一种多电极测试方法及其装置制造方法
【专利摘要】本发明公开了一种多电极测试装置，包括PCB板、多选一电子开关、测试器、电源；所述PCB板上设有多条相互平行的测量线；所述PCB板、多选一电子开关、测试器依次串联连接，所述测试器与电源连接；每个待检测的电极与至少一个所述测量线接触，所述多选一电子开关依次导通所述测量线使得与该测量线接触的电极、所述导通的测量线、多选一电子开关、测试器和电源构成闭合回路。
【专利说明】一种多电极测试方法及其装置
【技术领域】
[0001]本发明涉及自动测试领域，特别是指一种多电极测试方法及其装置。
【背景技术】
[0002]人工电子耳蜗(人工耳蜗)植入体中，电极阵列是最为重要的一个组成部分。装配以后，需要对植入体电极的导通等电学性能进行测量，目前现有技术中的人工电子耳蜗最多包括22个电极，PCB (印刷电路板)是测量电极阵列电学性能常用的装置。由于人工耳蜗电极阵列中的电极触点小，电极与电极之间的间隔小，很难用一个24个焊脚的PCB对准所有的电极进行测量。目前的方法是手工一一接触电极进行测量，电极难以对准触点，测量效率低。
【发明内容】
[0003]有鉴于此，本发明的目的在于提出一种多电极测试方法及其装置。该测试装置能够对人工耳蜗的多个电极进行电学性能测量，该测量方法能够较为准确、方便地对电极的导通等电学形能进行测量。
[0004]基于上述目的本发明提供的多电极测试装置，包括PCB板、多选一电子开关、测试器、电源；所述PCB板上设有多条相互平行的测量线，这些测量线的间距不超过0.3mm ;所述每个测量线连接并且只连接所述多选一电子开关的一个通道；所述PCB板、多选一电子开关、测试器依次串联连接，所述测试器与电源连接；测量状态下，每个待检测的电极与至少一个所述测量线接触，所述多选一电子开关依次导通所述测量线使得与该测量线接触的电极、所述导通的测量线、多选一电子开关、测试器和电源构成闭合回路。
[0005]可选的，所述多选一电子开关依次导通所述测量线使得与该测量线接触的电极、所述导通的测量线、多选一电子开关、测试器和电源构成闭合回路时，所述待检测电极排列方向与所述测量线的延伸方向垂直。
[0006]可选的，相邻所述测量线之间的间距不超过0.1mm。
[0007]可选的，相邻所述测量线之间的间距不超过所述电极在垂直所述测量线方向的有效宽度的二分之一。
[0008]可选的，所述多选一电子开关的通道数与所述测量线的数目相同。
[0009]进一步，本发明提供一种多电极测试方法，其特征在于，采用上述任意一种多电极测试装置，通过执行如下步骤对人工耳蜗电极阵列进行测试:
[0010]将人工耳蜗电极阵列与PCB板上的测量线呈45° -90°角放置，使电极阵列两侧分别与测试器和测量线接触；将PCB板上的第I个测量线所对应的多选一电子开关通道导通；采用测试器对当前电路中的电流进行测量，从而得到相应的电流值；判断电流值，若超过设定的电极导通电流范围，则记录连续超过所述导通电流范围的次数；若所述电流值在设定的电极导通电流范围内，则判断当前电路所对应的电极导通；若连续未导通次数超过预先设定的间隔最大测量线数值，则判断对应的电极未导通；若在判断电流值的步骤中判断当前电路导通，则判断在本次测量过程中是否还存在未曾连接过的测量线，若是，将PCB板上下一个测量线所对应的多选一电子开关通道导通；在将所述PCB板上下一个测量线所对应的多选一电子开关通道导通后，返回采用测试器对当前电路中电流进行测量的步骤。
[0011]可选的，当判断当前电路导通后，采用所述测试器对电极的电学性能进行测试。
[0012]可选的，所述电极导通电流范围为0.5_2mA。
[0013]从上面所述可以看出，本发明提供的多电极测量装置，可应用于人工耳蜗等待测电极触点小、间隔小的设备。本发明所提供的多电极测量方法，能够多触点小、间隔小的电极阵列进行较为准确测量。测量时将待测电极与PCB板上的测量线接触，无需将电极与PCB精确对准，只要使得待测电极的排列方向与测量线的延伸方向大致垂直即可通过多选一电子开关依次接通各个测量线进行测量，显著提高了测量效率。
【专利附图】
【附图说明】
[0014]图1为本发明实施例的多电极测试装置测试电路连接示意图；
[0015]图2为本发明实施例的多选一电子开关与PCB板的连接关系示意图；
