挠性薄膜结构的显示元件的光学检查方法及虚拟端子单元的制作方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及被贴合光学功能膜的挠性薄膜结构的显示元件的检查方法及该方法所使用的虚拟端子单元。特别是，本发明涉及有机EL显示元件这样的能够形成为挠性薄膜结构、且被贴合光学功能膜的显示元件的检测方法及该方法所使用的虚拟端子单元，但其不为限定性的含义。
【背景技术】
[0002]有机EL显示元件因为能够形成为挠性薄膜结构，所以还可以将使用该显示元件的显示装置构成为曲面，或者挠性地构成整个显示装置，使之能够卷绕成卷筒或弯折。该种显示元件一般是通过在玻璃基板这样的耐热性基板上形成聚酰亚胺树脂这样的树脂的膜，利用该树脂膜作为形成膜状显示元件所用的基材，并在该基材上形成显示元件来进行制造的。在这样制造的显示元件的显示面上，经由粘接剂层贴合光学功能膜。
[0003]另外，在智能手机或平板电脑大小的显示装置中所使用的较小尺寸的显示元件，是通过在一个基板上形成多个元件而制造的。作为对工业制造这种较小画面尺寸的有机EL显示元件的方法进行记载的文献，具有韩国专利申请公开公报10-1174834号(专利文献1)。根据该专利文献1所记载的方法，在玻璃基板上形成聚酰亚胺树脂这样的树脂的膜，利用该树脂膜作为形成膜状显示元件所用的基材。然后，在该基材上形成配置为纵横多列的大量显示元件，利用工序膜覆盖其整个面，接着，将形成有该显示元件的基材从玻璃基板上剥离。之后，在贴合有工序膜的状态下，分割各个膜状显示元件，在对应端子部分的位置，剥离该工序膜以使具有形成于各个膜状显示元件一边的电连接用电气端子的端子部分露出，由此形成各个膜状显示元件。
[0004]对于按照上述方法形成的显示元件，要进行光学检查。该光学检查通常是在基于反射光的表面缺陷检查、以及通过向显示元件施加激发电力而使该显示元件为激发状态、检查该显示元件的动作是否正常的点灯检查这两个步骤中进行的。在后者的点灯检查中，为了向各显示元件施加激发电力，使用具有与该显示元件的电连接端子连接的电连接端子的虚拟端子。
[0005]当在显示元件的激发状态下完成缺陷检查时，若在刚刚制造该显示元件之后的状态下进行该检查，则存在异物附着于显示元件的显示面而使显示元件的功能变差的隐患。因此，通常是在显示元件的前表面贴合保护膜再进行检查。但是，若使用保护膜，则需要在后续的工序中剥去该保护膜，工时增加。因此，考虑在将光学功能膜贴合于显示面之后进行检查，但在显示面贴合了光学功能膜的状态下，不能进行精密的激发状态检查。
[0006]并且，在将多个显示元件在元件母板上配置为纵横的矩阵状的结构的情况下，若逐个使各个显示元件为激发状态来进行检查，则检查所需要的时间与劳动力将会增加，并不优选。
[0007]专利文献1:韩国专利申请公开公报10-1174834号
[0008]专利文献2:国际公开公报W02009/104371A1
[0009]专利文献3:(日本)特开2007-157501号公报
[0010]专利文献4:(日本)特开2013-63892号公报
[0011]专利文献5:(日本)特开2010-13250号公报
[0012]专利文献6:(日本)特开2013-35158号公报
[0013]专利文献7:(日本)特愿2013-070787号
[0014]专利文献8:(日本)特愿2013-070789号
[0015]专利文献9:(日本)专利第5204200号
[0016]专利文献10:(日本)专利第5448264号
【发明内容】
[0017]为了应对上述状况，本发明所要解决的技术问题在于，提供一种能够在不向形成于树脂基材上的挠性薄膜结构的显示元件贴合保护膜的前提下在激发状态下对显示元件进行缺陷检查的检查方法。
[0018]并且，本发明的另一技术问题在于，提供一种能够在元件母板上形成有多个显示元件的结构中高效地完成显示元件的激发状态检查的方法。
[0019]本发明的另一其他技术问题在于，提供一种显示元件在形成有多个显示元件的元件母板上的激发状态下的缺陷检查所使用的虚拟端子单元。
[0020]本发明提供一种能够解决上述技术问题的挠性薄膜结构的显示元件的光学检查方法。该方法包括:
[0021]对至少包括由树脂基材和形成于该树脂基材上的、为挠性薄膜结构且具有显示面的至少一个显示元件构成的元件母板的母板结构体，以该显示元件的显示面朝上的状态在输送方向上进行输送的步骤；
[0022]在沿该输送方向输送的母板结构体的显示元件的显示面上形成粘接剂层的步骤；
[0023]向在显示元件的显示面上形成有粘接剂层的显示元件供给激发电力而使该显示元件为激发状态，对处于激发状态的该显示元件进行缺陷检查的步骤；
