等离子光谱法测定镁粒中镁的分析方法与流程

技术总结
本发明公开了一种等离子光谱法测定镁粒中镁的分析方法，包括：溶解镁粒试样，得到试样溶液；使用等离子体光谱仪测定镁粒试样中杂质含量，随同做空白实验；扣除杂质含量后得到镁粒试样中镁的含量。本发明大大缩短了分析时间，减少了损失，提高了测量的准确度。

技术研发人员：李虹;刘建华;周春玲;陈英;邹新萍
受保护的技术使用者：内蒙古包钢钢联股份有限公司
文档号码：201610731253
技术研发日：2016.08.26
技术公布日：2017.02.15