本实用新型属于电子显微学元件技术领域,尤其涉及一种透射EBSD(背散射电子衍射)夹具。
背景技术:
电子显微镜的发明将分辨本领提高到纳米量级,同时也将显微镜的概念由单一的形貌观察扩展到集形貌观察、晶体结构、成分分析等于一体。
目前,常规EBSD分析具有空间分辨率低,绝缘样品荷电效应较强的缺点,严重影响分析质量的提高。
技术实现要素:
本实用新型为解决公知技术中存在的目前EBSD分析空间分辨率低,绝缘样品荷电效应强的问题而提供一种结构简单、安装使用方便、提高工作效率的透射EBSD夹具。
本实用新型为解决公知技术中存在的技术问题所采取的技术方案是:
该透射EBSD夹具包括基座,基座为楔形结构,基座的倾斜面上安装有夹体,夹体上设置有通孔,夹头上设置有与通孔相匹配的滑块,夹头通过滑块活动安装在夹体的通孔内。
进一步,所述的基座的底面安装有螺钉孔。
进一步,所述的夹头与基座水平方向的夹角为70°。
进一步,在不拧紧螺钉前提下,所述的滑块可在一定范围内移动,调节夹头的高度。
进一步,所述的夹头由圆柱杆以及顶端3mm环装样品锁定机构组成。
本实用新型具有的优点和积极效果是:该透射EBSD夹具结构简单,将装有样品的透射电镜专用铜网安装在夹头上,通过基座固定在扫描电镜样品台上,方便对样品进行透射EBSD观察,具有空间分辨率高,荷电效应弱的特点,大幅提高分析质量。
附图说明
图1是本实用新型实施例提供的透射EBSD夹具的结构示意图;
图2是本实用新型实施例提供的透射EBSD夹具的剖视图;
图3是本实用新型实施例提供的透射EBSD夹具的夹头结构示意图;
图4是本实用新型实施例提供的透射EBSD夹具的侧视及工作原理图。
图中:1、基座;2、夹体;3、夹头;4、通孔;5、滑块。
具体实施方式
为能进一步了解本实用新型的发明内容、特点及功效,兹例举以下实施例,并配合附图详细说明如下:
下面结合图1至图4对本实用新型的结构作详细的描述。
通过基座1下端的螺钉孔将基座1固定在扫描电镜样品台上,通过夹头3将装有样品的透射电镜专用铜网进行固定,通过滑块5将夹体2固定在夹体2的通孔4内。
因为样品台透射EBSD夹具的倾斜角度为70°,可直接实现样品的透射EBSD观察,不需要倾斜扫描电镜样品台。使用该夹具进行透射EBSD观察,具有空间分辨率高,荷电效应弱的特点,相对于常规EBSD分析方法,可大幅提高分析质量。
以上所述仅是对本实用新型的较佳实施例而已,并非对本实用新型作任何形式上的限制,凡是依据本实用新型的技术实质对以上实施例所做的任何简单修改,等同变化与修饰,均属于本实用新型技术方案的范围内。