夹头(6)开口同向。使用时，两个横U型导电夹头(6)分别夹持合金样品的A端和B端，A端和B端即线切割后合金样品的两弧形端。支架(4)上还设有正对横U型导电夹头(6)上方、可上下移动的绝缘压紧件，通过上下移动绝缘压紧片对横U型导电夹头
(6)施加压力，压紧合金样品和横U型导电夹头(6)，从而保证较小的接触电阻。
[0042]具体实施中，绝缘垫(5)由酚醛树脂制成，横U型导电夹头(6)由铜片制成。绝缘压紧件即相匹配的螺母(7)和绝缘螺丝(8)，绝缘螺丝(8)为尼龙螺丝，通过调节绝缘螺丝
(8)从而给横U型导电夹头(6)施加压力。支架(4)为竖直的口字型支架(见图5)，包括上壁、下壁、左壁和右壁，绝缘垫(5)置于下壁，上壁开设有与横U型导电夹头(6)对应的螺孔，绝缘螺丝(8)通过螺孔上下移动。
[0043]但是，支架(4)结构并不限于上述，绝缘压紧件也并不限于螺母和绝缘螺丝，只要能实现通过绝缘压紧件的上下移动给横U型导电夹头(6)施压均可。例如，可将支架(4)设为可上下移动支架，绝缘压紧件设于支架上、且正对横U型导电夹头￠)，通过支架的上下移动带动绝缘压紧件给横U型导电夹头(6)施压。
[0044]图5为本发明系统结构示意图，包括通过导线(16)相连接的直流数字电阻测试仪
(11)和测试台(12)，直流数字电阻测试仪(11)包括两个电压接口(14)和两个电阻接口(15)，两个电阻接口(15)通过导线(16)分别连接两个横U型导电夹头(6)的上端头(9)，两个电压接口(14)通过导线(16)分别连接两个横U型导电夹头(6)的下端头(10)。当然，也可以将两个电阻接口(15)分别连接两个横U型导电夹头(6)的下端头(10)，将两个电压接口(14)通过导线(16)分别连接两个横U型导电夹头(6)的上端头(9)。
[0045]当接通直流数字电阻测试仪(11)开关，电流即按图2(b)中虚线方向在样品内流通。具体实施中，直流数字电阻测试仪(11)采用量程0-2千欧、灵敏度I微欧的直流数字电阻测试仪。
[0046]本发明方法步骤如下:
[0047]步骤1，在砂纸上对合金样品进行抛光，然后按图2对抛光后合金样品进行线切割。
[0048]步骤2，将线切割后合金样品的A端和B端分别置于两个横U型导电夹头(6)内，步骤3，接通直流数字电阻测试仪开关并读取电阻值R1，已知两个横U型导电夹头(6)电阻和Rtl,则线切割后合金样品电阻R = R1-1V线切割后合金样品总长度L = (D-2r) * (n-1)，即。线切割后合金样品的等效长度，η为纵向切割线数；线切割后合金样品横截面积s =t*h，即。线切割后合金样品的等效横截面面积，h为合金样品厚度。根据公式R = L/0i^+算合金样品电导率σ。
[0049]下面将结合实施例进一步说明本发明。
[0050]实施例1
[0051]步骤1，将圆柱薄片状铜铬合金样品表面抛光，然后按图2方式进行线切割，采用螺旋测微仪测量线切割后样品相关几何参数:D = 20mm, r = 3mm，t = 1.14mm，h = 1.51mm，n = 11，横U型导电夹头电阻R。= 0.96m Ω。
[0052]步骤2，按图3所示方式连接直流数字电阻测试仪与测试台，并采用横U型导电夹头(6)分别夹持线切割后样品的两端。
[0053]步骤3，接通数字电阻测试仪开关读取电阻R1= 6.8πιΩ，则线切割后样品电阻R =R1-R0= 5.84mΩ 0 线切割后样品总长度 L = (D_2r) * (n_l) = (20-2*3) * (11-1) = 140mm，横截面积s = t*h = 1.14*1.51 = 1.7214mm2，根据公式R = L/ σ s，计算样品电导率σ =
13.9MS/m。
[0054]实施例2
[0055]步骤1，将圆柱薄片状铜铬合金样品表面抛光，然后按图2方式进行线切割，采用螺旋测微仪测量线切割后样品相关几何参数D = 20mm, r = 3mm, t = 1.14mm，h = 1.58mm，η = 11，横U型导电夹头电阻R。= 0.96m Ω。
[0056]步骤2，按图3所示方式连接直流数字电阻测试仪与测试台，并采用横U型导电夹头(6)分别夹持线切割后样品的两端。
