一种纳米晶带材检测装置的制作方法

本实用新型涉及检测装置领域，特别是一种纳米晶带材检测装置。

背景技术：

纳米晶材料由纳米级尺寸(1~10nm)的晶体所组成的材料。由于晶体极细，故晶界可占整个材料的50%或更多。其原子排列既不同于有序的结晶态，也不同于无序的非晶态(玻璃态)。其性能也不同于相同成分的晶体或非晶体。

纳米晶材料在进行碎磁后需要进行检测，需要确定其厚度，并根据不同用户对磁导率的需求来确定其磁导率。

同时传统检测装置在进行检测时，并不会对其纹路进行检测保存，在后期产品追踪上存在一定弊端。

技术实现要素：

本实用新型为克服上述弊端，提供一种纳米晶带材检测装置，结构简单，实用性强，对碎磁后的纳米晶材料进行厚度、磁导率的检测，并对其纹路进行检测留档，能够有效的保证良品率。

为达到上述目的，本实用新型采用的技术方案是：一种纳米晶带材检测装置，包括检测组件和设置在检测组件后端的牵引组件，检测组件中的检测平台设置在调节滑轨上，检测平台在材料行进方向上依次设有厚度检测装置、电感检测装置和纹路检测装置，牵引组件的后端架体上设有与电机连接的主动辊，后端架体上还通过丝杆在主动辊上部可调的设有从动压辊，后端架体前端还设有过渡平台与检测组件连接。

进一步地，电感检测组件包括设置在检测平台上的支架，支架上设有气缸，气缸的伸缩杆连接有压板，检测平台的基座板上在压板正下侧设有电感检测线圈。

进一步地，厚度检测装置为厚度检测仪。

进一步地，纹路检测装置固定与支架上，为100倍放大的相机。

进一步地，过渡平台包括前后设置的过渡辊和吸附平台，吸附平台的平台板上设有气孔与气路接通。

进一步地，检测平台前端还设有张力过渡辊。

综上所述，本实用新型具备如下优点：

本实用新型提供一种纳米晶带材检测装置，结构简单，实用性强，对碎磁后的纳米晶材料进行厚度、磁导率的检测，并对其纹路进行检测留档，能够有效的保证良品率。

并且，在电感测试中，压板能够保证产品处于紧致状态下测取，准确度更高。

附图说明

图1是本实用新型结构示意图；

图2是本实用新型结构参考图；

图3是电感检测参考图。

具体实施方式

下面结合附图及实施例对本实用新型作进一步描述：

实施例：

一种纳米晶带材检测装置，如图1-3所示，包括检测组件1和设置在检测组件1后端的牵引组件2。

具体的，检测组件1中的检测平台11设置在调节滑轨12上，方便检测平台的调节，以适用产品的行进。

继续参照附图1和2，检测平台11在材料行进方向上依次设有厚度检测装置13、电感检测装置14和纹路检测装置15，其中，厚度检测装置13为厚度检测仪，而电感检测组件14包括设置在检测平台11上的支架111，该支架111上设有气缸112，气缸112的伸缩杆连接有压板113，检测平台11的基座板上在压板113正下侧设有电感检测线圈。

具体参照附图3，待测材料位于电感检测线圈和压板之间，气缸作用下，压板下压，保证纳米晶材料的紧致，保证测试结果的准确性，该检测具体通过检测机实现。

纹路检测装置15固定与支架111上，为100倍放大的相机，对纳米晶材料纹路进行检测留档，能够有效的保证良品率。

而后端牵引组件2的后端架体21上设有与电机22连接的主动辊23，后端架体21上还通过丝杆24在主动辊23上部可调的设有从动压辊25，该从动压辊与主动辊配合形成拉料结构。

更者，后端架体21前端还设有过渡平台3与检测组件1连接，具体的，过渡平台3包括前后设置的过渡辊31和吸附平台32，吸附平台32的平台板上设有气孔与气路接通。

优选的，检测平台11前端还设有张力过渡辊4，该张力过渡辊与后端的过渡辊31配合保证纳米晶材料自身张力，而吸附平台能保证传输过程中的平整度。

上述实施方式只为说明本实用新型的技术构思及特点，其目的在于让熟悉此项技术的人能够了解本实用新型的内容并据以实施，并不能以此限制本实用新型的保护范围。凡根据本实用新型精神实质所做的等效变换或修饰，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。