成像装置、存储介质以及成像方法

专利名称：成像装置、存储介质以及成像方法
技术领域：
本发明涉及一种成像装置、存储介质以及成像方法。
背景技术：
通过使用电子照相过程(process)来进行成像的(电子照相印刷系统的)成像装 置通常在成像时通过使用诸如电荷和静电吸引之类的静电要素(element)和操作在纸张 等等上形成(印刷)图像。因此，如果成像装置的内部温度和湿度的情况改变，则电子照相过程的过程条件 (尤其是转印过程的过程条件)被改变所影响而变化。结果，在纸张上印刷的图像的图像质 量有时并非变为所期望的图像质量。为了解决这种问题，公开了检测成像装置的内部温度和湿度以在所检测的值的基 础上修正电子照相过程的过程条件的技术(见日本专利申请公开出版物No. H 11-167243 和 No. 2000-98771)。此外，还公开了不仅检测成像装置的内部、而且还检测外部环境状态以在这些 检测的值的基础上修正电子照相过程的过程条件的技术(见日本专利申请公开出版物 No. 2007-156201)。此外，还公开了参考成像装置的内部环境(温度和湿度)的历史以总是进行修正 的技术(见日本专利申请公开出版物No. 2001-296759)。然而，成像装置中的环境(温度和湿度)在成像装置的操作期间处于改变的 过程中。即使在通过使用日本专利申请公开出版物No. H 11-167243、No. 2000-98771、 No. 2007-156201和No. 2001-296759中公开的技术，在所检测的环境条件(温度、湿度)和 历史的基础上的情形下进行电子照相过程的过程条件的修正，所修正的过程条件也并非变 为适当的过程条件。因此，在纸张上印刷的图像的图像质量并非变为期望的图像质量。

发明内容
考虑到上述问题而作出本发明，并且本发明旨在在正处于改变的过程中的环境的 条件下进行对成像装置的适当过程条件的修正。根据本发明的的第一方面，提供了一种用于通过使用电子照相过程来进行成像的 成像装置，包括控制部分，用于基于被用于电子照相过程且构成成像装置的组件的阻抗值 的环境依赖特性信息以及自身装置中的环境改变信息来判断电子照相过程中的过程条件 的修正的必要性的存在，并且用于基于判断的结果来进行修正。根据本发明的第二方面，提供了一种用以存储用于使得计算机用作控制部分的程 序的计算机可读存储介质，其中所述控制部分用于基于被用于电子照相过程且构成成像装 置的组件的阻抗值的环境依赖特性信息以及成像装置中的环境改变信息来判断电子照相 过程中的过程条件的修正的必要性的存在，所述控制部分基于判断的结果来进行修正。根据本发明的第三方面，提供了一种由用于通过使用电子照相过程来进行成像的
4成像装置执行的成像方法，所述方法包括步骤基于被用于电子照相过程且构成成像装置 的组件的阻抗值的环境依赖特性信息、以及成像装置中的环境改变信息，来判断电子照相 过程中的过程条件的修正的必要性的存在；以及基于在判断步骤中获得的判断的结果来进 行修正。根据本发明的第一、第二和第三方面，可以在正处于改变的过程中的环境的条件 下，适当地修正成像装置中的过程条件。


下面，将依据下面给出的详细描述以及附图，更加全面地理解本发明的这些和其 它目的、优势和配置。关于本发明的实施方式的以下描述并非意在限制本发明的范围，并且 其中图1是示出根据本发明的第一实施例的成像装置的功能配置的示例的视图；图2是示出控制部分的功能配置的示例的框图；图3是示出主转印辊(roller)环境依赖特性信息的图；图4是示出成像装置中的环境改变的图；图5是示出修正执行判断信息的生成处理的流程图；图6是转印电压控制判断表的数据配置图；图7是示出转印电压修正处理的流程图；图8是示出根据本发明的第二实施例的控制部分的功能配置的示例的框图；图9是示出主转印辊阻抗改变特性信息的图；以及图10是示出转印电压修正处理的流程图。
