一种大尺寸千分尺测微头检测辅助装置的制作方法

本实用新型涉及计量技术领域，尤其涉及一种大尺寸千分尺测微头检测辅助装置。

背景技术：

目前微分类量具已经成为我们日常工作生活中不可或缺的工具，用它可以测量各种长度的部件，而其测量结果是否准确需要专用的检定装置进行检定。现今国内外对于外径千分尺测微头示值误差检定，一般采用手动旋转测力机构，带动微分筒前进和后退，用校对专用量块直接测量外径千分尺在该点的示值误差，即，对零后直接用规定的专用量块进行检测。这种测量方式不容易找到平衡点，需要大量时间去寻找该平衡点，且容易增加测量误差。

有鉴于上述的缺陷，本设计人，积极加以研究创新，以期创设一种大尺寸千分尺测微头检测辅助装置，使其更具有产业上的利用价值。

技术实现要素：

本实用新型的目的在于提出一种测量精度高的大尺寸千分尺测微头检测辅助装置。

为达此目的，本实用新型采用以下技术方案：

一种大尺寸千分尺测微头检测辅助装置，包括检测架和多个紧固件，其中，

所述检测架包括底座、与所述底座垂直连接的检测杆、固定在所述检测杆自由端的检定台，所述检定台上设有贯穿的第一检测孔，所述第一检测孔的中心线与所述检定台的中心线重合，所述底座上设有贯穿的且与所述第一检测孔同轴的第二检测孔，所述第一检测孔与所述第二检测孔供所述千分尺的测杆穿过；

各所述紧固件能够分别穿过所述底座和所述检定台、将所述千分尺的测杆紧固在所述第一检测孔与所述第二检测孔中。

进一步的，各所述紧固件为螺钉。

进一步的，所述检定台上设有中心线与所述第一检测孔的中心线相垂直、与所述第一检测孔连通的第一螺纹孔，所述第一螺纹孔与所述螺钉适配。

进一步的，所述底座上设有供所述千分尺的尺架卡入的卡槽，所述底座上沿所述第二检测孔的径向设有三个与所述卡槽连通的第二螺纹孔，各所述第二螺纹孔的中心线位于同一平面上，所述第二螺纹孔与所述螺钉适配。

进一步的，各所述第二螺纹孔距离所述第二检测孔的距离相等。

进一步的，所述检定台为锥台或者圆柱台。

进一步的，所述检测杆紧挨所述第一检测孔与所述第二检测孔的侧面为能够与校对专用量块紧贴的平面。

本实用新型的有益效果为：利用底座上的三个螺钉固定千分尺的尺架、检定台用来使千分尺的测微头对零，底座上的三个螺钉可调节检定台的轴线与千分尺的测杆的轴线在一条直线上，使千分尺的测杆平衡地置于第一检测孔与第二检测孔中，检测快捷简单方便，大大提高了检测准确度。

附图说明

图1是本实用新型具体实施方式提供的大尺寸千分尺测微头检测辅助装置的结构示意图；

图2是大尺寸千分尺测微头检测辅助装置中的检测架的结构示意图；

图3是检测架的侧视图。

图中：10-底座，11-第二检测孔，12-卡槽，13-第二螺纹孔，20-检测杆，30-检定台，31-第一检测孔，32-第一螺纹孔，40-紧固件。

具体实施方式

下面结合附图并通过具体实施方式来进一步说明本实用新型的技术方案。

如图1至3所示，本实用新型的大尺寸千分尺测微头检测辅助装置，包括检测架和多个紧固件40，其中，检测架包括底座10、与底座10垂直连接的检测杆20、固定在检测杆20自由端的检定台30，检定台30上设有贯穿的第一检测孔31，第一检测孔31的中心线与检定台30的中心线重合，底座10上设有贯穿的且与第一检测孔31同轴的第二检测孔11，第一检测孔31与第二检测孔11供千分尺的测杆穿过；各紧固件40能够分别穿过底座10和检定台30、将千分尺的测杆紧固在第一检测孔31与第二检测孔11中。具体的，各紧固件40为螺钉。

为了使检定台30的轴线与千分尺的测杆的轴线在一条直线上，本实用新型在检定台30上设有中心线与第一检测孔31的中心线相垂直、与第一检测孔31连通的第一螺纹孔32，第一螺纹孔32与螺钉适配；底座10上设有供千分尺的尺架卡入的卡槽12，底座10上沿第二检测孔11的径向设有三个与卡槽12连通的第二螺纹孔13，各第二螺纹孔13的中心线位于同一平面上，第二螺纹孔13与螺钉适配。且，底座10上的三个第二螺纹孔13距离第二检测孔11的距离相等。将千分尺的尺架卡入卡槽12中，并使尺架上的测杆依次穿过第一检测孔31和第二检测孔11，然后将三个相同长度的螺钉分别穿进三个第二螺纹孔13中、并分别拧至与尺架接触的程度；再取一个螺钉穿进检定台30上的第一螺纹孔32中，并旋转螺钉，抵触测杆以调节测杆在检定台30上进行对零，如此，即寻找到了测杆的平衡点。最后，将标准的专用量块卡入检定台30与底座10之间，测量千分尺在该点的示值误差。

为了便于标记使检定台30的轴线，本实用新型的检定台30为锥台或者圆柱台。

为了方便专用量块卡入检定台30与底座10之间进行测量，本实用新型的检测杆20紧挨第一检测孔31与第二检测孔11的侧面为能够与校对专用量块紧贴的平面。

综上，本实用新型利用底座上的三个螺钉固定千分尺的尺架、检定台用来使千分尺的测微头对零，底座上的三个螺钉可调节检定台的轴线与千分尺的测杆的轴线在一条直线上，使千分尺的测杆平衡地置于第一检测孔与第二检测孔中，检测快捷简单方便，大大提高了检测准确度。

以上结合具体实施例描述了本实用新型的技术原理。这些描述只是为了解释本实用新型的原理，而不能以任何方式解释为对本实用新型保护范围的限制。基于此处的解释，本领域的技术人员不需要付出创造性的劳动即可联想到本实用新型的其它具体实施方式，这些方式都将落入本实用新型的保护范围之内。