[0016]图3为本发明实施例的测试状态下测量线与电极关系示意图；
[0017]图4为本发明实施例的多电极测试方法流程图。
【具体实施方式】
[0018]为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚明白，以下结合具体实施例，并参照附图，对本发明进一步详细说明。
[0019]本发明实施例所提供的多电极测试装置，测量原理电路连接示意图如图1所示，包括PCB板11、设置在PCB板上的测量线、多选一电子开关12、测试器13、电源14。所述测量线设有多个，所述PCB板11与多选一电子开关12串联，使得所述测量线以并联的方式连接于所述测试器和所述多选一电子开关之间，所述多选一电子开关12用于控制所述测量线与所述测试器13之间的断开与闭合；所述电源14串联连接于电路中，当多选一电子开关12闭合使得一个测量线与电路导通时，所述电源14给整个电路提供电能。本实施例的待测电极一侧与所述测试器13接触，另一侧与所述PCB板11接触，通过多选一电子开关12使得所述测量线中的一个测量线、多选一电子开关12、电源14、测试器13和所述电极组中的一个电极组成连通的电路，即通路，通过测试器测量此时电路的状况，就可以得出与此通路相对应的电极的电学性能。
[0020]图2展示了多选一电子开关12与测量线连接的示意图。多选一电子开关12包括多个通道121，每个测量线111都连接并且只连接一个通道，当开关的闸刀122导通某一个通道121时，也将该通道连接的测量线111与闸刀122 —侧的电路部分导通。
[0021]图3为本发明实施例的测量线和电极连接示意图。所述测量线111以很小的间距平行排布，这个间距不小于电极在测量线垂直方向上的有效宽度值的二分之一。具体的，所述电极有效宽度约为0.4-0.6mm,因此，相邻的两个所述测量线111之间的间距不超过
0.3臟，进一步，不超过0.1mm。较佳的，所述测量线111在所述PCB板上等间距排布，相邻两个所述测量线111之间的距离约为0.1mm。
[0022]在测量人工耳蜗电极的电学性能时，将人工耳蜗的电极阵列两侧分别与测试器和PCB板的测量线接触，并使得电极连线与所述测量线方向大致垂直。通过所述多选一电子开关将所述测量线逐一导通，由于相邻所述测量线之间的间距小于电极在测量线垂直方向上的有效宽度值的二分之一，因此每个电极至少与一个测量线接触。某个电极所接触的测量线通过多选一电子开关导通时，该电极处于一个通路中，此时通过所述测试器，测试电路的通、断状况，就可以知道电极的导通状况，并可对电极的其它电学性能进行测试。
[0023]可选的，所述多选一电子开关的路数即通道数与所述测量线的数目相同；即所述多选一电子开关为N选一开关，N与所述测量线的个数相同。
[0024]进一步，本发明提供一种多电极测试方法，该方法采用本发明前面实施例所述的多电极测试装置进行测量，对电极的导通、接触等电学性能进行测试。
[0025]作为一个实施例，本发明提供的多电极测试方法流程如图4所示，包括如下步骤:
[0026]步骤1:将电极与测量线接触。本步骤中，将人工耳蜗电极阵列与测量线呈45° -90°角放置，使电极阵列两侧分别与测试器和测量线接触。
[0027]步骤2:导通第I个测量线:将PCB板上的第I个测量线所对应的电子开关路导通。本实施例所采用的多选一电子开关，包括多个通道，通过切换多选一电子开关的闸刀，可以导通不同的通道。由于每个电极至少与一个测量线接触，当与某个电极接触的测量线导通时，测量线接触的电极处于通路中。
[0028]步骤3:采用测试器对当前通路中的电流进行测量，从而得到相应的电流值。
[0029]步骤4:判断电流值是否超过设定的电极导通电流范围。在本步骤中，根据步骤3所测量的电流对电路导通状况进行测量，若电流大于2mA时证明当前电路未导通，进入步骤41 ;若电流为0.5-2mA以上时证明电极导通，进入步骤42。
[0030]步骤41:记录电流值超出所述范围的次数并判断；若连续未导通次数超过预先设定的间隔最大测量线数值，则判断测量线所对应的电极未导通；若连续未导通的次数未超过预先设定的间隔最大测量线数值，则进入步骤5。所述间隔最大测量线数值，在本实施例中的意思是，由于电极之间存在间隔，因此在人工耳蜗的电极与PCB板接触后，一些测量线可能正好落入电极的间隔中而不与电极接触，可能落入电极间隔中的测量线数的最大值，即上述间隔最大测量线数值。例如，相邻电极之间的间隔为0.2mm，测量线之间的间隔为