具体实施例方式下面，将参照图1-7来描述本发明的成像装置的第一实施例。首先，将描述其配置。图1示出了本发明的第一实施例的成像装置1的功能配置 的示例。如图1中所示，成像装置包括图像读取部分10、成像部分20、电源部分30、控制部 分40和传送部分90。图像读取部分10包括自动原纸馈送装置11、原像扫描装置12等。自动原纸馈送 装置11利用传送机构来传送位于原台架(Stand)上的原件d，来将原件d发送至原像扫描 装置12。原像扫描装置12对所传送的原件d进行光扫描，并且对原件d上的原像进行光电 转换，以利用传感器电荷耦合器件(CCD)读取原像。由图像读取部分10读取的原像(模拟图像信号)被输出至下面描述的控制部分 40，并且经受各种图像处理，诸如模拟处理、模-数(A/D)转换处理、黑点(shading)校正和 图像压缩处理。然后，经处理的原像被分色为黄色(Y)、品红色(M)、青色(C)和黑色(K)的 每种颜色，以作为要输出的图像数据而被输出至成像部分20的曝光单元2Y、2M、2C和2K。另外，自动原纸馈送装置11包括用于读取原件的两面的传送机构，并且可以一口 气连续读取从原台架传送的多个原件d的图像(包括两面)。原像的读取数据被存储在成 像部分20的内部图像存储器中，并且将在被输出时作为要被输出至曝光单元2Y、2M、2C和 2K的输出数据而被顺序读取。此功能被用在利用复印功能复印多个原像的情况、利用传真
5功能传输多个原件的数据的情况中等。成像部分20通过串联式(tandem)系统在纸张上进行成像，并且配备有曝光单元 2Y、2M、2C和2K (其为发光器件等)，显影单元3Y、3M、3C和3K，感光鼓4Y、4M、4C和4K，主转 印辊(transfer roller) 7Y、7M、7C和7K，中间转印带8等，它们在至各个颜色Y、Μ、C和K 的主扫描方向上排列成行。分别将用于进行充电的充电部分5Y、5M、5C和5K以及用于分别 去除感光鼓4Y、4M、4C和4K上的残留色粉的清洁部分6Y、6M、6C和6K提供在感光鼓4Y、4M、 4C和4K周围。下面，为了便于描述，主转印辊7Y、7M、7C和7K将共同称为主转印辊7。此外，成像部分20包括用于将在中间转印带8上转印的色粉图像转印到纸张上的 二次转印辊21、以及用于进行在纸张上转印的色粉图像的热固定的固定部分22。中间转印 带8被围绕其自己而缠绕中间转印带8的多个辊可旋转地支持。面向中间转印带8提供用 于去除中间转印带8上的残留色粉的清洁部分9。 在下面所述的控制部分40的控制下，通过分别由曝光单元2Y、2M、2C和2K形成具 有颜色Y、M、C和K的每个感光鼓4Y、4M、4C和4K的静电潜像，通过将色粉附着于静电潜像 而在中间转印带8上形成色粉图像，通过将色粉图像转印至纸张，以及通过利用固定部分 22来进行纸张上的色粉图像的热固定，来进行成像部分20中的成像。该系列处理称为电子 照相过程。将检测部分50提供在成像部分20中的中间转印带8的附近，以周期性地检测中 间转印带8的附近的温度和湿度。检测部分50将检测结果的信息输出至控制部分40。电源部分30连接至未示出的商用交流电源，并且将从商用交流电源输入的交流 (AC)电源电力转换为直流(DC)电源电力，以将必要的电压提供给各个部分。电源部分30 遵照来自控制部分40的控制指令而进行电源提供。控制部分40是用于共同地控制成像装置1的操作的控制驱动电路。如图2中 所示，控制部分40包括中央处理单元(CPU)41、随机存取存储器(RAM)42、硬盘驱动器 (HDD) 43、输入端口 44、输出端口 45以及驱动器46。控制部分40通过读取每一个以能够被CPU 41读取的格式存储在诸如HDD 43和 ROM(未示出)的存储介质中的控制程序、应用程序和各种设置数据，以及通过使用RAM 42 中的预定区域作为工作区域、利用CPU 41顺序执行所读取的程序和数据，来共同地控制成 像装置的操作。