专利名称：平面显示面板及其有源元件阵列基板与点亮测试方法
技术领域：
本发明涉及一种平面显示面板及其有源元件阵列基板与点亮测试方法，特别是涉
及一种能够在点亮测试过程中同时检测显示区与驱动电路之间的线路是否存在短路或断 路的平面显示面板及其有源元件阵列基板与点亮测试方法。
背景技术：
由于平面显示面板具有体积小、重量轻等优点，因此目前已被广泛地应用于各种 电子产品中。 在平面显示面板的制造过程中，通常会于尚未将驱动IC连接至显示面板前，先对 显示面板进行点亮测试，以确认显示面板中的各个像素是否能够正常显示画面。图1绘示 为现有习知平面显示面板的示意图。请参阅图1所示，平面显示面板100具有显示区102 与周边电路区104，其中显示区102内配置有多个像素单元IIO，周边电路区104内则配置 有点亮测试线路120、接垫130以及信号导线140。 信号导线140是电性连接于接垫130与显示区102内的像素单元110之间，也就 是所谓的扇出(fan-out)拉线。其中，每条信号导线140均分别电性连接至单一像素单元 110。点亮测试线路120则是与显示区102内的所有像素单元110电性连接，也就是说测试 信号是由点亮测试线路120输入至所有像素单元110，以同时对所有像素单元110做点亮测 试。 由上述可知，在现有习知的点亮测试过程中，测试信号是直接经由点亮测试线路 120输入至显示区102内的像素单元110，而信号导线140是否存在缺陷须待后续将用以驱 动像素单元110的驱动IC(图未示)接合(bond)至接垫130上才会发现，但这期间往往已 耗费了许多人力与物力。 由此可见，上述现有的平面显示面板及其点亮测试方法在产品结构、制造方法与 使用上，显然仍存在有不便与缺陷，而亟待加以进一步改进。为了解决上述存在的问题，相 关厂商莫不费尽心思来谋求解决之道，但长久以来一直未见适用的设计被发展完成，而一 般产品及方法又没有适切的结构及方法能够解决上述问题，此显然是相关业者急欲解决的 问题。因此如何能创设一种新的平面显示面板及其有源元件阵列基板与点亮测试方法，实 属当前重要研发课题之一，亦成为当前业界极需改进的目标。 有鉴于上述现有的平面显示面板及其点亮测试方法存在的缺陷，本发明人基于从 事此类产品设计制造多年丰富的实务经验及专业知识，并配合学理的运用，积极加以研究 创新，以期创设一种新的平面显示面板及其有源元件阵列基板与点亮测试方法，能够改进 一般现有的平面显示面板及其点亮测试方法，使其更具有实用性。经过不断的研究、设计， 并经过反复试作样品及改进后，终于创设出确具实用价值的本发明。
发明内容
本发明的目的在于，克服现有的平面显示面板存在的缺陷，而提供一种新的有源元件阵列基板，所要解决的技术问题是使其具有可在点亮测试过程中同时进行信号导线缺陷检测的线路配置，非常适于实用。 本发明的另一目的在于，克服现有的平面显示面板存在的缺陷，而提供一种新的平面显示面板，所要解决的技术问题是使其在点亮测试过程中可同时进行信号导线的缺陷检测，从而更加适于实用。 本发明的再一 目的在于，克服现有的平面显示面板的点亮测试方法存在的缺陷，而提供一种新的点亮测试方法，所要解决的技术问题是使其便于在平面显示面板的点亮测试过程中同时进行信号导线的缺陷检测，从而更加适于实用。 本发明的目的及解决其技术问题是采用以下技术方案来实现的。依据本发明提出的一种有源元件阵列基板，具有一显示区与一周边电路区，该有源元件阵列基板包括多个第一像素单元与多个第二像素单元，阵列地排列于该显示区内；一第一点亮测试线路，配置于该周边电路区内，并电性连接至该些第一像素单元；以及一第二点亮测试线路，配置于该周边电路区内，并电性连接至该些第二像素单元；以及多组信号导线群，配置于该周边电路区内，其中两相邻的该些信号导线群是分别电性连接于该第一像素单元与该第二像素单元其中之一。 本发明的目的及解决其技术问题还可采用以下技术措施进一步实现。 前述的有源元件阵列基板，其中所述的信号导线群各包括一信号导线，且各该信
