一种用于半导体测试系统的人工测试控制装置的制作方法

本实用新型涉及一种测控装置，尤其涉及一种用于半导体测试系统的人工测试控制装置。

背景技术：

半导体测试系统的测试控制装置都是自动控制，设备体积大，价格较高；对于少量的电子元器件测试检验，使用自动控制装置成本非常高，为此，需要一种简易、成本低廉的人工测试控制装置。

技术实现要素：

为解决现有技术中的问题，本实用新型提供一种用于半导体测试系统的人工测试控制装置。

本实用新型包括通讯接口、测试启动模块、控制处理模块、显示模块，所述控制处理模块通过所述通讯接口与半导体测试系统相连，所述测试启动模块的输出端与控制处理模块输入端相连，所述控制处理模块输出端与所述显示模块输入端相连。

本实用新型作进一步改进，还包括指示模块，所述指示模块的输入端与所述通讯接口的输出端相连。用于指示测试产品结果是合格还是不合格。

本实用新型作进一步改进，所述指示模块包括开关SW3、2个不同颜色的LED灯的灯组、电阻R21、三极管Q2和三极管Q3，所述三极管Q2和三极管Q3的基极分别与通讯接口的相连，所述三极管Q2和三极管Q3的集电极接地，所述三极管Q2和三极管Q3的发射极分别通过灯组的不同LED灯接电阻R21的一端，所述电阻R21的另一端通过开关SW3接电源。

本实用新型作进一步改进，所述控制处理模块包括设有多个引脚的微处理器A1、电阻R22和晶振单元，所述微处理器A1的第21引脚分别与通讯接口和电阻R22一端相连，所述电阻R22另一端接电源，所述晶振单元与微处理器A1的第18引脚和第19引脚相连。

本实用新型作进一步改进，所述晶振单元包括晶振X1、电容C2和电容C3，所述晶振X1的一端分别与微处理器A1的第18引脚和电容C2一端相连，所述晶振X1的另一端分别与微处理器A1的第19引脚和电容C3一端相连，所述电容C2和电容C3的另一端接地。

本实用新型作进一步改进，所述控制处理模块还包括重置模块，所述重置模块包括重置按键SW1、有极性电容C1和电阻R23，所述重置按键SW1、有极性电容C1并联后，有极性电容C1的正极端接电源，所述有极性电容C1的负极端分别与电阻R23一端和微处理器A1的第9引脚相连，所述电阻R23另一端接地。

本实用新型作进一步改进，所述测试启动模块包括电阻R24、电容C4和启动按钮SW2，所述电容C4和启动按钮SW2并联后一端接地，另一端分别与电阻R24一端和微处理器A1的第5引脚相连，所述电阻R24另一端接电源。

本实用新型作进一步改进，所述显示模块包括显示灯板DY1、开关管Q4、开关管Q5，所述显示灯板DY1包括十位数灯管和个位数灯管，所述微处理器A1通过开关管Q4控制所述显示灯板DY1的十位数灯管的显示，所述微处理器A1通过开关管Q4控制所述显示灯板DY1的个位数灯管的显示。

本实用新型作进一步改进，所述显示灯板DY1的十位数灯管和个位数灯管分别为七段数码管。

本实用新型作进一步改进，所述通讯接口为40500接口芯片U1。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：适用于少量的电子元器件的测试检验，与自动化控制装置相比，成本大大降低，结构简单，操作便捷。

附图说明

图1为本实用新型结构示意图；

图2为本实用新型的电路原理图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本实用新型做进一步详细说明。

如图1所示，本实用新型包括通讯接口、测试启动模块、控制处理模块、显示模块，所述控制处理模块通过所述通讯接口与半导体测试系统相连，所述测试启动模块的输出端与控制处理模块输入端相连，所述控制处理模块输出端与所述显示模块输入端相连。

为了明确直观的知道电子元器件检测是合格还是不合格的测试结果，本实用新型还包括指示模块，所述指示模块的输入端与所述通讯接口的输出端相连，用于指示测试产品结果是合格还是不合格。

