一种喷推导叶叶片检测方法_4

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检测柱的位置根据喷推导叶叶片顶部凹面轮廓设计尺寸和各顶部凹面轮廓检测柱的直径而确定; b、利用根部检测装置检测喷推导叶叶片根部:将喷推导叶叶片根部向下放置到根部检测底座由数个根部凸面轮廓检测柱、数个根部凹面轮廓检测柱和两侧的限位导向轴合围的区域内,喷推导叶叶片根部底面由数个根部高度检测柱支撑,各凸面轮廓检测柱高于喷推导叶叶片被检测位根部底面6-20毫米,各根部凹面轮廓检测柱高于喷推导叶叶片被检测位根部底面6-20毫米;如果喷推导叶叶片无法放置,则判定被测喷推导叶叶片根部轮廓不合格;如果可以顺利放置,则根据喷推导叶叶片根部与各根部凸面轮廓检测柱及根部凹面轮廓检测柱间的间隙判定喷推导叶叶片根部的轮廓是否合格;根据被测喷推导叶叶片根部底面与各根部高度检测柱间的间隙,判定被测喷推导叶叶片根部底面轮廓值是否合格; c、利用顶部检测装置检测喷推导叶叶片顶部:将喷推导叶叶片顶部向下放置到顶部检测底座由数个顶部凸面轮廓检测柱、数个顶部凹面轮廓检测柱限定的区域内,喷推导叶叶片一侧触接限位柱,喷推导叶叶片顶部顶面由数个顶部高度检测柱支撑,各顶部凸面轮廓检测柱高于喷推导叶叶片被检测位顶部顶面6-20毫米,各顶部凹面轮廓检测柱高于喷推导叶叶片被检测位顶部顶面6-20毫米;如果喷推导叶叶片无法放置,则判定被测喷推导叶叶片顶部轮廓不合格;如果可以顺利放置,则根据喷推导叶叶片与各顶部凸面轮廓检测柱及顶部凹面轮廓检测柱间的间隙判定喷推导叶叶片顶部的轮廓是否合格;根据被测喷推导叶叶片顶部顶面与各顶部高度检测柱间的间隙,判定被测喷推导叶叶片顶部顶面轮廓是否合格; 根部检测和顶部检测都合格的喷推导叶叶片产品件视为合格产品。2.根据权利要求1所述的喷推导叶叶片检测方法,其特征在于:所述根部检测底座(1)的右侧设有第一限位导向轴(4),检测底座左侧设有第二限位导向轴(2)和第三限位导向轴(3);根部检测底座上分布七个根部高度检测柱、六个根部凸面轮廓检测柱和六个根部凹面轮廓检测柱,各检测柱的高度和轴线位置如下: 建立三维直角坐标系,坐标系的X轴与根部检测底座的长度方向的中心线重合,X轴正方向向右,坐标系的Y轴与第一限位导向轴的左侧边重合,Y轴正方向相对X轴正方向逆时针旋转90°,坐标系的Z轴垂直于根部检测底座上平面,Z轴正方向向上,坐标原点位于根部检测底座上平面; 七个根部高度检测柱的高度Z坐标值和轴线位置的X、Y坐标值如下:X坐标Υ坐标Ζ坐标 第一根部高度检测柱(5-1) -3.5-67.3183.5 第二根部高度检测柱(5-2) -110-12.7178.8 第三根部高度检测柱(5-3) -22024.7163.6 第四根部高度检测柱(5-4) -33045.1137.5 第五根部高度检测柱(5-5) -44049.899.8 第六根部高度检测柱(5-6) -55039.149.2 第七根部高度检测柱(5-7) -630.3 20.91, 各根部高度检测柱的顶部为球面; 六个根部凸面轮廓检测柱高度Ζ坐标值和轴线位置的Χ、Υ坐标值如下: X坐标Υ坐标Ζ坐标 第一根部凸面轮廓检测柱(7-1) -51-24.7193 第二根部凸面轮廓检测柱(7-2) -163.2 25.3184 第三根部凸面轮廓检测柱(7-3) -273.5 55.2158 第四根部凸面轮廓检测柱(7-4) -384.7 67.2133 第五根部凸面轮廓检测柱(7-5) -49662.482 第六根部凸面轮廓检测柱(7-6) -607.2 40.424; 各根部凸面轮廓检测柱的直径为Φ 16 ± 0.009毫米; 六个根部凹面轮廓检测柱高度Ζ坐标值和轴线位置的Χ、Υ坐标值如下: X坐标Υ坐标Ζ坐标 第一根部凹面轮廓检测柱(6-1) -58.5-52.4187 第二根部凹面轮廓检测柱(6-2) -167.5 -8.8178 第三根部凹面轮廓检测柱(6-3) -276.5 18.7166 第四根部凹面轮廓检测柱(6-4) -385.4 31.5127 第五根部凹面轮廓检测柱(6-5) -494.3 30.387 第六根部凹面轮廓检测柱(6-6) -603.2 15.131; 各根部凹面轮廓检测柱的直径为Φ 16±0.009毫米; 上述坐标值的单位为毫米。3.