专利名称：有机发光显示装置及其测试方法
技术领域：
本发明涉及有机发光显示装置及其测试方法，尤其涉及有机发光显示装置及其测试方法。
背景技术：
通常，在一个母衬底上形成多个有机发光显示装置之后，通过划线(scribe)把它们分割成一个一个有机发光显示装置。然后，对从母衬底经划线而分开的每个独立的有机发光显示装置进行测试。
图1示出经划线而分开的有机发光显示装置。传统的有机发光显示装置110包括扫描驱动器120、数据驱动器130、数据分配器140以及显示区域150。
扫描驱动器120产生扫描信号。由扫描驱动器120产生的扫描信号依次被送入扫描线S1至Sn。
数据驱动器130产生数据信号。由数据驱动器130产生的数据信号被送入输出线01至0m。
数据分配器140把来自数据驱动器130各个输出线01到0m的数据信号提供给至少两根数据线D。数据分配器140减少了数据驱动器130的通道(channel)数量。
显示区域150包括多个像素(未示出)，每个像素具有一个有机发光二极管。显示区域150显示图像，接收来自外部第一、第二电源ELVDD和ELVSS的电能，并接收来自扫描驱动器120的扫描信号，以及接收来自数据分配器140的数据信号。
对有机发光显示装置110的测试是针对独立的有机发光显示装置来进行的。当有机发光显示装置110的电路接线或大小改变时，必须改变用于该测试的测试设备或测试夹具(jig)。分开测试这些有机发光显示装置110需要花费额外的测试时间和费用，因此测试效率变差。
发明内容
为了提高测试效率，在划线分割有机发光显示装置之前，在母衬底的板材单元上对多个有机发光显示装置进行测试。
当母衬底上存在不正常的有机发光显示装置时，则无法恰当地进行有机发光显示装置110的某些测试。因此，为提高测试的可信度和效率，必须防止有特定缺陷的有机发光显示装置影响无缺陷的有机发光显示装置110的测试结果。为此，必须在母衬底上进行片材单元测试，从而分别在母衬底上关断特定的有机发光显示装置。
因此，本发明一方面提供了一种有机发光显示装置及其测试方法，其可以对形成于母衬底上的多个有机发光显示装置的片材单元进行测试。
本发明的另一个目的是提供一种有机发光显示装置及其测试方法，其可以分别关闭形成在母衬底上的特定有机发光显示装置。
通过提供有机发光显示装置可以实现本发明的上述方面和其它方面，所述有机发光显示装置包括含有多个连接到扫描线和数据线的像素的显示区域；用于把扫描信号提供给扫描线的扫描驱动器；设置在外围区域并沿第一方向延伸的第一接线组；设置在外围区域并沿第二方向延伸的第二接线组；含有多个晶体管的晶体管组，所述晶体管与数据线的一端相耦合；以及与第一接线组中至少一根连接线和第二接线组中至少一根连接线相耦合的开/关控制器。
在一个实施例中，开/关控制器包括用来产生至少一个对应于来自第一接线组和第二连线组的信号的移位控制信号的控制信号发生器；以及与控制信号发生器的输出端子耦合的移位时钟信号发生器，其中，移位时钟发生器能够按照移位控制信号来产生第一、第二移位时钟信号。在另一个实施例中，晶体管组中的多个晶体管用来按照外部控制信号而保持关闭状态。在另一个实施例中，有机发光显示装置还包括耦合在数据线和晶体管组之间的数据分配器，用于按照至少两个选择信号而向数据线提供测试信号或数据信号；以及数据驱动器，用于把数据信号提供给数据分配器。
本发明的第二方面包括一种用于测试位于母衬底上的多个有机发光显示装置的方法，该方法包括把垂直控制信号提供给与放置在同一列中的有机发光显示装置相耦合的第一接线组；把水平控制信号提供给与放置在同一行中的有机发光显示装置相耦合的第二接线组；产生对应于垂直控制信号和水平控制信号的第一、第二移位时钟信号；产生对应于第一、第二移位时钟信号的扫描信号；把测试信号提供给第一接线组或第二接线组；以及显示对应于扫描信号和测试信号并且用于测试的图像。
在一个实施例中，产生第一移位时钟信号和第二移位时钟信号包括产生对应于垂直控制信号和水平控制信号的至少一个移位控制信号；以及产生对应于移位控制信号的第一、第二移位时钟信号。另一个实施例包括产生扫描信号，从而多个有机发光显示装置中的至少一个有机发光显示装置不会按照垂直控制信号和水平控制信号来显示图像。另一个实施例包括关闭多个有机发光显示装置中的至少一个有机发光显示装置的显示区域中所包括的像素的开关晶体管。在另一个实施例中，该方法还包括通过第一接线组或第二接线组来接收第一时钟信号。另一个实施例包括产生对应于垂直控制信号和水平控制信号的、与第一时钟信号具有相同波形的第一移位时钟信号以及与第一移位时钟信号具有反相波形的第二移位时钟信号。在另一个实施例中，该方法还包括按照第一、第二移位时钟信号来产生发射控制信号从而控制有机发光显示装置中用于测试的图像的显示。
读者在参照附图阅读了优选实施例的说明以后，将会清楚地理解本发明的各个方面和优点，其中图1示出已经从母衬底划线分割而得到的有机发光显示装置。
图2示出按照本发明第一实施例的有机发光显示装置的母衬底。
图3示出按照本发明第二实施例的有机发光显示装置的母衬底。
图4示出从图3所示的母衬底而得到的独立的有机发光显示装置。
图5是方框图，示出图3和图4所示的有机发光显示装置中的片材单元测试方法。
图6示出图3到图5中所示的一例开/关控制器。
图7示出图6中所示的一例控制信号发生器。
图8示出图6中所示的一例移位时钟发生器。
图9示出图3到图5中所示的一例扫描驱动器。
图10示出图9中所示的一例移位寄存器。
图11示出图9中所示的一例信号发生逻辑。
图12示出包括在图3到图5中所示的显示区域中的一例像素。
图13是控制图12中所示像素电路的控制信号的波形图。
图14是电路图，示出当对图12所示的像素电路施加高电平的扫描信号和发射控制信号时在逻辑上关闭了该像素电路。
具体实施例方式
图2示出按照本发明第一实施例的有机发光显示装置的母衬底。母衬底200包括多个有机发光显示装置210、第一接线组260以及第二接线组270。多个有机发光显示装置210排列成矩阵形式。第一接线组260和第二接线组270排列在有机发光显示装置210中每一个的外围区域里。
有机发光显示装置210中的每一个都包括扫描驱动器220、测试部分230、数据分配器240以及显示区域250。
扫描驱动器220分别从包括在第一接线组260中的第五连接线265接收第三电源VDD，从包括在第二接线组270中的第六连接线271和第八连接线273接收扫描控制信号和第四电源VSS。扫描驱动器220产生对应于第三、第四电源VDD和VSS以及扫描控制信号的扫描信号和发射控制信号。扫描驱动器220产生的扫描信号和发射控制信号被提供给显示区域250。
