一检测器执行一检测功能，用以产生一欲取样电路；以及 在一取样期间利用一放大器，放大一电流取样晶体管的一源极的电压，并将放大后 的结果传送至该电流取样晶体管的一栅极；以及利用一电容电路，取样该^t极与该源极之间的压差，该栅极与该源极 之间的压差与该欲取样电路有关，该电容电路具有一第一电容以及一第二 电容，该第一电容串联该第二电容，在该取样期间，将该第一及第二电容 之间的一节点耦接至一参考电平；以及在一维持期间将取样结果传送至一输出端，并且将该第 一及第二电容之间的该节点 与该参考电平隔离。
全文摘要
一种检测电路及信号检测方法。该检测电路包括具有电流取样晶体管、电容组、放大器以及开关组的电流取样电路及检测器。电容组设置在栅极与源极之间，用以储存栅极与源极之间的压差，栅极与源极之间的压差对应于欲取样电流。放大器具有输入端以及输出端，并且在栅极与源极之间，提供回授路径。开关组用以对电容值所储存的栅源电压进行取样，栅源电压对应于欲取样电流。电容组具有第一以及第二电容电路。在第一取样期间，第一电容电路对栅极与该源极之间的压差进行取样。在第二取样期间，第一及第二电容电路对栅极与源极之间的压差进行取样。开关组可根据第一取样期间的取样结果，在第一及第二取样期间，位移放大器的操作点。检测器产生欲取样电流。
文档编号G01R19/00GK101470138SQ20081018801
公开日2009年7月1日 申请日期2008年12月26日 优先权日2007年12月26日
发明者尼可拉·巴拉曼提, 约翰·R·艾尔斯, 马丁·J·爱德华兹 申请人:统宝光电股份有限公司