一种键盘检测设备的制作方法

本实用新型涉及电子元件检测设备领域，尤其涉及一种检测键盘按键的新型键盘检测设备。

背景技术：

键盘是最常用也是计算机系统中最主要的输入设备，通过敲打键盘上的按键使触电导通断电，从而将字母、数字、标点符号等输入到计算机中。目前，键盘生产中，对成品进行质量检测时，需要对每一个按键进行击打，测试其回弹和触点的通断，击打时力度要适中，行程要一致，施力和撤力要在瞬间完成。

现有键盘测试设备，通过电磁阀的通断，来控制一颗砝码，通过将砝码击打到第一按键上来测试信号，判断第一按键与键盘的电路板的电路开关是否对应导通，其检测功能比较单一，只能测试按键的开/关功能。

因此，有必要设计一种新的键盘检测设备，以克服上述缺陷。

需要说明的是，“背景技术”段落只是用来帮助了解本

技术实现要素：
，因此在“背景技术”段落所揭露的内容可能包含一些没有构成所属技术领域中普通技术人员所知道的公知技术。在“背景技术”段落所揭露的内容，不代表该内容或者本实用新型一个或多个实施例所要解决的问题，也不代表在本实用新型申请前已被所属技术领域中普通技术人员所知晓或认知。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种键盘检测设备，可对同一按键进行至少两种项目的测试。

为达到上述目的，本实用新型提供了一种键盘检测设备，用于测试键盘的第一按键，该键盘检测设备包括，

控制装置；

驱动装置；

第一测试部，与该控制装置连接，藉由该控制装置的控制实现移动，以第一力击打该第一按键；

第二测试部，与该驱动装置连接，藉由该驱动装置实现移动，以第二力击打该第一按键，该第二测试部具有通孔，该第一测试部穿设该通孔，且该第二测试部和该第一测试部可相对移动；

其中，该第一力的大小不等于该第二力的大小，该第一测试部和该第二测试部可分别击打该第一按键以检测该第一按键的不同参数，且当该第一测试部进行测试时，该第一测试部于该第二测试部内自由移动。

较佳的，该第一力的大小大于该第二力的大小。

较佳的，该第一测试部的重量大于该第二测试部的重量从而使该第一力大于该第二力。

较佳的，该第一测试部包括相连的第一部和第二部，该第一部和该第二部沿该第一方向分布，该第二部穿设于该通孔内，该第一测试部还包括沿该第一方向的相对的第一端和第二端，该第一端位于该第一部，该第一端与该控制装置连接，该第二端位于该第二部上，该第二端用于击打该第一按键，该第一部和该第二测试部之间具有间距，以提供该第一测试部相对该第二测试部移动以击打该第一按键的空间，其中，该第一方向为该第一测试部移动击打该第一按键的方向，该第二方向垂直于该第一方向。

较佳的，该第二测试部沿该第一方向具有相对的第三端和第四端，该第三端与该驱动装置连接，该第四端用于击打该第一按键。

较佳的，当该第一测试部击打该第一按键时，该第二端凸出该第四端，以藉由该第二端击打该第一按键，当该第二测试部击打该第一按键时，该第四端凸出该第二端，以藉由该第四端击打该第一按键。

较佳的，该控制装置控制该第一测试部进行自由落体运动以击打该第一按键。

较佳的，该键盘检测设备还包括导向结构，该导向结构用于导引该第一测试部沿该第一方向移动，该第一方向为该第一测试部移动击打该第一按键的方向。

较佳的，一个该第一测试部和一个该第二测试部构成一个测试组，该键盘检测设备包括多个测试部，以同时测试多个第一按键。

较佳的，该第一测试部藉由拉钩或者弹性元件与该控制装置连接。

较佳的，该键盘检测设备用于对该第一按键进行键硬、键软、灵敏度、死键以及开/关功能项目测试，其中，该第一测试部用于对该第一按键进行键硬、键软、灵敏度、死键以及开/关功能项目中的至少其中的一个项目进行测试，该第二测试部用于对该第一按键进行键硬、键软、灵敏度、死键以及开/关功能项目中的至少其中的一个项目进行测试，且该第一测试部测试的项目与该第二测试部测试的项目不相同。