此外，控制部分40通过顺序执行上面提及的程序，进行前述各种类型的图 像处理。HDD 43存储主转印辊阻抗值特性信息431。主转印辊阻抗值特性信息431是表示 在充分长的时段中、主转印辊7在某一环境(特定温度和湿度)中保持原样的情况下的主 转印辊7的阻抗值的信息。稍后将描述主转印辊阻抗值特性信息431的细节。输入端口 44是从安装在成像装置1的各个地方的各个传感器(例如，检测部分 50)接收信号以将所接收的信号输出至CPU 41的接口。输出端口 45是用以将由CPU 41输出的控制信号输出至驱动器46的接口。驱动器46基于从输出端口 45输出的控制信号，负责安装在成像装置1的各个地 方的各个电机的驱动控制。控制部分40在来自检测部分50的检测结果的信息(温度和湿度)的基础上进行 各种类型的处理，并且进行对主转印辊7的转印电压的修正。即，控制部分40通过驱动器
646而将控制指令输出至电源部分30。控制指令表示在对主转印辊7的修正之后指示电源 部分30提供电压值。传送部分90通过传送辊机构等将放置在能够被自动盘切换(ATS)送纸功能控制 的纸盘T1-T3中的纸张沿着传送通道传送至各个部分，并且将纸张排出至成像装置1的外 部的复印接收盘91。具体地说，传送部分90进行如下操作将放置在纸盘T1-T3中的纸张 传送至二次转印辊21 ；在通过二次转印辊21对色粉图像的转印之后将纸张传送至固定部 分22 ；将经受固定部分22的热固定的纸张排纸(paper ejection)至复印接收盘91 ；等等。图3将主转印辊阻抗值特性信息431显示为图。该图称为主转印辊阻抗值特性信 息图。如图3中所示，主转印辊阻抗值特性信息图的横坐标轴表示温度CC )，而其纵坐 标轴表示相对湿度(％)。相对湿度与湿度含意相同。此外，图中的圆的尺寸表示当在充分 长的时段内、主转印辊7在相应环境(温度、湿度)中保持原样时的主转印辊7的阻抗值的 大小。这里，用直线Ll表示在与主转印辊7的阻抗值变为可比程度时的环境(温度、湿 度)对应的点(即，图上的圆的尺寸变为可比程度时的点)的基础上、使用例如最小平方法 获得的回归线。于是，与各个尺寸对应的各个直线Ll的所有斜度彼此相等。该相等的斜度 称为“斜度a”。该斜度变为主转印辊7的环境依赖特性信息。依据图3，环境依赖特性信息 (斜度 a)是 “-3. 33”。图4是示出成像装置1中的环境改变的图。该图称为环境改变图。具体地说，环 境改变图是示出当操作成像装置1时、检测部分50检测的温度和湿度的改变的图。如图4中所示，环境改变图的横坐标轴表示温度(°C )，而其纵坐标轴表示湿度 (%)0环境改变图的轴类似于上面提及的主转印辊阻抗值特性信息图的轴。于是，直线Ll 是每一个都具有斜度a的直线，并且表示主转印辊阻抗值特性信息图的直线Li。此外，Δ (三角形)表示根据当在成像装置1的周围的30°C温度和80%湿度的环 境中操作成像装置1时、由检测部分50周期性地检测的温度和湿度的改变而描画的点。这 里，用直线L2表示在这些点的基础上、通过使用例如最小平方法而获得的回归线。于是，由 检测部分50检测的温度和湿度的值几乎沿着直线L2转变。具体地说，当操作成像装置1 时，其温度从较低点转变至较高点。此外，当停止成像装置1时，其温度从较高点转变至较 {氐点。类似地，□(四边形)表示根据当在成像装置1的周围的20°C温度和50%湿度的 环境中操作成像装置1时、由检测部分50周期性地检测的温度和湿度的改变而描画的点。 这里，用直线L3表示在这些点的基础上、通过使用例如最小平方法而获得的回归线。于是， 由检测部分50检测的温度和湿度的值几乎沿着直线L3转变。类似地， (菱形)表示根据当在成像装置1的周围的10°C温度和20%湿度的环 境中操作成像装置1时、由检测部分50周期性地检测的温度和湿度的改变而描画的点。这 里，用直线L4表示在这些点的基础上、通过使用例如最小平方法而获得的回归线。于是，由 检测部分50检测的温度和湿度的值几乎沿着直线L4转变。这里，表示成像装置1中的环境改变的直线(直线L2、L3、L4等)的斜度越接近 于直线Ll的斜度a，主转印辊7的阻抗值的改变就变得越小。依据图4，如果在30°C温度
