与频率漂移的对应关系，包括工作温度与频率漂移的关系曲线和/或关系式。
[0047]S120、时钟同步。
[0048]时钟同步，即通过GPS或上级时钟给晶体振荡器一个标准信号，晶体振荡器的控制电路根据这个标准信号，使晶体振荡器的输出信号和这个标准信号进行同步，这个过程称为时钟同步的过程，或称为锁定GPS或上级时钟。
[0049]S130、建立同步期间的晶体振荡器的频率漂移和工作时间以及工作温度的对应关系O
[0050]步骤S130具体包括:
[0051]S131、在锁定GPS或上级时钟后，在预设的第二测试工作时间内，获得晶体振荡器在不同工作时间、不同工作温度下的频率漂移。
[0052]晶体振荡器在锁定GPS或上级时钟后的工作时间段，也称为同步时段或同步期间。
[0053]同步期间，在预设的第二测试时段内，获得晶体振荡器在不同工作时间、不同工作温度下的频率漂移。
[0054]S132、根据获得的晶体振荡器在不同工作时间、不同工作温度下的频率漂移，建立频率漂移和工作时间以及工作温度的对应关系的对应关系。
[0055]根据步骤S131中获取的多个工作时间、工作温度下的频率漂移，建立频率漂移和工作时间以及工作温度的对应关系的对应关系F(t，T) = F(t)+F(T)。
[0056]S140、根据同步期间的频率漂移和工作时间以及工作温度的对应关系、工作温度与频率漂移的对应关系建立频率漂移和工作时间的对应关系。
[0057]通过步骤S132中的建立的对应关系F (t，T) = F(t)+F(T)以及步骤Slll中建立的对应关系F(T)，即可建立频率漂移和工作时间的对应关系F(t)。
[0058]具体的，关系式F(t，T) = F(t)+F(T)中，F(T)为已知，对应确定的工作温度时，F(T)可作为常数，提取步骤Slll中的预存值，即不同工作温度下的频率漂移，通过该预存值和关系式F(t，T) =F(t)+F(T)即可剔除工作温度带来的频率漂移，得到频率的老化模型F(t)，即频率漂移和工作时间的关系。
[0059]S150、取消或不进行时钟同步。
[0060]取消或不进行时钟同步，进入保持期。保持期为晶体振荡器丢失GPS或上级时钟的工作时段，晶体振荡器工作于该时段时，即晶体振荡器工作于保持期间时，输出信号不再和GPS或上级时钟实时同步。
[0061 ] S160、保持期间，实时获取晶体振荡器当前的工作温度以及工作时间。
[0062]S170、确定晶体振荡器当前所需的频率补偿值。
[0063]步骤S170具体包括:
[0064]S171、根据晶体振荡器当前的工作时间、频率漂移和工作时间的对应关系F(t)得到第一频率漂移，根据第一频率漂移即可确定第一频率补偿值。
[0065]S172、根据晶体振荡器当前的工作温度、工作温度与频率漂移的对应关系F(T)得到第二频率补偿值。
[0066]S173、计算获得晶体振荡器当前所需的频率补偿值。
[0067]晶体振荡器当前所需的频率补偿值为第一频率补偿值和第二频率补偿值之和。
[0068]其中，步骤S172具体包括:
[0069]S1721、判断晶体振荡器的存储器中是否存储有与当前的工作温度对应的频率漂移；若是，进入步骤S1722，否则，进入步骤S1723。
[0070]S1722、从存储器中获取与当前的工作温度对应的频率漂移，根据获取的与当前的工作温度对应的频率漂移确定第二频率补偿值。
[0071]S1723、根据晶体振荡器当前的工作温度、工作温度与频率漂移的对应关系F(T)得到第二频率补偿值。
[0072]理论上存储器中存储的工作温度是可以细分到0.00001°C，可以都能直接从存储器中找到与当前的工作温度对应的频率漂移。
[0073]本步骤中，根据晶体振荡器当前的工作温度、工作温度与频率漂移的对应关系F(T)计算得到第二频率漂移，根据第二频率漂移即可得到第二频率补偿值。
[0074]本实施例中，实现本实施例的晶体振荡器频率补偿的方法的装置包括:晶体振荡器的控制电路、工作温度传感器、可控温箱、工作温度爬坡测试设备、GPS或上级时钟、频率检测设备、计算机、微控制单元等，其中，微控制单元包括存储器、一个或者一个以上的处理器和一个或者一个以上的程序；其中，一个或者一个以上程序存储于存储器中，且经配置由一个或者一个以上处理器执行，一个或者一个以上程序包含用于进行以上步骤的指令。
