专利名称：测试系统的制作方法
技术领域：
测试系统
技术领域：
本实用新型涉及一种电子设备，尤其涉及一种应用于半导体产品生产过程中对半 导体产品的半成品及成品进行测试的测试系统。
背景技术：
一般情况下，不同测试机配置不同的测试电脑进行电路测试。测试电脑中装载的 电脑操作系统各式各样如Dos，Windows ME/98/95/NT/2000/XP/2003/Vista等。同时在测 试电脑中安装专用测试软件或其他软件。但一般测试电脑只有软件防病毒，没有硬件防毒 的装置。实际使用中测试电脑又经常会发生电脑中毒，导致无法进行测试或者测试错误的 情况，甚至引起生产事故。且在测试电脑的硬盘的磁盘分区中，文件会被分散保存到磁盘的不同地方，而不 是连续地保存在磁盘连续的簇中。又因为在文件操作过程中，Windows系统可能会调用虚 拟内存来同步管理程序，这样就会导致各个程序对硬盘频繁读写，从而产生磁盘碎片。硬盘 读取文件需要在多个碎片之间跳转，增加了等待盘片旋转到指定扇区的潜伏期和磁头切换 磁道所需的寻道时间，从而磁盘碎片会显著降低硬盘的运行速度，从而增加了测试程序的 运行时间，增加了生产成本。或测试过程中对程序的误改、误删都会导致测试的无法进行或 测试结果错误的情况。
实用新型内容基于此，有必要提供一种正常进行测试的测试系统。一种测试系统，包括测试装置、与测试装置连接并控制测试装置进行测试的测试 电脑，所述测试电脑的硬盘中划分有保护分区，所述测试系统还包括与测试电脑连接的并 还原测试电脑的硬盘的保护分区的硬件还原卡。在优选的实施例中，所述保护分区为所述测试电脑的系统盘。在优选的实施例中，所述硬件还原卡接收所述测试电脑重启信号则还原测试电脑 的系统盘以使其恢复为原始状态。在优选的实施例中，所述测试装置为测试半导体晶圆电参数的晶圆测试机。在优选的实施例中，还包括服务器，所述测试电脑与服务器连接，所述测试电脑的 测试数据存储到服务器中或测试电脑的硬盘的系统盘外的分区中。在优选的实施例中，所述服务器为局域网服务器，所述测试电脑通过接入局域网 中以服务器连接。在优选的实施例中，所述测试电脑的硬盘中划分有用于暂存测试电脑当前操作信 息的隐藏空间，所述测试电脑的当前操作信息根据需要从所述隐藏空间更新到所述保护分 区或重新启动后自动清除。在优选的实施例中，所述硬件还原卡为PCI接口。在优选的实施例中，所述硬件还原卡包括CMOS保护模块。[0014]上述的测试系统通过硬件还原卡对测试机电脑的保护分区进行还原以对保护分 区中存储的系统及软件如操作系统及测试专用软件起保护作用。当测试电脑出现病毒、或 人为破坏，磁盘碎片等问题时，只要重新启动测试电脑，硬件还原卡将自动恢复测试电脑的 保护分区为原始状态。以使测试电脑及时回复正常，进行正常测试。降低了测试电脑的无 故障率，同时降低了测试过程由于测试电脑故障而引起的生产事故，同时提高了生产效率。
图1为本实用新型一实施例的测试系统的结构示意图。
具体实施方式
以下结合附图对本实用新型一实施例进行进一步的说明。如图1所示，本实用新型的一实施例的测试系统包括测试装置20、与测试装置20 连接并用于控制测试装置20进行测试的测试电脑40、及与测试电脑40连接的硬件还原卡 60。测试电脑40的硬盘中划分有保护分区。硬件还原卡60用于还原测试电脑40硬盘的 保护分区。测试装置20为测试半导体晶圆电参数的晶圆测试机。晶圆测试机为用于半导体 圆片和成品测试的一种专用设备。其内部有多种测试模块，可以实现各种电参数的测量。晶 圆测试机与探针台配合，可以完成晶圆的电参数的测试。保护分区可以为测试电脑的系统盘如C盘，当然也可选用其他盘。本实施例中，硬 盘的保护分区为系统盘，其中专用测试软件也装载在系统盘中(如C盘)。测试电脑40连接测试装置20，测试装置20在测试机电脑40的专用测试软件的控 制下，通过编程，完成各种测试。测试电脑40与服务器80连接。本实施例中，服务器为局域网服务器。不同测试 装置20的测试电脑40都集中接入局域网中，以与服务器80连接。服务器80存储或存放 测试电脑40的资料，包括共用资源如杀毒软件、也包括各自的测试数据。当某一台测试电 脑40出现病毒，服务器80的杀毒软件对测试电脑40进行提示。当服务器80提示某一测试电脑40中毒时，或当测试时或对操作测试电脑40时 (如编写程序的过程中有意、无意破坏操作系统、测试专用软件)，或出现磁盘碎片问题，对 测试电脑40进行重启操作，还原卡自动对测试电脑40的系统盘(如C盘)进行还原，并还 原系统盘(如C盘)恢复到初始状态。测试数据可以存放在服务器80中，也可存放在测试电脑的40非系统盘的其他分 区中(如D盘)中。