号导线位于同一膜层。 前述的有源元件阵列基板，其中所述的信号导线群各包括多条分别位于不同膜层的信号导线。 前述的有源元件阵列基板，其更包括一第三点亮测试线路，配置于该周边电路区内；以及多个接垫，其中该些接垫的一端是电性连接至该第三点亮测试线路，而该些接垫的另一端是电性连接至该些信号导线群。 前述的有源元件阵列基板，其中所述的多个接垫为驱动晶片接垫。 本发明的目的及解决其技术问题还采用以下技术方案来实现。依据本发明提出
的有源元件阵列基板，具有一显示区与一周边电路区，该有源元件阵列基板包括多个像素
单元，阵列地排列于该显示区内；多条信号导线，配置于该周边电路区内，并电性连接至该
些像素单元；一点亮测试线路，配置于该周边电路区内；以及多个接垫，配置于该周边电路
内，其中各该些接垫是分别电性连接于该些信号导线其中之一与该点亮测试线路之间。 本发明的目的及解决其技术问题还可采用以下技术措施进一步实现。 前述的有源元件阵列基板，其中所述的多个接垫为驱动晶片接垫。 本发明的目的及解决其技术问题另外再采用以下技术方案来实现。依据本发明提
出的一种平面显示面板，其包括一有源元件阵列基板，包括多个第一像素单元与多个第
二像素单元，阵列地排列于该显示区内；一第一点亮测试线路，配置于该周边电路区内，并
电性连接至该些第一像素单元；一第二点亮测试线路，配置于该周边电路区内，并电性连接
至该些第二像素单元；多组信号导线群，配置于该周边电路区内，其中两相邻的该些信号导
线群是分别电性连接于该第一像素单元与该第二像素单元其中之一 ；一透光层，配置于该
有源元件阵列基板上方；以及一显示层，配置于该透光层与该有源元件阵列基板之间。 本发明的目的及解决其技术问题还可采用以下技术措施进一步实现。
前述的平面显示面板，其中所述的多组信号导线群各包括一信号导线，且各该信 号导线位于同一膜层。 前述的平面显示面板，其中所述的多组信号导线群各包括多条分别位于不同膜层 的信号导线。 前述的平面显示面板，其中所述的有源元件阵列基板更包括一第三点亮测试线
路，配置于该周边电路区内；以及多个接垫，其中该些接垫的一端是电性连接至该第三点亮
测试线路，而该些接垫的另一端是电性连接至该些信号导线群。 前述的平面显示面板，其中所述的透光层为透光基板或透光保护膜。 前述的平面显示面板，其中所述的显示层为液晶层、电泳层、电湿润层或有机电致
发光层。 本发明的目的及解决其技术问题另外还采用以下技术方案来实现。依据本发明提
出的平面显示面板，其包括一有源元件阵列基板，包括多个像素单元，阵列地排列于该
显示区内；多条信号导线，配置于该周边电路区内，并电性连接至该些像素单元；一点亮测
试线路，配置于该周边电路区内；以及多个接垫，配置于该周边电路内，其中各该些接垫是
分别电性连接于该些信号导线其中之一与该点亮测试线路之间；一透光层，配置于该有源
元件阵列基板上方；以及一显示层，配置于该透光层与该有源元件阵列基板之间。 本发明的目的及解决其技术问题还可采用以下技术措施进一步实现。 前述的平面显示面板，其中所述的透光层为透光基板或透光保护膜。 前述的平面显示面板，其特征在于其中所述的显示层为液晶层、电泳层、电湿润层
或有机电致发光层。 本发明的目的及解决其技术问题另外又采用以下技术方案来实现。依据本发明提 出的一种点亮测试方法，其包括下列步骤分别从第一点亮测试线路与第二点亮测试线路 输入一测试信号，以交替点亮多个第一像素单元及多个第二像素单元，其中当从该第一点 亮测试线路输入该测试信号时，判断该些第二像素单元是否被点亮；以及当从该第二点亮 测试线路输入该测试信号时，判断该些第一像素单元是否被点亮。 本发明的目的及解决其技术问题另外还采用以下技术方案来实现。依据本发明提 出的一种点亮测试方法，其包括下列步骤从第三点亮测试线路输入一测试信号；以及判 断多个第一像素单元与多个第二像素单元是否被点亮。 本发明的目的及解决其技术问题另外还采用以下技术方案来实现。依据本发明提 出的一种点亮测试方法，其包括下列步骤从点亮测试线路输入一测试信号；以及判断多 个像素单元是否被点亮。
