技术总结
本申请提供了一种薄膜的厚度检测装置。该薄膜的厚度检测装置包括：共通电极单元，包括共通电极以及设置在共通电极一侧的第一保护板；检出电极单元，与共通电极单元在第一方向相对且间隔设置，检出电极单元包括检出电极、导电层与第二保护板，第二保护板设置在检出电极的靠近共通电极单元的一侧，导电层设置在第二保护板的表面上，第一保护板与第二保护板在第一方向上的间隔形成待测物的检测通道，或者第一保护板与导电层在第一方向上的间隔形成检测通道，第一方向与第一保护板以及第二保护板的厚度方向平行。导电层可以屏蔽薄膜与第一保护板及第二保护板摩擦产生的静电荷，并且还能屏蔽纸币本身所携带的静电荷，提高了检测的准确性。
技术研发人员：戚务昌;宋荣鑫;王凯;段平;杜忺峰
受保护的技术使用者：威海华菱光电股份有限公司
技术研发日：2017.10.24
技术公布日：2018.05.22