面向微装配的亚微米精度同轴共焦对准检测方法与装置制造方法
【专利摘要】本发明涉及一种面向微装配的亚微米精度同轴共焦对准检测方法与装置。该方法采用基于棱镜的同轴对准激光共聚焦检测实现目标零件和基体零件的实时共像检测，将激光共聚焦高精度检测引入微器件的高精度对准检测过程中，检测精度突破传统显微光学成像衍射极限，能够实现检测精度优于1微米。同轴对准棱镜结构的设计是保证激光共聚焦检测目标零件和基体零件相对位置误差的关键。采用等腰直角三角棱镜的两次反射实现目标零件和基体零件在激光共聚焦像平面的共像，为微器件的装配对准过程的相对位置误差的检测计算提供保证。结合高精度的基体零件夹持精确调整平台和目标零件夹持机械直线位移台，该检测系统可以实现亚微米精度的装配对准精度。
【专利说明】面向微装配的亚微米精度同轴共焦对准检测方法与装置
【技术领域】
[0001]面向微装配的亚微米精度同轴共焦对准检测方法与装置，特别涉及微小型结构的检测、几何光学对准检测光路设计，属于微检测、微操作及微器件高精度装配领域。
【背景技术】
[0002]对于微器件的高精度装配而言，目标零件和基体零件在装配过程中相对位置关系的精确检测是实现微小型器件高精度装配的关键步骤之一。目标零件和基体零件对准检测精度的高低直接影响微器件整体装配精度，对提高微器件装配成功率和精度有着至关重要的作用。采用传统的单目、双目或多目显微机器视觉的方法来检测和定位空间中两个装配与待装配零件之间的空间图像位置信息，会受到微器件的夹持调整机构、照明光源与显微视觉系统自身工作距离的限制，而且无法突破光学衍射极限，检测对准的精度受到自身系统的限制，提高也非常困难。
[0003]天津大学申请号为:200910069739.7的专利设计了一种用于微靶球装配检测的“基于时间差法的共聚焦激光测头”，该测头的主体机构，包括激光器、分光棱镜、音叉透镜、线圈组件及置于光电接收器套筒的光电接收器。该专利解决了共聚焦侧头测量光斑过大的技术难题，缩小了测头的体积。在实际的测量过程中采用双测头上下布置的方式，实现两路激光共聚焦侧头同轴差动式的测量方法。激光共聚焦测量系统的测量不确定度约为± 1.2 μ m。
[0004]德国Karl Suss公司开发的FC系列贴片机采用了视觉对位，该对位检测系统使用了两个CCD镜头来实现芯片和基底上对位标记的对准，从而通过高精度平台的移动实现芯片与基底的对准。一个CCD用于将电子器件与基底面调平，另一个通过物镜、偏振分光镜实现芯片和基底的图像同画面获取，X，Y方向对准精度可达到2μπι，转角精度可达到±0.02。。
[0005]从目前国内外基于机器视觉的微装配领域的研究成果来看，针对装配对象的目标和基体零件的装配对准检测提出许多不同的方案，采用采用单目显微视觉系统，只能在某方向观测零件空间位置信息，无法得到零件的三维空间确切位姿信息，因而无法完成结构稍微复杂的零件的操作和装配。
[0006]总体来说，随着微装配理论的不断发展，近年来国内外在基于显微机器视觉的微器件装配精确对准实现方法方面取得了很大的进步，但诸多研究成果几乎都是基于传统的显微机器视觉检测方法，或是其方法的改进，个别系统采用更高精度的检测手段，但缺乏相对比较好的通用性。
【发明内容】
[0007]本发明的目的在于提供一种面向微装配的亚微米精度同轴共焦对准检测方法与装置，该方法采用激光共聚焦显微镜为检测核心，设计同轴光学检测模块，利用单目测量的模式来实现微器件装配过程中目标零件和基体零件相对位置误差的精确检测，并实现闭环反馈控制。其检测可以突破光学衍射极限，检测识别精度达到亚微米。
