电磁继电器线圈寿命试验系统与寿命评估方法

文档序号:5892540阅读:180来源:国知局
专利名称:电磁继电器线圈寿命试验系统与寿命评估方法
技术领域
本发明涉及电磁继电器线圈寿命试验系统,还涉及电磁继电器线圈寿命评估方法。
背景技术
电磁继电器是一种当输入量(激励量)的变化达到规定要求时,在电气输出电路中使被控量发生预定的阶跃变化的电器,一般由铁芯、线圈、衔铁、触点簧片等组成。电磁继电器在使用过程中会存在老化降级,主要分为触点的老化和线圈的老化。触点的老化主要是由于在长期的使用过程中,触点表面会生成各类表面膜层,从而影响接触性能,其中触点表面沉积的碳化区域对其影响最为突出。线圈的老化是由于继电器连续长时间处于额定电压(电流)励磁状态下,将会引起线圈弱绝缘点(绝缘气隙等)处温升,从而引起的漆包线老化降级,导致线圈绝缘等级下降。 由于继电器在各领域应用非常广泛,其可靠性受到了广泛关注,因此,继电器的测试与电寿命试验一直是国内外电气学术界研究的重要领域。目前对电磁继电器的测试已经有很多方法或设备,例如继电器综合测试系统(可测量各种电参数)等,但电寿命试验基本都是针对继电器触点进行的,尚未见到对继电器线圈的寿命试验方面的研究。

发明内容
本发明的目的是提供电磁继电器线圈寿命试验系统以及基于该试验系统的测量数据来对电磁继电器线圈的寿命进行评估的方法。为达到上述目的,本发明采用了以下技术方案一种电磁继电器线圈寿命试验系统,包括能够为多个并联的继电器供电的稳压电源;能够在设定时间切断所述稳压电源供电的定时开关;能够容纳所述多个并联的继电器并且能够根据时间控制箱内试验温度的交变老化箱;能够测量所述继电器的线圈漆包线温度的热电偶温度传感器;能够测量所述继电器的线圈直流电阻的电阻测量仪;能够测量所述继电器的线圈绝缘电阻的绝缘电阻测试仪;能够采集、存储以及输出所述线圈漆包线温度的数据、所述线圈直流电阻以及所述线圈绝缘电阻的数据的数据采集装置。使用上述的电磁继电器线圈寿命试验系统来评估继电器的寿命的方法,包括(I)通过所述稳压电源向在所述交变老化箱中的继电器组供电,并通过所述定时开关在设定时间切断所述稳压电源的供电,实现控制继电器组的高温带电、低温断电的交替循环运行,实施加速老化试验,继电器组有三组,每组继电器中有多个并联的继电器,三组继电器组的试验温度是不同的,需要分别进行加速老化试验;
(2)在相应的试验温度下,每个循环运行周期内获得每组继电器组在同一时刻的线圈漆包线平均温度的数据,以及线圈直流电阻和线圈绝缘电阻的数据,根据多个循环运行周期的线圈直流电阻和线圈绝缘电阻的数据的比较,来反映继电器组的线圈发生的绝缘降级的程度,采用基于威布尔分布以及平均秩计算法的可靠性理论进行评估,得到每组继电器线圈在相应试验温度下,绝缘降级到预先指定的程度所需的平均运行时间;继电器线圈的寿命评估模型采用lnt=lnA+Ea/ (RT),其中t为平均运行时间,T为线圈漆包线平均温度,A是待定常数,R为波尔兹曼常数,Ea为线圈漆包线的激活能,设定y=lnt, x=l/T, a=Ea/R, b=lnA,则得到y=ax+b,利用最小二乘法进行曲线拟合,计算出a和b,
权利要求
1.一种电磁继电器线圈寿命试验系统,其特征在于包括 能够为多个并联的继电器供电的稳压电源; 能够在设定时间切断所述稳压电源供电的定时开关; 能够容纳所述多个并联的继电器并且能够根据时间控制箱内试验温度的交变老化箱; 能够测量所述继电器的线圈漆包线温度的热电偶温度传感器; 能够测量所述继电器的线圈直流电阻的电阻测量仪; 能够测量所述继电器的线圈绝缘电阻的绝缘电阻测试仪; 能够采集、存储以及输出所述线圈漆包线温度的数据、所述线圈直流电阻以及所述线圈绝缘电阻的数据的数据采集装置。
2.使用如权利要求I所述的电磁继电器线圈寿命试验系统来评估继电器的寿命的方法,其特征在于包括 (1)通过所述稳压电源向在所述交变老化箱中的继电器组供电,并通过所述定时开关在设定时间切断所述稳压电源的供电,实现控制继电器组的高温带电、低温断电的交替循环运行,实施加速老化试验,继电器组有三组,每组继电器中有多个并联的继电器,三组继电器组的试验温度是不同的,需要分别进行加速老化试验; (2)在相应的试验温度下,每个循环运行周期内获得每组继电器组在同一时刻的线圈漆包线平均温度的数据,以及线圈直流电阻和线圈绝缘电阻的数据,根据多个循环运行周期的线圈直流电阻和线圈绝缘电阻的数据的比较,来反映继电器组的线圈发生的绝缘降级的程度,采用基于威布尔分布以及平均秩计算法的可靠性理论进行评估,得到每组继电器线圈在相应试验温度下,绝缘降级到预先指定的程度所需的平均运行时间; 继电器线圈的寿命评估模型采用lnt=lnA+Ea/ (RT),其中t为平均运行时间,T为线圈漆包线平均温度,A是待定常数,R为波尔兹曼常数,Ea为线圈漆包线的激活能,设定y=lnt,x=l/T, a=Ea/R, b=l nA,则得到y=ax+b,利用最小二乘法进行曲线拟合,计算出a和b, 根据a和b得出Ea与Α,则根据所述继电器线圈的寿命评估模型能够进行继电器线圈的平均运行时间或称为寿命的评估。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于在步骤(I)中,三组继电器组的高温带电、低温断电的交替循环运行指的是 一组继电器组先在得电条件下100°C运行90小时、然后在断电条件下-25°c运行10小时,后续重复得电100°C 90小时、断电-25°C 10小时这样的循环运行; 另外一组继电器组先在得电条件下110°C运行90小时、然后在断电条件下_25°C运行10小时,后续重复得电110°C 90小时、断电-25°C 10小时这样的循环运行; 第三组继电器先在得电条件下120°C运行90小时、然后在断电条件下_25°C运行10小时,后续重复得电120°C 90小时、断电-25°C 10小时这样的循环运行。
全文摘要
本发明公开了电磁继电器线圈寿命试验系统与寿命评估方法,其中通过稳压电源、定时开关以及交变老化箱的配合控制,对多组继电器分别进行加速老化试验,再通过热电偶温度传感器、电阻测量仪、绝缘电阻测试仪测量得到的线圈老化敏感参数-线圈漆包线平均温度、线圈直流电阻和线圈绝缘电阻,应用可靠性理论计算多组试验的平均运行时间,利用最小二乘法计算线圈漆包线的激活能,从而确定寿命评估模型中的参数,则通过参数确定好的寿命评估模型能够进行继电器线圈的平均运行时间或称为寿命的评估。
文档编号G01R31/327GK102707171SQ201210175070
公开日2012年10月3日 申请日期2012年5月31日 优先权日2012年5月31日
发明者姚建林, 施海宁, 石颉 申请人:中国广东核电集团有限公司, 苏州热工研究院有限公司
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