借由上述技术方案，本发明至少具有下列优点及有益效果 本发明的有源元件阵列基板是将点亮测试线路与信号导线分别电性连接至像素 单元的两端，并且在点亮测试过程中，分次输入测试信号至彼此之间可能相互短路(short) 的信号导线所连接的像素单元，以便于判断这些信号导线之间是否相互短路。此外，本发明 更将这些信号导线所连接的接垫电性连接至同一点亮测试线路，并通过此点亮测试线路输 入测试信号，以藉由各像素单元的被点亮与否来判断这些信号导线是否有断路的情况。
由此可知，本发明可在由此有源元件阵列基板所构成的平面显示面板的点亮测试 过程中，同时检测连接于像素单元与接垫之间的信号导线是否有短路或断路等异常的情
6况，以縮短平面显示面板在出厂前的测试过程中所需耗费的时间。 上述说明仅是本发明技术方案的概述，为了能够更清楚了解本发明的技术手段， 而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本发明的上述和其他目的、特征和优点能够 更明显易懂，以下特举较佳实施例，并配合附图，详细说明如下。
图1绘示为现有习知平面显示面板的示意图。 图2绘示为本发明的平面显示面板的剖面示意图。 图3绘示为本发明的有源元件阵列基板在一实施例中的示意图。 图4绘示为本发明的有源元件阵列基板在另一实施例中的示意图。 图5绘示为本发明的有源元件阵列基板的部分剖面示意图。 图6绘示为图2的平面显示面板在一实施例中的点亮测试步骤流程图。 图7绘示为本发明的有源元件阵列在另一实施例中的示意图。 图8绘示为本发明的有源元件阵列在另一实施例中的示意图。 图9绘示为包括图7或图8的有源元件阵列的平面显示面板的点亮测试步骤流程图。100、200:平面显示面板102、D:显示区104、 C :周边电路区110 :像素单元120 :点亮测试线路130接垫140 :信号导线210有源元件阵列基板212 :第一像素单元214第二像素单元216 :第一点亮测试线路218第二点亮测试线路219 :接垫220透光层230 :显示层501介电层502 :接触窗开口710第三点亮测试线路DL :数据配线L :信号导线群M、L丄、L2、L3、 L4、 L5、 L6 :信号导线
V 、v、v :信号导线:扫描配线S610-S640 :步骤流程S910-S920 :步骤流程
具体实施例方式
为更进一步阐述本发明为达成预定发明目的所采取的技术手段及功效，以下结合 附图及较佳实施例，对依据本发明提出的平面显示面板及其有源元件阵列基板与点亮测试 方法其具体实施方式
、结构、方法、步骤、特征及其功效，详细说明如后。 有关本发明的前述及其他技术内容、特点及功效，在以下配合参考图式的较佳实 施例的详细说明中将可清楚呈现。通过具体实施方式
的说明，当可对本发明为达成预定目 的所采取的技术手段及功效得一更加深入明之用，并非用来对本发明加以限制。 图2绘示为本发明的平面显示面板的剖面示意图，图3则绘示为本发明的有源元 件(即主动元件，以下均称为有源元件)阵列基板在一实施例中的示意图。请同时参照图 2及图3所示，平面显示面板200包括有源元件阵列基板210、透光层220以及显示层230， 其中透光层220是配置于有源元件阵列基板210上方，而显示层230则是配置于有源元件 阵列基板210与透光层220之间。 具体来说，平面显示面板200可以是液晶显示面板(liquid crystaldisplay panel, 1XD panel)或有机电致发光显不面板(organicelectro-luminescent display panel, 0ELD panel)。