较佳的，该控制装置为电磁阀，该第一测试部为实心砝码，该第二测试部为空心砝码，该驱动装置为可移动导向板。

与现有技术相比，本实用新型提供一种键盘检测设备，包括控制装置、驱动装置、第一测试部以及第二测试部，该控制装置控制该第一测试部以第一力击打该第一按键，该驱动装置用于控制该第二测试部以第二力击打该第一按键，测试该第一按键，且该第一测试部和该第二测试部可分别击打该第一按键，该第一力的大小不同于该第二力的大小，如此既可以以该第一力测试该第一按键，亦可以以该第二力测试该按键，不同的力对应测试不同的项目，实现键盘检测设备可以对该第一按键的多个项目的检测，方便、快捷，结构简单，易操作，且成本较低。

附图说明

图1为本实用新型实施例的键盘检测设备100的结构示意图。

图2为本实用新型实施例的键盘检测设备100的剖面结构示意图。

具体实施方式

为使对本实用新型的目的、构造、特征、及其功能有进一步的了解，兹配合实施例详细说明如下。

在说明书及权利要求书当中使用了某些词汇来指称特定的元件。所属领域中具有通常知识者应可理解，制造商可能会用不同的名词来称呼同一个元件。本说明书及权利要求书并不以名称的差异来作为区分元件的方式，而是以元件在功能上的差异来作为区分的准则。在通篇说明书及权利要求当中所提及的「包括」为开放式的用语，故应解释成「包括但不限定于」。

图1为本实用新型实施例的键盘检测设备100的结构示意图，图2为本实用新型实施例的键盘检测设备100的剖面结构示意图。如图1和图2所示，键盘检测设备100用于测试键盘的第一按键200，例如，对第一按键200进行键硬、键软、灵敏度(包括不灵敏和过灵敏)、死键以及键的开/关功能等情况进行检测。说明的是，第一按键200可以为任何电子装置上的按键，例如为键盘、投影装置、显示装置、平板电脑、手机、游戏机、智能手表上的按键，但不以此为限。键盘检测设备100包括控制装置11、驱动装置12、第一测试部13以及第二测试部14，控制装置11用于控制第一测试部13以第一力击打第一按键200，以测试第一按键200，例如测试第一按键200的键硬，驱动装置12用于控制第二测试部14以第二力击打第一按键200，测试第一按键200，例如测试第一按键200的键软，且第一测试部13和第二测试部14可分别击打第一按键200，且该第一力的大小不同于该第二力的大小，则第一测试部13可用于对第一按键200进行键硬、键软、灵敏度、死键以及开/关功能项目中的至少其中的一个项目进行测试，第二测试部14可用于对第一按键200进行键硬、键软、灵敏度、死键以及开/关功能项目中的至少其中的一个项目进行测试，且该第一测试部测试的相对与该第二测试部测试的项目不相同，如此既可以以该第一力测试第一按键200，亦可以以该第二力测试该按键，不同的力对应测试不同的项目，实现键盘检测设备100可以对第一按键200的多个项目的检测，并且，在第一测试部13和第二测试部14分别对第一按键200进行检测时，第一按键200无需移动位置，即在第一测试部13测试完第一按键200后，无需再移动第一按键200的位置，便可以通过第二测试部14测试第一按键200，方便快捷；此外，本实用新型键盘检测设备100藉由两个不同的测试部实现以两个不同的力测试第一按键200，相较于采用同一测试部实现以两种不同的力测试第一按键200的结构设备，本实用新型结构更为简单，易控制、操作，且成本较低。下面对键盘检测设备100的各元件的具体结构和功能进行详细描述。

