本发明涉及一种芯片检测装置,具体地说就是一种芯片引脚检测装置。
背景技术:
在对直插微电子器件(包括集成电路、分立器件、电阻、电容等)进行弯曲试验时,受试器件的引脚(引线)或引出端要受到足以使其弯曲的力,在一个方向上弯曲一个角度,这个角度应足以使引线保持15°的永久弯曲,在初始弯曲结束后,引线应恢复到接近原来的位置。而全部引线的弯曲角度相同,使得弯曲后的引脚在同一个平面上而又不会限制引脚的活动。
但该项试验一般是实验员手持镊子或夹钳进行操作,弯曲点不得出现在引线根部,以免造成根部损伤。但不同的技术人员所用力的大小、角度等均不相同,无法保证该试验的可靠性、稳定性和可重复性。
技术实现要素:
本发明就是为了克服现有技术中的不足,提供一种芯片引脚检测装置。
本发明提供以下技术方案:
一种芯片引脚检测装置,它包括底座,其特征在于:在底座内设有芯片固定装置,在底座两侧分别设有立板,在两个立板之间跨设有横梁,所述横梁两端分别与对应的立板铰接,在横梁上设有通孔,在通孔内穿设有螺杆,在横梁上还设有与螺杆对应配合的旋转螺母,在螺杆下端部设有与芯片引脚对应配合的引脚插孔。
在上述技术方案的基础上,还可以有以下进一步的技术方案:
在所述的其中一个立板上设有量角器,在所述量角器为透明材料制成,在量角器一侧的横梁上还设有与量角器上刻度对应配合的指示标。
在立板上设有一个竖直分布的调节插孔,在调节插孔内设有锁紧螺钉,所述锁紧螺钉的一端插入底座内。
所述的芯片固定装置包括在底座设有横向滑轨,在滑轨上设有对应配合的底层滑块,在底层滑块上设有与滑轨对应配合的下锁紧销;在底层滑块上设有纵向滑轨,在纵向滑轨上设有对应配合的上层滑块,在上层滑块一侧穿设有上锁紧销,在上层滑块上设有芯片放置槽,在芯片放置槽的四面槽壁上分别设有一个螺栓,位于芯片放置槽内的螺栓端部均设有与芯片对应配合的压板。
发明优点:
本发明结构简单、操作方便,在对芯片引脚进行弯曲试验时芯片引脚受力均匀,在进行芯片引脚弯曲试验时随时查看引脚弯曲的角度,有效的保证了引脚角度均相同,使得试验的具有可靠性、稳定性和可重复性。
附图说明:
图1是本发明的结构示意图;
图2是图1的左视图。
具体实施方式:
如图1和2所示,一种芯片引脚检测装置,它包括一个槽形的底座1,在槽形的底座1内的槽底面上设有芯片固定装置2。所述的芯片固定装置2包括在槽底面上横向设有横向滑轨2a,在滑轨2a上设有对应配合的矩形的底层滑块2b,在底层滑块2b上设有与滑轨2a对应配合的下锁紧销2c。底层滑块2b可以在横向滑轨2a上左右横向移动,并通过下锁紧销固定在合适位置。
在锁紧销2c一侧的底层滑块2b的上表面上设有一对纵向滑轨2d,所述纵向滑轨2d的延伸方向与横向滑轨2a的延伸方向相互垂直。在一对纵向滑轨2d上架设有一个对应配合的矩形的上层滑块2e,在上层滑块2e一侧穿设有上锁紧销2f。上层滑块2e可以在纵向滑轨2d上前后移动,并通过上锁紧销固定在合适位置。
在上层滑块2e上设有一个矩形的芯片放置槽8,使得在俯视上层滑块2e时其呈现出回字形结构。在芯片放置槽8的四面槽壁上分别穿设有一个螺栓8a,且位于芯片放置槽8内的螺栓8a端部上均设有与芯片9对应配合的压板8b。当待检测的芯片9放入芯片放置槽8,使得芯片9的引脚9a向上伸出芯片放置槽8,而后通过旋转螺栓使得压板8b从四个方向压紧并固定住芯片9。
在底座1两侧分别设有一个立板3,在立板3上设有一个竖直分布的腰圆形的调节插孔3b,在调节插孔3b内设有锁紧螺钉3a,所述锁紧螺钉3a一端与底座1侧壁的螺孔连接配合,所述锁紧螺钉3c另一端的螺帽部位于立板3外侧并与立板3形成压紧配合。当需要调节立板3的高度时,只需要旋松锁紧螺钉3a,即可拉动立板3沿调节插孔3b上下移动,在移动到合适位置时,再旋紧锁紧螺钉3a即可锁死立板3。在立板3一侧的底座1上设有一组竖直分布的刻度线1a,在立板3上设有与刻度线1a对应配合的标线3c。
在两个立板3之间跨设有一个门型的横梁4,所述横梁4两端分别与对应的立板3铰接。在横梁4的中部上设有竖直分布的通孔4a,在通孔4a内穿设有螺杆5,在通孔4a上端的横梁4上还设有与螺杆5对应配合的旋转螺母6。在螺杆5下端部设有与芯片引脚对应配合的引脚插孔5b,所述的引脚插孔6与螺杆5同轴分布。在螺杆5上端部设有球头5a。
在所述的其中一个立板3上设有量角器7,在所述量角器7的为透明材料制成,在量角器7一侧的横梁4上还设有与量角器7上刻度对应配合的指示标4b。
工作过程:
第一步:将待检测的芯片放入芯片放置槽内使其引脚向上伸出芯片放置槽,而后旋转螺栓压紧固定住芯片。
第二步:正向转动旋转螺母,使得螺杆下端下降到横梁与立板铰接点的同一水平面。
第三步:先调整下层滑块横向上的左右位置,再调整上层滑块纵向的前后位置,使得芯片中的一个引脚与螺杆同轴。
第四步:通过锁紧螺钉调整立板的高度,使得螺杆下降,芯片9的引脚9a插入引脚插孔内一段距离,而后旋紧锁紧螺钉固定立板,并记录立板的高度数值。
第五步:手持螺杆上端的球头向下搬动螺杆,使得横梁开始转动,直至指示标指示到量角器上试验所要求的角度,而后反向转动旋转螺母使得引脚从引脚插孔内脱出。即可完成了芯片其中一根引脚的弯曲试验。
而后整个装置复位到第二步,并使用第四步和第五步中角度数据和立板的高度数据,反复进行第三到第五步从而完成所有引脚的弯曲试验,从而可以保证所有引脚的弯曲点在同一水平面上,且弯曲角度一致。