技术总结
本实用新型公开了一种光学薄膜测厚仪，包括底座，所述底座上支撑座和安装架，所述支撑座上设有工作台，所述工作台上对称设有抵板和L型限位块，所述抵板和L型限位块之间设有连接弹簧，所述工作台的上表面通过弹簧卡合机构设有限位架，所述安装架上对称设有固定块，两个所述固定块上对称开设有限位槽，所述限位槽内设有限位杆，两个所述限位杆上共同套设有滑块，所述滑块上端固定连接有双向齿条，所述滑块下端固定连接有连接杆，每个所述固定块上均设有转轴，所述转轴上依次套设有扇形齿轮和蜗轮，其中一个所述固定块上固定连接有放置板。本实用新型结构巧妙，使用便捷，对光学薄膜的厚度测量精确，方便下一步操作的进行，值得推广。
技术研发人员：顾运辉;顾明东;姚其林;邵玉玲
受保护的技术使用者：合肥耀世同辉科技有限公司
文档号码：201720857079
技术研发日：2017.07.14
技术公布日：2018.03.13