测试部分230包括耦合在第一接线组260的第一连接线261和数据分配器240之间的多个晶体管M1到Mn。晶体管M1到Mn各自的栅极与第一接线组260的第二连接线262耦合。测试部分230按照从第二连接线262提供的测试控制信号，把从第一连接线261提供的测试信号提供给数据分配器240。这里，该测试信号用来确定有机发光显示装置210是否不正常。发光测试信号或漏电流测试信号用作包含在显示区域250中的像素的测试信号。
数据分配器240从包括在第二接线组270中的第七连接线272接收至少两个选择信号。虽然图2中示出一根连接线作为第七连接线272，但是对应于选择信号的数量，可以设置至少两根连接线作为第七连接线272。例如，数据分配器240可以从第七连接线272接收红色、绿色和蓝色子像素的时钟信号CLR、CLG和CLB。这种情况下，第七连接线272由三根连接线构成。在进行片材单元的测试时，数据分配器240把测试信号从测试部分230的各个输出线提供到对应于选择信号的至少两根数据线。另一方面，在划线分割了各个有机发光显示装置210之后，数据分配器240把数据信号从数据驱动器(未示出)的各个输出线提供到与外部提供的选择信号相对应的至少两根数据线。
显示区域250包含多个像素255，每个像素具有一个有机发光二极管。显示区域250分别从第一接线组260的第三连接线263和第四连接线264接收第二电源ELVSS和初始化电源Vinit，并且从第二接线组270的第九连接线274接收第一电源ELVDD。此外，显示区域250从扫描驱动器220接收扫描信号和发射控制信号，以及从数据分配器240接收测试信号(或数据信号)。显示区域250显示与第一、第二电源ELVDD和ELVSS、初始化电源Vinit、扫描信号、发射控制信号和测试信号(或数据信号)相对应的预定图像。
虽然图中没有示出，但是每个有机发光显示装置210还可以包括一个数据驱动器。在从母衬底200划线分割了各个有机发光显示装置210之后，数据驱动器产生数据信号并将其提供给对应于外部提供的数据的数据分配器240。可以将数据驱动器安装成与测试部分230重叠。
沿垂直方向(第一方向)形成第一接线组260，并且使之与设置在母衬底200的同一列上的有机发光显示装置210耦合。第一接线组260包括用于接收测试信号的第一连接线261、用于接收测试控制信号的第二连接线262、用于接收第二电源ELVSS的第三连接线263、用于接收初始化电源Vinit的第四连接线264以及用于接收第三电源VDD的第五连接线265。
第一连接线261向形成在有机发光显示装置210上并连接到第一连接线261的测试部分230提供测试信号。
第二连接线262向形成在有机发光显示装置210上并和第二连接线261相连接的测试部分230提供测试控制信号。
第三连接线263在测试片材单元时为形成在有机发光显示装置210上并和第三连接线263相连接的显示区域250提供第二电源VSS。
第四连接线264在测试片材单元时为形成在有机发光显示装置210上并和第四连接线264相连接的显示区域250提供初始化电源Vinit。
第五连接线265在测试片材单元时为形成在有机发光显示装置210上并和第五连接线265相连接的扫描驱动器220提供第三电源VDD。
第二接线组270形成在水平方向(第二方向)上，并与排列在母衬底200的同一行上的有机发光显示装置210耦合。第二接线组270包括用于接收扫描控制信号的第六连接线271、用于接收至少两个选择信号的第七连接线272、用于接收第四电源VSS的第八连接线273以及用于接收第一电源ELVDD的第九连接线274。
第六连接线271在测试片材单元时为形成在有机发光显示装置210上并和第六连接线271相连接的扫描驱动器220提供扫描控制信号。扫描控制信号可以包括时钟信号、输出使能信号以及扫描驱动器220的启动脉冲。实际上，可以按照扫描驱动器220的电路配置来改变提供给扫描驱动器220的扫描控制信号中的信号的数量。因此，虽然在图2中示出第六连接线271为一根连接线，但是第六连接线271可以具有一根以上的连接线。
第七连接线272在测试片材单元时为形成在有机发光显示装置210上并和第七连接线272相连的数据分配器240提供至少两个选择信号。选择信号的数量可以按照显示区域250中所包括的子像素的数量而变化。因此，虽然在图2中示出第七连接线272为一根连接线，但是第七连接线272的根数可以对应于选择信号的数量而变化。
在测试片材单元时第八连接线273为形成在有机发光显示装置210上并和第八连接线273相连接的扫描驱动器220提供第四电源VSS。
在测试片材单元时第九连接线274为形成在有机发光显示装置210上并和第九连接线274相连接的显示区域250提供第一电源ELVDD。
在测试片材单元之后，对形成在母衬底200上的有机发光显示装置进行划线分割，得到独立的有机发光显示装置210。在划线分割之后，第一接线组260和第二接线组270与扫描驱动器220、测试部分230、数据分配器240以及显示区域250电气绝缘。即，第一、第二接线组260和270、扫描驱动器220、测试部分230、数据分配器240和显示区域250的电耦合点都位于有机发光显示装置210的划线分割线的外围区域处。因此，从外部引入第一、第二连线组260和270的噪声(如静电)不会被提供至扫描驱动器220、测试部分230、数据分配器240和显示区域250。
第一个实施例包括第一、第二接线组260和270。因为有机发光显示装置的母衬底200包括第一、第二接线组260和270，所以可以在划线分割有机发光显示装置210之前对形成在母衬底200上的多个有机发光显示装置210进行片材单元的测试。通过把用于片材单元测试的电源和信号提供给第一、第二接线组260和270，从而可以进行有机发光显示装置210的测试。这样就减少了测试时间和成本，从而提高了测试有机发光显示装置的效率。此外，虽然构成有机发光显示装置210的电路接线和母衬底200的尺寸大小可以改变，但是如果第一、第二接线组260和270的电路连接线和母衬底200的尺寸大小不改变，则可以进行测试而无需更换测试设备和夹具。
按照该实施例，通过把电源和信号仅提供给与形成在母衬底200上的多个有机发光显示装置210中的至少一个被选中的有机发光显示装置210相耦合的第一、第二连接线组260和270，即可只对所选中的有机发光显示装置210进行测试。例如，通过分别控制提供到第一接线组260中的第三连接线263和第二接线组270中的第九连接线274的第一、第二电源ELVDD和ELVSS，即可对所选中的有机发光显示装置210进行单独测试。
然而，当测试中所包含的有机发光显示装置210具有一个因为内部缺陷或所提供的测试信号的延迟而工作出错的扫描驱动器220时，则对同一行或同一列中的其它有机发光显示装置210的测试会无法恰当进行。
