电子装置与其比较器的制造方法
【专利摘要】本发明公开了一种电子装置与其比较器，该电子装置包含取样单元与放大单元。取样单元选择性地对第一输入信号与第二输入信号进行取样，并产生差值信号。放大单元接收差值信号并产生输出信号，其中放大单元经由第一预设电压、第二预设电压、第一系统供应电压与第二系统供应电压所驱动。第一预设电压用以设置放大单元的操作点，且第二预设电压大于第一系统供应电压。
【专利说明】电子装置与其比较器
【技术领域】
[0001]本发明是有关于一种电子装置，且特别是有关于一种比较器。
【背景技术】
[0002]比较器常被利用在各种感测应用中，例如触控面板的感测电路等等。比较器用以对输入信号与参考电压进行比较，以产生比较结果。
[0003]目前常见的比较器多以互补式金属氧化物半导体(CMOS)等方式进行实现。然而，利用CMOS实现的比较器的架构通常会利用到P型晶体管与N型晶体管，因此需要用到较繁琐的制造程序，而使成本增加。此外，若CMOS的制造程序出现变异，可能会使得比较器的操作失效或产生错误的比较结果。
[0004]因此，如何能有效降低比较器的制造成本与操作可靠度，实属当前重要研发课题之一，亦成为当前相关领域亟需改进的目标。
【发明内容】
[0005]本
【发明内容】
的一态样系于提供一种电子装置。电子装置包含取样单元与放大单元。取样单元用以选择性地对第一输入信号与第二输入信号进行取样，并产生差值信号。放大单元用以接收差值信号并产生输出信号，其中放大单元经由第一预设电压、第二预设电压、第一系统供应电压与第二系统供应电压所驱动。第一预设电压用以设置放大单元的操作点，且第二预设电压大于第一系统供应电压。
[0006]综上所述，本
【发明内容】
所公开的电子装置能够在制程变异下藉由多种电压设置方式有效地提升操作可靠度。
【专利附图】
【附图说明】
[0007]为让本发明的上述和其他目的、特征、优点与实施例能更明显易懂，附图的说明如下:
[0008]图1A为根据本
【发明内容】
的一实施例绘示比较器的示意图；
[0009]图1B为根据本
【发明内容】
的一实施例绘示图1A中的比较器的操作时序图；
[0010]图2为根据本
【发明内容】
的一实施例绘示一种放大单元的示意图；
[0011]图3A为根据本
【发明内容】
的一实施例绘示一种放大单元的示意图；
[0012]图3B为根据本
【发明内容】
的一实施例绘示图3A的放大单元在预设电压调整前的电压增益与差值信号的关系曲线图；
[0013]图3C为根据本
【发明内容】
的一实施例绘示图3A的放大单元在预设电压调整后的电压增益Q与差值信号的关系曲线图；
[0014]图4为根据本
【发明内容】
的一实施例绘示一种放大单元的示意图；
[0015]图5为根据本
【发明内容】
的一实施例绘示一种光感测系统的应用示意图；以及
[0016]图6为根据本
【发明内容】
的一实施例绘示一种霍尔感测装置的应用示意图。
[0017]为让本
【发明内容】
能更明显易懂，所附符号的说明如下:
[0018]100:比较器140、200、300、400:放大单元
[0019]VIN1、VIN2:输入信号VC1、VC2:控制信号
[0020]VSIG:差值信号α:偏移值
[0021]VINIT、VCC、VEE:预设电压501、502:光感测器
[0022]Tl、T2、T3、T4、T5、T6、SffU Sff2, SW3:开关
[0023]VCCl、VINITl、VEEl、VSl、VS3:电压 120:取样单元
[0024]142:放大电路VOUT:输出信号
[0025]Q:电压增益A、B:节点
[0026]VDD、VSS:系统供应电压光感测装置:500
[0027]光罩:503霍尔感测装置:600
[0028]霍尔元件:601C:电容
[0029]IDSl、IDS2、IDS3、IDS4、IDS6、IFl、IF2:电流
【具体实施方式】
