技术特征：
技术总结
本发明提供了一种减弱芯片和存储器之间的辐射强度的方法，其中，具体包括以下步骤：将多个数据线根据数据位顺序均分为M组第一类信号线组；将多个指令线以及多个地址线根据指令位及地址位的顺序均分为N组第二类信号线组；芯片通过N组第二类信号线组，按照第二类信号线组的顺序传输指令信号及地址信号至存储器，每组第二类信号线之间具有一第一预定时间的传输间隔；芯片通过M组第一类信号线组，按照第一类信号线组的顺序传输数据至存储器，每组第一类信号线之间具有一第二预定时间的传输间隔。其技术方案的有益效果在于，可减少电源端高频电流的需求，减少存储器电源部分的电容数量，避免瞬态电流过大。
技术研发人员：陈斯伟;张坤;许传停
受保护的技术使用者：晶晨半导体(上海)股份有限公司
技术研发日：2017.08.25
技术公布日：2018.01.16