即，当母衬底200上存在具有至少一个缺陷的有机发光显示装置210时，合适的信号会无法输入到相互共享电源线或信号线的有机发光显示装置210。因此，会很难对有机发光显示装置210进行可靠的测试。
此外，当提供给第一、第二接线组260和270的电源和信号通过内部连接线时，会产生延迟。这时，对接收延迟信号的有机发光显示装置210的测试会无法恰当进行。例如，如果提供给第一、第二接线组260和270的扫描控制信号出现延迟，则扫描驱动器220将工作出错。扫描驱动器220的错误工作会导致其功耗急剧增加，并进一步增加信号延迟。因此，会无法可靠地测试与具有工作出错的扫描驱动器220的有机发光显示装置210共享一根信号线的有机发光显示装置210。因为电源和/或信号同时从连接线的两端提供到第一、第二接线组260和270，所以由于电源和信号的延迟而工作出错的有机发光显示装置210一般是位于母衬底200中心部分处的有机发光显示装置。
如果有机发光显示装置210中的至少一个由于电源和/或信号的延迟而工作出错，则错误的运作会影响共享电源线或信号线的有机发光显示装置210的测试，以致不能对相邻的有机发光显示装置210可靠地进行测试。
如果设置各个有机发光显示装置210的驱动条件从而使它们相互不同，则可以对片材单元进行测试，但是这种设置无助于大批量测试。另一方面，通过关闭由于内部缺陷或电源和/或信号延迟引起工作出错的有机发光显示装置210，就可以正常地进行片材单元的测试。通过提供关闭工作出错的有机发光显示装置210的这种能力，使测试的可靠性和效率得到提高。
有机发光显示装置有机发光显示装置然而，虽然使用沿不同方向形成的电源线可以对特定的有机发光显示装置210进行测试，但是在关闭工作出错的特定有机发光显示装置210之后，会无法进行测试。因此，人们需要有一种方案，用于分别打开/关闭形成在母衬底200上的各个有机发光显示装置210。本发明第二种实施例提供了这种方案。
图3示出按照本发明第二个实施例的有机发光显示装置的母衬底。图4示出图3中所示的有机发光显示装置。
参考图3和图4，按照本发明第二个实施例的有机发光显示装置的母衬底300包括多个有机发光显示装置310、第一接线组360、第二接线组370以及开/关控制器380。多个有机发光显示装置310排列成矩阵形式。第一接线组360和第二接线组370位于有机发光显示装置310的每一个的外围区域处。开/关控制器380耦合在第一、第二接线组360和370中的连接线和扫描驱动器320之间。
有机发光显示装置310中的每一个都包括扫描驱动器320、测试部分330、数据分配器340以及显示区域350。
扫描驱动器320分别从第一接线组360中的第六连接线366接收第三电源VDD，从第二接线组370中的第九连接线372和第十一连接线374接收扫描控制信号和第四电源VSS。扫描驱动器320从开/关控制器380接收第一、第二移位时钟信号SFTCLK和SFTCLKB。扫描驱动器320产生对应于第三、第四电源VDD和VSS、扫描控制信号以及第一、第二移位时钟信号SFTCLK和SFTCLKB的扫描信号和发射控制信号。扫描驱动器320产生的扫描信号和发射控制信号通过扫描线S1至Sn和发射控制线EM1至EMn被提供至显示区域350。当扫描驱动器320从开/关控制器380接收第一、第二移位时钟信号SFTCLK和SFTCLKB来关闭有机发光显示装置310时，它产生与之对应的扫描信号和发射控制信号并将其提供至显示区域350，从而关闭显示区域350。测试部分330包括耦合在第一接线组360的第一连接线361和数据分配器340之间的多个晶体管M1到Mn。晶体管M1到Mn各自的栅极与第一接线组360的第二连接线362相耦合。测试部分330按照由第二连接线362提供的测试控制信号把从第一连接线361提供的测试信号提供给数据分配器340。有机发光显示装置这里，该测试信号用来确定有机发光显示装置310是否不正常。对于包括在显示区域350中的像素，将发光测试信号或漏电流测试信号用作测试信号。在完成在母衬底300上执行的片材单元的测试和划线分割各有机发光显示装置310之后，把测试部分330设置成关闭状态。在结束片材单元的测试之后，测试部分330保持为维持在关闭状态的晶体管组从而不影响有机发光显示装置310的工作。为了在划线分割之后关闭测试部分330，测试部分330的晶体管M1到Mn接收指示它们应该保持关闭的控制信号。
数据分配器340从包括在第二接线组370中的第十连接线373接收至少两个选择信号。虽然在图3和图4中示出了一根连接线作为第十连接线373，但是对应于选择信号的数量，可以设置至少两根连接线作为第十连接线373。例如，数据分配器340可以从第十连接线373接收红色、绿色和蓝色子像素的时钟信号CLR、CLG和CLB。，这样，第十连接线373由三根连接线构成。数据分配器340在片材单元测试时把测试信号从测试部分330的各个输出线01到0m提供给与选择信号对应的至少两根数据线D。另一方面，在划线分割了各个有机发光显示装置310之后，数据分配器340把数据信号从数据驱动器(未示出)的各个输出线提供给与外部提供的选择信号相对应的至少两根数据线D。
显示区域350包括多个像素(355)，每个像素具有一个有机发光二极管。显示区域350分别从第一接线组360的第三连接线363和第五连接线365接收第二电源ELVSS和初始化电源Vinit，并且从第二接线组370的第十二连接线375接收第一电源ELVDD。此外，显示区域350从扫描驱动器320接收扫描信号和发射控制信号，以及从数据分配器340接收测试信号(或数据信号)。显示区域350显示对应于第一、第二电源ELVDD和ELVSS、初始化电源Vinit、扫描信号、发射控制信号和测试信号(或数据信号)的预定图像。
虽然没有示出，但是有机发光显示装置310中的每一个还可以包括一个数据驱动器。在从母衬底300划线分割了各个有机发光显示装置310之后，对应于外部提供的数据数据，驱动器产生一个数据信号并把该数据信号提供给数据分配器340。数据驱动器可以被安装成与测试部分330重叠。
开/关控制器380从第一接线组360的第四连接线364、第六连接线366、和第七连接线367接收垂直控制信号、第三电源VDD和第一时钟信号CLK1。此外，开/关控制器从第二接线组370的第八连接线371和第十一连接线374接收水平控制信号和第四电源VSS。按照垂直控制信号、水平控制信号和第一时钟信号CLK1，开/关控制器380产生具有第三或第四电源VDD、VSS的电压值的第一、第二移位时钟信号SFTCLK和SFTCLKB，并把它们提供给扫描驱动器320。