7和80%湿度的环境中操作成像装置1，则主转印辊7的阻抗值的改变变得小于其它环境的 主转印辊7的阻抗值的改变。此外，如果在10°C温度和20%湿度的环境中操作成像装置1， 则主转印辊7的阻抗值的改变变得大于其它环境的主转印辊7的阻抗值的改变。接下来，将参照图5来描述修正执行判断信息的生成处理的具体操作，该生成处 理由成像装置1的控制部分40来执行。这里，修正执行判断信息表示主转印辊7的环境依 赖特性信息、转印电压控制判断表等。如图5中所示，控制部分40依据图3中所示的主转印辊阻抗值特性信息431而计 算主转印辊7的环境依赖特性信息(步骤Si)。具体地说，控制部分40计算主转印辊阻抗 值特性信息图(见图3)中的直线Ll的斜度a。接下来，控制部分40生成与所计算的主转印辊7的环境依赖特性信息(斜度a) 对应的转印电压控制判断表(步骤S2)。具体地说，由多条直线Ll划分主转印辊阻抗值特性信息图上的区域(见图3和 4)。于是，如果与由检测部分50检测的温度和湿度对应的点跨越所述区域，则控制部分40 生成转印电压控制判断表以修正主转印辊7的转印电压。即，转印电压控制判断表中的项 (下面描述的)的值依赖于主转印辊阻抗值特性信息图上的多条直线Ll的宽度。直线Ll 之间的宽度事先通过用户利用未示出的操作部分的操作而设置。图6示出所生成的与环境依赖特性信息“-3. 33”对应的转印电压控制判断表。如 图6中所示，转印电压控制判断表包括一个或多个记录，其包括“环境改变信息”项和“用于 转印电压控制执行的改变的温度，，项。“环境改变信息”项是在由检测部分50在某一时间(第一时间)和在稍后的某一 时间(第二时间)检测的各个温度之间的差的绝对值、与由检测部分50在第一时间和第二 时间检测的湿度之间的差的绝对值之间的每一个比。稍后将描述“环境改变信息”的细节。“用于转印电压控制执行的改变的温度”项是作为用于对主转印辊7进行转印电 压修正的条件的、由检测部分50检测的温度的每个改变宽度，所述修正由控制部分40来进 行。例如，当环境改变信息是“1. 55”时，控制部分40每5°C由检测部分50检测的温度的改 变宽度而对主转印辊7进行转印电压的修正。接下来，将参照图7来描述成像装置1中执行的转印电压修正处理的具体操作。如图7中所示，检测部分50在某一时间tl检测温度T(tl)和湿度H(tl)(步骤 S101)o然后，检测部分50在晚于时间tl的某一时间t2检测温度T(t2)和湿度H(t2)(步 骤 S102)。控制部分40在由检测部分50检测的温度T(tl)和T(t2)以及湿度H(tl)和H(t2) 的基础上，计算环境改变信息(步骤S103)。具体地说，控制部分40利用下面的公式(1)来 计算环境改变信息。即，环境改变信息是表示主转印辊阻抗值特性信息图(见图4)中的环 境改变的直线(直线L2、L3、L4等)的每个斜度。环境改变信息=(|H(tl)-H(t2)|)/(|T(tl)_T(t2) )... (1)然后，控制部分40在环境改变信息和所生成的转印电压控制判断表的基础上，确 定用于转印电压控制执行的改变的温度(步骤S104)。例如，如果环境改变信息是1.05，则 根据图6，用于转印电压控制执行的改变的温度是每3 V。控制部分40每确定的改变的温度而执行主转印辊7的转印电压的修正(电子照
8相过程中的过程条件的修正)(步骤S105)。具体地说，HDD 43存储每个环境(温度和湿 度)的最佳转印电压值。控制部分40通过参考转印电压值来执行转印电压的修正。随即，