[0030]下文举实施例配合附图作详细说明，但所提供的实施例并非用以限制本发明所涵盖的范围，而结构操作的描述非用以限制其执行的顺序，任何由元件重新组合的结构，所产生具有均等功效的装置，皆为本发明所涵盖的范围。此外，附图仅以说明为目的，并未依照原尺寸作图。为使便于理解，下述说明中相同元件将以相同的符号标示来说明。
[0031]另外，关于本文中所使用的“耦接”或“连接”，均可指二或多个元件相互直接作实体或电性接触，或是相互间接作实体或电性接触，亦可指二或多个元件相互操作或动作。
[0032]请参照图1A，图1A为根据本
【发明内容】
的一实施例绘示比较器100的示意图。如图1A所示，比较器100包含取样单元120与放大单元140。取样单元120用以选择性地对输入信号VINl与输入信号VIN2进行取样，并产生差值信号VSIG。放大单元140电性耦接取样单元120，并用以接收差值信号VSIG，以产生输出信号V0UT。
[0033]于本
【发明内容】
的各个实施例中，放大单元140设置以经由预设电压VINIT、预设电压VCC、系统供应电压VDD与系统供应电压VSS所驱动。上述的预设电压VINIT可用以设置放大单元140的操作点，其中预设电压VCC设置以高于系统供应电压VDD，系统供应电压VDD设置以高于系统供应电压VSS。藉由上述的配置方式，当放大单元140的内部元件因制程误差或长期使用产生变异时，可相应地将预设电压VINIT与预设电压VCC —起调高或调低，以降低内部元件变异的影响。如此，放大单元140操作可靠度得以改善。此处的相关操作将在后续段落详细说明。
[0034]如图1A所示，于一些实施例中，取样单元120包含开关SWl、开关SW2与电容C。开关SWl的第一端用以接收输入信号VINl，且开关SWl的控制端用以接收控制信号VCl。开关SW2的第一端用以接收输入信号VIN2，且开关SW2的控制端用以接收控制信号VC2，其中上述的控制信号VCl与控制信号VC2设置为反相。电容C的第一端(亦即节点A)电性耦接至开关SWl的第二端与开关SW2的第二端。
[0035]再者，放大单元140包含开关SW3与放大电路142。开关SW3的第一端电性耦接电容C的第二端(亦即节点B)，开关SW3的第二端用以接收预设电压VINIT，且开关SW3的控制端用以接收控制信号VC1。放大电路142电性耦接至开关SW3的第一端(即节点B)，并根据控制信号VCl的时序接收差值信号VSIG与预设电压VINIT。例如，放大电路142可在开关SW3被控制信号VCl导通时接收预设电压VINIT，并在开关SW3被控制信号VCl关闭时接收差值信号VSIG与预设电压VINIT迭加后的信号，进而产生输出信号VOUT。
[0036]以功能而言，开关SWl用以根据控制信号VCl选择性地导通，以将输入信号VINl传送至电容C进行储存。同样地，开关SW2可根据控制信号VC2选择性地导通，已将输入信号VIN2传送至电容C进行储存。电容C可根据所储存的控制信号VCl与控制信号VC2而输出差值信号VSIG。而开关SW3则根据控制信号VCl选择性地导通，以将预设电压VINIT传送至电容C的第二端，藉此调整差值信号VSIG的信号位准，进而设置放大电路142的操作点。
[0037]图1B为根据本
【发明内容】
的一实施例绘示图1A中的比较器100的操作时序图。为了方便说明，请一并参照图1A与图1B。
[0038]于时间Tl时，控制信号VCl切换至高位准电压，开关SWl与开关SW3因此导通。输入信号VINl可经由开关SWl传送至电容C，而使节点A的电压位准切换至输入信号VINl的位准。同时，预设电压VINIT经由开关SW3传送至电容C，而使节点B的电压位准切换至预设电压VINIT的位准。
[0039]于时间T2时，控制信号VCl切换至低位准电压，开关SWl与开关SW3因此关断，节点A的电压位准仍维持在输入信号VINl的电压位准，且节点B的电压位准亦维持在预设电压VINIT的电压位准。