为了在测试片材单元时能够有选择的关闭工作出错的有机发光显示装置310，开/关控制器380从与有机发光显示装置310相耦合的第四连接线364和第八连接线371中接收预定的垂直、水平控制信号。因此，开/关控制器380产生第一、第二移位时钟信号SFTCLK和SFTCLKB，并把它们提供给扫描驱动器320从而关闭与所输入的第一时钟信号CLK无关的显示区域。扫描驱动器320按照来自开/关控制器380的第一、第二移位时钟信号SFTCLK和SFTCLKB，产生扫描信号和发射控制信号来关闭显示区域。开/关控制器380产生与第一时钟信号CLK同步的第一、第二移位时钟信号SFTCLK和SFTCLKB，并把它们提供给扫描驱动器320。因此，扫描驱动器320按照第一、第二移位时钟信号SFTCLK和SFTCLKB产生扫描信号和发射控制信号，使显示区域350被关闭。
第一接线组360形成在垂直方向(第一方向)上，并与排列在母衬底300的同一列上的有机发光显示装置310相耦合。第一接线组360包括用于接收测试信号的第一连接线361、用于接收测试控制信号的第二连接线362、用于接收第二电源ELVSS的第三连接线363、用于接收垂直控制信号的第四连接线364、用于接收初始化电源Vinit的第五连接线365、用于接收第三电源VDD的第六连接线366以及用于接收第一时钟信号CLK1的第七连接线367。
第一连接线361在测试片材单元时为形成在有机发光显示装置310上并和第一连接线361相连接的测试部分330提供测试信号。
第二连接线362在测试片材单元时为形成在有机发光显示装置310上并和第二连接线362相连接的测试部分330提供测试控制信号。
第三连接线363在测试片材单元时为形成在有机发光显示装置310上并和第三连接线363相连接的显示区域350提供第二电源VSS。
第四连接线364在测试片材单元时向开/关控制器380提供垂直控制信号。该开/关控制器与第四连接线364相连。
第五连接线365在测试片材单元时为形成在有机发光显示装置310上并和第五连接线365相连接的显示区域350提供初始化电源Vinit。
第六连接线366在测试片材单元时为形成在有机发光显示装置310上并和第六连接线366相连接的扫描驱动器320和开/关控制器380提供第三电源VDD。
第七连接线367在测试片材单元时为开/关控制器380提供第一时钟信号CLK1。该开/关控制器与第七连接线367相连。
第二接线组370形成在水平方向(第二方向)上，并与安装在母衬底300的同一行上的有机发光显示装置310相耦合。第二接线组370包括用于接收水平控制信号的第八连接线371、用于接收扫描控制信号的第九连接线372、用于接收至少两个选择信号的第十连接线373、用于接收第四电源VSS的第十一连接线374以及用于接收第一电源ELVDD的第十二连接线375。
第八连接线371在测试片材单元时向开/关控制器380提供水平控制信号。该开/关控制器380与第八连接线371相连。
第九连接线372在测试片材单元时为形成在有机发光显示装置310上并和第九连接线372相连接的扫描驱动器320提供扫描控制信号。该扫描控制信号可以包括扫描时钟信号SCLK、输出使能信号以及启动脉冲。实际上，可以按照扫描驱动器320的电路配置来改变提供给扫描驱动器320的扫描控制信号的连接线数量。因此，虽然在图3和4中示出了第九连接线372为一根连接线，但是第九连接线372的根数可以是一根以上。
第十连接线373在测试片材单元时为形成在有机发光显示装置310上并和第八连接线273相连接的数据分配器340提供至少两个选择信号。可以按照包括在显示区域350中的子像素的数量来改变选择信号的数量。因此，虽然在图3和图4中示出了第十连接线373为一根连接线，但是第十连接线373的根数可以按照选择信号的数量而改变。
第十一连接线374在测试片材单元时向形成在有机发光显示装置310上和连接到第十一连接线374的扫描驱动器320和开/关控制器380提供第四电源VSS。
第十二连接线375在测试片材单元时为形成在有机发光显示装置310上并和第十二连接线375相连接的显示区域350提供第一电源ELVDD。
在完成片材单元的测试之后，对形成在母衬底300上的有机发光显示装置310进行划线分割而得到独立的有机发光显示装置310。在划线分割之后，为了防止噪声(如外部引入的静电)影响有机发光显示装置310的工作，第一接线组360和第二接线组370与开/关控制器380、扫描驱动器320、测试部分330、数据分配器340、显示区域350电气绝缘。
虽然上文中描述了将第一到第七连接线361到367和第八到第十二连接线371到375设置成包括在第一、第二接线组360和370两者中的一个接线组中，但是本实施例不局限于此。例如，可以将提供第一电源ELVDD的第十二连接线375设置成包括在第一、第二接线组360和370两者中或第一、第二连线组360和370两者之一中。
下文中，将参照图5来说明按照第二实施例对有机发光显示装置的母衬底300上的片材单元进行测试的方法。
参照图5，当把垂直、水平控制信号VC和HC、第一时钟信号CLK1以及第三、第四电源VDD和VSS提供给开/关控制器380时，开/关控制器380产生第一、第二移位时钟信号SFTCLK和SFTCLKB，并把它们提供给扫描驱动器320。为了对与开/关控制器380耦合的有机发光显示装置310进行测试，开/关控制器3800输出与第一时钟信号CLK同步的第一移位时钟信号SFTCLK和波形与第一移位时钟信号SFTCLK的波形反相的第二移位时钟信号SFTCLKB。
当扫描驱动器320接收第一、第二移位时钟信号SFTCLK和SFTCLKB时，它根据第一、第二移位时钟信号SFTCLK和SFTCLKB以及从外部提供的第三电源VDD、第四电源VSS和扫描控制信号SCS而产生扫描信号SS和发射控制信号EMI，并把它们提供给显示区域350。
测试部分330从外部接收测试控制信号TG和测试信号TD。测试部分330按照测试控制信号TG把测试信号TD提供给数据分配器340。
当数据分配器340接收到测试信号TD时，它按照从外部提供的选择信号把测试信号TD提供给显示区域350的子像素。在一个实施例中，从外部提供的选择信号包括红色时钟信号CLR、绿色时钟信号CLG和蓝色时钟信号CLB。
因此，当显示区域350接收到扫描信号SS、发射控制信号EMI和测试信号TD时，它显示与所接收的信号对应的预定图像。为此，显示区域350还从外部接收第一电源ELVDD、第二电源ELVSS和初始化电源Vinit。现在，当施加发光测试信号作为测试信号时，像素将对应于发光测试信号而发光。一些像素可能以不合需要的图案来发光。本发明的一些实施例可以按照改不合需要的图案来确定是否存在不正常的像素。此外，因为把同一发光测试信号提供给许多像素，所以本发明的一些实施例可以测量像素的白平衡，并感知逐行的不正常现象(progressiveabnormality)。此外，当施加用来测试漏电流的信号作为测试信号时，进行所选中的有机发光显示装置310的漏电流测试。当由测试信号的类型进行触发时，可以对有机发光显示装置进行各种测试。