[0008]为实现上述目的，本发明的面向微装配的亚微米精度同轴共焦对准检测方法与装置，主要包括同轴光学检测棱镜、棱镜夹持器、棱镜误差调整模块、激光共聚焦测量显微镜、控制计算机五个部分。对于本发明而言，同轴对准光学模块是保证最终检测精度的关键，该模块主要选用两块相同的等腰直角三角棱镜，在其中的一块的两个直角面镀全反射膜，另外的一块的斜面镀全反射膜，反射膜选择针对激光光源波段的全反射膜，镀膜面的反射率可大于90%。
[0009]棱镜的误差调整采用6自由度高精度直线位移台、偏转角度和水平角度调整台，通过棱镜夹持器与支撑杆和棱镜调整机构刚性连接，六个自由度可以实现棱镜的全方位调
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[0010]激光共聚焦测量显微镜固定在二维直线位移台上，可以实现激光共聚焦在水平和竖直方向的调整，激光共聚焦的测头在竖直方向的运动保证了对于在垂直方向有高度差的零件能够保证有效的检测。对于基体零件夹持运动平台，在其下方布置了大范围的直线位移台，保证能够对零件外形尺寸较大的零件进行检测。
【专利附图】
【附图说明】
[0011]图1激光共聚焦同轴对准检测系统总体框图；
[0012]图2激光共聚焦同轴对准光路原理图；
[0013]图3激光共聚焦同轴对准棱镜机构误差调整结构图；
[0014]图4激光共聚焦同轴对准棱镜产生棱脊偏转和倾斜图；
[0015]图5激光共聚焦同轴对准棱镜端面光路图；
[0016]图6激光共聚焦同轴对准检测装配流程图。
【具体实施方式】
[0017]结合附图对本发明作进一步详细的说明:
[0018]一、激光共聚焦同轴精确对准检测系统
[0019]激光共聚焦同轴对准检测系统总体框图如图1所示，实现微器件最终装配的宏动机械手I的目标零件夹持卡具和微动机器人的基体零件夹持夹具。机器人I和机器人2都受总控计算机的操作控制，目标零件的机械手可以实现大范围的宏运动，从上料机构位置开始到装配对准初始位置，这部分主要采用普通显微光学系统，该光学系统可以实现较大检测视场范围，在大视场条件下实现目标零件和基体零件的初始对准和定位，传统的显微光学检测系统为后续的激光共聚焦精确测量提供了有效的保证。激光共聚焦测量显微的检测视场很小，无法全部获取目标零件和基体零件的装配对准关键特征图像。
[0020]二、激光共聚焦同轴精确对准检测光路原理
[0021 ] 激光共聚焦同轴精确对准检测光路原理如图2所示，棱镜A和B是采用K9玻璃加工的等腰直角三角棱镜，分别在棱镜A的两条直角边和棱镜B的斜边镀和激光共聚焦激光光源波长相等或接近的镀膜，该镀膜可以实现大约96%激光反射率，目标零件C和基体零件D分别位于棱镜A的上方和下方，在进行装配对准操作开始前须对目标零件和基体零件进行水平度的初始校准，目标零件C和基体零件D经过棱镜B的反射之后在激光共聚焦的像平面可以获得目标零件C和基体零件D的图像。通过图2的光路可以得到目标零件C在激光共聚焦的像平面的像会发生180°的旋转，基体零件D在激光共聚焦像平面的像和实际的物体在方向上是一致的。由于激光共聚的视场范围比较小，采用该光路无法同时获取目标和基体零件的装配对准关键特征，在实际的检测中保持棱镜机构的位置不变，移动激光共聚焦显微镜来二次扫描获取基体零件D的图像，采用图像拼接的方法来计算其相对的位置误差。
[0022]三、棱镜夹持调整机构及误差分析
