专利名称：一种测试仪器用高性能射频同轴连接器的制作方法
技术领域：
本发明涉及精密测试技术领域，具体涉及测试仪器用高性能射频同轴连接器。
背景技术：
射频同轴连接器，广泛的应用于微波通信，邮电通讯工程，宇航计测系统，精密测试领域中。对于互调测试仪器用的高性能射频同轴连接器，由于对连接器本身的互调要求很高，要求2@43dBm测试时，互调要求-166dBC，所以目前为止，只有国外几家大公司能够生产此类型的连接器。现有的解决射频同轴连接器互调的办法，通常是用无磁铜棒加工成壳体，然后电镀三元合金，绝缘层采用聚四氟乙烯，内导体用弹性青铜制成，然后电镀银层。目前国内的互调测试仪器用高性能射频同轴连接器，主要依赖国外厂家定制提供，订货，生产周期长，价格昂贵，往往从下单到拿到产品，耗时最短也要半年，这样的供货已严重与我国内的需求相背。而目前国内还没有出现能替代进口连接器的厂家。现用的测试连接器，依靠进口，成本过高，订货周期过长，更换替代受国外厂家限制，给实际测试造成诸多不便。
发明内容
本发明提供一种测试仪器用高性能射频同轴连接器，本发明解决了现用的测试连接器，依靠进口，成本过高，订货周期过长，更换替代受国外厂家限制，给实际测试造成诸多不便的问题。为解决上述问题，本发明采用如下技术方案:一种测试仪器用高性能射频同轴连接器，包括内导体2、绝缘子3和导套5形成的组件，一个内导体2与一个整体的绝缘子3采用紧配合方式，内导体2从左向右压入于绝缘子孔中，在内导体2内孔的右端紧配合一个导套5，内导体2右端面与导套5左端将绝缘子3夹紧；上述形成的组件整体从右向左压配于壳体I的内腔中，绝缘子3与壳体I为过盈配合；衬管4由右向左压入壳体I的内孔中，衬管4左端面顶在绝缘子3右端面边沿，绝缘子3左端边沿顶在壳体I内腔的台阶上。进一步地，本发明的一种测试仪器用高性能射频同轴连接器还具有如下特点:衬管4突出壳体I右端面的距离a的尺寸范围为0.1 0.25mm，衬管4右端面的圆环平面的宽度C尺寸范围为1.5 2mm。本发明是一种互调测试仪器用高性能射频同轴连接器。本发明的高互调测试连接器，全部使用国内现有的材料与装备，加工周期短，实际使用效果能达到进口产品的性能，方便了国内的测试仪器生产厂家研发出性价比更好的仪器，来服务更多的企业。
图1是本发明结构示意图。图中符号说明:壳体1，内导体2，绝缘子3，衬管4，导套5。
具体实施例方式下面用最佳的实施例对本发明做详细的说明。如图1所示，一种测试仪器用高性能射频同轴连接器，包括内导体2、绝缘子3和导套5形成的组件，一个内导体2与一个整体的绝缘子3采用紧配合方式，内导体2从左向右压入于绝缘子孔中，在内导体2内孔的右端紧配合一个导套5，内导体2右端面与导套5左端将绝缘子3夹紧，防止了绝缘子3的串动；上述形成的组件整体从右向左压配于壳体I的内腔中，绝缘子3与壳体I为过盈配合，防止灰尘等细小颗粒物吸附在壳体的内壁上，从而影响产品的互调。一个两端表面高光洁度的衬管4由右向左压入壳体I的内孔中，衬管4左端面顶在绝缘子3右端面边沿，绝缘子3左端边沿顶在壳体I内腔的台阶上。衬管4突出壳体I右端面的距离a的尺寸范围为0.1 0.25mm，衬管4右端面的圆环平面的宽度C尺寸范围为1.5 2mm。本发明主要特点是:(一)衬管4与壳体I右端面之间专门设计了一个互调台阶环,高0.1 0.25mm,圆环平面宽度1.5 2mm,可以保证壳体之间接触良好,从而使测试连接器的互调值长期稳定在较高的水平。(二)绝缘子采用整体结构，与壳体与内导体间均采用紧配合，防止使用过程中的 细小颗粒物吸附到连接器内部，从而保证产品的互调值一直稳定在很高的数值上。本发明与现有进口测试连接器相比的优点是:生产成本低，加工容易，生产周期短，满足了现在国内测试仪器的发展需求。本发明与现有国内其它的测试连接器相比的优点是:专门设计了互调环，采用整体绝缘子，保证了测试连接器的互调性能长期稳定在高水平上。最后应说明的是:显然，上述实施例仅仅是为清楚地说明本发明所作的举例，而并非对实施方式的限定。对于所属领域的普通技术人员来说，在上述说明的基础上还可以做出其它不同形式的变化或变动。这里无需也无法对所有的实施方式予以穷举。而由此所引申出的显而易见的变化或变动仍处于本发明的保护范围之中。
权利要求
1.一种测试仪器用高性能射频同轴连接器，其特征在于，包括内导体(2)、绝缘子(3)和导套(5)形成的组件，一个内导体(2)与一个整体的绝缘子(3)采用紧配合方式，内导体(2)从左向右压入于绝缘子孔中，在内导体(2)内孔的布端紧配合一个导套(5)，内导体(2)右端面与导套(5)左端将绝缘子(3)夹紧； 上述形成的组件整体从右向左压配于壳体(I)的内腔中，绝缘子(3)与壳体(I)为过盈配合； 衬管(4)由右向左压入壳体(I)的内孔中，衬管(4)左端面顶在绝缘子(3)右端面边沿，绝缘子(3)左端边沿顶在壳体(I)内腔的台阶上。
2.如权利要求1所述一种测试仪器用高性能射频同轴连接器，其特征在于，衬管(4)突出壳体(I)右端面的距离(a)的尺寸范围为0.1 0.25mm，衬管(4)右端面的圆环平面的宽度(C)尺寸范围为1.5 2mm。
全文摘要
本发明公开了一种测试仪器用高性能射频同轴连接器，涉及精密测试技术领域，具体涉及测试仪器用高性能射频同轴连接器。包括内导体、绝缘子和导套形成的组件，一个内导体与一个整体的绝缘子采用紧配合方式，内导体从左向右压入于绝缘子孔中，在内导体内孔的右端紧配合一个导套，内导体右端面与导套左端将绝缘子夹紧；上述形成的组件整体从右向左压配于壳体的内腔中，绝缘子与壳体为过盈配合；衬管由右向左压入壳体的内孔中，衬管左端面顶在绝缘子右端面边沿，绝缘子左端边沿顶在壳体内腔的台阶上。本发明解决了现用的测试连接器，依靠进口，成本过高，订货周期过长，更换替代受国外厂家限制，给实际测试造成诸多不便的问题。
文档编号H01R24/40GK103227395SQ201310100089
公开日2013年7月31日 申请日期2013年3月27日 优先权日2013年3月27日
发明者於俊杰, 王云兰 申请人:江苏宏信电子科技有限公司