在执行多个有机发光显示装置310的片材单元的测试时，可以关闭个别的有机发光显示装置310。为了关闭由于发生内部缺陷或输入信号的延迟而引起的工作出错的特定有机发光显示装置310，开/关控制器380接收表示应关闭与开/关控制器380耦合的有机发光显示装置的垂直控制信号VC和水平控制信号HC。因此，开/关控制器380产生第一、第二移位时钟信号SFTCLK和SFTCLKB来关闭有机发光显示装置310而不管第一时钟信号CLK1，并且把第一、第二移位时钟信号SFTCLK和SFTCLKB提供给与开/关控制器380耦合的扫描驱动器320。因此，扫描驱动器320产生扫描信号SS和发射控制信号EMI来关闭显示区域350，并且把扫描信号SS和发射控制信号EMI提供给显示区域350。结果，使显示区域350保持在关闭状态。
按照第二个实施例，在对有机发光显示装置的母衬底300上的片材单元进行测试时，使用垂直、水平控制信号VC和HC对开/关控制器380的控制仅使得特定的有机发光显示装置310可以被选择性的关闭。因为用于提供垂直、水平控制信号VC和HC的第四连接线364和第八连接线371是沿不同方向形成的，所以可以单独地控制与第四连接线364和第八连接线371相耦合的至少一个开/关控制器380。因此，可以单独地控制形成在母衬底300上的有机发光显示装置310的打开/关闭。因此，在测试片材单元时，通过选择性地打开/关闭工作出错的有机发光显示装置310，能够防止工作出错的特定有机发光显示装置310对与其共享电源线和信号线的其它有机发光显示装置310的影响。因此，在对用于形成在母衬底300上的多个有机发光显示装置310的片材单元进行测试时，测试的可靠性和效率得到提高。
按照第二个实施例的有机发光显示装置的母衬底300包括沿不同方向形成的第一、第二接线组360和370。因此，仅把电源和信号提供给与至少一个特定有机发光显示装置310耦合的第一、第二接线组360和370。因此，可以使仅对多个有机发光显示装置310中的一个特定有机发光显示装置310进行测试。例如，当把第三电源VDD、扫描控制信号和第四电源VSS提供给与形成在预定的有机发光显示装置310上的扫描驱动器320相耦合的第六连接线366、第九连接线372和第十一连接线374时，可以对置于已经接收到第三电源VDD、扫描控制信号和第四电源VSS的第六连接线366、第九连接线372和第十一连接线374交叉处的特定有机发光显示装置310进行预定的测试。或者，可以通过控制经由第三连接线363和第十二连接线375的第一、第二电源ELVDD和ELVSS的电源供应而对置于沿不同方向形成的第三连接线363和第十二连接线375交叉处的特定有机发光显示装置310进行预定的测试。
图6示出图3到图5中所示的开/关控制器的一个例子。图7示出图6中所示的控制信号发生器的一个例子。图8示出图6中所示的移位时钟信号发生器的一个例子。
参考图6、图7和图8，开/关控制器380包括控制信号发生器381和移位时钟信号发生器382。移位时钟信号发生器382与控制信号发生器381的一个输出端耦合。
控制信号发生器381从第四连接线364和第八连接线371接收垂直控制信号VC和水平控制信号HC，并且按照垂直控制信号VC和水平控制信号HC来产生第一、第二移位控制信号SCTL和SCTLB。
为了产生第一、第二移位控制信号SCTL和SCTLB，控制信号发生器381包括第一到第六晶体管T1、T2、T3、T4、T5和T6，如图7所示。
第一、第二晶体管T1和T2相互串联耦合在第三电源VDD和第一节点N1之间。本实施例中，T1和T2是P-型晶体管。第一晶体管T1的栅极从第八连接线371接收水平控制信号HC，而第二晶体管T2的栅极从第四连接线364接收垂直控制信号VC。
第三、第四晶体管T3和T4相互并联耦合在第二晶体管T2和第四电源VSS之间。在上述实施例中，T3和T4是N-型晶体管。第四电源VSS的电压值小于第三电源VDD的电压值。第三晶体管T3的栅极从第四连接线364接收垂直控制信号VC，而第四晶体管T4的栅极从第八连接线371接收水平控制信号HC。
第五、第六晶体管T5和T6相互串联耦合在第三电源VDD和第四电源VSS之间。采用不同的沟道晶体管来设置第五、第六晶体管T5和T6。在上述实施例中，第五晶体管T5是P-型晶体管，而第六晶体管T6是N-型晶体管。第五、第六晶体管T5和T6的栅极与耦合了第二、第三和第四晶体管T2、T3和T4的第一节点N1相耦合。第五、第六晶体管的工作如同反相器，用于使提供给第一节点N1的信号反相。
当垂直控制信号VC和水平控制信号HC两者都处于低电平时，第一晶体管T1和第二晶体管T2导通，因此第一节点N1将从第三电源VDD接收电压。因此，控制信号发生器381将输出VDD作为第一移位控制信号SCTL。控制信号发生器381使第一移位控制信号SCTL反相，并且输出经反相的信号作为第二移位控制信号SCTLB。当垂直控制信号VC和水平控制信号HC两者都处于高电平时，第三晶体管T3和第四晶体管T4导通，因此第一节点N1将从第四电源VSS接收电压。因此，控制信号发生器381将输出VSS作为第一移位控制信号SCTL。此外，控制信号发生器381将输出处于高电平的第二移位控制信号SCTLB，因为它是经反相的SCTL信号。在上述实施例中，控制信号发生器381的工作如同或非门。
移位时钟信号发生器382从第七连接线367接收第一时钟信号CLK1，并从控制信号发生器381接收第一、第二移位控制信号SCTL和SCTLB。移位时钟信号发生器382产生与第一时钟信号CLK1以及第一、第二移位控制信号SCTL和SCTLB对应的第一、第二移位时钟信号SFTCLK和SFTCLKB。
为此，如图8所示，移位时钟信号发生器382包括多个反相器IN1到IN6、第一控制晶体管Tc1、第二控制晶体管Tc2和第三控制晶体管Tc3。反相器IN1到IN6中的每一个都包括两个相互串联连接的不同类型的晶体管。第一控制晶体管Tc1耦合在相应反相器IN3和IN5中所包括的P-型晶体管和第三电源VDD之间。第二控制晶体管Tc2耦合在相应反相器IN4和IN5中所包括的N-型晶体管和第四电源VSS之间。第三控制晶体管Tc3耦合在相应反相器IN4和IN6的输出端和第四电源VSS之间。