处理结束。如上所述，根据第一实施例，成像装置1的控制部分40依据存储在HDD43中的主 转印辊阻抗值特性信息431 (见图3)，计算主转印辊7的环境依赖特性信息。此外，成像装 置1的检测部分50在某一时间tl和t2检测在中间转印带8的附近的温度和湿度。控制 部分40在所检测的信息的基础上，计算环境改变信息。控制部分40在所计算的环境依赖 特性信息和环境改变信息的基础上，判断电子照相过程中的过程条件的修正的必要性的存 在，g卩，主转印辊7的转印电压的修正的必要性的存在。然后，控制部分40在判断结果(用 于转印电压控制执行的改变的温度)的基础上，进行修正。因此，可以在正处于环境改变的过程中的条件下，进行成像装置中的电子照相过 程的过程条件的适当修正。接下来，将参照图8-10来描述本发明的成像装置的第二实施例。这里，将主要描 述与上述第一实施例的方面不同的方面。图8示出根据本发明的第二实施例的控制部分40的功能配置。如图8中所示，HDD 43存储主转印辊阻抗值特性信息431和主转印辊阻抗改变特性信息432。此外，控制部分40还用作用于测量时间的测量部分。主转印辊阻抗改变特性信息432是表示伴随主转印辊7周围环境(温度、湿度) 的改变的、主转印辊7的阻抗值的改变特性的信息。图9将主转印辊阻抗改变特性信息432 显示为图。该图称为主转印辊阻抗改变特性信息图。如图9中所示，主转印辊阻抗改变特性信息图的横坐标轴表示时间(分钟)，而其 纵坐标轴表示主转印辊7的阻抗值的放大率(magnification ratio)。这里，通过下面的公 式(2)来表达主转印辊阻抗改变特性信息。阻抗值的放大率=CX(l-EXP(_t)/10)…(2)字母C表示取对应于每个环境改变的状态的值的常量。在图9中，示出了在主转 印辊7的温度和湿度分别从时间0的时间点处的30°C和80%改变至10°C和20%的情况下 的主转印辊7的阻抗值的改变。此时，常量C的值变为“50”。常量C的值可以取负值。HDD 43存储主转印辊阻抗改变特性信息432的公式⑵。接下来，将参照图10来描述成像装置1中将要执行的转印电压修正处理的具体操 作。如图10中所示，检测部分50在某一时间tl检测温度T(tl)和湿度H(tl)(步骤 S201)。然后，检测部分50在晚于时间tl的某一时间t2检测温度T(t2)和湿度H(t2)(步 骤S202)。此外，控制部分40使得RAM 42存储在时间tl和t2的信息。控制部分40在由检测部分50检测出的温度T(tl)和T(t2)以及湿度H(tl)和 H(t2)的基础上，计算环境改变信息(步骤S203)。具体地说，控制部分40通过使用上面提 及的公式(1)来计算环境改变信息。即，环境改变信息表示主转印辊阻抗值特性信息图中 显示环境改变的直线(直线L2、L3、L4等)的斜度(斜度b)。然后，控制部分40在环境改变信息(斜度b)与环境依赖特性信息(斜度a)之间 的差(|b-a|)的基础上，判断主转印辊7的转印电压的修正的必要性的存在(步骤S204)。
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具体地说，控制部分40判断环境改变信息(斜度b)与环境依赖特性信息(斜度 a)之间的差是否大于修正执行判断阈值。如果环境改变信息(斜度b)与环境依赖特性信 息(斜度a)之间的差的绝对值大于修正执行判断阈值，则控制部分40判断存在主转印辊7 的转印电压的修正的必要性。此外，在其它情况下，控制部分40判断不存在主转印辊7的 转印电压的修正的必要性。修正执行判断阈值通过用户利用未示出的操作部分的操作来事 先设置。如果作为在步骤S204的判断的结果不存在修正的必要性(步骤S205 否)，则控 制部分40结束处理。另一方面，如果作为判断的结果不存在修正的必要性(步骤S205 是)，则控制部 分40基于在时间tl和t2的信息计算流逝的时间(t2-tl)，该信息被存储在RAM 42中(步 骤 S206)。