控制装置11与第一测试部13连接，控制装置11控制第一测试部13沿第一方向移动，以第一力击打第一按键200，从而实现测试第一按键200。本实施例中，控制装置11控制第一测试部13进行自由落体运动(模仿人手点击操作)，以击打第一按键200。如此，该第一力的大小由第一测试部13的重量以及第一测试部13下落的距离决定，但通常情况下，为了提高施力于第一按键200的准确性，第一测试部13下落的距离比较小，因而该第一力的大小主要由第一测试部13的重量控制。控制装置11例如为电磁阀，通过电磁阀的通断电来控制第一测试部13的移动，具体而言，当该电磁阀断电时，第一测试部13自由落体，以击打第一按键200，当该电磁阀通电时，第一测试部13复位，即向上移动，远离第一按键200，其中，控制装置11可以通过卡勾与第一测试部13连接。当然，于另一实施例中，控制装置11通过弹簧与第一测试部13连接，当控制装置11通电时，控制装置11克服该弹簧的力而进行自由落体运动，以测试第一按键200，当控制装置11断电时，该弹簧克服第一测试部13的重量使得第一测试部13复位。此外，于再一实施例中，控制装置11可以直接驱动第一测试部13运动，且随着第一测试部13的上下移动而上下移动，或者控制装置11包括移动部件，该移动部件随着第一测试部13的上下移动而上下移动，但不以此为限，具体由设计人员根据实际情况而定，在此不再赘述。

驱动装置12，与第二测试部14连接，驱动装置12驱动第二测试部14朝向第一按键200移动，以第二力击打第一按键200，实现第一按键200的测试。驱动装置12的结构与作用原理可以与控制装置11相同，亦可以不同。本实施例中，驱动装置12直接驱动第二测试部14运动，且随着第二测试部14的上下移动而上下移动，或者控制装置11包括移动部件，该移动部件随着第二测试部14的上下移动而上下移动，该第二力的大小由第二测试部14的重量以及驱动装置12施加给第二测试部14的力决定，通常为了便于控制该第二力的大小，以及设计成本的降低，该第二力的大小由第二测试部14的重量决定。其中，本实施例中，第一测试部13的重量不同于第二测试部14的重量，从而使得该第一力的大小不同于该第二力的大小。需要特别说明的是，此种结构的驱动装置12可以较好的控制第二测试部14的移动方向，特别是当第一测试部13通过自由落体运动来击打第一按键200时，藉由驱动装置12较好的限定移动方向的第二测试部14可以进一步限定第一测试部13的移动方向，即限定第一测试部13沿该第一方向移动，但不以此为限。

第一测试部13，藉由控制装置11的控制实现移动，以沿该第一方向击打第一按键200。进一步的，如图1和图2所示，第一测试部13包括沿第一方向相对的第一端131和第二端132，第一端131与控制装置11连接，第二端132用于击打第一按键200。进一步的，第一测试部13包括相连的第一部133和第二部134，第一部133和第二部134沿该第一方向分布，第二部134穿设于第二测试部14,第一端131位于第一部133上，第二端132位于第二部134上，且第一部133沿第二方向的尺寸大于第一部133于该第二方向上的尺寸，该第二方向垂直于该第一方向，并且，当第二部134穿设于第二测试部14时，第一部133与第二测试部14之间具有间距，以提供第一测试部13相对第二测试部14移动以击打第一按键200的移动空间，即当第一测试部13进行测试时，第一测试部于第二测试部14内自有移动，且第一部133与第二测试部14的配合还可用于限定第一测试部13相对第二测试部14移动的最大幅度，但不以此为限。本实施例中，第一部133和第二部134均为圆柱体型，第一部133的尺寸(例如直径)大于第二部134的尺寸，但不以此为限，第一部133和第二部134还可以为不同形状，可选自正方体、长方体、棱柱，以可实现所述功能为准，具体由设计人员根据实际情况而定，在此不再赘述。

第二测试部14，藉由驱动装置12的驱动实现移动，以沿该第一方向击打第一按键200。进一步的，如图1所示，第二测试部14沿该第一方向具有相对的第三端141和第四端142以及自第三端141延伸至第四端142的通孔143，第三端141与驱动装置12连接，第四端142较第三端靠近第一按键，用于击打第一按键200，通孔143用于供第一测试部13的第二部134穿过，即第二部134穿设于通孔143，且第二测试部14和第一测试部13可相对移动，以实现第一测试部13和第二测试部14可分别击打第一按键200，即分别以不同的力击打第一按键200。进一步的，通孔143沿该第一方向设置，且通孔143的形状、大小较佳与第二部132相互匹配，以较好的限制第一测试部13和第二测试部14的相对移动的距离，且限制第一测试部13和第二测试部14的相对移动方向为沿该第一方向，或者沿与该第一方向相反的方向。

