专利名称：通用集成电路测试仪的制作方法
技术领域：
本实用新型属半导体器件检测技术领域。
对集成电路性能的检测，现有的方法是用专用测试仪器进行测定。这种专用测试仪只能测试单种(类)集成电路，且造价昂贵，结构复杂。如国营韶光电工厂设计生产的MTS－3集成电路测试系统，即是如此。针对现有测试仪器，设计了双列集成电路测试仪，即通用集成电路测试仪。这种测试仪的原理是对于相同的集成块，如果处在相同的工作条件下它们的相同引脚上应有相同的特征值。其测试方法是将被测集成电路与功能和特性均在规定指标范围里的标准集成电路进行比较，通过运算判断从而决定被测集成电路的性能好坏及损坏程度。其原理方框图如附
图1。其中开关部分对准标准块与被测块的相同引脚上的参数进行提取；准标准块工作条件及被测块工作条件是对准标准块和被测块建立模拟工作状态，取得准特征值及离散特征值；运算判断电路的作用是对准特征值及离散特征值完成一定的运算及判断功能；阈值调节电路其作用是对合格／不合格范围进行控制；电源供给本装置各部分多种电压；显示器是由发光元件对判断结果进行直观显示。
本实用新型可以迅速定性判断被测集成块的性能好坏，同时半定量地反映其质量的稳定程度。
本实用新型的目的在于提供一种简单易行的通用集成电路测试技术，为集成电路的研究、生产、销售、应用、维修等部门提供出相应的实用仪器，实现对集成电路的快速判断。
本实用新型与现行的测试仪器相比，具有结构简单，造价低廉，判断准确、迅速等优点，且克服了专用仪器造价昂贵的缺点，便于推广使用，节约时间和器材，提供了大批量工业生产的可能性。
附图1是本实用新型原理方框图。
附图2是本实用新型结构图，亦可作为本实用新型的实施例。其中1为2×22双刀开关，分别接至准标准块和被测集成块相应引脚处。2是由44只阻值相同的电阻组成的完全相同的两个集成块模拟工作条件，其中22只电阻上端分别接至两插座第一列，下端与二级管D4的正极相接；另外22只上端接至两只插座的第二列，上端接V＋·3即D4，为硅二极管，负极接地。4即A1为 1/4 运算放大器它的输入端接被测块电路开关的公共端，输出端接电阻R1，电阻R1RW，R2依次串连，R2的另一端接地，RW为可变电阻。5即A2为 1/4 运算放大器，输入端接准标准块电路开关的公共端，输出端接电阻R4，R4、R3串接，R3另一端接地。6即A3为 1/4 运算放大器，同相输入端接R1和RW之间，反相输入端接R3和R4之间，输出端接电阻R7。7即A4为 1/4 运算放大器，反相输入端与A3反相输入端相接，同相输入端接RW和R2之间，其输出端接电阻R8，R7的另一端与红色发光二极管D2正极相接，D2负极接地，R8的另一端接红色发光二极管D3的负极，D3正极接地，D1为绿色发光二极管，正极接R7与D2之间，负极接R8与D3之间。8为电源E为整机直流电源，K为电源开关，电阻R5、R6对电源分压，A5为单运算放大器，同相输入端接R5与R6之间，反相输入端接输出，输出端接地，在V＋与地线之间接电解电容C1，V－与地线之间接电解电容C2。以上结构中R1＝R2，R3＝R4，R5＝R6，R7＝R8，C1＝C2。
上述为测试22脚以内的双列集成块的结构图。如测24～42脚以内双列集成块需另设计2只安装集成块的插座及2×42双刀开关，工作条件中的电阻应扩展为84只同阻值电阻，组成两个模拟工作条件，其原理与上述相同。其开关部分用机械开关或电子开关均可。
本实用新型在使用时应先确定误差范围E。
E＝± 1/2 (Rw)/(R1+R2+Rw) ×100％。当｜E｜＜5％时则为性能良好的范围。｜E｜＝5％～10％之间时为一般可用范围。｜E｜＞10％时，则不可使用。另外需要确认被测块的地线端(GND)。将地线端所在的列安置在插座第一列，准标准块插在与5相接的插座上，被测块插于另一插座。电路接通后，旋转开关1－周，如有红灯亮则表明被测块性能超出由E所确定的误差范围，仅有绿灯亮时，则表明被测块性能在由E所决定的误差范围以内。
权利要求1.一种由2×22双刀开关1、模拟工作条件2、硅二极管3 1/4 运算放大器4、5、6、7及电阻R1、R2、R3、R4、R7、R8、RW和发光二极管D1、D2、D3及电源8构成的通用集成电路测试仪其特征在于模拟工作条件2是由44只阻值相同的电阻组成，其中22只电阻上端接至两插座的第一列，下端与硅二极管3的正极相接，另外22只下端接至两只插座的第二列，上端连V+、硅二极管3的负极接地。
2.由权利要求1所述的通用集成电路测试仪其特征在于6即A3为 1/4 运算放大器，其同相输入端接R1和RW之间，反相输入端接R3和R4之间，输出端接电阻R7；7即A4亦为 1/4 运算放大器，反相输入端与A3的反相输入端相接，同相输入端接RW和R2之间，其输出端接电阻R8，R7的另一端与D2的正极相接；D2负极接地；R8的另一端与D3的负极相接，D3正极接地；D1的正极接R7与D2之间，负极接R8与D3之间。
专利摘要本实用新型是属半导体器件检测技术领域。其主要解决集成电路性能检测的技术问题，提供一种通用集成电路测试仪。其主要技术特征在于设计了由44只阻值相同的电阻组成完全相同的两个集成块模拟工作条件，采用运算放大器组成了运算判断和阈值调节电路，由发光二极管显示。其用途是能迅速定性地判断被测集成块的好坏，同时半定量地反映其质量的稳定程度，为集成电路的研究、生产、销售，应用和维修提供了实用测试仪器。
文档编号G01R31/26GK2062852SQ8922056
公开日1990年9月26日 申请日期1989年12月1日 优先权日1989年12月1日
发明者黄烨东 申请人:黄烨东