专利名称：背光设备和阵列基板检测装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及阵列基板检测技术，尤其涉及一种背光设备和阵列基板检测装置。
背景技术：
薄膜晶体管液晶显示器(ThinFilm Transistor Liquid CrystalDisplay, TFT-LCD)具有体积小、功耗低、无辐射等优点，在当前的平板显示器市场中占据了主导地 位，广泛应用于各种领域，例如液晶电视、高清晰度数字电视、电脑、手机、PDA等。而在液晶 显示器制造过程中，为保证生产的液晶显示器的质量，需要对生产的阵列基板进行检测和 维修。目前，在阵列基板制造过程中，对阵列基板的不良像素点进行检测和维修时，主要 是利用背光设备来检测和确定阵列基板上的不良像素点，并利用激光发生器维修设备对不 良像素点进行维修。图1为现有对阵列基板进行检测和维修的结构示意图。如图1所示， 背光设备10位于待检测和维修的阵列基板30的下方，且背光设备10上方还设置有维修 设备，其中，背光设备10包括马达(图中未示出)和背光灯102，马达可驱动背光灯102沿 轴101在左右方向上移动，并可驱动轴101在前后方向移动，具体地，该背光设备10连接有 背光灯控制器(图中未示出)，用于控制马达带动轴101和背光灯102运动，以使得背光灯 102可移动到设定位置；维修设备包括移动台201，以及设置在移动台201上的激光发生器 202和多个不同放大倍数的光学镜头203，且激光发生器202通过一个线性马达带动，当利 用背光设备10检测到阵列基板30上有不良像素点后，可通过控制线性马达使激光发生器 202移动到指定位置，使得维修人员可通过该光学镜头203观察不良像素点到底为何种不 良，然后利用激光发生器202对相应的不良进行维修。现有对阵列基板上的不良像素点进 行检测和维修的过程如下当阵列基板30上发现有需要待确认的不良像素点时，由控制器控制轴101和背光 灯102运动，使背光灯102移动到需要待确认的不良像素点位置的下方，例如，对于坐标为 (700,500)的不良像素点，需要给背光设备的控制器一个控制命令，由控制器控制马达带动 轴101前后运动至坐标500处，并控制背光灯102沿轴101运动至坐标700处，从而使背光 灯102移动到坐标(700，500)位置；同时，控制与激光发生器202连接的线性马达，也使激 光发生器202运动到坐标(700，500)，此时，为背光灯102通电，背光灯102就会发出光线， 通过从阵列基板30上方进行观察，即可确定该位置像素点是否为不良像素点，若是，则利 用维修设备对该不良像素点进行维修，否则，检测下一个不良像素点。可以看出，通过上述 背光设备可实现对阵列基板上的不良像素点的检测和确认，并可根据检测结果，利用维修 设备对阵列基板上的不良像素点进行维修。但是，现有阵列基板的不良像素点检测过程中，由于移动台上设置有维修像素的 激光发射器，要求控制移动台运动的马达精度高、移动速度快，成本也较高，而为背光设备 的定位要求精度较低，为节约成本，控制背光设备的马达精度低、移动速度慢，因此，控制背光设备运动的马达经常出现移动位置不精确无发准确判断不良，并且其响应速度也较慢， 从而影响对阵列基板进行检测的效率；此外，若控制背光设备的马达的控制器发生故障，会 导致背光设备撞碎玻璃基板而造成损失。
实用新型内容本实用新型提供一种背光设备和阵列基板检测装置，以实现对阵列基板上不良像 素点的检测和确认，背光设备结构简单，实现方便，可有效对阵列基板的不良像素点进行检 测。本实用新型提供一种背光设备，包括背光灯，所述背光灯上设置有用于驱动背光 灯移动的磁力装置。上述的背光设备中，所述背光灯上还可设置有滚轮。本实用新型提供一种阵列基板检测装置，包括移动台和背光设备，其中所述移动台上设置有第一磁力装置；所述背光设备包括背光灯和设置在所述背光灯上的第二磁力装置；所述移动台和背光设备之间设置有透光板，所述背光灯在所述第一磁力装置和第 二磁力装置之间的磁力作用下抵触在所述透光板上。上述的阵列基板检测装置中，所述背光灯上还设置有滚轮，所述背光灯通过所述 滚轮抵触在所述透光板上。上述的阵列基板检测装置中，还可包括检测平台，所述透光板通过支架固设在所 述检测平台上。上述的阵列基板检测装置中，还可包括维修设备，所述维修设备固设在所述移动 台上；所述维修设备包括用于维修不良像素点的激光发生器，以及用于观察不良像素点的 光学放大镜。上述的阵列基板检测装置中，所述第一磁力装置可设置在所述激光发生器上。本实用新型提供的背光设备和阵列基板检测装置，通过在背光灯上设置磁力装 置，在对阵列基板的不良像素点进行检测和确认时，可与设置在移动台上的磁力装置配合， 使得背光灯可在磁力装置之间的磁力作用下，随移动台同步移动，从而在移动台移动到阵 列基板上待确认的不良像素点位置的同时，背光灯也同步移动到该待确认的不良像素点位 置，使得阵列基板上不良像素点的检测具有较高的效率和准确率。本实用新型背光设备结 构简单，实现方便，可有效实现对阵列基板上不良像素点的检测，相对于现有背光设备而 言，其具有较快的响应速度，较高的检测效率，可有效保证对阵列基板上不良像素点的检测 质量。