[0040]于时间T3时，控制信号VC2切换至高位准电压，开关SW2因此导通。输入信号VIN2可经由开关SW2传送至电容C，而使节点A的电压位准由输入信号VINl的位准切换至输入信号VIN2的位准，此电位差的变化即为差值信号VSIG，亦即差值信号VSIG = VIN2-VIN1。同时，由于电容C的特性，节点B上亦会产生相同的电位差的变化，节点B的电压位准因此由预设电压VINIT的电压位准往上提升了相同的电位差(亦即约为差值信号VSIG的振幅)。因此，放大电路142可将此差值信号VSIG进行放大。若放大电路142的电压增益为Q，则可输出Q倍的差值信号VSIG，亦即输出信号VOUT = Q*VSIG。
[0041 ] 如图1B所示，若当输入信号VIN2大于输入信号VINl，则比较器100可输出具有高位准电压的输出信号VOUT。反之，若当输入信号VIN2小于输入信号VINl，则比较器100可输出具有低位准电压的输出信号VOUT。因此，可藉由输出信号VOUT的电压位准得知输入信号VINl与输入信号VIN2的比较结果。
[0042]本
【发明内容】
以下段落将提出数个实施例，可用以实现上述的放大单元140所述的功能与操作，但本
【发明内容】
并不仅以下列的实施例为限。
[0043]请参照图2，图2为根据本
【发明内容】
的一实施例绘示一种放大单元200的示意图。如图2所示，放大单元200中的放大电路142包含开关Tl与开关T2。开关Tl的第一端用以接收系统供应电压VDD，开关Tl的第二端用以产生输出信号V0UT，且开关Tl的控制端用以接收预设电压VCC。开关T2的第一端电性耦接开关Tl的第二端，且开关T2的第二端用以接收系统供应电压VSS，即输出信号VOUT皆电性耦接开关Tl的第二端与开关T2的第一端，且开关T2的控制端用以接收差值信号VSIG。
[0044]实作上，前述的开关Tl与开关T2各自具有临界电压(thresholdvoltage) VTH。于正常操作下，预设电压VCC会设置为大于系统供应电压VDD与临界电压VTH之和的电压VCC1，亦即VCC = VCCDVDD+VTH，且预设电压VINIT设置为电压VINITl。如图2所示，预设电压VINT施加于开关T2的控制端，藉此设置放大电路142的操作点。因此，可视实际需求调整电压VINITl的值，以将放大电路142操作于适当的操作条件。当制程产生变异或元件老化，而使得开关Tl与开关T2的临界电压VTH产生变异时，可藉由调整预设电压VINIT与预设电压VCC，以改善放大单元140的可靠度。
[0045]举例而言，比较器100可应用于触控面板的感测电路中。在正常操作时，经由上述的电压设置，开关T2操作于饱和区，而开关Tl操作于线性区，因此开关T2的电流IDS2与开关Tl的电流IDSl可分别表示为下式(I)与式(2)，其中β为开关Tl与开关Τ2的制程参数:
[0046]IDS2 = (β /2) X [ (VINT1+VSIG-VSS) -VTH]2— (I)
[0047]IDSl = (β /2)X[(VCC1-VOUT)-VTH-1/2(VDD-VOUT)]X (VDD-VOUT)…(2)
[0048]在多个触控面板制造完成后，透过对各个面板进行测试，可得知各个面板的元件是否有出现变异。假设因为制程变异，使得其中一个面板所对应的感测电路中的开关Tl与开关T2的临界电压VTH相较其他面板的开关Tl与开关T2的临界电压VTH产生了偏移值α，其中α可为任意值。此时开关Τ2的IDS2A与开关Tl的电流IDSlA可分别表示为下式
(3)与式(4):
[0049]IDS2A = ( β /2) X [ (VINIT1+VSIG-VSS) - (VTH+ a ) ]2...(3)
[0050]IDSlA = ( β /2) X [ (VCC1-VOUT) - (VTH+ α )-1/2 (VDD-VOUT) ] X (VDD-VOUT)…(4)
