电子元件检测验证实验仪的制作方法

文档序号:2563152阅读:147来源:国知局

专利名称::电子元件检测验证实验仪的制作方法
技术领域
:本实用新型涉及电学实验教学用仪器,尤其涉及检测验证电子元件的仪器,用于二极管、电容、电阻、电池和短路或断路的检测验证。
背景技术
:在电学实验教学内容中,为了增强学生电学基本知识,要让学生学习依据不同电子元件的特性对电子元件进行判断。常规的实验操作是教学人员先把待测的电子元件装在盒子里密封起来,装电子元件的盒子有两种一种是盒内只有一个电子元件,一个盒子只有两个接线端;另一种是盒内有三个电子元件,一个盒子有四个接线端,如图3所示。盒外的两个接线端之间连接干电池、或定值电阻、或电容器或半导体二极管;盒外的两接线端之间连接导线,形成短路或盒外的两接线端之间为断路情况。待测电子元件连接在接线端上,两个接线端之间只接一个元件,且元件之间不连成串、并联电路。该实验操作不规范,单调无趣味,因而达不到教学质量要求。经检索国内外现有文献,尚未发现与本实用新型最接近的现有文献。实用新型的内容本实用新型的目的在于提供一种电子元件检测验证实验仪,使电学实验教学仪器规范,教学内容富有趣味,提高操作者依据不同电子元件的特性分别对其检测判断的能力,提高电学教学质量。为了实现上述实用新型的目的,其技术方案是本实用新型包括箱体、检测表、仪器面板、直流电源、发光二极管LED1LED5、复合按钮开关SB1SB5、波段开关SB6SB7、接线柱X1X4、开关Q、定值电阻R、电解电容C和二极管VD,这些元器件装在仪器面板上,仪器面板装于箱体内,直流电源的负极与波段开关SB6的第三层动合位点和第四层动断位点、波段开关SB7的第一层的极点和发光二极管LED8的负极连接,直流电源的正极分别与开关Q连接和复合按钮开关SB1SB5串联后的动断触点连接,开关Q与发光二极管LED8的正极连接后,分别与复合按钮开关SB1SB5的动合触点连接,发光二极管LED1的负极与发光二极管LED2的负极和波段开关SB6的第三层的极点连接,发光二极管LED1的正极与复合按钮开关SB1的动合触点连接,发光二极管LED2的正极与复合按钮开关SB2的动合触点连接,发光二极管LED3的负极与接线柱X2和波段开关SB6的第四层的极点连接,发光二极管LED3的正极与复合按钮开关SB3的动合触点连接,发光二极管LED4的负极与波段开关SB7的第一层动断位点连接,发光二极管LED4的正极与波段开关SB6的第二层的极点连接,波段开关SB6的第二层动断位点与复合按钮开关SB4的动合触点连接,发光二极管LED5的负极与波段开关SB7的第一层动合位点连接,发光二极管LED5的正极与波段开关SB6的第一层的极点连接,波段开关SB6的第一层动断位点与复合按钮开关SB5的动合触点连接,接线柱X1、X2、X3、X4分别与波段开关SB6的第五层、第四层、第七层、第六层的极点对应连接,波段开关SB7的第二层的极点与波段开关SB6的第七层动断位点连接,定值电阻R的一端与波段开关SB7的第二层动断位点连接,其另一端与波段开关SB7的第二层动合位点连接后再与波段开关SB6的第六层动断位点连接,电解电容C的正、负极分别与波段开关SB6的第七层、第五层动合位点连接,二极管VD的正、负极分别与波段开关SB6的第六层、第四层动合位点连接。发光二极管LED6可装在接线柱XI、X4之间的仪器面板上,发光二极管LED7可装在接线柱X2、X3之间的仪器面板上,本实用新型具有以下技术效果本实用新型使电学实验教学仪器规范,教学内容富有趣味,提高操作者依据不同电子元件的特性分别对其检测判断的能力,提高电学教学质量。在仪器面板上设的检测点少,只有X1、X2、X3、X4四个检测点,但检测的内容却多。