技术总结
本发明公开了一种使用单一探针测试芯片的多个连接垫的测试装置，该测试装置包含一测试电路、多个短路元件以及多个测试探针。该测试电路用来产生一控制信号至至少一芯片，使该至少一芯片产生多个测试信号。该多个短路元件形成于该至少一芯片周围的切割道上，其中该多个短路元件的每一者用来短路该至少一芯片的多个连接垫，且该多个连接垫包含一待测连接垫及至少一非待测连接垫。该多个测试探针耦接于该多个短路元件及该测试电路，用来通过该多个短路元件，从该待测连接垫接收该多个测试信号，使该测试电路根据该多个测试信号产生一测试结果。
技术研发人员：赖鸿尉;李宗润
受保护的技术使用者：新特系统股份有限公司
文档号码：201610084286
技术研发日：2016.02.14
技术公布日：2017.03.22