图1为现有对阵列基板进行检测和维修的结构示意图；图2为本实用新型阵列基板检测装置实施例的结构示意图；图3为本实用新型阵列基板检测装置实施例二的结构示意图。附图标记10-背光设备； 201-移动台；30-阵列基板；[0023] 101-轴；
102-背光灯； 1-移动台；
202-激光发生器；203-光学镜头；2-背光设备；
11-第一磁力装置；
21-背光灯； 4-阵列基板； 7-维修设备；22-第二磁力装置；5-检测平台；72-光学放大镜；
3-透光板； 6-支架； 滚轮。
71-激光发生器；
具体实施方式
为使本实用新型实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本实用新 型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描 述的实施例是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施 例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于 本实用新型保护的范围。图2为本实用新型阵列基板检测装置实施例的结构示意图。如图2所示，本实施 例检测装置包括移动台1和背光设备2，其中，该移动台1上设置有第一磁力装置11 ；背光 设备2包括背光灯21和设置在背光灯21上的第二磁力装置22，且第二磁力装置22与第 一磁力装置11相对设置；此外，移动台1和背光设备2之间还设置有透光板3，使得背光灯 21可在第一磁力装置11和第二磁力装置22之间的磁力作用下抵触在透光板3上。本实施例可应用于对阵列基板的不良像素点的检查和确认中，具体地，可将待检 测的阵列基板4设置在透光板3上，并将移动台1设置在阵列基板4的上方，这样，在对阵列 基板4上的不良像素点进行检测和确认时，可控制移动台1移至与阵列基板4上待确认的 不良像素点位置对应的上方，而移动台1移动过程中，背光设备2上的第二磁力装置22同 时也会在第一磁力装置11的作用下，随移动台1 一起移动，使得背光设备2与移动台1同 步移动，这样，在移动台1移动到待确认的不良像素点位置的上方时，背光设备2也同步移 动到待确认的不良像素点位置的下方，此时即可为背光设备2上的背光灯21通电，利用背 光灯21发出的光线检测和确认阵列基板4上该位置是否存在不良像素点。本领域技术人员可以理解的是，本实施例中所述的第一磁力装置11和第二磁力 装置22相对设置的一端的磁性相异，这样，背光设备2才可会在第一磁力装置11和第二磁 力装置22的吸引力作用下，紧紧抵触在透光板3上，并可在透光板3上滑动，保持与移动台 1的同步移动。本实施例中，为保证移动台1移动的准确性，可通过线性马达带动移动台移动，由 于线性马达具有较好的控制精度，因此，可有效保证移动台移动的准确性和可靠性，当需要 确认不良像素点时，可通过线性马达控制移动台1上的第一磁力装置11移动至待确认像素 点；同时，背光设备2也会在第一磁力装置11和第二磁力装置22之间磁力的作用下，同步 移动到该像素点，以便对该像素点进行确认，是否为不良像素点。本实施例中，所述的第一磁力装置11和第二磁力装置22可为永久性磁石，或者是 电磁铁。具体地，当第一磁力装置11和第二磁力装置22为永久性磁石时，第一磁力装置11 与第二磁力装置22相对的一端极性为S极时，相应的第二磁力装置22的一端极性就为N 极，使得第二磁力装置22和第二磁力装置22相对的一端的极性相异；当第一磁力装置11和第二磁力装置22为电磁铁时，可通过控制电磁铁上线圈的缠绕和电流方向，使第一磁力 装置11和第二磁力装置22相对的一端极性相异，以保证第一磁力装置11和第二磁力装置 22之间可相互吸引，使得背光设备2可在两个具有相互吸引的磁力装置的作用下，与移动 台1保持同步。本实施例中，为保证背光设备2与移动台1同步移动时，背光灯21在透光板3上滑 动的稳定性和快速性，背光灯21上还可设置有滚轮23，使得背光灯21可通过滚轮23抵触 在透光板3上，这样，背光灯21在第一磁力装置11和第二磁力装置22的磁力作用下，与移 动台1同步移动时，可通过滚轮23在透光板3上滑动，可有效减少背光灯21与透光板3之 间的摩擦，背光灯21的滑动速度快速、准确，且可有效避免透光板3因摩擦而损坏的问题， 可有效提高整个检测装置的使用寿命。本实施例检测装置还可包括检测平台5，上述的透光板3可通过支架6固设在检测 平台5上，从而可有效保证背光灯21可在透光板3上稳定地运行，避免透光板3不牢固而 导致背光灯21运行不稳定。综上可以看出，本实施例液晶显示面板检测装置，通过在背光灯上设置第一磁力 装置，在对阵列基板的不良像素点进行检测和确认时，可与设置在移动台上的第二磁力装 置配合，使得背光灯可在两个磁力装置之间的磁力作用下，随移动台同步移动，从而在移动 台移动到阵列基板上待确认的不良像素点位置的同时，背光灯也同步移动到该待确认的不 良像素点位置，使得阵列基板上不良像素点的检测具有较高的效率和准确率。