一种密度计校准装置的制造方法_2

文档序号:10281776阅读:来源:国知局
试孔A中心)及弧面(弧形端的弧面、弧形边的弧面)的设置,保证了密度片本体上作用部分的中心与测试孔的中心的重合。保证密度片本体2在卡套I内安装定位的准确性。
[0026]在所述条形凸起113的上端面右端设置定位圆孔A114,使定位圆孔A114的中心轴线位于下层11的横向中心线与两侧测试孔Alll(两侧测试孔A为关于条形凸起对称的测试孔A)的中心连线的交点。在所述条形凸起113的上端面左端设置定位柱A115,使定位柱A115的中心轴线位于下层11的横向中心线与两侧测试孔Alll(两侧测试孔A亦为关于条形凸起对称的测试孔A)的中心连线的交点。
[0027]在上层12上沿上层12的横向中心线设置条形槽体122,在条形槽体122的两侧对称设置一排测试孔B121,每排测试孔B121的中心均在一条直线上。对应每一个测试孔B121,在测试孔B121的外围设置压环123,所述压环123采用弹性材料制成。当密度片本体2置于仿形槽112内定位后,将上层12盖置在下层11上后,圧环123对密度片本体2形成压迫,保证密度片本体2在卡套I内的牢固定位。圧环123的厚度控制在Imm范围内,最好在0.3至0.6mm以内。
[0028]在所述条形槽体122的底面右端设置定位柱B125,使定位柱B125的中心轴线位于上层12的横向中心线与两侧测试孔B121(两侧测试孔B为关于条形槽体对称的测试孔B)的中心连线的交点。在所述条形槽体122的底面左端设置定位圆孔B124,使定位圆孔B124的中心轴线位于上层12的横向中心线与两侧测试孔B121(两侧测试孔B亦为关于条形槽体对称的测试孔B)的中心连线的交点。测试孔Alll与测试孔B121的排列布局对应一致。
[0029]所述上层12盖置于所述下层11的上面且使对应面的四周卡合,使所述条形凸起113嵌置在所述条形槽体122内且所述定位圆孔A114与所述定位柱B125配合,所述定位柱A115与所述定位圆孔B124配合(柱的外径等于圆孔的孔径)。
[0030]定位圆孔A114、定位柱A115为下层11上各测试孔Alll的加工参照基准。定位圆孔B124、定位柱B125为上层12上各测试孔B121的加工参照基准,同时通过定位圆孔A114与定位柱B125、定位柱A115与定位圆孔B124的对应配合关系,保证了上层12与下层11连接为一体后,测试孔Alll的中心与测试孔B121的中心的重合,从而使两者形成卡套I的测试孔。
[0031]如图4所示,在所述条形凸起113的两横向延伸的根部设置楔形槽116,使楔形槽116的斜边位于外侧。对应所述楔形槽116设置楔形插块3。所述条形槽体122的横向宽度等于所述条形凸起113横向宽度与两倍楔形插块3的大端宽度值的和。在这种结构形式下,仿形槽112的横向宽度要求大于密度片本体2的横向宽度,在向仿形槽112内放置密度片本体2时,使弧形端21与弧形边1121型面配合接触,通过楔形插块3对密度片本体2上背离弧形端21的一端进行固定。这样的设置使得向仿形槽112内放置密度片本体2更加方便。此种结构下,在上层12盖置在下层11上时,如图4所示,条形槽体122的下端会压在密度片本体2上,而使密度片本体2在卡套I内的固定更加牢靠。
[0032]除说明书所述的技术特征外,均为本专业技术人员的已知技术。
【主权项】
1.一种密度计校准装置,包括卡套和密度片本体,其特征是:在所述卡套上关于卡套的横向中心线对称设置两排测试孔且每排测试孔的个数为12个;对应每一个测试孔在所述卡套内嵌置一个密度片本体。2.根据权利要求1所述的一种密度计校准装置,其特征是: 使所述密度片本体包括一弧形端;使所述卡套分为上层和下层; 在下层上沿下层的横向中心线设置条形凸起,在条形凸起的两侧对称设置一排测试孔A,每排测试孔A的中心均在一条直线上; 对应每一个测试孔A,在测试孔A的外围设置仿形槽且使每一个仿形槽的外端侧形成弧形边; 所述弧形边的中心与对应测试孔A的中心重合; 所述弧形边的形状与所述密度片本体的弧形端一致; 在所述条形凸起的上端面右端设置定位圆孔A,使定位圆孔A的中心轴线位于下层的横向中心线与两侧测试孔A的中心连线的交点; 在所述条形凸起的上端面左端设置定位柱A,使定位柱A的中心轴线位于下层的横向中心线与两侧测试孔A的中心连线的交点; 在上层上沿上层的横向中心线设置条形槽体,在条形槽体的两侧对称设置一排测试孔B,每排测试孔B的中心均在一条直线上; 对应每一个测试孔B,在测试孔B的外围设置压环,所述压环采用弹性材料制成; 在所述条形槽体的底面右端设置定位柱B,使定位柱B的中心轴线位于上层的横向中心线与两侧测试孔B的中心连线的交点; 在所述条形槽体的底面左端设置定位圆孔B,使定位圆孔B的中心轴线位于上层的横向中心线与两侧测试孔B的中心连线的交点; 测试孔A与测试孔B的排列布局对应一致; 所述上层盖置所述下层的上面且使对应面的四周卡合,使所述条形凸起嵌置在所述条形槽体内且所述定位圆孔A与所述定位柱B配合,所述定位柱A与所述定位圆孔B配合。3.根据权利要求2所述的一种密度计校准装置,其特征是:在所述条形凸起的两横向延伸的根部设置楔形槽,使楔形槽的斜边位于外侧;对应所述楔形槽设置楔形插块;所述条形槽体的横向宽度不小于所述条形凸起横向宽度与二倍楔形插块大端宽度值的和。4.根据权利要求1至3中任一项所述的一种密度计校准装置,其特征是:所设置密度片本体的测量范围为0-5D,分24级,其中在0-4D范围内相邻两级梯度间隔为0.2D,在4-?范围内分3个级度。5.根据权利要求1至3中任一项所述的一种密度计校准装置,其特征是:相邻两测试孔之间的横向间距及纵向间距分别为1.5至2cm。6.根据权利要求5所述的一种密度计校准装置,其特征是:所设置密度片本体的测量范围为0-?,分24级,其中在0-4D范围内相邻两级梯度间隔为0.2D,在4-?范围内分3个级度。
【专利摘要】一种密度计校准装置,包括卡套和密度片本体,在所述卡套上关于卡套的横向中心线对称设置两排测试孔且每排测试孔的个数为12个;对应每一个测试孔在所述卡套内嵌置一个密度片本体。其在保证校准准确度的同时扩展了测量范围,保证操作使用过程中的方便,使对密度计的校准工作更准确。
【IPC分类】G01N9/24
【公开号】CN205192905
【申请号】CN201521014110
【发明人】孔炜
【申请人】山东省计量科学研究院
【公开日】2016年4月27日
【申请日】2015年12月8日
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