换言之，显示层230可以是液晶层或有机电致发光层，而透光层220 可以是以玻璃材质制成的透光基板。除此之外，平面显示面板200也可以是电泳显示面板 (electro-phoretic display panel, EPD panel)或电湿润显不面板(electro-wetting display panel，EWD panel)，也就是说显示层230可以是电泳层或电湿润层，而透光层230 则可以是一透光保护膜。 请参阅图3所示，有源元件阵列基板210包括多个第一像素(即画素，以下均称为 像素)单元212、多个第二像素单元214、第一点亮测试线路216、第二点亮测试线路218以 及多组信号导线群L。而且，有源元件阵列基板210具有显示区D与周边电路区C，其中第 一像素单元212与第二像素单元214是在显示区D内排列成阵列，第一点亮测试线路216、 第二点亮测试线路218及信号导线群L则是配置于周边电路区C内，且第一点亮测试线路 216是电性连接于第一像素单元212，第二点亮测试线路218则是电性连接于第二像素单元 214。详细来说，第一点亮测试线路216与第二点亮测试线路218可以电性连接至第一像素 单元212与第二像素单元214的扫描配线(scan line)SL或数据配线(data line)DL。在 本实施例中，第一点亮测试线路216与第二点亮测试线路218例如是分别电性连接至第一 像素单元212与第二像素单元214的扫描配线(scan line)SL。 值得注意的是，在本发明的有源元件阵列基板210中，两相邻的信号导线群L是分 别电性连接至第一像素单元212与第二像素单元214其中之一，而这些信号导线群L例如 是用以连接接垫219与第一像素单元212及第二像素单元214的扫描配线SL的线路，也就 是所谓的扇出(fan-out)拉线。其中，接垫219是用以在后续制造工艺中与平面显示面板 200的驱动IC(图未示)接合的接垫。 以本实施例来说，各信号导线群L分别包括一条信号导线，如图3所标示的Lp1^、 L3、.，且信号导线L丄与信号导线L2相邻，信号导线L2与信号导线L丄及信号导线L3相邻， 信号导线L3与信号导线L2及信号导线L4相邻，...，依此类推。而且，这些信号导线均位于 同一膜层。举例来说，信号导线LpL2、L3、...可以是与第一像素单元212或第二像素单元 214的扫描配线SL形成于同一制造工艺中。 由上述可知，本实施例的信号导线L3、 L5、...等是电性连接于第一像素单元 212，而信号导线L2、 L4、 L6、...等则是电性连接于第二像素单元214。 值得注意的是，虽然在图3所示的有源元件阵列210中各信号导线群L仅包括单 一信号导线，但实际上本发明并不限定各信号导线群L所包括的信号导线数量，各信号导 线群L可以包括一条或多条信号导线。 图4绘示为本发明的有源元件阵列基板在另一实施例中的示意图，以下仅针对本实施例与前述实施例的相异处加以说明。 请参阅图4所示，各信号导线群L例如是分别包括有两条信号导线，如图4所 标示的LpL/或LylV 、.. 等。其中，信号导线LpL2、L3、...与信号导线L/ 、L2'、 V 、...分别位于不同膜层。举例来说，信号导线LpL2、L3、...可以与第一像素单元212 或第二像素单元214的扫描配线SL位于同一膜层，而信号导线L/ 、L2' 、L3'、...则可以 与第一像素单元212或第二像素单元214的数据配线DL位于同一膜层，并且通过配置于数 据配线DL与扫描配线SL间的介电层501的接触窗开口 502而与扫描配线SL电性连接，如 图5所示。 请再参阅图4，本实施例的两相邻信号导线群L亦是分别电性连接至第一像素单 元212与第二像素单元214其中之一。具体来说，信号导线LpL/以及信号导线LylV 等是与第一像素单元212电性连接，信号导线LylV则是与第二像素单元214电性连接。
