技术总结
本申请公开了一种读出电路、存储芯片的读出电路的调试方法及装置。该读出电路包括：电流比较器，电流比较器的第一输入端与第一选通器件的漏极连接，第一选通器件的栅极接入钳位电压，第一选通器件的源极与阻性存储器单元连接，其中，阻性存储器单元存高电平信号或低电平信号；电流比较器的第二输入端与第二选通器件的漏极连接，第二选通器件的栅极接入参考电压，第二选通器件的源极与可调电阻电路连接。通过本申请，解决了相关技术中存储器的读出电路的比较器存在失调电流，且参考电阻阻值不准确，导致读错误率高的问题。导致读错误率高的问题。导致读错误率高的问题。
技术研发人员：熊保玉 沈岙 卢欢 哀立波
受保护的技术使用者：浙江驰拓科技有限公司
技术研发日：2020.09.24
技术公布日：2021/1/24