技术特征：
技术总结
本申请公开了一种Dual Port SSD的SI测试方法、装置、介质及设备，该方法包括：利用目标Riser卡将目标存储器中控制器上的第一clock和第二clock引出；其中，目标Riser卡中的第一clock和第二clock预先通过走线连接；利用目标Riser卡将X4治具与控制器上的第一clock和第二clock建立通信连接，以利用X4治具对目标Dual Port SSD进行SI测试。显然，通过本申请中的方法，可以利用价格较低的X4治具对目标Dual Port SSD进行SI测试，由此免去了对X2治具高昂的购买成本，从而大大降低了对Dual Port SSD进行SI测试的测试成本。
技术研发人员：武丽伟
受保护的技术使用者：郑州云海信息技术有限公司
技术研发日：2018.11.14
技术公布日：2019.03.08