[0023]激光共聚焦同轴精确对准检测棱镜夹持及调整机构如图3所示，棱镜采用一面定位，一面挤压夹紧的方法来固定两片独立的三角棱镜，以保持其相对位置的稳定，对于该对准机构系统来说棱镜夹持的相对位置保持和稳定性是最终的装配精度的一个重要的因素，棱镜调整机构是对棱镜在安装过程中可能产生的位移和角度偏差进行微小的调整，是实现光学对准模块校准的一个有效的手段。
[0024]理想状况下，目标零件和基体零件在三角棱镜的垂直上方和下方，其在三角棱镜的反射光路如图4所示，目标零件和基体零件经过二次发射后成平行入射状态。系统在装配操作开始之前进行光轴垂直度的校准和摄像机的畸变校正，因此，对于此光学结构，棱镜的方位调整的精度是影响装配对准精度的关键因素。此光路的成像误差来源于棱镜系统的棱脊的偏转和倾斜。在本系统对准检测棱镜机构中，采用旋拧挤压棱镜两主端面的方式，并固定在专门的棱镜误差调整机构上，对棱镜体产生的微小误差进行调整，在实际的安装固定过程中可能会产生如图所示4所示的棱脊偏转和倾斜。
[0025]如图5所示，实际的反射棱镜端面图是一个等腰直角三角形，％和^btl和Id1分别表示理想状况下，目标零件和基体零件的入射和反射光线的单位矢量，η为反射面的单位法矢量(规定其方向指向反射面)。在直角坐标系Oxyz中，因为零件上方和下方的零件通过棱镜反射后具有对等性，选其中的入射光线％，反射光线ai和法线η分别用其在3个坐标轴上的投影分量(方向余弦)表示，矢量形式的反射定律可表示成:
[0026]B1 = a0-2 (a0.η) η
[0027]在指定的坐标系中，上述三个单位矢量可分别用其在三个坐标轴上的投影分量(方向余弦)表示，即
[0028]
【权利要求】
1.一种面向微装配的亚微米精度同轴共焦对准检测方法与装置，所述方法是基于激光共聚焦显微测量的微装配对准关键特征识别检测，对准检测精度能够突破传统光学检测的光学成像衍射极限，其对准检测精度优于I微米。通过同轴对准检测可以实现实时检测目标零件和基体零件的装配对准相对位置误差关系，其具体包括如下步骤: (1)基于同轴棱镜对准模块的多自由度微装配系统方案设计； (2)精确对准同轴棱镜模块的设计、棱镜的夹持及误差调整； (3)同轴棱镜对准模块中目标零件与基本零件的运动夹持与激光共聚焦测量模块的检测光路设计。
2.根据权利要求1所述的同轴激光共聚焦测量检测装置，其特征在于: (I)两个边长为5mm的直角三角棱镜，构成激光共聚焦反射检测光路，且光路的设计必须保证目标零件和基体零件符合激光共聚焦测量显微镜的有效工作距离要求； (2 )两个直角三角棱镜必须在其中的一个直角棱镜的两个直角边和另一个棱镜的斜边镀针对激光共聚焦测量的激光器相同波长的反射膜。
3.根据权利要求1所述的同轴激光对准检光学棱镜模块的细微误差调整，其特征在于: 对于该检测对准模块，实现优于I个微米的对准检测精度，设计了高精度的六自由度棱镜误差调整机构，实现微小偏转角度和微小转动的误差补偿和调整，以保证棱镜对准对整个系统精度的检测要求。
4.根据权利要求1所述的同轴激光共聚焦精确对准检测的实现，其特征在于: 通过采用同轴激光共聚焦对准检测方法，实现采用单目激光共聚焦检测目标零件和基体零件的实时相对位置图像信息，精确计算目标零件和基体零件的相对位置误差信息，相比较传统的显微光学检测方法，激光共聚焦测量能够提高检测识别的精度，突破传统光学检测的衍射极限。
【文档编号】G01B11/00GK103837080SQ201410081848
【公开日】2014年6月4日 申请日期:2014年3月7日 优先权日:2014年3月7日
【发明者】张之敬, 叶鑫, 唐永龙, 金鑫, 李燕, 刘盼 申请人:北京理工大学