[0051]上述偏移值α可藉由自动测试设备对各个面板进行各种电性参数(例如电压、电流、临界电压等等)量测而得知。为了避免制程变异造成放大单元120的电压增益Q偏移或操作失效，于此实施例中，可将预设电压VINT设置为电压VINTl与偏移值α的总和，亦即VINT = VINTl+α，并将预设电压VCC设置为电压VCCl与偏移值α的总和，亦即VCC =VCCl+α。将调整后的预设电压VINT与预设电压VCC再次带入上述的式(3)与式(4)，可得到原先的式(I)与式(2)。也就是说，藉由上述的配置，可改善制程变异或元件老化对开关Tl与开关Τ2带来的影响，进而使开关Tl与开关Τ2可保持稳定的操作电流。上述调整电压的操作，可藉由自动化测试设备或控制器所完成，但本
【发明内容】
并不以此为限。
[0052]请参照图3Α，图3Α为根据本
【发明内容】
的一实施例绘示一种放大单元300的示意图。在上述图2的放大单元200中的放大电路142为单级放大器。在一些实施例中，放大电路142包含了多级串接的放大器，以具有更高的电压增益Q。举例而言，相较于放大单元200，放大单元300更经预设由电压VEE所驱动，且放大单元300中的放大电路142更包含开关Τ3、开关Τ4、开关Τ5与开关Τ6。其中开关Tl与开关Τ2构成第I级放大器，开关Τ3与开关Τ4构成了第2级放大器，且开关Τ5与开关Τ6构成了第3级放大器。上述仅为例示，本
【发明内容】
并不以此为限，本领域的技术人员可根据所需要的电压增益Q而选择相应的放大电路142的架构。
[0053]具体而言，开关Tl的第一端用以接收系统供应电压VDD，且开关Tl的控制端用以接收预设电压VCC。开关Τ2的第一端电性耦接开关Tl的第二端，且开关Τ2的第二端用以接收系统供应电压VSS，且开关Τ2的控制端用以接收差值信号VSIG。开关Τ3的第一端用以接收预设电压VCC，开关Τ3的控制端亦用以接收预设电压VCC。开关Τ4的第一端电性耦接开关T3的第二端，开关Τ4的第二端用以接收预设电压VEE，且开关Τ4的控制端电性耦接开关Tl的第二端，即开关Τ4的控制端皆电性耦接开关Tl的第二端与开关Τ2的第一端。开关Τ5的第一端用以接收系统供应电压VDD，开关Τ5的第二端用以产生输出信号VOUT，且开关Τ5的控制端电性耦接开关Τ3的第二端，即开关Τ5的控制端皆电性耦接开关Τ3的第二端与开关Τ4的第一端。开关Τ6的第一端电性耦接开关Τ5的第二端，开关Τ6的第二端用以接收预设电压VEE，且开关Τ6的控制端电性耦接开关Τ4的控制端，即开关Τ6的控制端皆电性耦接开关Τ4的控制端、开关Tl的第二端与开关Τ2的第一端。
[0054]在正常操作下，预设电压VEE设置为大于等于供应电压VSS与临界电压VTH的和的电压VEEl，亦即电压VEEl ≥ VSS+VTH，以使开关Τ3、开关Τ4与开关Τ6皆操作于饱和区。因此开关Τ3的电流IDS3、开关Τ4的电流IDS4与开关Τ6的电流IDS6可分别表示为下式
(5)、式(6)与式(7)，其中β为开关Tl~Τ6的制程参数，VSl为开关Tl的第二端的电压，VS3为开关Τ3的第二端的电压:
[0055]IDS3 = (β /2) X [ (VCC1-VS3) -VTH]2…(5)
[0056]IDS4 = (β/2) X [(VSl-VEEl)-VTH]2…(6)
[0057]IDS6 = (β /2) X [ (VS1-VEEI)-VTH]2…(7)
[0058]若感测电路中的多个开关Tl~T6的临界电压VTH因制程变异产生偏移值α，此时开关Τ3的IDS3A、开关Τ4的电流IDS4A与流经开关Τ6的电流IDS6A可分别表示为下式
(8)、式(9)与式(10):
[0059]IDS3A = ( β /2) X [ (VCC1-VS3) - (VTH+ α )]2— (8)
[0060]IDS4A = (β /2) X [ (VSl-VEEl) - (VTH+α ) ]2— (9)
[0061]IDS6A = (β/2) X [(VSl-VEEl)-(VTH+α )]2...(10)
