本实用新型涉及数控机床精密机械加工领域中检测装置,具体为一种新型半边圆弧测量检具。
背景技术:
现有对圆形孔径的测量方法是采用卡尺测量,然而对于半边圆弧无法用卡尺测量,只能用三座标投影仪等大型仪器测量,并且非常依赖这些大型测量仪器,这种测量方式不但效益低,而且严重浪费精密仪器,对仪器造成严重损耗。
技术实现要素:
针对背景技术中存在的问题,本实用新型提供了一种新型半边圆弧测量检具。
为实现上述目的,本实用新型提供如下技术方案:一种新型半边圆弧测量检具,包括测量表具与校准块,所述测量表具的测量杆上套装有手柄握件与支撑块,所述手柄握件与所述支撑块可沿该测量表具的测量杆自由垂向移动,该手柄握件与该支撑块通过紧固件进行位置固定;所述校准块上开设有标准的半边圆弧结构。
作为本实用新型一种优选的技术方案,所述测量表具采用百分表或千分表。
作为本实用新型一种优选的技术方案,所述紧固件采用的为紧固螺丝。
与现有技术相比,本实用新型的有益效果是:本实用新型能够精密测量半边圆弧半径尺寸,解决了半边圆弧的检测难题,并能高效快捷的检测大批零件且不动用大型测量设备,提高零件生产过程的检测频率,整体结构操作方便,结构简洁实用,造价成本低,具有较为广阔的市场前景,便于推广。
附图说明
图1为现有技术中测量表具结构示意图;
图2为本实用新型提供的一种新型半边圆弧测量检具立体图;
图3为本实用新型提供的一种新型半边圆弧测量检具主视图;
图中:1-测量表具;2-校准块;3-测量杆;4-手柄握件;5-支撑块;6-紧固件;7-标准半边圆弧结构。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。
实施例:
请参阅图1与图2,本实用新型提供一种新型半边圆弧测量检具,包括测量表具1与校准块2,所述测量表具1的测量杆3上套装有手柄握件4与支撑块5,所述手柄握件4与所述支撑块5可沿该测量表具的测量杆3自由垂向移动,该手柄握件4与该支撑块5通过紧固件6进行位置固定;所述校准块2上开设有标准的半边圆弧结构7。
在具体的检测过程中,通过开设有标准半边圆弧结构7的校准块2对测量表具1进行校准处理,测量表具1采用常用的百分表或千分表,根据测量精度自由选用,然后通过调整手柄握件4和测量支撑块5到紧贴标准半边圆弧结构7的侧边位置利用紧固件6进行固定,紧固件6可采用紧固螺丝,然后把测量表具1的指针调零,通过校准之后的测量表具1对待检测的半边圆弧零件进行检测,把该测量表具1下压直至支撑块5紧贴待检测半边圆弧零件的侧边,此时测量表具1上会显示一个偏差值,通过这个偏差值加上之前标准半边圆弧结构7的半径就是最终待检测的半边圆弧零件的半径值。
基于上述,本实用新型具有的优点在于:本实用新型能够精密测量半边圆弧半径尺寸,解决了半边圆弧的检测难题,并能高效快捷的检测大批零件且不动用大型测量设备,提高零件生产过程的检测频率,整体结构操作方便,结构简洁实用,造价成本低,具有较为广阔的市场前景,便于推广。
以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已,并不用以限制本实用新型,凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等,均应包含在本实用新型的保护范围之内。