0.1mm，则最多有两个测量线落入相邻电极的间隔中，即间隔最大测量线数值为2。
[0031]步骤42:通过测试器对电极进行阻抗测量等电学性能测试，进入步骤5。若当前电路导通，在步骤42中通过测试器测量检测所需的电极其它电学性能。
[0032]步骤5:判断在本次测量过程中是否还存在未曾连接过的测量线，若是，则通过多选一开关依次序将下一个测量线导通并返回步骤3，否则进入步骤6。
[0033]步骤6:测试结束。
[0034]从上面所述可以看出，本发明所提供的多电极测试装置，采用小间距分别的测量线，保证每个电极至少与一个测量线接触，可应用于人工耳蜗电极阵列的导通等电学性能的测试，也可以应用于测试目标小、测试目标间隔小以及测试目标间隔可能不规则的其它场合。
[0035]所属领域的普通技术人员应当理解:以上所述仅为本发明的具体实施例而已，并不用于限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内，所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。
【权利要求】
1.一种多电极测试装置，其特征在于，包括PCB板、多选一电子开关、测试器、电源；所述PCB板上设有多条相互平行的测量线，这些测量线的间距不超过0.3mm ;所述每个测量线连接并且只连接所述多选一电子开关的一个通道；所述PCB板、多选一电子开关、测试器依次串联连接，所述测试器与电源连接；测量状态下，每个待检测的电极与至少一个所述测量线接触，所述多选一电子开关依次导通所述测量线使得与该测量线接触的电极、所述导通的测量线、多选一电子开关、测试器和电源构成闭合回路。
2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述多选一电子开关依次导通所述测量线使得与该测量线接触的电极、所述导通的测量线、多选一电子开关、测试器和电源构成闭合回路时，所述待检测电极排列方向与所述测量线的延伸方向垂直。
3.根据权利要求1或2所述的装置，其特征在于，相邻所述测量线之间的间距不超过0.1mm0
4.根据权利要求1或2所述的装置，其特征在于，相邻所述测量线之间的间距不超过所述电极在垂直所述测量线方向的有效宽度的二分之一。
5.根据权利要求1或2所述的装置，其特征在于，所述多选一电子开关的通道数与所述测量线的数目相同。
6.—种多电极测试方法,其特征在于,米用如权利要求1-5中任意一项所述的多电极测试装置，通过执行如下步骤对人工耳蜗电极阵列进行测试: 将人工耳蜗电极阵列与PCB板上的测量线呈45° -90°角放置，使电极阵列两侧分别与测试器和测量线接触； 将PCB板上的第I个测量线所对应的多选一电子开关通道导通； 采用测试器对当前电路中的电流进行测量，从而得到相应的电流值； 判断电流值，若超过设定的电极导通电流范围，则记录连续超过所述导通电流范围的次数；若所述电流值在设定的电极导通电流范围内，则判断当前电路所对应的电极导通； 若连续未导通次数超过预先设定的间隔最大测量线数值，则判断对应的电极未导通； 若在判断电流值的步骤中判断当前电路导通，则判断在本次测量过程中是否还存在未曾连接过的测量线，若是，将PCB板上下一个测量线所对应的多选一电子开关通道导通； 在将所述PCB板上下一个测量线所对应的多选一电子开关通道导通后，返回采用测试器对当前电路中电流进行测量的步骤。
7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，当判断当前电路导通后，采用所述测试器对电极的电学性能进行测试。
8.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述电极导通电流范围为0.5-2mA。
【文档编号】G01R31/02GK103513152SQ201310440410
【公开日】2014年1月15日 申请日期:2013年9月24日 优先权日:2013年9月24日
【发明者】夏斌, 李亚杰, 王松 申请人:杭州诺尔康神经电子科技有限公司