[0062]同样地，为了避免制程变异的影响，可将预设电压VCC设置为电压VCCl与偏移值α的总和，亦即VCC = VCCl+α，并将预设电压VEE设置为电压VEEl与偏移值α的差值，亦即VEE = VEEl- α。将调整后的预设电压VCC与预设电压VEE再次带入上述的式(8)、式
(9)与式(10)，可得到原先的式(5)、式(6)与式(7)。
[0063]由于开关Tl与开关Τ2与先前放大单元200类似，其操作电流的关系亦相同于前述的式(I)~式(4)，故于此不再赘述。藉由上述的多个预设电压的配置方式，可有效地改善开关Tl、开关Τ2、开关Τ3、开关Τ4与开关Τ6受到变异的影响。
[0064]图3Β为根据本
【发明内容】
的一实施例绘示图3Α的放大单元300在预设电压调整前的电压增益Q与差值信号VSIG的关系曲线图。图3C为根据本
【发明内容】
的一实施例绘示图3Α的放大单元300在预设电压调整后的电压增益Q与差值信号VSIG的关系曲线图。
[0065]请一并参照图3Α与图3Β，其中假设上述的偏移值α分别为+3V、+2V、+1V、-1V、-2V与-3V。如图3A所示，在预设电压VINIT、预设电压VCC与预设电压VEE尚未进行调整前，若多个开关Tl~T6产生变异，会让放大单元300的电压增益Q产生约2~10的变动。若当放大单元300的电压增益Q过大，可能会使输出信号VOUT过饱和，而使触控面板的感测电路的操作失效。
[0066]相反地，如图3C所示，在预设电压VINIT、VCC与VEE进行调整后，可看出放大单元300的电压增益Q因制程变异的影响所产生变化范围明显变小，电压增益Q皆可稳定落约在6~7的数值范围。
[0067]请参照图4,图4为根据本
【发明内容】
的一实施例绘示一种放大单元400的示意图。相较于图3A中的放大单元300，放大单元400的开关T3的第一端设置以接收系统供应电压VDD。于此例中，开关T3改操作于线性区，而达到不同的电压增益Q的应用。其中，放大单元400内的其余元件与其相关操作与上述图2与图3A所示的实施例类似，故相关描述于此不再重复赘述。
[0068]若当制程产生变异，开关T3的电流IDS3可表示为下式(11):
[0069]IDS3 = ( β /2) X [ (VCC-VS3) - (VTH+ α )-1/2 (VDD-VS3) ] X (VDD-VS3)…(I I)
[0070]同样地，预设电压VCC可设置为电压VCCl与偏移值α的总和，亦即VCC =VCCl+α，而降低电流IDS3的变异。
[0071]值得注意的是，上述放大单元200、300或400的架构仅利用到单一类型的开关，因此可使制程成本降低，并可具有较佳的良率。本领域的技术人员可根据实际需求所需的电压增益或电路成本而选择使用上述放大单元200、300或400的架构。上述放大单元200、300或400的架构仅为例示，本
【发明内容】
并不以此为限，本领域的技术人员可相应置换其内部开关元件，以达成不同电压增益。
[0072]于本
【发明内容】
的各个实施例中，各个开关可为各类型的晶体管，例如为金属氧化物半导体场效晶体管(MOSFET)、底栅型晶体管、顶栅型晶体管、薄膜晶体管等等。上述仅为例示，本发明并不以此为限
[0073]请参照图5，图5为根据本
【发明内容】
的一实施例绘示一种光感测系统500的应用示意图。本
【发明内容】
所示的比较器100可应用于多种电子装置，例如前述的触控面板的感测电路、光感测装置、霍尔感测装置等应用。举例而言，如图5所示，光感测装置500包含光感测器501、光感测器502、光罩503与比较器100。光感测器501与光感测502可为光电二极管、光敏电阻等等。光感测器501用以侦测待测环境的光强度而产生输入信号VINl。光罩503设置在光感测器502上，以使光感测器502仅侦测待测环境的背景杂讯，以输出输入信号VIN2。如此，利用比较器100所输出的输出信号V0UT，可得知滤除背景杂讯后的光强度。其中，取样单元(例如:图1A中的取样单元120)与放大单元(例如:图1A中的放大单元140)的操作与前述图1A所示的实施例相同，故相关描述不再重复赘述。