[0075]本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例的全部或部分步骤可以通过硬件来完成，也可以通过程序来指令相关的硬件完成，该程序可以存储于一计算机可读存储介质中，存储介质可以包括存储器、磁盘或光盘等。
[0076]以上内容仅为本发明的较佳实施例，对于本领域的普通技术人员，依据本发明的思想，在【具体实施方式】及应用范围上均会有改变之处，本说明书内容不应理解为对本发明的限制。
【主权项】
1.一种晶体振荡器频率补偿的方法，其特征在于，包括: 建立晶体振荡器在晶体振荡器的工作温度范围内的工作温度与频率漂移的对应关系; 同步期间，获得晶体振荡器在不同工作时间、不同工作温度下的频率漂移； 建立同步期间的晶体振荡器的频率漂移和工作时间以及工作温度的对应关系； 根据同步期间的频率漂移和工作时间以及工作温度的对应关系、工作温度与频率漂移的对应关系建立频率漂移和工作时间的对应关系； 保持期间，实时获取晶体振荡器当前的工作温度以及工作时间； 根据晶体振荡器当前的工作时间、频率漂移和工作时间的对应关系得到第一频率补偿值； 根据晶体振荡器当前的工作温度、工作温度与频率漂移的对应关系得到第二频率补偿值； 确定晶体振荡器当前所需的频率补偿值；晶体振荡器当前所需的频率补偿值为第一频率补偿值和第二频率补偿值之和。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述步骤:建立晶体振荡器在晶体振荡器的工作温度范围内的工作温度与频率漂移的对应关系，具体包括: 在预设的第一测试时段内，获得晶体振荡器在晶体振荡器的工作温度范围内的不同工作温度下的频率漂移； 根据获得的晶体振荡器在不同工作温度下的频率漂移建立工作温度与频率漂移的对应关系。
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述步骤:建立同步期间的晶体振荡器的频率漂移和工作时间以及工作温度的对应关系，具体包括: 同步期间，在预设的第二测试时段内，获得晶体振荡器在不同工作时间、不同工作温度下的频率漂移； 根据获得的晶体振荡器在不同工作时间、不同工作温度下的频率漂移建立频率漂移和工作时间以及工作温度的对应关系。
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述步骤:在预设的第一测试时段内，获得晶体振荡器在晶体振荡器的工作温度范围内的不同工作温度下的频率漂移之前，还包括: 预先设置第一测试时段和第二测试时段。
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述步骤:在预设的第一测试时段内，获得晶体振荡器在晶体振荡器的工作温度范围内的不同工作温度下的频率漂移之后还包括: 将获得的晶体振荡器在晶体振荡器的工作温度范围内的不同工作温度下的频率漂移存储于晶体振荡器的存储器中。
6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述步骤:根据晶体振荡器当前的工作温度、工作温度与频率漂移的对应关系得到第二频率补偿值，具体包括: 判断所述存储器中是否存储有与当前的工作温度对应的频率漂移； 若是，从所述存储器中获取与当前的工作温度对应的频率漂移，根据获取的与当前的工作温度对应的频率漂移确定第二频率补偿值； 否则，根据晶体振荡器当前的工作温度、工作温度与频率漂移的对应关系得到第二频率补偿值。
【专利摘要】本发明公开了一种晶体振荡器频率补偿的方法，所述方法包括：建立晶体振荡器在工作温度范围内的工作温度与频率漂移的对应关系，同步期间，建立同步期间的频率漂移和工作时间以及工作温度的对应关系，进而确定频率漂移和工作时间的对应关系，保持期间，实时获取晶体振荡器当前的工作温度以及工作时间，确定晶体振荡器当前所需的频率补偿值。本发明鉴于频率老化的特点，通过工作温度与频率漂移的对应关系以及同步期间测试获得的频率漂移确定频率老化的模型，即频率漂移和工作时间的关系，在保持期间，直接根据频率漂移和工作时间的对应关系和工作温度与频率漂移的对应关系得到当前所需的频率补偿值，从而保证了输出的频率补偿精度。
【IPC分类】H03B5-04
【公开号】CN104716904
【申请号】CN201410853828
【发明人】冯刚涛, 刘朝胜, 吴浩浩, 周文
【申请人】广东大普通信技术有限公司
【公开日】2015年6月17日
【申请日】2014年12月30日