于实际测试中，可以先通过控制装置11控制第一测试部13相对第二测试部14向下(即，沿该第一方向)移动，使第一测试部13的第二端132凸出第四端142，以藉由第二端132击打第一按键200，实现测试第一按键200；接着，通过驱动装置12驱动第二测试部14相对第一测试部13向下(即，沿该第一方向)移动，第二测试部14的第四端142凸出第二端132，以藉由第四端142击打第一按键200，实现测试第一按键200。当然，键盘测试设备100还可以先通过第二测试部14击打第一按键200，然后再通过第一测试部13击打第一按键200，具体由设计人员根据实际情况而定，在此不再赘述。本实施例中，该第一力大于该第二力，则该第一力例如可以用于开/关功能、键硬及死键测试，该第二力例如可以用于键软和灵敏度测试，具体由设计人员根据实际情况而定，在此不再赘述。当然，于其他实施例中，键盘检测设备100亦可以设置成:该第一力小于该第二力，具体由设计人员根据实际情况而定，在此不再赘述。

进一步的，第一测试部13的重量大于第二测试部14的重量以使该第一力的大小大于该第二力的大小，但不以此为限，具体由设计人员根据实际情况而定，在此不再赘述。

进一步的，还包括导向结构15，用于导引第一测试部13沿该第一方向移动，进一步的，导向结构15与第一部133相互配合，以导引第一测试部13沿该第一方向移动，但不以此为限，具体由设计人员根据实际情况而定，在此不再赘述。

进一步的，第一按键200具有第一按压面，第一测试部13和第二测试部14于该第一按压面的投影均位于该第一按压面上，较佳的，第一测试部13和第二测试部14于该第一按压面的投影均位于该第一按压面的范围内，以第一测试部13和第二测试部14可分别测试第一按键200为准，如此，在第一测试部13和第二测试部14分别对第一按键200测试时，无需移动第一按键200的位置，测试起来方便快捷，具体由设计人员根据实际情况而定。较佳的，以第一测试部与控制装置通过挂钩的方式连接为例进行说明，该挂钩、第一测试部13的中心轴、该第二测试部14的中心轴以及该第一按压面的重心在一条直线上，以准备的施力给第一按键200，实现测试第一按键200，具体由设计人员根据实际情况而定，在此不再赘述。

于实际应用中，一个电子装置通常包括多个第一按键200，为了提高效率，以实现同时对该多个第一按键进行测试，本实用新型键盘检测设备100可以包括多个测试组，以同时测试该多个第一按键，其中，一个第一测试部13和一个第二测试部14构成一个测试组。需说明的是，图1和图2仅绘示3个测试组，不以此为限。进一步的，多个第一测试部13可以共用一个控制装置11，亦可以分别单独使用一个控制装置11，多个第二测试部14可以共用一个驱动装置12，亦可以分别单独使用一个驱动装置12，本实施例中，多个第一测试部13分别单独使用一个控制装置11，多个第二测试部14共用一个驱动装置12，具体由设计人员根据实际情况而定，在此不再赘述。

于实际应用中，第一测试部13可以为实心砝码，第二测试部14可以为空心砝码，驱动装置12可以为可移动导向板，具体由设计人员根据实际情况而定，在此不再赘述。

综上，本实用新型键盘检测设备包括控制装置、驱动装置、第一测试部以及第二测试部，该控制装置控制该第一测试部以第一力击打该第一按键，该驱动装置用于控制该第二测试部以第二力击打该第一按键，测试该第一按键，且该第一测试部和该第二测试部可分别击打该第一按键，该第一力的大小不同于该第二力的大小，如此既可以以该第一力测试该第一按键，亦可以以该第二力测试该按键，不同的力对应测试不同的项目，实现键盘检测设备可以对该第一按键的多个项目的检测，方便、快捷，结构简单，易操作，且成本较低。

本实用新型已由上述相关实施例加以描述，然而上述实施例仅为实施本实用新型的范例。必需指出的是，已揭露的实施例并未限制本实用新型的范围。相反地，在不脱离本实用新型的精神和范围内所作的更动与润饰，均属本实用新型的专利保护范围。