[0024]向完成了缺陷检查的所述显示元件的显示面上所形成的所述粘接剂层上贴合光学功能膜的步骤。
[0025]在该情况下，优选的是，显示元件的显示面形成为具有两个短边和两个长边的矩形形状，该显示元件为沿短边及长边中的一个边形成有端子部分的结构，该端子部分具有电连接端子，以该显示元件的端子部分相对于输送方向朝向横向的状态在该输送方向上输送元件母板。
[0026]并且，在另一优选方式中，元件母板至少包括一个与输送方向平行的配置成纵向列的多个显示元件的纵列，显示元件在激发状态下被进行的缺陷检查，是通过使利用外框和设于该外框内的梁部件而形成有与显示元件的显示面对应的窗、且沿该窗各自的一个边而配置有与显示元件的端子部分的电连接端子对应的电连接端子的虚拟端子单元重叠于该元件母板，将该虚拟端子单元的电连接端子与显示元件的电连接端子连接，并向该虚拟端子单元供给激发电力来进行的，外框为与元件母板的周边对应的形状。
[0027]并且，在另一优选方式中，元件母板包括多列与输送方向平行的配置成纵向列的多个显示元件的纵列，显示元件在激发状态下进行的缺陷检查，是通过使利用外框和设于该外框内的横梁及纵梁以呈纵横的矩阵状的方式而形成与显示元件的显示面对应的窗、且沿该窗各自的一个边配置有与显示元件的端子部分的电连接端子对应的电连接端子的虚拟端子单元重叠于该元件母板，将该虚拟端子单元的电连接端子与显示元件的电连接端子连接，并向该虚拟端子单元供给激发电力来进行的，外框为与元件母板的周边对应的形状。
[0028]在本发明中，可以如下:元件母板至少包括与输送方向平行的配置成纵向列的多个显示元件，多个显示元件的端子部分全部以相对于输送方向朝向横向的状态被在该输送方向上输送。光学功能膜至少可以包括偏光片。在该情况下，优选的是，光学功能膜为偏光片与1/4波长相位差膜的层叠体，该层叠体以1/4波长相位差膜面对显示元件的方式贴合在显示面上。显示元件可以为有机EL显示元件。
[0029]在本发明的另一其他方式中，提供了一种虚拟端子单元，其为激发电力施加用的，该虚拟端子单元针对包括使多个显示元件被配置成纵向列而成的多列显示元件纵列的元件母板而使用，是为了使该元件母板上的多个该显示元件同时为激发状态来进行该显示元件的缺陷检查而使用的，所述显示元件为具有包括两个短边和两个长边的矩形形状的显示面、且沿该短边及长边中的一个边形成有端子部分的结构，所述端子部分具有电连接端子。该虚拟端子单元包括:外框，其为与元件母板的周边对应的形状；横梁及纵梁，其设于该外框内；窗，其由该横梁及纵梁形成，与多个显示元件的显示面分别对应；激发电力供给用电连接端子，其沿该窗各自的一个边配置在与显示元件的端子部分的电连接端子对应位置；激发电力源连接部，其用于向该激发电力供给用电连接端子供给激发电力。
[0030]根据本发明的方法，在在激发状态下检查显示元件的情况下，是在该显示元件的显示面上形成有粘接剂层的状态下进行检查，因此，能够使粘接剂层作为保护层而发挥作用，与使用保护膜的情况相比，能够省去保护膜剥离工序。另外，由于是在向显示面上贴合光学功能膜之前进行激发状态下的检查，因此，与贴合光学功能膜之后进行检查相比，能够进行精密的检查。
[0031]并且，本发明的虚拟端子单元能够使元件母板上的多个显示元件同时为激发状态，因此能够进彳丁尚效的检查。
【附图说明】
[0032]图1是表示能够在本发明一实施方式的方法中使用的光学显示元件的一例的俯视图。
[0033]图2是示意性地表示具有较小型显示画面的有机EL显示元件的制造工序的一例的立体图。
[0034]图3(a)、(b)表示应用本发明的方法的元件集合体母板的一例，(a)为俯视图，(b)为剖面图。
[0035]图4(a)、(b)、(c)、(d)是表示表面保护膜剥离动作的各步骤的图。
[0036]图5 (a)、(b)是表示光学检查装置的结构的概况图，(a)表示反射检查装置，(b)表示点灯检查装置。
[0037]图6(a)、(b)是表示图2所示的元件集合体母板的点灯检查所用的虚拟端子单元的俯视图。
[0038]图7是表示使用图6所示的虚拟端子单元进行点灯检查的状态的立体图。
[0039]图8是表示整个粘接剂层施加机构的侧视概况图。
[0040]图9 (a)、(b)、(c)、(d)、(e)是表示本发明一实施方式的、粘接剂片在元件集合体母板上的贴合顺序的概况图。
[0041]图10是用于实施本发明的光学功能膜贴合方法的、一实施方式的光学显示面板制造装置的概况图。
[0042]图11是表示光学功能膜的一例的剖面放大图。
[0043]图12是用于实施本发明的光学功能膜贴合方法的、另一实施方式的装置的概况图。
[0044]图13是表示显示元件被配置成纵向一列的实施方式中的粘接剂层施加的一例的立