隔绝光干扰之快速检测试剂分析仪的制作方法

文档序号:5857304阅读:139来源:国知局
专利名称:隔绝光干扰之快速检测试剂分析仪的制作方法
技术领域
本实用新型是关于一种隔绝光干扰之快速检测试剂分析仪,尤其系指一种将呈色
芯片在密闭空间中进行侦测其光学讯号,以隔绝外界光线进入而避免光干扰现象之快速检 测试剂分析仪。
背景技术
随着经济发展以及国民所得提升,在人们日渐富足的生活水平下,随之而来的是 许多文明疾病好发率的增长,在这些文明疾病日渐普遍的情况下,人们对于各类疾病的检 测需求便随之增加;另一方面,社会价值观也在工商业社会的功利主义中逐渐遭到扭曲,违 禁药品的使用者可能因为各种因素而产生不当用药的行为,如压力过大而吸食毒品或者运 动选手为求表现而服用禁药等等,所以对于违禁药品使用者的生理生化检测亦时有需求。 然而,不管是针对疾病或不当用药的检测,在各医疗院所的使用量均呈现上升的 趋势,所以如果不是需要精密仪器与耗费时间的检测项目,对于检验结果的要求大多着眼 于快速反应即可。 现阶段常用的检验装置是采用一种检测如血液或尿液等检体的呈色芯片,该呈色 芯片多采用抗体抗原反应的生物技术原理制造而成,通常是在该呈色芯片上设有对应于欲 检测标的之蛋白质作为探针,透过标的蛋白质与探针蛋白质的抗体抗原反应进行检测,所 以当检体落于该呈色芯片上,该呈色芯片的颜色便会因为检体所含的蛋白质成分而产生改 变,并藉由对颜色变化的解读而进行检验结果的判断。 过去,此类检测结果的判断系以肉眼作视觉观察来进行,但是单以肉眼观察很容
易产生人为因素的解读误差,而影响了检验结果的准确性,因此后来便发展出以光侦测系
统(包含光二极管(photo diode)、金氧互补式半导体(CMOS)、电荷耦合组件(CCD))搭配
生物信息软件的检验技术与装置;此类检验方式系透过该光侦测系统进行侦测光讯号的变
化,再将所取得之讯号传输至计算机中,由该生物信息软件将呈色芯片的讯号与标准值进
行比对与运算处理后获得检验结果,相较于人为判断具有更高的准确性。 然而,习用的检验装置系具有一对应该呈色芯片之插槽,当检验人员将该呈色芯
片插置于该插槽中便可开始分析检验的作业,但由于该呈色芯片位于该插槽时,二者之间
系存在着若干距离的空隙而并未完全地密闭,因此会有些许光线从该空隙进入该检验装置
内部,而该光侦测系统又是对光线具有高敏感度的光学组件, 一旦因外部光线进入该检验
装置内部而对该光侦测系统产生光干扰现象,检验结果便会因此产生误差,故就习用的检
验装置而言,在光干扰的部份仍有相当大的改进空间。

实用新型内容本实用新型人有鉴于上述习用检验装置因光干扰现象导致检验结果判断误差的
缺失,乃积极着手从事研究,经过不断的试验及努力,终于开发出本实用新型。 本实用新型之主要目的在于提供一种将呈色芯片在密闭空间中进行侦测其光学讯号,以隔绝外界光线进入而避免光干扰现象之快速检测试剂分析仪。 为了达到上述实用新型目的,本实用新型是采取以下之技术手段予以达成,其中 本实用新型隔绝光干扰之快速检测试剂分析仪,其包括 主体,具有一内部容置空间以及一连通于该内部容置空间之开口 ; 呈色芯片载盘,其宽度系符合所述开口之宽度并经由该开口往复移动地设置于该
内部容置空间,前端具有一凸块,后端具有一遮片,近后端处设有一呈色芯片凹槽; 固定模块,设置于该内部容置空间并对应于该呈色芯片载盘前端之位置,其具有
一限制框以及一往复移动地设置于该限制框中并对应于该凸块之棘爪; 光讯号分析模块,设置于该内部容置空间并对应于该呈色芯片载盘。 故藉由上述之结构,本实用新型隔绝光干扰之快速检测试剂分析仪是以该呈色芯
片载盘先于该主体外部装载一呈色芯片,再将该呈色芯片载盘以类似抽屉关闭的方式经由