[0074]请参照图6，图6为根据本
【发明内容】
的一实施例绘示一种霍尔感测装置600的应用示意图。如图6所示，霍尔感测装置600包含霍尔元件601与比较器100。霍尔元件601用以根据电流IFl与电流IF2产生不同数值的输入信号VINl与输入信号VIN2。当输出信号VOUT越大，代表输入信号VINl与输入信号VIN2的电压差越大，亦即因电流IFl与电流IF2产生的磁场越大。如此，可藉由比较器100量测出霍尔元件100的两端产生的磁场强度。其中，取样单元(例如:图1A中的取样单元120)与放大单元(例如:图1A中的放大单元140)的操作与前述图1A所示的实施例相同，故相关描述不再重复赘述。
[0075]综上所述，本
【发明内容】
所发明的比较器可具有多种应用，并能够在制程变异下藉由多种电压设置方式有效地提升操作可靠度。
[0076]虽然本
【发明内容】
已以实施方式公开如上，但其并非用以限定本发明，任何本领域的技术人员，在不脱离本
【发明内容】
的精神和范围内，当可作各种的更动与修改，因此本
【发明内容】
的保护范围当视后附的权利要求书保护范围所界定者为准。
【权利要求】
1.一种电子装置，其特征在于，包含: 一取样单元，用以选择性地对一第一输入信号与一第二输入信号进行取样，并产生一差值信号；以及 一放大单元，用以接收该差值信号并产生一输出信号，其中该放大单元经由一第一预设电压、一第二预设电压、一第一系统供应电压与一第二系统供应电压所驱动， 其中该第一预设电压用以设置该放大单元的一操作点，且该第二预设电压大于该第一系统供应电压。
2.如权利要求1所述的电子装置，其特征在于，该放大单元包含一开关，具有一临界电压，于正常操作时，该第一预设电压为一第一电压，该第二预设电压为大于该第一系统供应电压与该临界电压的总和的一第二电压，当该开关发生变异时，该第一预设电压设置为该第一电压与该临界电压的一偏移值的总和，且该第二预设电压设置为该第二电压与该偏移值的总和。
3.如权利要求1所述的电子装置，其特征在于，该取样单元包含: 一电容，用以产生该差值信号； 一第一开关，用以根据一第一控制信号选择性导通，以传送该第一输入信号至该电容；以及 一第二开关，用以根据一第二控制信号选择性导通，以传送该第二输入信号至该电容，其中该第一控制信号与该第二控制信号为反相。
4.如权利要求3所述的电子装置，其特征在于，该放大单元包含: 一第三开关，用以根据该第一控制信号选择性导通而传送该第一预设电压至该电容，以调整该差值信号的位准。
5.如权利要求4所述的电子装置，其特征在于，该放大单元还经由一第三预设电压所驱动，该第三预设电压大于等于该第二系统供应电压，该放大单元更包含多个开关，每一该些开关包含一第一端、一第二端与一控制端，该些开关包含: 一第四开关，其中该第四开关的该第一端用以接收该第一系统供应电压，且该第四开关的该控制端用以接收该第二预设电压； 一第五开关，其中该第五开关的该第一端电性耦接该第四开关的该第二端，该第五开关的该第二端用以接收该第二系统供应电压，且该第五开关的该控制端用以接收该差值信号; 一第六开关，其中该第六开关的该第一端用以接收该第二预设电压或该第一系统供应电压，且该第六开关的该控制端用以接收该第二预设电压； 一第七开关，其中该第七开关的该第一端电性耦接该第六开关的该第二端，该第七开关的该第二端用以接收该第三预设电压，且该第七开关的该控制端电性耦接该第四开关的该第二端； 一第八开关，其中该第八开关的该第一端用以接收该第一系统供应电压，该第八开关的该第二端用以输出该输出信号，且该第八开关的该控制端电性耦接该第六开关的该第二端；以及 一第九开关，其中该第九开关的该第一端电性耦接该第八开关的该第二端，该第九开关的该第二端用以接收该第三预设电压，且该第九开关的该控制端电性耦接该第四开关的该第二端。