通过波段开关SB6、SB7控制,能分别检测到四个检测点与点之间是否连接有电动势(电池)、定值电阻、电容、二极管或线路是否呈短、断路的情况。并且还通过开关Q与波段开关SB6、SB7及复合按钮开关SB1SB5复合按钮开关互动控制,实现验证所检测判断的情况是否正确。本实用新型结构紧凑合理,携带方便。图1为检测与验证控制电路原理图2为打开箱盖后的仪器面板检测点及检测与验证控制器的俯视图;图3为现有的四接线端元件盒;具体实施方式在图l、图2中,本实用新型包括箱体、直流电源、仪器面板、检测表、发光二极管LED1LED8、复合按钮开关SB1SB5、波段开关SB6SB7、接线柱X1X4、开关Q、直流电源、定值电阻R、电解电容C,其中,直流电源、发光二极管LED1LED8、复合按钮开关SB1SB5、波动开关SB6SB7、接线柱X1X4、开关Q、定值电阻R、电解电容C和二极管VD布置在仪器面板上,它们的连接关系和极性关系与技术方案相同,且装于箱体内;包括表笔在内的检测表位于箱体内。在图1中,直流电源为3V。在图2中,仪器面板上的四个接线柱X1、X2、X3、X4分别为检测点,LED1LED7为发光二极管,作用是实验者通过接通控制开关,观察发光二极管亮与不亮,以便验证先前用检测表所检测判断的两检测点之间的情况是否正确;分别标有"二极管"、"电容"、"电池"、"电阻"和"短路"的复合按钮开关即为五个带动合和动断触点的复合按钮开关,依次对应用SB1、SB2、SB3、SB4、SB5表示,这五个复合按钮开关分别对应控制LED1-LED5发光二极管通断。具体操作是这样的实验者先用检测表检测完所有检测点与点之间情况后,并分析判断任意两检测点之间连接的是什么元件或两检测点呈什么状态,然后将判断结果分别记录在以下的表l、表2、表3中表l<table>tableseeoriginaldocumentpage7</column></row><table>表2<table>tableseeoriginaldocumentpage7</column></row><table><table>tableseeoriginaldocumentpage8</column></row><table>表3<table>tableseeoriginaldocumentpage8</column></row><table>接着将图2中的钮子开关扳向"验证开",即图1中的开关Q接通,"验证指示"发光二极管LED8亮,然后根据操作者先前判断情况选择这五个复合按钮开关SB1、SB2、SB3、SB4、SB5的中对应的一个复合按钮开关按下接通,当前述所测两检测点之间的发光二极管亮,则判断正确,不亮则判断错误。例如实验操作者用检测表检测分析判断某两检测点之间连接的是电池,自我检查时按下如图2中标有"电池"的复合按钮开关SB3,当所检测两点之间的发光二极管亮则判断正确,不亮则判断错误。LED6、LED7发光二极管为虚设,主要起迷惑实验者作用,因为Xl-X4检测点之间或X2-X3检测点之间,在各开关触点处于任何位置时都呈断路状态,因此设两发光二极管给实验者小小的迷惑,使实验者在实验检测Xl-X4或X2-X3检测点时必须要经过一番思考才能判断正确Xl-X4之间、X2-X3之间是连接的什么元件或两检测点呈什么状态。以提高实验者的判断能力,从而学好扎实的电学知识。注若分别按下复合按钮开关,即分别接通SB1-SB5,所测两检测点之间的发光二极管未亮,则判断两检测点之间呈断路状态。通过图2中的SB6、SB7波段开关控制,XI、X2、X3、X4任意两检测点只有一个电子元件连接(不呈串、并联电路),或两检测点形成短路或断路状态。这样达到了检测点虽少但检测内容则多的目的,使检测复杂化,趣味化。