反相器IN1、IN2、IN4和IN6包括相互串联连接在第三、第四电源VDD和VSS之间的两个不同类型的晶体管。第一反相器IN1的输入端与第七连接线367耦合，并且第一反相器IN1从第七连接线367接收第一时钟信号CLK1并对其进行反相。第二反相器IN2的输入端与第一反相器IN1的输出端耦合，并且第二反相器IN2从第一反相器IN1接收信号并对其进行反相。第三反相器IN3的输入端与第二反相器IN2的输出端耦合，并且第三反相器IN3从第二反相器IN2接收信号并对其进行反相。第四反相器IN4的输入端与第三反相器IN3的输出端耦合，并且第四反相器IN4从第三反相器IN3接收信号并对其进行反相。第五反相器IN5的输入端与第一反相器IN1的输出端耦合，并且第五反相器IN5从第一反相器IN1接收信号并对其进行反相。第六反相器IN6的输入端与第五反相器IN5的输出端耦合，并且第六反相器IN6从第五反相器IN5接收信号并对其进行反相。
第一控制晶体管Tc1是P-型晶体管。一只耦合在第三电源VDD和第三反相器IN3之间。另一只耦合在第三电源VDD和第五反相器IN5之间。第一控制晶体管Tc1的栅极与控制信号发生器381的输出端耦合，从而它们从控制信号发生器381接收第一移位控制信号SCTL。当把低电平的第一移位控制信号SCTL提供给第一控制晶体管Tc1时，第三、第五反相器IN3和IN5电气连接至第三电源VDD。
第二控制晶体管Tc2是N-型晶体管。一只耦合在第四电源VSS和第三反相器IN3之间。另一只耦合在第四电源VSS和第五反相器IN5之间。第二控制晶体管Tc2的栅极与控制信号发生器381的输出端耦合，并且从控制信号发生器381接收第二移位控制信号SCTLB。当第二移位控制信号SCTLB处于高电平并且被提供给第二控制晶体管Tc2时，第三、第五反相器IN3和IN5与第四电源VSS电耦合。
第三控制晶体管Tc3是N-型晶体管。一只耦合在第四电源VSS和第四反相器IN4的输入端之间。另一只耦合在第四电源VSS和第六反相器IN6的输入端之间。第三控制晶体管Tc3的栅极与控制信号发生器381的输出端耦合，并且从控制信号发生器381接收第一移位控制信号SCTL。当第一移位控制信号SCTL处于高电平并被提供给第三控制晶体管Tc3时，第四、第六反相器IN4和IN6与第四电源VSS电耦合。
当从控制信号发生器381接收高电平的第一移位控制信号SCTL和低电平的第二移位控制信号SCTLB时，移位时钟信号发生器382产生高电平的第一、第二移位时钟信号SFTCLK和SFTCLKB，而不管第一时钟信号CLK1的情况如何。当把高电平的第一移位控制信号SCTL和低电平的第二移位控制信号SCTLB提供给移位时钟信号发生器382时，第一、第二控制晶体管Tc1和Tc2截止，而第三控制晶体管Tc3导通，从而把低电平的第四电源VSS提供给第四、第六反相器IN4和IN6的输入端。然后第四、第六反相器IN4和IN6使低电平的第四电源VSS反相，并且输出经反相的信号作为高电平的第一、第二移位时钟信号SFTCLK和SFTCLKB。因此，当从控制信号发生器381提供高电平的第一移位控制信号SCTL和低电平的第二移位控制信号SCTLB时，移位时钟信号发生器382输出高电平的第一、第二移位时钟信号，而不管第一时钟信号CLK1的情况如何。
将由移位时钟信号发生器382产生的高电平的第一、第二移位时钟信号SFTCLK和SFTCLKB输入到扫描驱动器320，而扫描驱动器320关闭显示区域350。将在下面提供其详细描述。
当移位时钟信号发生器382接收低电平的第一移位控制信号SCTL和高电平的第二移位控制信号SCTLB时，移位时钟信号发生器382产生波形与第一时钟信号CLK1的波形相同的第一移位时钟信号SFTCLK和波形与第一移位时钟信号SFTCLK的波形不同的第二移位时钟信号SFTCLKB。即，当把低电平的第一移位控制信号SCTL和高电平的第二移位控制信号SCTLB提供给移位时钟信号发生器382时，第三控制晶体管Tc3截止，而第一、第二控制晶体管Tc1和Tc2导通，以正常地操作第三、第五反相器IN3和IN5。然后，通过第一到第四反相器IN1到IN4，输出具有原始波形的第一时钟信号CLK1作为第一移位时钟信号SFTCLK。此外，通过第一、第五和第六反相器IN1、IN5和IN6，输出具有反相波形的第一时钟信号CLK作为第二移位时钟信号SFTCLKB。接着，响应于第一时钟信号CLK1，扫描驱动器320产生一个扫描信号和一个发射控制信号并把它们提供给显示区域350，从而可以对有机发光显示装置310进行预定的测试。开/关控制器380作为例子已经在图6、图7和图8中示出，但是本发明的实施例不局限于此。有机发光显示装置实际上，开/关控制器380可以有多种不同的设置来打开/关闭与开/关控制器380耦合的有机发光显示装置310。图9示出图3、图4和图5中所示的扫描驱动器的例子。图10示出图9中所示的移位寄存器的例子。图11示出图9所示的信号产生逻辑的例子。
参照图9、图10和图11，扫描驱动器320包括移位寄存器单元321和信号发生器单元322。
移位寄存器单元321包括第一到第n移位寄存器SR1到SRn。移位寄存器SR1到SRn中的每一个都通过使用包括在来自第九连接线372的扫描控制信号中的启动脉冲SP(或前一状态的取样脉冲SAn-1)以及来自开/关控制器380的第一、第二移位时钟信号SFTCLK和SFTCLKB来产生一个取样脉冲SA。移位寄存器SR1到SRn中的每一个把取样脉冲SA提供给信号发生器单元322和下一级移位寄存器SRn+1。当移位寄存器SR接收高电平的第一、第二移位时钟信号SFTCLK和SFTCLKB和高电平的启动脉冲SP(或，前一状态的取样脉冲SA)时，它输出高电平的取样脉冲。
将参考图10对此进行详细说明。每个移位寄存器SR包括耦合在第三电源VDD和第四电源VSS之间的多个晶体管Tr1到Tr10。
第一到第四晶体管Tr1到Tr4串联耦合在第三电源VDD和第四电源VSS之间。第一、第四晶体管Tr1和Tr4的栅极接收启动脉冲SP(或前一级的取样脉冲SAn-1)。第二晶体管Tr2的栅极接收第一移位时钟信号SFTCLK。第三晶体管Tr3的栅极接收第二移位时钟信号SFTCLKB。第五到第八晶体管Tr5到Tr8串联耦合在第三电源VDD和第四电源VSS之间。第五、第八晶体管Tr5和Tr8的栅极耦合到第九、第十晶体管Tr9和Tr10。第六晶体管Tr6的栅极接收第二移位时钟信号SFTCLKB，而第七晶体管Tr7的栅极接收第一移位时钟信号SFTCLK。
第九、第十晶体管Tr9和Tr10由不同类型的晶体管设置而成，并且串联耦合在第三电源VDD和第四电源VSS之间。第九、第十晶体管Tr9和Tr10的工作如同反相器。第九、第十晶体管Tr9和Tr10的栅极耦合到第二、第三、第六和第七晶体管Tr2、Tr3、Tr6和Tr7中的一个电极。
第一、第二、第五、第六和第九晶体管Tr1、Tr2、Tr5、Tr6和Tr9由P-型晶体管设置而成，而第三、第四、第七、第八和第十晶体管Tr3、Tr4、Tr7、Tr8和Tr10由N-型晶体管设置而成。
