电子调压器电路及其构成的电力仪表检测装置的制造方法

文档序号:8380427阅读:354来源:国知局
电子调压器电路及其构成的电力仪表检测装置的制造方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及了一种电子电路及检测装置,特别是涉及了一种电子调压器电路及其构成的电力仪表检测装置。
【背景技术】
[0002]现有的电力仪表产品在生产过程老化环节中仅仅将表放置在高温环境中,仪表电源接通。但是没有给仪表输出电信号或者仅仅输入一个稳定的电压信号。
[0003]总结来说,主要缺陷在于:
(I)仪表在无输入信号的情况下老化,仅电源电路在工作,其他电路无信号的情况下未能老化。
[0004](2)仪表在无输入信号的情况下老化,无法对产品零件进度老化,并且无法对零件质量和焊接组装的质量进行可靠性检测。

【发明内容】

[0005]为了解决【背景技术】中存在的问题,本发明的目的在于提供一种电子调压器电路及其构成的电力仪表检测装置,装置可对仪表质量可靠性进行检测,使被测仪表在老化时有输入信号,且可以控制信号的大小;从而使仪表各部分电路充分工作,以提高被测仪表的可靠性和出厂品质。
[0006]本发明解决其技术问题所采用的技术方案是:
一、一种电子调压器电路:
所述的电子调压器电路将输入的AC220V电压转化为可控制的AC30-220V可调电压,输出到变压器调压电路和被测仪表的电压信号输入端,具体包括电源保护模块、CPU信号控制模块、光耦信号隔离模块和可控硅过零触发模块,其中可控硅过零触发模块包括过零触发电路和可控硅执行模块:
电源保护模块,输入AC220V信号,防止电路短路等异常时损坏电路;
CPU信号控制模块,发出门限控制信号和触发脉冲信号调整可控硅过零触发模块的输出;
光耦信号隔离模块,隔离CPU控制信号模块与可控硅过零触发模块;
可控硅过零触发模块中,过零触发电路接收CPU信号控制模块的触发脉冲信号对可控硅进行触发,可控硅执行模块接收CPU信号控制模块的门限控制信号将AC220V电压转化为AC30-220V的可调电压。
[0007]所述的电源保护模块与CPU信号控制模块连接,CPU信号控制模块经光耦信号隔离模块与可控硅执行模块连接,CPU信号控制模块经过零触发模块连接市电AC220V,电源保护模块连接市电AC220V。
[0008]所述的可控硅执行模块包含有四路可控硅执行单元,光耦信号隔离模块包含有四个光电晶闸管开关耦合器,CPU信号控制模块包括单片机,单片机的四个输出端口分别经各自的光电晶闸管开关耦合器连接到四路可控硅执行单元;四路可控硅执行单元其中一路连接被测仪表,其余三路连接变压器调压电路。
[0009]所述的可控硅执行模块连接有按键模块,按键模块包括有按键接口和各个按键,可控硅执行模块经按键接口与各个按键连接。
[0010]所述的可控硅执行模块的每一个控硅执行单元均包括三个电阻、两个电容和一个双向晶闸管。其中第一电阻和第一电容串联后并联在双向晶闸管的两端,双向晶闸管的两端分别经第二电阻和第二电容连接到光耦信号隔离模块的光电晶闸管开关耦合器的两个输出端,双向晶闸管的触发端连接光电晶闸管开关親合器的其中一个输出端,双向晶闸管的触发端连接有第三电阻,双向晶闸管输出端连接被测仪表或者变压器调压电路;光电晶闸管开关耦合器的两个输入端分别连接VCC电源和CPU。
[0011]所述的过零触发电路包括两个电阻、一个电容、一个二极管和一个光电耦合器,电容和二极管均并联到光电耦合器的两个输入端,电容其中一端串联两个电阻后与电容的另一端连接输入AC220V市电。
[0012]所述的电源保护模块包括瞬态抑制二极管、两个电容和一个电感,一个电感分别与瞬态抑制二极管、两个电容和VCC电源电压的一端连接,瞬态抑制二极管和两个电容的另一端接地。
[0013]二、一种电力仪表检测装置,包括变压器调压电路,还包括上述的电子调压器电路:
电子调压器电路,用于将输入的AC220V电压转化为可控制的AC30-220V可调电压,输出到变压器调压电路和被测仪表的电压信号输入端;
变压器调压电路,用于将电子调压器输出的AC30-220V可调电压转化为0.6-8A的低压电流信号,输出连接到待测试仪表电流信号输入端。
[0014]所述的电子调压器电路具体包括电源保护模块、CPU信号控制模块、光耦信号隔离模块和可控硅过零触发模块,其中可控硅过零触发模块包括过零触发电路和可控硅执行模块:
电源保护模块,输入AC220V信号,防止电路短路等异常时损坏电路;
CPU信号控制模块,发出门限控制信号和触发脉冲信号调整可控硅过零触发模块的输出;
光耦信号隔离模块,隔离CPU控制信号模块与可控硅过零触发模块;
可控硅过零触发模块中,过零触发电路接收CPU信号控制模块的触发脉冲信号对可控硅进行触发,可控硅执行模块接收CPU信号控制模块的门限控制信号将AC220V电压转化为AC30-220V的可调电压。
[0015]所述的电源保护模块与CPU信号控制模块连接,CPU信号控制模块经光耦信号隔离模块与可控硅执行模块连接,CPU信号控制模块经过零触发模块连接市电AC220V,电源保护模块连接市电AC220V。
[0016]所述的可控硅执行模块包含有四路可控硅执行单元,光耦信号隔离模块包含有四个光电晶闸管开关耦合器,CPU信号控制模块包括单片机,单片机的四个输出端口分别经各自的光电晶闸管开关耦合器连接到四路可控硅执行单元;四路可控硅执行单元其中一路连接被测仪表,其余三路连接变压器调压电路。
[0017]所述的可控硅执行模块连接有按键模块,按键模块包括有按键接口和各个按键,可控硅执行模块经按键接口与各个按键连接。
[0018]所述的可控硅执行模块的每一个控硅执行单元均包括三个电阻、两个电容和一个双向晶闸管。其中第一电阻和第一电容串联后并联在双向晶闸管的两端,双向晶闸管的两端分别经第二电阻和第二电容连接到光耦信号隔离模块的光电晶闸管开关耦合器的两个输出端,双向晶闸管的触发端连接光电晶闸管开关親合器的其中一个输出端,双向晶闸管的触发端连接有第三电阻,双向晶闸管输出端连接被测仪表或者变压器调压电路;光电晶闸管开关耦合器的两个输入端分别连接VCC电源和CPU。
[0019]所述的过零触发电路包括两个电阻、一个电容、一个二极管和一个光电耦合器,电容和二极管均并联到光电耦合器的两个输入端,电容其中一端串联两个电阻后与电容的另一端连接输入AC220V市电。
[0020]所述的电源保护模块包括瞬态抑制二极管、两个电容和一个电感,一个电感分别与瞬态抑制二极管、两个电容和VCC电源电压的一端连接,瞬态抑制二极管和两个电容的另一端接地。
[0021]本发明具有的有益的效果是:
本发明能更可靠地检测电力仪表质量,检测中被测仪表在老化时有输入信号,且可以控制信号的大小;从而使仪表各部分电路充分工作,以提高被测仪表的可靠性和出厂品质。
[0022](I)通过本发明装置可检测生产中变压器、电源模块、各种接线端子等大型器件的焊接组装品质,使被测仪表制造的合格率提高了 30%。
[0023](2)使用本发明检测装置后,初次使用异常率降低了 50
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