然后，控制部分40在由检测部分50检测的、在时间tl的温度T(tl)和湿度H(tl) 以及在时间t2的温度T(t2)和湿度H(t2)的基础上，确定阻抗改变的公式(阻抗改变特性 信息)(步骤S207)。具体地说，控制部分40确定公式(2)的常量C的值，其表示阻抗改变特性信息。 控制部分40参考主转印辊阻抗值特性信息431，以将在充分长的时间内主转印辊7在温度 T(t2)和湿度H(t2)的环境中保持原样时的阻抗值、与在充分长的时间内主转印辊7在温度 T(tl)和湿度H(t2)的环境中保持原样时的阻抗值的比设置为常量C。然后，控制部分40在步骤S207确定的阻抗改变的公式(阻抗改变特性信息)和 流逝的时间的基础上，计算主转印辊7的阻抗值(步骤S208)。例如，如果常量C的值是 50 (见图9)，并且流逝的时间是10分钟，则阻抗值放大率是约30倍。然后，控制部分40在所计算的阻抗值的基础上，执行对主转印辊7的转印电压的 修正(步骤S209)。具体地说，如果阻抗值变为30倍，则控制部分40在欧姆定律的基础上 使得主转印辊7的转印电压也变为30倍。随即，处理结束。如上所述，根据第二实施例，成像装置1的控制部分40依据存储在HDD43中的主 转印辊阻抗值特性信息431，计算主转印辊7的环境依赖特性信息。此外，成像装置1的检 测部分50在某一时间tl和t2检测中间转印带8的附近的温度和湿度。控制部分40在所 检测的信息的基础上，计算环境改变信息。控制部分40在所计算的环境改变信息(斜度b) 与环境依赖特性信息(斜度a)之间的差的基础上，判断主转印辊7的转印电压的修正的必 要性的存在。此外，控制部分40在时间tl和t2的基础上，计算流逝的时间。此外，控制部分40 在所检测的温度和湿度的基础上，确定阻抗改变特性信息(公式(2))的常量C。控制部分 40在阻抗改变特性信息和流逝的时间的基础上，计算主转印辊7的阻抗值。控制部分40在 阻抗值的基础上，执行对主转印辊7的转印电压的修正。因此，可以在正处于环境改变的过程中的条件下，进行更适当的对过程条件的修 正。具体地说，可以考虑被用于电子照相过程且构成成像装置1的组件的阻抗值的改变特 性，进行对过程条件的修正。根据本发明的第一方面，用于通过使用电子照相过程来进行成像的成像装置1包 括控制部分40，其用于基于被用于电子照相过程且构成成像装置1的组件的阻抗值的环境依赖特性信息(斜度a)、以及自身装置中的环境改变信息，判断电子照相过程中过程条件 的修正的必要性的存在。控制部分40基于判断的结果，进行修正。S卩，可以在正处于环境改变的过程中的条件下，进行成像装置1中的过程条件的 适当的修正。优选地，成像装置1还包括检测部分50，其用于检测自身装置中的温度和湿度，其 中，控制部分40使用组件的阻抗值变为可比程度时的温度和湿度的比(该组件在充分长的 时间内保持原样)，作为环境依赖特性信息，并且计算由检测部分50在第一时间(tl)和第 二时间(t2)检测的温度的差的绝对值、与由检测部分50在第一时间和第二时间检测的湿 度之间的差的绝对值之间的比，作为环境改变信息。S卩，可以在正处于环境改变的过程中的条件下，进行更加适当的过程条件的修正。优选地，控制部分40计算环境依赖特性信息与环境改变信息之间的差值，并且基 于该差值，判断过程条件的修正的必要性的存在。S卩，可以在正处于环境改变的过程中的条件下，进行更加适当的过程条件的修正。优选地，控制部分40使用伴随周围环境的改变的、组件的阻抗值的改变的特性， 作为阻抗改变特性信息；基于阻抗改变特性信息，计算过程条件的值的修正宽度；并且基 于所计算的修正宽度，进行修正。S卩，可以考虑环境改变而进行过程条件的修正。优选地，成像装置1还包括测量部分(控制部分40)，其用于测量时间，其中，控制 部分40计算由测量部分(控制部分40)测量的第一时间(tl)与第二时间(t2)之间的差 值作为流逝的时间，基于所流逝的时间和阻抗改变特性信息来计算组件的阻抗值，并且基 于所计算的阻抗值来计算过程条件的值的修正宽度。