服务器80的网络硬盘及非系统盘(如D盘)不受硬件还原卡60保护， 硬件还原卡60不对其进行还原。本实施例中，通过硬件还原卡60在测试电脑40硬盘的最后的分区或其它分区中 划分有用于暂存测试电脑40当前操作信息的隐藏空间。如果用户需要，可以通过硬件还原 卡60设置将测试电脑40的当前操作信息从隐藏空间更新到保护分区。如不需要，将测试 电脑40重启后，此信息自动清除。硬件还原卡60采用PCI接口，插接在测试电脑40中的PCI槽上以与测试电脑40 连接。测试电脑40主板上的PCI设备启动时间都比存储设备(如硬盘)要早，这样也无需修改硬盘的引导区，其安全性也更高。硬件还原卡60中设置有CMOS保护模块。硬件还原卡60每次启动时都会检查 CMOS, 一旦CMOS被修改，CMOS保护模块会将CMOS恢复到原始状态。硬件还原卡60也称硬盘保护卡。它可以让电脑的硬盘在大多非物理损坏的情况 下，恢复到初始的状态。无论是病毒破坏、还是误改、误删、故意破坏硬盘的内容或其他破坏 情况，都可以轻易地还原。本实施例通过硬件还原卡60，对测试机电脑40的操作系统及测试专用软件起保 护作用。降低了测试电脑40的无故障率，同时降低了测试过程中的生产事故，提高了生产 效率。当测试电脑40出现病毒、或人为破坏，磁盘碎片等问题时，只要重新启动测试电脑 40，硬件还原卡60将自动恢复测试电脑系统盘如C盘为原始状态。非系统盘如D盘为生产 数据将不被恢复。以上所述实施例仅表达了本实用新型的几种实施方式，其描述较为具体和详细， 但并不能因此而理解为对本实用新型专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通 技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属 于本实用新型的保护范围。因此，本实用新型专利的保护范围应以所附权利要求为准。
权利要求一种测试系统，包括测试装置、与测试装置连接并控制测试装置进行测试的测试电脑，其特征在于，所述测试电脑的硬盘中划分有保护分区，所述测试系统还包括与测试电脑连接的还原测试电脑的硬盘的保护分区的硬件还原卡。
2.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述保护分区为所述测试电脑的系统盘。
3.根据权利要求2所述的测试系统，其特征在于，所述硬件还原卡接收所述测试电脑 重启信号则还原测试电脑的系统盘以使其恢复为原始状态。
4.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述测试装置为测试半导体晶圆电 参数的晶圆测试机。
5.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于，还包括服务器，所述测试电脑与服 务器连接，所述测试电脑的测试数据存储到服务器中或测试电脑的硬盘的系统盘外的分区 中。
6.根据权利要求5所述的测试系统，其特征在于，所述服务器为局域网服务器，所述测 试电脑通过接入局域网中以服务器连接。
7.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述测试电脑的硬盘中划分有用于 暂存测试电脑当前操作信息的隐藏空间，所述测试电脑的当前操作信息根据需要从所述隐 藏空间更新到所述保护分区或重新启动后自动清除。
8.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述硬件还原卡为PCI接口。
9.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述硬件还原卡包括CMOS保护模块。
专利摘要一种测试系统，包括测试装置、与测试装置连接并控制测试装置进行测试的测试电脑，所述测试电脑的硬盘中划分有保护分区，所述测试系统还包括与测试电脑连接的并还原测试电脑的硬盘的保护分区的硬件还原卡；上述的测试系统通过硬件还原卡对测试机电脑的保护分区进行还原以使对保护分区中存储的软件如操作系统及测试专用软件起保护作用。当测试电脑出现病毒、或人为破坏，磁盘碎片等问题时，只要重新启动测试电脑，硬件还原卡将自动恢复测试电脑的保护分区为原始状态。以使测试电脑及时回复正常，进行正常测试。降低了测试电脑的无故障率，同时降低了测试过程由于测试电脑故障而引起的生产事故，同时提高了生产效率。
文档编号G06F21/00GK201628953SQ20102014831
公开日2010年11月10日 申请日期2010年3月24日 优先权日2010年3月24日
发明者顾汉玉 申请人:华润赛美科微电子(深圳)有限公司