主动元件阵列基板及其检测方法
【技术领域】
[0001]本申请涉及一种元件阵列基板及其检测方法，特别是一种适用于显示面板的主动元件阵列基板及其检测方法。
【背景技术】
[0002]液晶显示面板主要是由主动元件阵列基板、彩色滤光阵列基板以及液晶层所构成，其中主动元件阵列基板包括多条信号线以及多个阵列排列的像素，像素分别与对应的信号线连接。一般来说，为了避免制造成本增加，业界趋向于在完成薄膜晶体管阵列后先检测出共通线与信号线发生短路的确切位置，再进行修补。另外，在面板设计时，直接将栅极驱动电路制作在主动元件阵列基板上，以代替外接的驱动芯片的技术，被称为栅极驱动电路基板技术(Gate on Array，GOA)。然而，在检测GOA形式的主动元件阵列基板的短路位置时，常常有检出率不高且影像不明显的问题。特别是，以红外线加热定位检测方式为例，实务上常常发生影像不明显甚至是无影像的问题。此外，由于测试信号需流经显示区周围的驱动电路才能进入显示区内，若加大信号强度，又可能使驱动电路承受过大的电压或电流而损毁。
【发明内容】
[0003]本发明所要解决的技术问题是提供一种不需使测试信号流经驱动电路而可检测出显示区内的缺陷位置的主动元件阵列基板及其检测方法，前述驱动电路例如可为栅极驱动电路或漏极驱动电路。
[0004]为了实现上述目的，本发明提供了一种检测方法，适于检测主动元件阵列基板上的缺陷，其中主动元件阵列基板包括多个像素结构、驱动电路、多条信号线以及控制线。所述多个像素结构配置于显示区内，驱动电路配置于显示区之外。所述多条信号线分别电性连接驱动电路与相应的像素结构。控制线与信号线相互交错。此检测方法先从所述多条信号线中选定待测信号线，再导通控制线与待测信号线。接着，由控制线输入测试信号至待测信号线，以判定缺陷的位置。最后，再绝缘控制线与待测信号线。
[0005]在一实施例中，从所述多条信号线中选定待测信号线的方法为:通过电压映像测定法来判断缺陷所对应的待测信号线。
[0006]在一实施例中，输入测试信号至待测信号线，以判定缺陷位置的方法为:对主动元件阵列基板进行红外线热影像检测，以通过获得的红外线热影像数据来判断缺陷的位置。
[0007]在一实施例中，导通控制线与待测信号线的方法为:通过激光来熔接控制线与待测信号线的交错处，以形成连接控制线与待测信号线的熔接点。在判定缺陷的位置之后，绝缘控制线与待测信号线的方法为:移除连接于熔接点的相对两侧的待测信号线的一部分，以形成第一信号线段、第二信号线段以及第三信号线段，其中第一信号线段电性连接驱动电路，第二信号线段电性连接像素结构，第三信号线段具有熔接点，且与第一信号线段与第二信号线段相互绝缘。之后，再形成电性连接第一信号线段与第二信号线段的连接线，且连接线与第三信号线段相互绝缘。
[0008]在一实施例中，信号线的一侧具有突出的第一延伸部，控制线的一侧具有突出的第二延伸部，且第一延伸部与第二延伸部相互交错，以形成前述所提及的激光熔接后的熔接点。在判定缺陷的位置之后，绝缘控制线与待测信号线的方法为:移除连接于熔接点的部分第一延伸部，以绝缘熔接点与信号线；移除连接于熔接点的部分第二延伸部，以绝缘熔接点与控制线。
[0009]为了更好地实现上述目的，本发明还提供了一种主动元件阵列基板，包括多个像素结构、驱动电路、控制线以及多条信号线。所述多个像素结构配置于显示区内。驱动电路配置于显示区之外。控制线位于驱动电路与显示区之间。所述多条信号线电性连接驱动电路与相应的像素结构，并分别与控制线相互交错。所述多条信号线包括目标信号线，且目标信号线包括第一信号线段、第二信号线段、第三信号线段以及连接线。第一信号线段电性连接驱动电路，第二信号线段电性连接相应的像素结构，第三信号线段具有熔接点并连接控制线，且第三信号线段分别与第一信号线段以及第二信号线段相互绝缘。连接线电性连接第一信号线段与第二信号线段，且连接线与第三信号线段相互绝缘。
[0010]在一实施例中，上述的连接线与控制线交错，且连接线的两端分别连接第一信号线段与第二信号线段。