该开口往该内部容置空间推移,直到该凸块触及该棘爪并将该棘爪后推,当该棘爪后推触
及该限制框时,便会受限于该制框而内縮紧抓该凸块以达固定效果,接着,该光讯号分析模
块便针对光讯号的变化进行侦测动作,再将取得的讯号传输至计算机中进行分析比对,此
时,该遮片已封住该开口之缝隙使该内部容置空间形成一密闭状态,以阻隔外部光线进入,
进而避免光干扰现象对成像质量造成负面影响。

图1是本实用新型隔绝光干扰之快速检测试剂分析仪之立体图。 图2是本实用新型隔绝光干扰之快速检测试剂分析仪之部分分解图。 图3是本实用新型隔绝光干扰之快速检测试剂分析仪之俯视图。 图4是本实用新型隔绝光干扰之快速检测试剂分析仪之呈色芯片载盘作动示意图。 图5是本实用新型隔绝光干扰之快速检测试剂分析仪之呈色芯片载盘、固定模块 以及呈色芯片分解图。 主要组件符号说明 11-主体 111——内部容置空间 112-开口 12——呈色芯片载盘 121-凸±央 122-遮片 123呈色芯片凹槽 13——固定模块 131——限制框 132-棘爪 14——光讯号分析模块
具体实施方式
请参考图1至图3所示,本实用新型隔绝光干扰之快速检测试剂分析仪,其包括
141——基座
142——轨道杆体
143——光讯号分析单元
1431——移动台
1432——光讯号分析组件
144——齿轮组件
1441——齿轮
1442——齿条 15——限位组件 2——呈色芯片
4[0033] 主体ll,具有一内部容置空间111以及一连通于该内部容置空间lll之开口 112 ; 呈色芯片载盘12,其宽度系符合所述开口 112之宽度并经由该开口 112往复移动 地设置于该内部容置空间111中,前端具有一凸块121,后端具有一遮片122,近后端处设有 一呈色芯片凹槽123 ; 固定模块13,设置于该内部容置空间111并对应于该呈色芯片载盘12前端之位 置,其具有一限制框131以及一往复移动地设置于该限制框131中并对应于该凸块121之 棘爪132 ; 光讯号分析模块14,设置于该内部容置空间111并对应于该呈色芯片载盘12。 其中,隔绝光干扰之快速检测试剂分析仪还包括两个设置于该内部容置空间111
并分别位于该呈色芯片载盘12之两侧的限位组件15,用来使该呈色芯片载盘12往复移动
时的路径不致发生偏差。 此外,该光讯号分析模块14具有 —基座141,设置于该限位组件15之上; 两轨道杆体142,是以同于该呈色芯片载盘12往复移动之方向平行设置于该基座 141上; —光讯号分析单元143,往复移动地设置于该轨道杆体142,具有一移动台1431、 一设置于该移动台1431 —侧之光源(图中未示)以及一设置于该移动台1431另一侧之光 讯号分析组件1432 ; —齿轮组件144,设置于该基座141之一侧,具有至少一齿轮1441以及一啮合于该 齿轮1441且连结于该移动台1431之齿条1442。 其中,该光讯号分析组件1432为二极管(photo diode)、金氧互补式半导体
(CMOS)或电荷耦合组件(CCD),在本实施例中,是采用电荷耦合组件(CCD)。 请再参考图1、图2、图4及图5,当使用者欲针对一落有检体之呈色芯片2进行检
验时,将其放置于该呈色芯片载盘12之呈色芯片凹槽123中,便可将该呈色芯片载盘12
以类似抽屉关闭的方式推移进入该内部容置空间中lll,在该呈色芯片载盘12经由该开口
122往内移动的过程中,由于该限位组件15是位于该呈色芯片载盘12之两侧,因此可确保