如图2所示，作为本例的一个实施例，所述指示模块包括开关SW3、由红色LED灯和绿色LED灯组成的灯组、电阻R21、三极管Q2和三极管Q3，所述三极管Q2和三极管Q3的基极分别与通讯接口的相连，所述三极管Q2和三极管Q3的集电极接地，所述三极管Q2的发射极通过绿色LED灯接电阻R21的一端，所述三极管Q3的发射极通过红色LED灯接电阻R21的一端，所述电阻R21的另一端通过开关SW3接电源。开关SW3用来控制整个电路电源的通断，所述红灯亮时，表示测试不合格，绿灯亮时，表示测试合格。

本例的控制处理模块包括设有多个引脚的微处理器A1、电阻R22和晶振单元，所述微处理器A1的第21引脚分别与通讯接口和电阻R22一端相连，所述电阻R22另一端接电源，所述晶振单元包括晶振X1、电容C2和电容C3，所述晶振X1的一端分别与微处理器A1的第18引脚和电容C2一端相连，所述晶振X1的另一端分别与微处理器A1的第19引脚和电容C3一端相连，所述电容C2和电容C3的另一端接地。晶振模块用于向测试系统发送1ms的低电平脉冲信号来控制系统进行测试。

此外，本例控制处理模块还包括重置模块，所述重置模块包括重置按键SW1、有极性电容C1和电阻R23，所述重置按键SW1、有极性电容C1并联后，有极性电容C1的正极端通过开关SW3接电源，所述有极性电容C1的负极端分别与电阻R23一端和微处理器A1的第9引脚相连，所述电阻R23另一端接地，与测试启动模块相对应，顾名思义，所述重置模块用于将所述人工测试控制装置显示重置。

本例测试启动模块包括电阻R24、电容C4和启动按钮SW2，所述电容C4和启动按钮SW2并联后一端接地，另一端分别与电阻R24一端和微处理器A1的第5引脚相连，所述电阻R24另一端接通过开关SW3接电源。

本例显示模块包括显示灯板DY1、开关管Q4、开关管Q5，所述显示灯板DY1包括十位数灯管和个位数灯管，所述微处理器A1通过开关管Q4控制所述显示灯板DY1的十位数灯管的显示，所述微处理器A1通过开关管Q4控制所述显示灯板DY1的个位数灯管的显示。具体地，所述三极管Q4的基极通过电阻R19与微处理器A1的第22引脚相连，所述三极管Q5的基极通过电阻R19与微处理器A1的第23引脚相连；所述三极管Q4和三极管Q5的发射极通过开关SW3接电源，所述三极管Q4的集电极与显示灯板DY1的十位数灯管输入端相连，所述三极管Q5的集电极与显示灯板DY1的个位数灯管输入端相连。

本例显示灯板DY1的十位数灯管和个位数灯管分别为七段数码管，所述十位数七段数码管的g、h、a、f四个引脚单独接一个电阻R9～R12，分别与微处理器A1的第32～34、39引脚相连，所述个位数七段数码管的d、e、b、c四个引脚单独接一个电阻R13～R16，分别与微处理器A1的第35～38引脚相连。所述电阻R1串在微处理器A1的第39引脚和第40引脚之间，所述电阻R2串在微处理器A1的第38引脚和第40引脚之间，以此类推，电阻R3～R8分别接微处理器A1的第37～32引脚和第40引脚之间。本例的通讯接口为40500接口芯片U1，包括50个通讯引脚。

本例的工作原理为：

本实用新型使用时，通过通讯接口与测试系统相连接，微处理器A1接收到测试启动模块的信号后，微处理器向测试系统发送1ms的低电平脉冲信号来控制系统进行测试，当微处理器检测到测试系统发送的2ms低电平信号作为测试结束信号，微处理器通过引脚1～引脚4、引脚7、引脚8读取测试系统的档位信号，经过运算，向显示模块输出显示信号，显示测试结果，同时，指示模块从通讯接口读取并通过LED灯指示测试结果。

本实用新型在少量的电子元器件测试检验时，不需要使用成本高昂的自动化控制装置，从而使成本大大降低，此外，本实用新型结构简单，操作便捷。

以上所述之具体实施方式为本实用新型的较佳实施方式，并非以此限定本实用新型的具体实施范围，本实用新型的范围包括并不限于本具体实施方式，凡依照本实用新型所作的等效变化均在本实用新型的保护范围内。