S卩，可以考虑环境改变而进行过程条件的修正。优选地，该组件是主转印辊7。优选地，过程条件的值之一是转印电压值。S卩，可以进行电子照相过程中的过程条件的适当的修正。根据本发明的第二方面，计算机可读存储介质(HDD 43)用以存储用于使得计算 机用作控制部分40的程序，其中该控制部分40用于基于被用于电子照相过程且构成成像 装置1的组件的阻抗值的环境依赖特性信息、以及该成像装置1中的环境改变信息，判断电 子照相过程中对过程条件的修正的必要性的存在，该控制部分40基于判断的结果而进行 修正。S卩，可以在正处于环境改变的过程中的条件下，进行成像装置的适当的过程条件 的修正。根据本发明的第三方面，由成像装置1执行的成像方法包括步骤基于被用于电 子照相过程且构成成像装置1的组件的阻抗值的环境依赖特性信息、以及该成像装置1中 的环境改变信息，判断电子照相过程中对过程条件的修正的必要性的存在(S204)；以及基 于在判断步骤(S204)中获得的判断的结果，进行修正(S209)。优选地，成像方法还包括步骤检测成像装置1中的温度和湿度(S101、S102、 S20US202)；计算组件的阻抗值变为可比程度时的温度和湿度的比(该组件在充分长的时 间内保持原样)，作为环境依赖特性信息(S103、S203)；以及计算在第一时间和第二时间在
11检测步骤(S101、S102、S201、S202)中检测的温度的差的绝对值、与在第一时间和第二时间 在检测步骤(S101、S102、S201、S202)中检测的湿度之间的差的绝对值之间的比，作为环境
改变信息。优选地，判断步骤(S204)包括计算环境依赖特性信息与环境改变信息之间的差 值，并且基于所计算的差值，判断过程条件的修正的必要性的存在。优选地，用于进行修正的步骤(S105、S209)包括基于通过使用伴随周围环境的 改变的、组件的阻抗值的改变的特性作为阻抗改变特性信息而获得的阻抗改变特性信息， 计算过程条件的值的修正宽度；以及基于所计算的修正宽度，进行修正。优选地，用于计算修正宽度的计算步骤包括步骤测量时间计算测量步骤中测 量的第一时间与第二时间之间的差值，作为流逝的时间(S206)；基于所计算的流逝的时间 和阻抗改变特性信息，计算组件的阻抗值(S208)；以及基于所计算的阻抗值，计算过程条 件的值的修正宽度。优选地，该组件是主转印辊7。优选地，过程条件的值之一是转印电压值。另外，对上述各个实施例的描述涉及根据本发明的成像装置的示例，而本发明的 范围不限于所述描述。成像装置的构造细节和操作细节还可以适当地改变。例如，虽然在上述每个实施例中，被用于电子照相过程且构成成像装置1的组件 是主转印辊7，但是该组件不限于主转印辊7。例如，该组件可以是二次转印辊21。在此情 况下，将检测部分50安装在二次转印辊21的附近。此外，可以采用其中控制部分40修正 关于主转印辊7和二次转印辊21两者的过程条件的配置。此外，在所述实施例中已经公开了使用HDD 43作为存储程序的计算机可读介质 的示例，本发明不限于所述示例。可以应用诸如光盘只读存储器(CD-ROM)的便携式记录介 质、诸如闪存的非易失性存储器等，作为其它计算机可读介质。此外，还可以应用载波，作为 用于通过通信线路提供程序的数据的介质。
1权利要求
1.一种用于通过使用电子照相过程来进行成像的成像装置，包括控制部分，用于基于被用于所述电子照相过程且构成所述成像装置的组件的阻抗值的 环境依赖特性信息、以及自身装置中的环境改变信息，来判断所述电子照相过程中的过程 条件的修正的必要性的存在，并且用于基于判断的结果来进行修正。
2.如权利要求1所述的成像装置，还包括检测部分，用于检测自身装置中的温度和湿 度，其中所述控制部分使用所述组件的阻抗值变为可比程度时的温度和湿度的比，作为所述环 境依赖特性信息，其中，所述组件在充分长的时间内保持原样，并且所述控制部分计算由所 述检测部分在第一时间和第二时间检测的温度的差的绝对值、与由所述检测部分在所述第 一时间和所述第二时间检测的湿度之间的差的绝对值之间的比，作为所述环境改变信息。