请同时参阅图2、图3及图4，本发明的平面显示面板200的点亮测试方法是分次 通过第一点亮测试线路216与第二点亮测试线路218输入测试信号至显示区D内，以交替 点亮第一像素单元212与第二像素单元214。其中，在通过第一点亮测试线路216输入测 试信号时，若有任何第二像素单元214被点亮，则表示连接至被点亮的第二像素单元214的 信号导线L2、L4、L6、...(或L2、1V 、 )其中之一与其相邻的信号导线LpL3、L5、…(或 W 、L3、L3'、...)至少其中之一相互短路。 另一方面，在通过第二点亮测试线路218输入测试信号时，若有任何第一像素单 元212被点亮，则表示连接至被点亮的第一像素单元212的信号导线k、 L3、 L5、...(或k、 IV 、L3、L3'、...)其中之一与其相邻的信号导线L2、L4、L6、...(或L2、1V 、...)至少其 中之一相互短路。以下将举实施例进一步说明上述的点亮测试方法。 图6绘示为图2的平面显示面板在一实施例中的点亮测试步骤流程图。请同时参 阅图2、图3及图6所示，如步骤S610所述，本实施例例如是先通过第一点亮测试线路216 将测试信号输入至第一像素单元212。接着，如步骤S620所述，判断是否有任何第二像素单 元214被点亮。其中，若有任何第二像素单元214被点亮，则表示连接至被点亮的第二像素 单元214的信号导线与其相邻的信号导线至少其中之一相互短路。 在完成第一像素单元212的点亮测试后，接着即是进行第二像素单元214的点亮 测试。如步骤S630所述，通过第二点亮测试线路218将测试信号输入至第二像素单元214， 之后再执行步骤S640，以判断是否有任何第一像素单元212被点亮。同样地，若有任何第一 像素单元212被点亮，则表示连接至被点亮的第一像素单元212的信号导线与其相邻的信 号导线至少其中之一相互短路。 值得注意的是，本发明并不限定第一像素单元212与第二像素单元214的测试顺 序。本发明在另一实施例中，也可以在执行步骤S630至步骤S640之后，接着才执行步骤 S610至步骤S620。 由上述可知，本发明可以在进行第一像素单元212与第二像素单元214的点亮测 试的过程中，同时检测连接至第一像素单元212与第二像素单元214的信号导线是否存在 短路的情况。除此之外，本发明还可以在进行第一像素单元212与第二像素单元214的点 亮测试的过程中，同时检测连接至第一像素单元212与第二像素单元214的信号导线是否 存在任何断路，以下将举实施例说明。
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图7绘示为本发明的有源元件阵列在另一实施例中的示意图。请参阅图7所示， 有源元件阵列基板210除了包括第一点亮测试线路216与第二点亮测试线路218之外，还 可以包括第三点亮测试线路710。其中，第三点亮测试线路710同样是配置于周边电路区C 内，且各接垫219的一端均与第三点亮测试线路710电性连接。由前文可知，这些接垫219 的另一端是分别与一条信号导线M电性连接，以便于后续将驱动IC(图未示)接合于接垫 219上后，驱动IC可以通过信号导线M将驱动信号输入至显示区D内。
