技术特征：
技术总结
本公开涉及半导体装置及其诊断方法。提供了一种能够实现对非易失性存储器的开始时间诊断而无需任何外部装置和任何超出诊断目标的非易失性存储器的半导体装置。非易失性存储器包括由连续读取的地址形成的地址空间和在地址空间之后读取的由单个或多个地址形成的预留地址。先前计算的值固定数据被存储在预留地址中。当根据预定压缩算法、使用预定初始值对存储在地址空间中的所有数据和值固定数据进行压缩时，值固定数据是用于将压缩值收敛到预定的固定值(例如，0)的数据。
技术研发人员：前田洋一;前野秀史;松岛润
受保护的技术使用者：瑞萨电子株式会社
技术研发日：2017.09.07
技术公布日：2018.04.06