数组中，读使能的产生是在计算开始标志产生后大约20ms，保证能够完 成一个无线帧数据的模值个数统计。
[0019] 步骤10 :CPU导出数据到本地PC机，然后重复进行1~10步骤获取其它通道柱状 图数据。
[0020] 步骤11 :导入各通道柱状图数据到Matlab中，在matlab中算出平均功率，每个点 的峰均比，每个峰均比值所对应的概率值，最后用semilogy函数画出各通道的(XDF曲线。
[0021] 步骤1中，CPU选择发送通道，发送方向多个通道共用一个FPGA柱状图计算模块， CPU通过寄存器控制当前选择对哪一个通道进行柱状图计算；
[0022] 步骤2中，在每次计算之前需要对模值累加DPRAM所有存储单元进行清0操作， lOOus时间足够所有存储单元清0 ;
[0023] 步骤4~6,计算出调制信号幅度模值，并进行量化操作，以减少FPGABRAM资源；
[0024] 步骤7~8,计算出调制信号幅度模值的统计结果，并存储到柱状图DPRAM中；
[0025] 步骤9~10,CPU读出柱状图统计结果，并导出到本地，以便后续Matlab进行数据 分析，CPU发送读使能应保证是在CPU发送计算标志后20ms，保证有时间能够完成一帧数据 的计算。
[0026] 步骤11，matlab分析出(XDF曲线得到峰均比。
[0027] 所述步骤6~8中，选取合适的模值量化因子以及统计幅度模值个数。
[0028] 上述方法能够有效，准确的算出功放入口和功放出口的(XDF曲线，具体来说，本 发明具有如下优点：
[0029] 1、可以不借助频谱仪就能同时计算出进功放之前和功放之后的(XDF曲线，并且 不受带宽的限制，操作简单方便灵活。
[0030] 2、采用模值量化的方法，大大节省了FPGA所需BRAM资源。
【附图说明】
[0031] 图1是本发明实施例的多通道RRU峰均比检测系统框图。
[0032] 图2是本发明实施例的多通路RRU峰均比检测流程框图。
[0033] 图3是本发明实施例的RRU峰均比检测FPGA处理整体框图。
[0034] 英译汉
[0035]
【主权项】
1. 一种LTE射频拉远单元峰均比检测方法，其特征在于：在远端射频单元中使用CFR 后W及反馈ADC采集的数据分别进行峰均比检测和分析，具体包括W下步骤： 步骤1 ;CPU选择通道，选择发送和反馈为同一通道； 步骤2 ;CPU产生清空标志，清空发送和反馈峰均比检测中累加DPRAM的值为0,清空标 志高电平表示清空，低电平正常，高电平持续时间为lOOus，保证能够清空整个累加DPRAM ; 步骤3 ;CPU产生计算开始标志，先低电平，再高电平，再低电平，FPGA中检测到上升延 后开始计数，计数10ms长度后结束，并产生10ms计算使能； 步骤4 ;FPGA计算出i2+q2, i为同向分量，q为正交分量； 步骤 5 ;FPGA 计算出 Amp = V i2+q2; 步骤6;FPGA计算出调制信号的模值量化值油s_out = ( V i2+q2)/128， 然后再对油s_out进行四舍五入操作得到Index ; 步骤7 ;在10ms计算使能有效期间，把Index延时一拍得到Index_rl，延时2拍得到 Index_r2,延时 3 拍得到 Index_r3,延时 4 拍得到 Index_r4, Index_rl，Index_r2, Index_ r3, Index_r4同时分别作为累加DPRAMl，DPRAM2, DPRAM3, DPRAM4的读写地址，每隔4个处 理时钟周期更新一次读写地址，同时产生读使能信号读取4个累加DPRAM中相应地址存储 的内容，并把读出的数据进行加1操做产生4个累加DPRAM的输入，然后在产生写使能信 号，把累加结果写入到累加DPRAM中，读写使能也是4个时钟周期产生一次，每次读使能提 自U与使能3拍； 步骤8 ;在10ms计算使能结束后，把4个累加DPRAM中统计的结果读出来，并进行求和 操作做为柱状图存储DPRAM的输入数据，写入到柱状图存储DPRAM中； 步骤9 ;CPU产生256个读地址，读使能W及读数据总线操作，并把读取的数据存储到一 个数组中，读使能的产生是在计算开始标志产生后20ms，保证能够完成一个无线峽数据的 计算； 步骤10 ;CPU导出数据到本地PC机，然后重复进行1~10步骤获取其它通道柱状图数 据； 步骤11 ;导入各通道柱状图数据到Matl油中，在matl油中算出平均功率，每个点的峰 均比，每个峰均比值所对应的概率值，最后用semilogy函数画出各通道的CCDF曲线。
2. 如权利要求书1所述的一种LTE射频拉远单元峰均比检测方法，其特征在于：所述 步骤1中，CPU选择发送通道，发送方向多个通道共用一个FPGA柱状图计算模块，CPU通过 寄存器控制当前选择对哪一个通道进行柱状图计算。
3. 如权利要求书1所述的一种LTE射频拉远单元峰均比检测方法，其特征在于：所述 步骤2中，在每次计算之前需要对模值累加DPRAM所有存储单元进行清0操作，lOOus时间 足够所有存储单元清0。
4. 如权利要求书1所述的一种LTE射频拉远单元峰均比检测方法，其特征在于：所述 步骤4~6,计算出调制信号幅度模值，并进行量化操作，W减少FPGA BRAM资源。
5. 如权利要求书1所述的一种LTE射频拉远单元峰均比检测方法，其特征在于：所述 步骤7~8,计算出调制信号幅度模值的统计结果，并存储到柱状图DPRAM中。
6. 如权利要求书1所述的一种LTE射频拉远单元峰均比检测方法，其特征在于：所述 步骤9~10, CPU读出柱状图统计结果，并导出到本地，W便后续Matl油进行数据分析，CPU 发送读使能应保证是在CPU发送计算标志后20ms，保证有时间能够完成一峽数据的计算。
7. 如权利要求书1所述的一种LTE射频拉远单元峰均比检测方法，其特征在于：所述 步骤11，matl油分析出CCDF曲线得到峰均比。
8. 如权利要求书1所述的一种LET射频拉远单元峰均比检测方法，其特征在于：所述 步骤6~8中，选取模值量化因子W及统计幅度模值个数。
【专利摘要】本发明公开一种LTE射频拉远单元峰均比检测方法：CPU产生清空标志，清空发送和反馈方向累加DPRAM中所有存储单元，CPU产生计算开始标志，FPGA根据计算开始标志产生计算使能，在计算使能期间，计算出调制信号的模值，再对模值进行量化处理Index，计算出来的Index作为累加DPRAM的读地址和写地址，先进行读操作，读出改地址所存放的数据并完成一次累加操作后作为该地址的输入数据，再完成写操作，这样就完成对Index的个数统计操作，当计算使能结束后，把累加DPRAM对调制信号模值的个数统计结果写入到柱状图存储DPRAM中，最后由CPU发送读使能，读地址，读出调制信号模值的柱状图统计结果，CPU导出柱状图统计结果到matlab中，分析出CCDF曲线，从而得到调制信号发送方向以及反馈链路CCDF曲线。
【IPC分类】H04L27-26, H04B17-309
【公开号】CN104683283
【申请号】CN201510130057
【发明人】黄维, 周世军, 杨浩, 何涛勇, 王艳欢
【申请人】武汉虹信通信技术有限责任公司
【公开日】2015年6月3日
【申请日】2015年3月24日