根据权利要求2所述的喷推导叶叶片检测方法,其特征在于,所述第一限位导向轴、第二限位导向轴和第三限位导向轴均可以相对自身的轴线原位转动;所述第一限位导向轴(4)垂直于X轴,第一限位导向轴轴线距根部检测底座上平面距离Η1为221-221.5;第二限位导向轴(2)和第三限位导向轴(3)均垂直于X轴,第二限位导向轴右侧边距坐标原点的距离L1是654.8-655.1毫米,第二限位导向轴轴线距根部检测底座上平面距离Η2为70.4-70.7毫米;第三限位导向轴右侧边距坐标原点的距离L2是675.7-676毫米,第三限位导向轴轴线距测量底座上平面距离Η2为141.4-141.7毫米。4.根据权利要求1所述的喷推导叶叶片检测方法,其特征在于:所述顶部检测底座(9)的右侧设有限位柱(10),顶部检测底座上分布六个顶部高度检测柱、七个顶部凸面轮廓检测柱和七个顶部凹面轮廓检测柱,各检测柱的高度和轴线位置如下: 建立三维直角坐标系,坐标系的XI轴与根部检测底座的长度方向的中心线重合,XI轴正方向向右,坐标系的Y1轴相对限位柱Y1方向的中心线向左偏移2.8mm,Yl轴正方向相对XI轴正方向逆时针旋转90°,坐标系的Z1轴垂直于顶部检测底座上平面,Z1轴正方向向上,坐标原点位于顶部检测底座上平面; 六个根部高度检测柱的高度Z坐标值和轴线位置的X、Y坐标值如下: XI坐标 Υ1坐标 Ζ1坐标 第一顶部高度检测柱(11-1) -5581.11 第二顶部高度检测柱(11-2) -164.5 -12.7 7.1 第三顶部高度检测柱(11-3) -274.9 -40.4 18 第四顶部高度检测柱(11-4) -384.3 -71.1 46.9 第五顶部高度检测柱(11-5) -494.5 -81.4 75.8 第六顶部高度检测柱(11-6) -604.3 -72.4 126.9, 各顶部高度检测柱的顶部为球面; 七个顶部凸面轮廓检测柱高度Ζ1坐标值和轴线位置的X1、Y1坐标值如下: XI坐标 Y1坐标 Z1坐标 第一顶部凸面轮廓检测柱(13-1) 5.8109.8 9 第二顶部凸面轮廓检测柱(13-2) -105.5 29.7 16 第三顶部凸面轮廓检测柱(13-3) -216.3 -34.4 23 第四顶部凸面轮廓检测柱(13-4) -327.8 -77.4 46 第五顶部凸面轮廓检测柱(13-5) -483.9 -97.2 76 第六顶部凸面轮廓检测柱(13-6) -550.2 -96.2 116 第七顶部凸面轮廓检测柱(13-7) -661.5 -74.3 171; 各顶部凸面轮廓检测柱的直径为Φ 16 ± 0.009毫米; 七个顶部凹面轮廓检测柱高度Z1坐标值和轴线位置的X1、Y1坐标值如下:XI坐标 Y1坐标 Z1坐标 第一顶部凹面轮廓检测柱(12-1) -12125.8 16 第二顶部凹面轮廓检测柱(12-2) -114.4 60.4 9 第三顶部凹面轮廓检测柱(12-3) -223.5 1.923 第四顶部凹面轮廓检测柱(12-4) -332 -39.4 39 第五顶部凹面轮廓检测柱(12-5) -442.2 -60.3 69 第六顶部凹面轮廓检测柱(12-6) -548.9 -62.5 107 第七顶部凹面轮廓检测柱(12-7) -657.8 -46.4 163, 各顶部凹面轮廓检测柱的直径为Φ 16±0.009毫米; 所述限位柱(10)的高度Z1坐标值为16、限位柱的轴线坐标值XI为2.8、Y1坐标值为.125.1; 上述坐标值的单位为毫米。
【专利摘要】一种喷推导叶叶片检测方法,包括下述步骤:a、建立根部检测装置和顶部检测装置;b、在根部检测装置检测喷推导叶叶片根部;c、在顶部检测装置检测喷推导叶叶片顶部;根部检测和顶部检测都合格的喷推导叶叶片产品件视为合格产品。本发明方法解决了喷推导叶叶片根部、顶部形状难以检测的问题,检测结构准确,可效杜绝不合格产品进入装配工序,保证组装设备的质量,并为提高喷推导叶叶片铸造精度提供可靠的数据。
【IPC分类】G01B5/20
【公开号】CN105444652
【申请号】CN201510845297
【发明人】范修谦, 李雪兴, 颜召雷, 孙伟涛, 李伟
【申请人】保定风帆精密铸造制品有限公司
【公开日】2016年3月30日
【申请日】2015年11月30日
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