在本实施例中，这些通过接垫219而与第三点亮测试线路710电性连接的信号导 线M可以是与第一像素单元212或第二像素单元214的数据配线DL电性连接。而在其他 实施例中，这些通过接垫219而与第三点亮测试线路710电性连接的信号导线M也可以是 电性连接至第一像素单元212与第二像素单元214的扫描配线SL，如图8所示，而各信号导 线群L中的信号导线则是与第一像素单元212与第二像素单元214的数据配线DL电性连 接。 此外，本实施例的有源元件阵列210中的各信号导线群L可以仅包括单一信号导 线，也可以如图6所示般包括多条信号导线。各信号导线群L的详细线路配置请参考前述 实施例，此处不再赘述。 图9绘示为包括图7或图8的有源元件阵列的平面显示面板的点亮测试步骤流程 图。请同时参阅图7、图8及图9，如欲在点亮测试过程中同时检测与接垫219电性连接的 信号导线M是否存在断路的情况，则可以通过第三点亮测试线路710将测试信号输入至第 一像素单元212或第二像素单元214，如步骤S910所述。接着执行步骤S920，以判断所有 第一像素单元212及第二像素单元214是否均被点亮。其中，若有任何第一像素单元212 或第二像素单元214未被点亮，则表示与未被点亮的第一像素单元212或第二像素单元214 的信号导线M已断路。 由上述可知，在本发明的平面显示面板中，彼此之间可能相互短路的信号导线是 分别与第一像素单元或第二像素单元电性连接，且本发明的点亮测试方法是分别藉由第一 点亮测试线路与第二点亮测试线路来输入测试信号至第一像素单元及第二像素单元，因此 在藉由第一点亮测试线路输入测试信号至第一像素单元时，若有任何第二像素单元被点 亮，则表示平面显示面板中的信号导线存在有短路的异常情况。 此外，本发明亦可以通过信号导线同时将点亮测试信号输入至所有像素单元中，
以藉由各像素单元的被点亮与否来判断这些信号导线是否有断路的情况。 综上所述，本发明可在平面显示面板的点亮测试过程中，同时检测连接于像素单
元与接垫之间的信号导线是否有短路或断路等异常的情况，以縮短平面显示面板在出厂前
的测试过程中所需耗费的时间。 以上所述，仅是本发明的较佳实施例而已，并非对本发明作任何形式上的限制，虽 然本发明已以较佳实施例揭露如上，然而并非用以限定本发明，任何熟悉本专业的技术人 员，在不脱离本发明技术方案范围内，当可利用上述揭示的方法及技术内容作出些许的更 动或修饰为等同变化的等效实施例，但凡是未脱离本发明技术方案的内容，依据本发明的 技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化与修饰，均仍属于本发明技术方案 的范围内。
权利要求
一种有源元件阵列基板，具有一显示区与一周边电路区，其特征在于该有源元件阵列基板包括多个第一像素单元与多个第二像素单元，阵列地排列于该显示区内；一第一点亮测试线路，配置于该周边电路区内，并电性连接至该些第一像素单元；以及一第二点亮测试线路，配置于该周边电路区内，并电性连接至该些第二像素单元；以及多组信号导线群，配置于该周边电路区内，其中两相邻的该些信号导线群是分别电性连接于该第一像素单元与该第二像素单元其中之一。
2. 根据权利要求1所述的有源元件阵列基板，其特征在于其中所述的信号导线群各包 括一信号导线，且该些信号导线位于同一膜层。
3. 根据权利要求1所述的有源元件阵列基板，其特征在于其中所述的信号导线群各包 括多条分别位于不同膜层的信号导线。
4. 根据权利要求1所述的有源元件阵列基板，其特征在于其更包括 一第三点亮测试线路，配置于该周边电路区内；以及多个接垫，其中该些接垫的一端是电性连接至该第三点亮测试线路，而该些接垫的另 一端是电性连接至该些信号导线群。
5. 根据权利要求4所述的有源元件阵列基板，其特征在于其中所述的该些接垫为驱动 晶片接垫。
6. —种有源元件阵列基板，具有一显示区与一周边电路区，其特征在于该有源元件阵 列基板包括多个像素单元，阵列地排列于该显示区内；多条信号导线，配置于该周边电路区内，并电性连接至该些像素单元； 一点亮测试线路，配置于该周边电路区内；以及多个接垫，配置于该周边电路内，其中各该些接垫是分别电性连接于该些信号导线其 中之一与该点亮测试线路之间。
7. 根据权利要求6所述的有源元件阵列基板，其特征在于其中所述的该些接垫为驱动 晶片接垫。