当把高电平的第一、第二移位时钟信号SFTCLK和SFTCLKB和高电平的启动脉冲SP(或前一状态的取样脉冲SA)提供给移位寄存器SR时，第一、第二、第五和第六晶体管Tr1、Tr2、Tr5和Tr6截止，但是第三、第四、第七和第八晶体管Tr3、Tr4、Tr7和Tr8导通。因此，低电平的第四电源VSS被提供给第九、第十晶体管Tr9和Tr10的输入端，第九、第十晶体管Tr9和Tr10使低电平的第四电源VSS反相，并输出高电平的取样脉冲SAn。
信号发生器单元322与移位寄存器单元321的输出端耦合。信号发生器单元322包括第一到第n信号产生逻辑。每个信号产生逻辑接收取样脉冲SA和前一级的取样脉冲SAn-1，并且接收包括在来自第九连接线372的扫描控制信号中的扫描时钟信号SCLK。信号发生器单元322使用取样脉冲SAn-1和SAn以及扫描时钟信号SCLK来产生扫描信号SS，并把它提供给扫描线Sn。当信号发生器单元322接收高电平的取样脉冲SAn-1和SAn、以及低电平的扫描时钟信号SCLK时，它输出高电平的扫描信号SS来关闭显示区域350。
现在将参考图11详细描述信号发生器单元322的工作。每个信号发生逻辑包括第一到第六晶体管m1到m6。第二、第四、第五和第六晶体管m2、m4、m5和m6串联耦合在第三电源VDD和第四电源VSS之间。第一、第三晶体管m1和m3与第二晶体管m2并联耦合。
第一、第四晶体管m1和m4的栅极接收前一级的取样脉冲SAn-1，而第二、第五晶体管m2和m5的栅极接收取样脉冲SA。第三、第六晶体管m3和m6的栅极接收扫描时钟信号SCLK。在上述实施例中，第一到第三晶体管m1到m3是P-型晶体管，而第四到第六晶体管m4到m6是N-型晶体管。
当把高电平的取样脉冲SAn-1和SAn和低电平的扫描时钟信号SCLK提供给信号发生逻辑时，第一、第二和第六晶体管m1、m2和m6截止，而第三到第五晶体管m3到m5导通。因此，信号发生逻辑的输出端输出高电平的扫描信号SS。把信号发生器单元322产生的高电平的扫描信号SS提供给扫描线S1到Sn，从而关闭显示区域350。将在下面提供其详细描述。
扫描驱动器320产生发射控制信号EMI以及扫描信号SS。为此，扫描驱动器320，尤其是信号发生器单元322，可以包括发射控制信号(EMI)发生逻辑电路(未示出)。可以使发射控制信号(EMI)发生逻辑电路具有至少一个晶体管。按照本发明的一个实施例，当扫描驱动器320从开/关控制器380接收第一、第二移位时钟信号SFTCLK和SFTCLKB以关闭有机发光显示装置310时，扫描驱动器320产生发射控制信号EMI以关闭显示区域350。例如，当采用P-型晶体管来设置显示区域的晶体管时，扫描驱动器320产生高电平的发射控制信号EMI并把它提供给显示区域350。因此，已经接收到发射控制信号EMI的显示区域350逻辑上被关闭了。虽然在图9到图11中示出了扫描驱动器320的内部配置，但是本发明的实施例不局限于此。
图12示出包括在图3到图5中所示的显示区域中的像素的例子。图13是用来控制图12所示的像素电路的控制信号的波形图。图14是电路图，示出当提供高电平的扫描信号和发射控制信号时图12所示的像素电路被逻辑关闭。
参考图12到图14，像素包括有机发光二极管OLED和与第n根扫描线Sn、第n根发射控制线EMn、第m根数据线Dm、第一电源ELVDD、初始化电源Vinit和有机发光二极管OLED耦合的像素电路352。
有机发光二极管OLED的阳极与像素电路352耦合，而其阴极与第二电源ELVSS耦合。
像素电路352包括第一到第六晶体管M1到M6以及存储电容器Cst。在图12中示出的第一到第六晶体管M1到M6为P-型晶体管。但是本发明的实施例不局限于此。
第一晶体管M1的第一电极耦合到第二节点N2，而其第二电极耦合到第三节点N3。第一晶体管M1的栅极耦合到第一节点N1。第一晶体管M1把对应于存储在存储电容器Cst中的电压的电流提供给第三节点N3。
第二晶体管M2的第一电极耦合到第m数据线Dm，而其第二电极耦合到第三节点N3。第二晶体管M2的栅极耦合到第n扫描线Sn。当把扫描信号提供给第n扫描线Sn时，第二晶体管M2导通而把提供给第m数据线Dm的数据信号提供给第三节点N3。
第三晶体管M3的第一电极耦合到第二节点N2，而其第二电极耦合到第一节点N1。第三晶体管M3的栅极耦合到第n扫描线Sn。当把扫描信号提供给第n扫描线Sn时，第三晶体管M3导通而使第一晶体管M1连接成二极管。
第四晶体管M4的第一电极耦合到初始化电源Vinit，而其第二电极耦合到第一节点N1。第四晶体管M4的栅极耦合到第(n-1)扫描线Sn-1。当把扫描信号提供给第(n-1)扫描线Sn-1时，第四晶体管M4导通而对存储电容器Cst和第一晶体管M1的栅极进行初始化。由于这一原因，把初始化电源Vinit的电压值设置成小于数据信号的电压值。
第五晶体管M5的第一电极耦合到第一电源ELVDD，而其第二电极耦合到第二节点N2。第五晶体管M5的栅极耦合到第n发射控制线EMn。当没有向第n发射控制线EMn提供发射控制信号时，第五晶体管M5导通而把第一电源ELVDD的电压传送给第二节点N2。
第六晶体管M6的第一电极耦合到第三节点N3，而其第二电极耦合到有机发光二极管OLED的阳极。第六晶体管M6的栅极耦合到第n发射控制线EMn。当没有向第n发射控制线EMn提供发射控制信号时，第六晶体管M6导通而使有机发光二极管OLED电气连接至第三节点N3。
存储电容器Cst的一端耦合到第一电源ELVDD和第五晶体管M5的第一电极，而其另一端则耦合到第一节点N1。当把扫描信号提供给第n扫描线时，用数据信号和第一晶体管M1的门限电压Vth对存储电容器Cst充电，并且存储电容器Cst在一帧期间内保持充电电压。
此处将详细描述像素的工作。在第一时段(period)T1内，把扫描信号SS提供给第(n-1)扫描线Sn-1，并把发射控制信号EMI提供给第n发射控制线EMn。当已经把发射控制信号EMI提供给第n发射控制线EMn时，第五、第六晶体管M5和M6截止。当把扫描信号SS提供给第(n-1)扫描线Sn-1时，第四晶体管M4导通。当第四晶体管M4导通时，存储电容器Cst和第一晶体管M1的栅极与初始化电源Vinit电气耦合。当存储电容器Cst和第一晶体管M1的栅极与初始化电源Vinit电气耦合时，提供初始化电源Vinit以使存储电容器Cst和第一晶体管M1的栅极初始化。
接着，在第二时段T2中，把扫描信号提供给第n扫描线Sn。当把扫描信号SS提供给第n扫描线Sn时，第二、第三晶体管M2和M3导通。当第三晶体管M3导通时，使第一晶体管M1连接成二极管。当第二晶体管M2导通时，提供给第m数据线Dm的数据信号被传送到第三节点N3。因为第一晶体管M1的栅极被初始化电源Vinit用小于数据信号的电压而初始化，所以提供给第三节点N3的电压将通过第一、第三晶体管M1和M3被提供至第一节点N1。因此，第一晶体管M1的门限电压和与数据信号对应的电压被存储在存储电容器Cst中。此后，当没有向第n发射控制线EMn提供发射控制信号EMI时，第五、第六晶体管M5和M6导通。当第五、第六晶体管M5和M6导通时，对应于数据信号的电流从第一电源ELVDD流到有机发光二极管OLED。这使得有机发光二极管OLED对应于数据信号而发光。
