成像装置、成像设备、半导体装置和读出方法
【专利摘要】本发明涉及成像装置、成像设备、半导体装置和读出方法，提供了一种成像装置，包括：读出单元，其读出浮置扩散区中累积的电荷量作为信号电平，所述浮置扩散区累积从光接收单元发送的电荷，所述光接收单元对入射光进行光电转换；读出控制单元，其控制所述读出单元多次执行读出操作以读出所述浮置扩散区中累积的P相和D相的电荷量；以及计算单元，其由所述读出控制单元控制并获得使用多次执行的所述读出操作而获得的所述信号电平之间的差。
【专利说明】成像装置、成像设备、半导体装置和读出方法
[0001]相关申请的交叉引用
[0002]本申请要求于2012年11月13日提交的日本在先专利申请第JP2012-249265号的权益，将其全部内容结合于此以供参考。
【技术领域】
[0003]本公开涉及一种成像装置、成像设备、半导体装置和读出方法。具体地，本公开涉及一种能够抑制像素信号的暗电流分量的成像装置、成像设备、半导体装置和读出方法。
【背景技术】
[0004]在现有技术中，在成像装置中，根据累积时间读出累积在光电二极管中的电荷作为像素信号的信号电平，并且对像素信号的信号电平进行模拟-数字转换。在现有技术中已提出了各种各样的方法用于读出像素信号(例如，参见日本待审查专利申请
【发明者】园田修治 申请人:索尼公司