8. —种平面显示面板，其特征在于其包括 一有源元件阵列基板，包括多个第一像素单元与多个第二像素单元，阵列地排列于该显示区内； 一第一点亮测试线路，配置于该周边电路区内，并电性连接至该些第一像素单元； 一第二点亮测试线路，配置于该周边电路区内，并电性连接至该些第二像素单元； 多组信号导线群，配置于该周边电路区内，其中两相邻的该些信号导线群是分别电性 连接于该第一像素单元与该第二像素单元其中之一； 一透光层，配置于该有源元件阵列基板上方；以及 一显示层，配置于该透光层与该有源元件阵列基板之间。
9. 根据权利要求8所述的平面显示面板，其特征在于其中所述的多组信号导线群各包 括一信号导线，且该些信号导线位于同一膜层。
10. 根据权利要求8所述的平面显示面板，其特征在于其中所述的多组信号导线群各 包括多条分别位于不同膜层的信号导线。
11. 根据权利要求8所述的平面显示面板，其特征在于其中所述的有源元件阵列基板 更包括一第三点亮测试线路，配置于该周边电路区内；以及多个接垫，其中该些接垫的一端是电性连接至该第三点亮测试线路，而该些接垫的另 一端是电性连接至该些信号导线群。
12. 根据权利要求8所述的平面显示面板，其特征在于其中所述的透光层为透光基板 或透光保护膜。
13. 根据权利要求8所述的平面显示面板，其特征在于其中所述的显示层为液晶层、电 泳层、电湿润层或有机电致发光层。
14. 一种平面显示面板，其特征在于其包括 一有源元件阵列基板，包括 多个像素单元，阵列地排列于该显示区内；多条信号导线，配置于该周边电路区内，并电性连接至该些像素单元； 一点亮测试线路，配置于该周边电路区内；以及多个接垫，配置于该周边电路内，其中各该些接垫是分别电性连接于该些信号导线其 中之一与该点亮测试线路之间；一透光层，配置于该有源元件阵列基板上方；以及 一显示层，配置于该透光层与该有源元件阵列基板之间。
15. 根据权利要求14所述的平面显示面板，其特征在于其中所述的透光层为透光基板 或透光保护膜。
16. 根据权利要求14所述的平面显示面板，其特征在于其中所述的显示层为液晶层、 电泳层、电湿润层或有机电致发光层。
17. —种点亮测试方法，适于测试权利要求8所述的平面显示面板，其特征在于其包括 下列步骤分别从第一点亮测试线路与第二点亮测试线路输入一测试信号，以交替点亮该些第一 像素单元及该些第二像素单元，其中当从该第一点亮测试线路输入该测试信号时，判断该些第二像素单元是否被点亮；以及当从该第二点亮测试线路输入该测试信号时，判断该些第一像素单元是否被点亮。
18. —种点亮测试方法，适于测试权利要求11所述的平面显示面板，其特征在于其包 括下列步骤从第三点亮测试线路输入一测试信号；以及 判断该些第一像素单元与该些第二像素单元是否被点亮。
19. 一种点亮测试方法，适于测试权利要求14所述的平面显示面板，其特征在于其包 括下列步骤从点亮测试线路输入一测试信号；以及 判断该些像素单元是否被点亮。
全文摘要
本发明是有关于一种平面显示面板及其有源元件阵列基板与点亮测试方法，此有源元件阵列基板包括多个第一像素单元、多个第二像素单元、第一点亮测试线路、第二点亮测试线路以及多组信号导线群。位于周边电路区内的第一点亮测试线路与第二点亮测试线路分别电性连接至位于显示区内的第一像素单元与第二像素单元，且位于周边电路区内的两相邻的信号导线群是分别电性连接于第一像素单元与第二像素单元其中之一。若有任何第二/第一画素单元在通过第一/第二点亮测试线路输入测试信号至第一/第二像素单元时被点亮，则表示至少两相邻的信号导线群相互短路。
文档编号G09G3/34GK101726877SQ20081017176
公开日2010年6月9日 申请日期2008年10月23日 优先权日2008年10月23日
发明者江怡萱, 苏威纶 申请人:元太科技工业股份有限公司