其移动路径不致偏差而影响到后续的光讯号分析质量。 之后,位于该呈色芯片载盘12前端的凸块121会顶触到该固定模块13之棘爪 132,并且将该棘爪132予以顶推后移, 一旦该棘爪132后移至触及该限制框131的位置,便 会受限于该限制框131而内縮紧抓该凸块121以达到将该呈色芯片载盘12固定的效果,此 时,该遮片122已封住该开口 112之缝隙,使得该内部容置空间111形成一密闭状态,以阻 绝任何外部光线进入。 接着,以该基座141设置于限位组件15上的光讯号分析模块14便可针对位于下 方的呈色芯片载盘12中的呈色芯片2进行光讯号分析之动作;首先,由一马达(图中未示) 带动该齿轮1441作动以移动该齿条1442,此时,该光讯号分析单元143即因该移动台1431 系连动于该齿条1442而于该轨道杆体142上往复移动,同时,该光源便提供照明功能以供 该光讯号分析组件1432进行该呈色芯片2光讯号变化的侦测动作,最后,将所取得的讯号 传输至计算机中进行分析比对已获得检验结果。 故本实用新型之隔绝光干扰之快速检测试剂分析仪,透过类似抽屉关闭的方式将该呈色芯片送入该内部容置空间进行光讯号取得与分析的动作,并且由该呈色芯片载盘后 端的遮片将该开口之缝隙予以封闭,以阻绝外部光线进入,进而达到光干扰现象极小化的 目的,藉以获得准确的检验结果。 以上所述,仅为本实用新型之较佳实施例,当不能以此限定本实用新型实施之范 围;故,凡依本实用新型申请专利范围及实用新型说明书内容所作之简单的等效变化与修 饰,皆应仍属本实用新型专利涵盖之范围内。
权利要求一种隔绝光干扰之快速检测试剂分析仪,其特征在于它包括主体,具有一内部容置空间以及一连通于该内部容置空间之开口;呈色芯片载盘,其宽度系符合所述开口之宽度并经由该开口往复移动地设置于该内部容置空间,前端具有一凸块,后端具有一遮片,近后端处设有一呈色芯片凹槽;固定模块,设置于该内部容置空间并对应于该呈色芯片载盘前端之位置,其具有一限制框以及一往复移动地设置于该限制框中并对应于该凸块之棘爪;光讯号分析模块,设置于该内部容置空间并对应于该呈色芯片载盘。
2. 根据权利要求1所述的隔绝光干扰之快速检测试剂分析仪,其特征在于它还包括 两个设置于该内部容置空间并分别位于该呈色芯片载盘之两侧的限位组件。
3. 根据权利要求2所述的隔绝光干扰之快速检测试剂分析仪,其特征在于所述光讯号分析模块具有一基座,设置于所述限位组件之上;两轨道杆体,是以同于该呈色芯片载盘往复移动之方向平行设置于该基座上; 一光讯号分析单元,往复移动地设置于该轨道杆体,具有一移动台、一设置于该移动台一侧之光源以及一设置于该移动台另一侧之光讯号分析组件;一齿轮组件,设置于该基座之一侧,具有至少一齿轮以及一啮合于该齿轮且连结于该移动台之齿条。
4. 根据权利要求3所述的隔绝光干扰之快速检测试剂分析仪,其特征在于所述光讯 号分析组件为二极管、金氧互补式半导体或电荷耦合组件。
专利摘要本实用新型是关于一种隔绝光干扰之快速检测试剂分析仪,它包括主体,具有一开口;呈色芯片载盘,其宽度系符合所述开口之宽度并经由该开口往复移动地设置于该主体,其后端具有一遮片,近后端处设有一呈色芯片凹槽;固定模块,其具有一限制框以及一往复移动地设置于该限制框中之棘爪;光讯号分析模块,设置于该主体中并对应于该呈色芯片载盘;故藉由上述结构,使用者可以类似抽屉关闭的方式将该呈色芯片载盘推入该主体中,并由该遮片封闭该开口之缝隙,以阻绝外部光线进入避免光干扰现象,进而提升检验结果的准确性。
文档编号G01N33/53GK201508314SQ20092021647
公开日2010年6月16日 申请日期2009年9月17日 优先权日2009年9月17日
发明者庄建和, 庄琮凯, 王建华 申请人:开物科技股份有限公司
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