本实施例中 的背光设备结构简单，实现方便，可有效实现对阵列基板上不良像素点的检测，相对于现有 背光设备而言，其具有较快的响应速度，较高的检测效率，可有效保证对阵列基板上不良像 素点的检测质量。图3为本实用新型阵列基板检测装置实施例二的结构示意图。在上述图2所示实 施例技术方案的基础上，如图3所示，该检测装置还可包括维修设备7，固设在移动台1上； 且该维修设备7可包括有激光发生器71和光学放大镜72，其中，激光发生器71用来根据确 定的不良像素点的具体不良原因，利用激光进行维修，而光学放大镜72可包括多个不同倍 数的镜头，用于通过该光学放大镜72可对确认的不良像素点进行观察，以确定像素点的不 良原因，以便于通过激光发生器71对不良进行相应的维修。本实施例中，第一磁力装置11可设置在激光发生器71上，这样，待检测的阵列基 板上有待确认的像素点需要检查和确认时，可通过移动移动台1至待确认的不良像素点， 此时用于维修不良像素点的激光发生器71和用于确认不良像素点的背光设备2均会同时 随移动台1移动到待确认的不良像素点位置的下方，如此可先通过背光设备2发出光后确 认是否为不良像素点，若是，即可利用光学放大镜72和激光发生器71对像素点的不良原因 进行确认并维修，可有效提高整个整列基板不良像素点检查和维修的效率。本实施例中，可通过线性马达控制移动台上的激光发生器71可精准地移动到待 检测的位置，而背光设备2也会在磁力作用下移动到相同位置，从而可利用背光设备2发出 的光线确认是否有不良像素点，并在确认为不良像素点时，利用激光发生器71对不良像素 点进行维修。本实施例通过在移动台上设置维修设备，使得背光设备和维修设备同步移动，这 样，在利用背光设备检测到阵列基板上有不良像素点时，即可通过维修设备进行维修，阵列基板的检测和维修几乎是同步进行，可有效提高阵列基板上不良像素点的维修效率。此外，本实用新型实施例还提供一种背光设备，该背光设备可为上述本实用新型 检测装置实施例中的背光设备，通过在背光灯上设置有用于驱动背光灯移动的磁力装置， 可用于阵列基板的检测中，其具体结构可参考上述实施例的说明，在此不再赘述。本实施例 背光设备可应用于上述的检测装置中，或者也可代替现有阵列基板检测中的背光设备，并 与现有阵列基板的维修设备配合，实现对阵列基板的检查和维修，其具体实现方式可参考 上述检测装置实施例的说明，在此不再赘述。最后应说明的是以上实施例仅用以说明本实用新型的技术方案，而非对其限制； 尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解: 其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等 同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本实用新型各实施例技术 方案的精神和范围。
权利要求1.一种背光设备，其特征在于，包括背光灯，所述背光灯上设置有用于驱动背光灯移 动的磁力装置。
2.根据权利要求1所述的背光设备，其特征在于，所述背光灯上还设置有滚轮。
3.一种阵列基板检测装置，其特征在于，包括移动台和背光设备，其中所述移动台上设置有第一磁力装置；所述背光设备包括背光灯，以及设置在所述背光灯上的第二磁力装置；所述移动台和背光设备之间设置有透光板，所述背光灯在所述第一磁力装置和第二磁 力装置之间的磁力作用下抵触在所述透光板上。
4.根据权利要求3所述的阵列基板检测装置，其特征在于，所述背光灯上还设置有滚 轮，所述背光灯通过所述滚轮抵触在所述透光板上。
5.根据权利要求3所述的阵列基板检测装置，其特征在于，还包括检测平台，所述透光 板通过支架固设在所述检测平台上。
6.根据权利要求3、4或5所述的阵列基板检测装置，其特征在于，还包括维修设备，所 述维修设备固设在所述移动台上；所述维修设备包括用于维修不良像素点的激光发生器，以及用于观察不良像素点的光 学放大镜。
7.根据权利要求6所述的阵列基板检测装置，其特征在于，所述第一磁力装置设置在 所述激光发生器上。
专利摘要本实用新型公开了一种背光设备和阵列基板检测装置。该阵列基板检测装置包括移动台和背光设备，其中所述移动台上设置有第一磁力装置；所述背光设备包括背光灯，以及设置在所述背光灯上的第二磁力装置；所述移动台和背光设备之间设置有透光板，所述背光灯在所述第一磁力装置和第二磁力装置之间的磁力作用下抵触在所述透光板上。本实用新型通过在背光灯上设置磁力装置，可与移动台上的磁力装置配合，使得背光灯可在磁力作用下与移动台同步移动，可有效实现对阵列基板上不良像素点的检测。
文档编号G02F1/13GK201845148SQ201020536158
公开日2011年5月25日 申请日期2010年9月17日 优先权日2010年9月17日
发明者卜云龙, 赵海生 申请人:北京京东方光电科技有限公司