3.如权利要求2所述的成像装置，其中，所述控制部分计算所述环境依赖特性信息与 所述环境改变信息之间的差值，并且基于所述差值来判断所述过程条件的修正的必要性的 存在。
4.如权利要求2或3所述的成像装置，其中，所述控制部分使用伴随周围环境的改变 的、所述组件的阻抗值的改变的特性作为所述阻抗改变特性信息，基于所述阻抗改变特性 信息来计算所述过程条件的值的修正宽度，并且基于所计算的修正宽度来进行修正。
5.如权利要求4所述的成像装置，还包括测量部分，用于测量时间，其中所述控制部分计算由所述测量部分测量的第一时间与第二时间之间的差值作为流逝 的时间，基于所述流逝的时间和所述阻抗改变特性信息来计算所述组件的阻抗值，并且基 于所计算的阻抗值来计算所述过程条件的值的修正宽度。
6.如权利要求1所述的成像装置，其中，所述组件是主转印辊。
7.如权利要求1所述的成像装置，其中，所述过程条件的值之一是转印电压值。
8.一种计算机可读存储介质，用以存储用于使得所述计算机用作控制部分的程序，其 中，所述控制部分用于基于被用于电子照相过程且构成成像装置的组件的阻抗值的环境依 赖特性信息、以及所述成像装置中的环境改变信息，来判断所述电子照相过程中的过程条 件的修正的必要性的存在，所述控制部分基于判断的结果来进行修正。
9.一种由用于通过使用电子照相过程来进行成像的成像装置执行的成像方法，所述方 法包括步骤基于被用于所述电子照相过程且构成所述成像装置的组件的阻抗值的环境依赖特性 信息、以及所述成像装置中的环境改变信息，来判断所述电子照相过程中的过程条件的修 正的必要性的存在；以及基于在判断步骤中获得的判断的结果来进行修正。
10.如权利要求9所述的成像方法，还包括步骤检测所述成像装置中的温度和湿度；计算所述组件的阻抗值变为可比程度时的温度和湿度的比，作为所述环境依赖特性信 息，其中，所述组件在充分长的时间内保持原样；以及计算在第一时间和第二时间在检测步骤中检测的温度的差的绝对值、与在所述第一时 间和所述第二时间在所述检测步骤中检测的湿度之间的差的绝对值之间的比，作为所述环境改变信息。
11.如权利要求10所述的成像方法，其中，所述判断步骤包括计算所述环境依赖特性 信息与所述环境改变信息之间的差值，并且基于所计算的差值，判断所述过程条件的修正 的必要性的存在。
12.如权利要求10所述的成像方法，其中，用于进行修正的步骤包括基于通过使用伴随周围环境的改变的、所述组件的阻抗值的改变的特性作为阻抗改变 特性信息而获得的阻抗改变特性信息，计算所述过程条件的值的修正宽度；以及 基于所计算的修正宽度，进行修正。
13.如权利要求12所述的成像方法，其中，用于计算所述修正宽度的计算步骤包括步骤测量时间计算在测量步骤中测量的第一时间与第二时间之间的差值，作为流逝的时间； 基于所计算的流逝的时间和所述阻抗改变特性信息，计算所述组件的阻抗值；以及 基于所计算的阻抗值，计算所述过程条件的值的修正宽度。
14.如权利要求9所述的成像方法，其中，所述组件是主转印辊。
15.如权利要求9所述的成像方法，其中，所述过程条件的值之一是转印电压值。
全文摘要
一种用于通过使用电子照相过程来进行成像的成像装置，所述成像装置包括控制部分，用于基于被用于所述电子照相过程且构成所述成像装置的组件的阻抗值的环境依赖特性信息、以及自身装置中的环境改变信息，来判断所述电子照相过程中的过程条件的修正的必要性的存在，并且用于基于判断的结果来进行修正。
文档编号G03G15/00GK102004423SQ201010271510
公开日2011年4月6日 申请日期2010年9月2日 优先权日2009年9月2日
发明者西田聪 申请人:柯尼卡美能达商用科技株式会社