6.如权利要求5所述的电子装置，其特征在于，于正常操作时，该第三预设电压为一第一电压，当该些开关发生变异时，该第一预设电压设置为该第一电压与该些开关的一临界电压的一偏移值的总和，该第二预设电压设置为该第二电压与该偏移值的总和，且该第三预设电压设置为该第一电压与该偏移值的差值。
7.如权利要求4所述的电子装置，其特征在于，该放大单元还包含: 一第四开关，包含一第一端、一第二端与一控制端，其中该第四开关的该第一端用以接收该第一系统供应电压，该第四开关的该 第二端用以产生该输出信号，且该第四开关的该控制端用以接收该第二预设电压；以及 一第五开关，包含一第一端、一第二端与一控制端，其中该第五开关的该第一端电性率禹接该第四开关的该第二端，该第五开关的该第一端用以接收该第二系统供应电压，且该第五开关的该控制端用以接收该差值信号。
8.—种比较器,该比较器具有一输出端，用以输出一输出信号，其特征在于，该比较器包含: 一第一开关，包含一第一端、一第二端与一控制端，其中该第一开关的该第一端用以接收一第一输入信号，且该第一开关的该控制端用以接收一第一控制信号； 一第二开关，包含一第一端、一第二端与一控制端，其中该第二开关的该第一端用以接收一第二输入信号，且该第二开关的该控制端用以接收一第二控制信号，其中该第一控制信号与该第二控制信号为 反相； 一电容，其中该电容的一第一端电性耦接该第一开关的该第二端与该第二开关的该第~.丄山一觸； 一第三开关,包含一第一端、一第二端与一控制端,其中该第三开关的该第一端电性率禹接该电容的一第二端，该第三开关的该第二端用以接收一第一预设电压，且该第三开关的该控制端用以接收该第一控制信号； 一第四开关，包含一第一端、一第二端与一控制端，其中该第四开关的该第一端用以接收一第一系统供应电压，该第四开关的该第二端电性耦接至该比较器的输出端，且该第四开关的该控制端用以接收一第二预设电压；以及 一第五开关，包含一第一端、一第二端与一控制端，其中该第五开关的该第一端电性率禹接至该电容的该第二端，该第五开关的该第二端用以接收一第二系统供应电压，且该第五开关的该控制端电性耦接至该电容的该第二端。
9.如权利要求8所述的比较器，其特征在于，还包含: 一第六开关，包含一第一端、一第二端与一控制端，其中该第六开关的该第一端用以接收该第二预设电压或该第一系统供应电压，且该第六开关的该控制端用以接收该第二预设电压； 一第七开关，包含一第一端、一第二端与一控制端，其中该第七开关的该第一端电性耦接该第六开关的该第二端，该第七开关的该第二端用以接收一第三预设电压，且该第七开关的该控制端电性耦接该第四开关的该第二端； 一第八开关，包含一第一端、一第二端与一控制端，其中该第八开关的该第一端用以接收该第一系统预设电压，该第八开关的该第二端电性耦接至该输出端，且该第八开关的该控制端电性耦接该第六开关的该第二端；以及 一第九开关，包含一第一端、一第二端与一控制端，其中该第九开关的该第一端电性耦接该第八开关的该第二端，该第九开关的该第二端用以接收该第三预设电压，且该第九开关的该控制端电性耦接该第四开关的该第二端。
10.如权利要求9所述的比较器，其特征在于，于正常操作时，该第一预设电压为一第一电压，该第二预设电压为大于该第一系统供应电压与该些开关的一临界电压的总和的一第二电压，该第三预设电压为大于等于该第二系统供应电压的一第三电压，当该些开关发生变异时，该第一预设电压设置为该第一电压与该临界电压的一偏移值的总和，该第二预设电压设置为该第二电压与该偏移值的总和，且该第三预设电压设置为该第三电压与该偏移值的差值。
【文档编号】H03K5/22GK104079270SQ201410312025
【公开日】2014年10月1日 申请日期:2014年7月2日 优先权日:2014年5月9日
【发明者】小泽德郎, 青木幸司, 郭志徹 申请人:友达光电股份有限公司