一种低介电常数碳膜电阻的制作方法

技术特征：

1.一种低介电常数碳膜电阻，其特征在于：包括如下组分及重量份数：

40～50石墨；

18～30PA6；

20～25滑石粉；

8～20增韧剂；

12～18阻燃剂；

30～40Mn₂O₃；

3～11Al₂O₃ ；

3～8 AgNO₃ ；

2～4B₂O₃；

1～3Bi₂O₃ ；

1～2SiO₂。

2. 根据权利要求1 所述的一种低介电常数碳膜电阻，其特征在于：所述AgNO₃为6份。

3.根据权利要求2所述的一种低介电常数碳膜电阻，其特征在于：所述石墨为45份。

4.根据权利要求3所述的一种低介电常数碳膜电阻，其特征在于：所述增韧剂为15份。

5.根据权利要求4所述的一种低介电常数碳膜电阻，其特征在于：所述滑石粉为23份。

6.根据权利要求5所述的一种低介电常数碳膜电阻，其特征在于：所述PA6为28份。

7.根据权利要求6所述的一种低介电常数碳膜电阻，其特征在于：所述Mn₂O₃为35份。

8.根据权利要求7所述的一种低介电常数碳膜电阻，其特征在于：所述Al₂O₃为7份。

9.根据权利要求8所述的一种低介电常数碳膜电阻，其特征在于：所述Bi₂O₃为2份。

10.根据权利要求9所述的一种低介电常数碳膜电阻，其特征在于：所述SiO₂为1.5份。