当把高电平的扫描信号SS和发射控制信号EMI提供给像素时，如图14中所示，第二到第六晶体管M2到M6全部截止，从而使像素不发光。因此，为了关闭特定的有机发光显示装置310，需要把高电平的扫描信号SS和发射控制信号EMI提供给显示区域350。例如，在对母衬底300上的片材单元进行测试时，为了关闭特定的有机发光显示装置310，可以把低电平的垂直、水平控制信号VC和HC提供给与特定有机发光显示装置310耦合的开/关控制器380。因此，开/关控制器380把高电平的第一、第二移位时钟信号SFTCLK和SFTCLKB提供给扫描驱动器320，而扫描驱动器320产生与其对应的高电平的扫描信号SS和发射控制信号EMI来关闭像素。在本发明的一个实施例中，像素的开关晶体管全部是P-型晶体管。然而，实际上，关闭特定有机发光显示装置310的方法按照像素的电路配置而有各种变化。
如上所述，在有机发光显示装置及其测试方法中，因为有机发光显示装置包括第一、第二接线组，所以本发明的实施例可以对形成在母衬底上的多个有机发光显示装置的片材单元进行测试。这导致测试时间减少和成本降低，从而提高了测试的效率。把电源和信号只提供给与特定的有机发光显示装置耦合的第一、第二接线组，使得可以对形成在母衬底上的多个有机发光显示装置中的特定有机发光显示装置进行单个测试。
有机发光显示装置此外，通过沿不同方向形成的连接线而提供的垂直、水平控制信号控制开/关控制器，从而可以对形成在母衬底上的各个有机发光显示装置的打开/关闭分别进行控制。因此，在片材单元的测试期间，通过选择性地打开/关闭工作出错的特定有机发光显示装置，本发明的实施例可以防止工作出错的有机发光显示装置影响与其共享电源线和信号线的其它有机发光显示装置。这种功能提高了测试的可信度和效率。
尽管上文种已经示出和描述了本发明的几个实施例，但是熟悉本领域的普通技术人员应该理解，可以在不偏离本发明的原理和精神的情况下，对这些实施例作出各种修改，本发明的范围由权利要求书及其等效来定义。
权利要求
1.一种有机发光显示装置，包括包含连接到扫描线和数据线的多个像素的显示区域；用于向扫描线提供扫描信号的扫描驱动器；位于外围区域并沿第一方向延伸的第一接线组；位于外围区域并沿第二方向延伸的第二接线组；包括与数据线的一端相耦合的多个晶体管的晶体管组；以及与所述第一接线组中至少一根连接线和所述第二接线组中至少一根连接线相耦合的开/关控制器。
2.如权利要求1所述的有机发光显示装置，其特征在于，所述开/关控制器包括用来产生对应于来自所述第一接线组和所述第二接线组的信号的至少一个移位控制信号的控制信号发生器；以及与所述控制信号发生器的输出端相耦合的移位时钟信号发生器，其中，所述移位时钟发生器能够按照所述移位控制信号来产生第一、第二移位时钟信号。
3.如权利要求1所述的有机发光显示装置，其特征在于，所述晶体管组中的多个晶体管用来按照外部控制信号而保持关闭状态。
4.如权利要求1所述的有机发光显示装置，其特征在于，还包括耦合在所述数据线和所述晶体管组之间的数据分配器，用于按照至少两个选择信号而向所述数据线提供测试信号或数据信号；以及用于把所述数据信号提供给所述数据分配器的数据驱动器。
5.一种用于测试位于母衬底上的多个有机发光显示装置的方法，所述方法包括把垂直控制信号提供给与位于同一列中的所述有机发光显示装置相耦合的第一接线组；把水平控制信号提供给与位于同一行中的所述有机发光显示装置相耦合的第二接线组；产生对应于所述垂直控制信号和所述水平控制信号的第一移位时钟信号和第二移位时钟信号；产生对应于所述第一移位时钟信号和所述第二移位时钟信号的扫描信号；向所述第一接线组或所述第二接线组提供测试信号；以及显示对应于所述扫描信号和所述测试信号的用于测试的图像。
6.如权利要求5所述的方法，其特征在于，产生第一移位时钟信号和第二移位时钟信号包括产生对应于所述垂直控制信号和所述水平控制信号的至少一个移位控制信号；以及产生对应于所述移位控制信号的第一移位时钟信号和所述第二移位时钟信号。
7.如权利要求5所述的方法，其特征在于，进一步包括产生所述扫描信号，从而所述多个有机发光显示装置中的至少一个有机发光显示装置不按照所述垂直控制信号和所述水平控制信号来显示图像。
8.如权利要求7所述的方法，其特征在于，进一步包括关闭关闭所述多个有机发光显示装置中至少一个有机发光显示装置的显示区域中所包括的像素的开关晶体管。
9.如权利要求5所述的方法，其特征在于，进一步包括通过所述第一接线组或所述第二接线组来接收第一时钟信号。
10.如权利要求9所述的方法，其特征在于，进一步包括产生对应于所述垂直控制信号和所述水平控制信号的、与第一时钟信号具有相同波形的第一移位时钟信号以及与第一移位时钟信号具有反相波形的第二移位时钟信号。
11.如权利要求5所述的方法，其特征在于，还包括按照所述第一移位时钟信号和所述第二移位时钟信号来产生发射控制信号以控制用于测试有机发光显示装置中之一的图像的显示。
12.一种用于制造多个有机发光显示装置的方法，包括在母衬底上制造多个有机发光显示装置，其中，每个所述有机发光显示装置包括含有连接到扫描线和数据线的多个像素的显示区域，用于向扫描线提供扫描信号的扫描驱动器，以及包括与所述数据线的一端耦合的多个晶体管的晶体管组；使用在所述母衬底上沿第一方向延伸的第一接线组和沿第二方向延伸的第二连接线组来测试多个所述有机发光显示装置；以及划线分割多个有机发光显示装置使之成为单独的有机发光显示装置，其中，所述每个单独的有机发光显示装置的第一接线组和第二接线组与所述晶体管组和所述扫描驱动器在电气上是断开的。
全文摘要
提供了一种有机发光显示装置及其测试方法。可以使用有机发光显示装置对形成在母衬底上的多个有机发光显示装置的片材单元进行测试。有机发光显示装置可以分别关闭特定的有机发光显示装置。显示区域包括连接到扫描线和数据线的多个像素。扫描驱动器把扫描信号提供给扫描线。外围区域围绕显示区域并包括沿第一方向延伸的第一接线组和沿第二方向延伸的第二接线组。晶体管组包括与数据线的一端耦合的多个晶体管。开/关控制器与第一接线组的至少一根连接线和第二接线组的至少一根连接线耦合。
文档编号H01L21/82GK101051647SQ200710096830
公开日2007年10月10日 申请日期2007年4月4日 优先权日2006年4月7日
发明者金泰逵, 郑镇泰 申请人:三星Sdi株式会社