[0011]为了更好地实现上述目的，本发明还提供了另一种主动元件阵列基板，包括多个像素结构、驱动电路、控制线以及多条信号线。所述多个像素结构配置于显示区内。驱动电路配置于显示区之外。控制线位于驱动电路与显示区之间。所述多条信号线电性连接驱动电路与相应的像素结构，并分别与控制线相互交错。各信号线的一侧具有至少一第一延伸部，控制线的一侧具有至少一第二延伸部，且各第一延伸部中的至少一个与相应的第二延伸部相互交错。
[0012]在一实施例中，所述多条信号线中的至少一条为目标信号线，且目标信号线的第一延伸部与相应的第二延伸部相互交错并构成熔接点。熔接点不与驱动电路电性连接。
[0013]在一实施例中，上述的目标信号线还具有第一主体部以及第一断开部，控制线还具有第二主体部以及第二断开部。熔接点通过第一断开部以及第二断开部而分别与第一主体部以及第二主体部电性绝缘。
[0014]本发明的技术效果在于:
[0015]本发明通过从控制线输入测试信号至待测信号线，以达到不需使测试信号流经驱动电路便可检测出显示区内的缺陷位置的目的，进而使检测时可明显制造出红外线影像且不会损坏基板上的驱动电路。同时，有助于提高GOA形式的主动元件阵列基板的缺陷位置检出率。
[0016]还
[0017]以下结合附图和具体实施例对本发明进行详细描述，但不作为对本发明的限定。
【附图说明】
[0018]图1是本发明的主动元件阵列基板的示意图；
[0019]图2是本发明的检测方法流程图；
[0020]图3是本发明所应用的电压映像检测机台示意图；
[0021]图4是本发明一实施例的缺陷位置检测方法流程图；
[0022]图5A至图5C是进行本发明一实施例的一种主动元件阵列基板的检测方法的相应结构的局部放大图；
[0023]图6是本发明另一实施例的缺陷位置检测方法流程图；
[0024]图7A及图7B是进行本发明另一实施例的一种主动元件阵列基板的检测方法的相应结构的局部放大图。
[0025]其中，附图标记
[0026]30 电压映像机台
[0027]31感光元件
[0028]32 光源
[0029]33调变元件
[0030]34液晶结构
[0031]35反射元件
[0032]40影像处理器
[0033]50监控器
[0034]100主动元件阵列基板
[0035]110 显示区
[0036]120像素结构
[0037]130驱动电路
[0038]140U40A 信号线
[0039]141A第一信号线段
[0040]142A第二信号线段
[0041]143A第三信号线段
[0042]144第一延伸部
[0043]144a第一主体部
[0044]144b第一断开部
[0045]150控制线
[0046]151第二延伸部
[0047]151a第二主体部
[0048]151b第二断开部
[0049]160连接线
[0050]d 间隙
[0051]S测试信号
[0052]S10、S20、S30、S31、S32、S33a、S33b、S34a 步骤
[0053]W熔接点
【具体实施方式】
[0054]下面结合附图对本发明的结构原理和工作原理作具体的描述:
[0055]本发明通过从控制线输入测试信号至待测信号线，以达到不需使测试信号流经驱动电路便可检测出显示区内的缺陷位置的目的，进而于检测时可明显制造出红外线影像且不会损坏GOA形式的主动元件阵列基板上的驱动电路。事实上，本发明所采用的控制线例如是起始脉冲信号线，起始脉冲信号线原用于提供起始脉冲信号Vst，栅极信号根据起始脉冲信号Vst而产生。换言之，可以选择利用基板上的既有线路来传输测试信号，使得测试信号不需经过GOA形式的主动元件阵列基板上的驱动电路，便能进入显示面内的像素结构，而不需额外形成其他的线路作为控制线。当然，在其他实施例中，还可以选择类似的线路作为控制线，例如:提供负电压Vss给所有移位寄存器电源端的负电压线，或是提供时钟信号Vck给时钟信号端Ck的时钟信号线等。或者，在没有适用的线路的情况下，也可以额外在GOA形式的主动元件阵列基板上的驱动电路与显示区之间另外制作前述控制线。本发明并不以此为限。
[0056]图1是本发明的主动元件阵列基板的示意图