[0057]步骤3，接通数字电阻测试仪开关读取电阻R1= 7.2πιΩ，则线切割后样品电阻R =R1-Rtl= 6.24ι?Ω。线切割后样品总长度 L= (D_2r)*(n_l) = (20-2*3)*(11-1) = 140mm，横截面积s = t*h = 1.14*1.58 = 1.8012mm2，根据公式R = L/ σ s，计算样品电导率σ =12.45MS/m。
【主权项】
1.一种粉末冶金烧结合金样品电导率测量系统，其特征在于，包括: 直流数字电阻测试仪和测试台，其中: 测试台包括支架、绝缘垫和两个横U型导电夹头，绝缘垫设于支架上，横U型导电夹头设于绝缘垫上，且两个横U型导电夹头开口同向；支架上还设有正对横U型导电夹头上方、可上下移动的绝缘压紧件， 直流数字电阻测试仪的两个电压接口通过导线分别连接横U型导电夹头的上端头或下端头，其两个电阻接口通过导线分别连接横U型导电夹头的下端头或上端头。
2.如权利要求1所述的粉末冶金烧结合金样品电导率测量系统，其特征在于: 所述的直流数字电阻测试仪为量程0-2千欧、灵敏度I微欧的直流数字电阻测试仪。
3.如权利要求1所述的粉末冶金烧结合金样品电导率测量系统，其特征在于: 所述的绝缘压紧件为配套的螺母和绝缘螺丝；且，所述的支架为竖直的口字型支架，包括上壁、下壁、左壁和右壁，绝缘垫置于下壁，上壁开设有与横U型导电夹头对应的螺孔，绝缘螺丝通过螺孔上下移动。
4.一种粉末冶金烧结合金样品电导率测量方法，其特征在于: 采用权利要求1所述的粉末冶金烧结合金样品电导率测量系统，包括步骤: 步骤1，按照切割线，沿中心轴方向切割合金样品，从而将合金样品等效为长条状样品；所述的切割线包括相平行的第一横向切割线和第二横向切割线、以及相平行的若干纵向切割线，纵向切割线间距相等；任意相邻纵向切割线中，一纵向切割线头端与第一横向切割线接触、尾端未到达第二横向切割线；而另一纵向切割线头端与第二横向切割线接触、尾端未到达第一横向切割线； 步骤2，将切割后合金样品两端分别置于横U型导电夹头内，并采用绝缘压紧件压紧横U型导电夹头； 步骤3，接通直流数字电阻测试仪开关读取电阻值R1，根据横U型导电夹头电阻获得切割后合金样品电阻R，根据等效样品的长度和横截面积，获得合金样品电导率。
5.如权利要求1所述的粉末冶金烧结合金样品电导率测量方法，其特征在于: 合金样品切割前，对合金样品表面进行抛光。
6.如权利要求1所述的粉末冶金烧结合金样品电导率测量方法，其特征在于: 所述的合金样品底面直径D为:15mm ^ D ^ 30mmo
7.如权利要求1所述的粉末冶金烧结合金样品电导率测量方法，其特征在于: 所述的纵线切割线间距t为:0.5mm ^ t ^ 1.5mm。
8.如权利要求1所述的粉末冶金烧结合金样品电导率测量方法，其特征在于: 所述的横向切割线与合金样品边缘弧所形成弓形的矢高r为:3mm ^ r ^ 6mm。
9.如权利要求1所述的粉末冶金烧结合金样品电导率测量方法，其特征在于: 步骤3进一步包括: .3.1获得等效样品长度L = (D-2r)*(n-l)，D为原始合金样品底面直径，r为横向切割线与合金样品边缘弧所形成弓形的矢高，η为纵向切割线数； . 3.2等效样品横截面积s = t*h，t为纵向切割线间距，h为原始合金样品厚度； . 3.3根据公式R = L/ σ s计算合金样品电导率σ。
【专利摘要】本发明公开了一种粉末冶金烧结合金样品电导率测量系统及方法，包括：步骤1，按照切割线，沿中心轴方向切割合金样品，从而将合金样品等效为长条状样品；步骤2，将切割后合金样品两端分别置于测试台的横U型导电夹头内，并采用压紧件压紧横U型导电夹头；步骤3，接通直流数字电阻测试仪开关读取电阻值，根据横U型导电夹头电阻获得切割后合金样品电阻，根据等效样品的长度和横截面积，获得合金样品电导率。本发明应用范围广，可测量铁磁性材料和非铁磁性材料的电导率，也可测试极薄金属材料，从而避免了极高频率导致的高额成本；测量准确性高，成本低，易操作。
【IPC分类】G01R27-02
【公开号】CN104749439
【申请号】CN201510185661
【发明人】穆迪琨祺, 肖文凯, 阮学锋, 翟显, 范桃桃
【申请人】武汉大学
【公开日】2015年7月1日
【申请日】2015年4月17日