在图2中当波段开关SB6的开关指示对准其上的"3",波段开关SB7的开关指示对准其上"1"时,则正确检测判断如表l。当波段开关SB6的开关指示对准其上的"4",波段开关SB7的开关指示对准其上的"1"时,则正确检测判断如表2。当波段开关SB6的开关指示对准其上的"3",波段开关SB7的开关指示对准其上的"2"时,则正确检测判断如表3。当波段开关SB6的开关指示对准其上的"4",波段开关SB7的开关指示对准其上的"2"时,则正确检测判断同表2。权利要求1、一种电子元件检测验证实验仪,其特征在于该实验仪包括箱体、检测表、仪器面板、直流电源、发光二极管LED1~LED8、复合按钮开关SB1~SB5、波段开关SB6~SB7、接线柱X1~X4、开关Q、定值电阻R、电解电容C和二极管VD,这些元器件装在仪器面板上,仪器面板装于箱体内,直流电源的负极与波段开关SB6的第三层动合位点和第四层动断位点、波段开关SB7的第一层的极点和发光二极管LED8的负极连接,直流电源的正极分别与开关Q连接和复合按钮开关SB1~SB5串联后的动断触点连接,开关Q与发光二极管LED8的正极连接后,分别与复合按钮开关SB1~SB5的动合触点连接,发光二极管LED1的负极与发光二极管LED2的负极和波段开关SB6的第三层的极点连接,发光二极管LED1的正极与复合按钮开关SB1的动合触点连接,发光二极管LED2的正极与复合按钮开关SB2的动合触点连接,发光二极管LED3的负极与接线柱X2和波段开关SB6的第四层的极点连接,发光二极管LED3的正极与复合按钮开关SB3的动合触点连接,发光二极管LED4的负极与波段开关SB7的第一层动断位点连接,发光二极管LED4的正极与波段开关SB6的第二层的极点连接,波段开关SB6的第二层动断位点与复合按钮开关SB4的动合触点连接,发光二极管LED5的负极与波段开关SB7的第一层动合位点连接,发光二极管LED5的正极与波段开关SB6的第一层的极点连接,波段开关SB6的第一层动断位点与复合按钮开关SB5的动合触点连接,接线柱X1、X2、X3、X4分别与波段开关SB6的第五层、第四层、第七层、第六层的极点对应连接,波段开关SB7的第二层的极点与波段开关SB6的第七层动断位点连接,定值电阻R的一端与波段开关SB7的第二层动断位点连接,其另一端与波段开关SB7的第二层动合位点连接后再与波段开关SB6的第六层动断位点连接,电解电容C的正、负极分别与波段开关SB6的第七层、第五层动合位点连接,二极管VD的正、负极分别与波段开关SB6的第六层、第四层动合位点连接。2、根据权利要求1所述的电子元件检测验证实验仪,其特征在于发光二极管LED6装在接线柱XI、X4之间的仪器面板上,发光二极管LED7装在接线柱X2、X3之间的仪器面板上。专利摘要一种电子元件检测验证实验仪涉及电学实验教学用仪器,尤其涉及检测验证电子元件的仪器,用于二极管、电容、电阻、电池和短路或断路的检测验证。本实用新型包括箱体、检测表、仪器面板、直流电源、发光二极管LED1~LED8、复合按钮开关SB1~SB5、波段开关SB6~SB7、接线柱X1~X4、开关Q、定值电阻R、电解电容C和二极管VD,这些元器件装在仪器面板上,仪器面板装于箱体内。本实用新型使电学实验教学仪器规范,教学内容富有趣味,提高操作者依据不同电子元件的特性分别对其检测判断的能力,提高电学教学质量;结构紧凑合理,携带方便。文档编号G09B23/18GK201229693SQ200820098200公开日2009年4月29日申请日期2008年5月4日优先权日2008年5月4日发明者戴心锐申请人:重庆大学
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