专利名称：一种液晶面板的点灯测试方法
技术领域：
本发明涉及一种液晶模组领域，特别涉及一种液晶面板的点灯测试方法。
背景技术：
TFT (Thin Film Transistor )-薄膜场效应晶体管，是指液晶显示器上的每
一液晶像素点都是由集成在其后的薄膜晶体管来驱动，从而可以做到高速度高亮度高对比度显示屏幕信息，常见的TFT-IXD (薄膜晶体管液晶显示器)是多数液晶显示器的一种。液晶显示面板主要是玻璃基板、偏光板、透明电极、配向膜、液晶薄膜和彩色滤光片(CF— Color Filter)等构成，其需要经过多道程序，一层一层的于玻璃基板上堆栈制造而成的， 且在制造完成之后，其需要加以切割、研磨并加以封装，才能完成液晶显示面板的制造。请参考图1，为TFT液晶面板的基本构架，在两层玻璃(TFT玻璃11和CF玻璃12)之间存在间隙13，TFT玻璃11的内侧设置有TFT配线111，CF玻璃12的内侧设置有CF共通电极121， 并且在间隙13内设置一层液晶131，此层液晶131位于TFT配线111和CF共通电极121之间，两玻璃层的连接周围用框胶14密封胶合。在现有技术中，由于两玻璃层之间间隙可能存在微小金属异物颗粒，此微小金属异物颗粒的直径较小，混在液晶层内，因此，在对液晶面板进行点灯测试时，无法检查出微小金属异物颗粒，即在点灯测试时不能将此类不良面板进行拦截，此后便将此类面板当做良品流至后端进行作业，造成偏光板以及其他模组耗材的大量浪费，同时，也造成了生产时间的大量浪费。
发明内容
本发明的目的在于提供一种液晶面板的点灯测试方法，在点灯测试之前，先对液晶面板进行试压动作，将面板中的微小金属异物颗粒分别与CF共通电极和TFT配线接通， 使得CF共通电极和TFT配线之间发生短路，此种欠陷在点灯测试过程中易发现，以解决现有技术中因无法检查出微小金属异物颗粒而造成偏光板以及其他模组耗材和生产时间的大量浪费的技术问题。为了解决上述问题，本发明提供了一种液晶面板的点灯测试方法，包括以下步骤
Si:对液晶面板进行试压操作，两层玻璃之间的间隙变小，间隙内存在的微小金属异物颗粒分别与CF共通电极和TFT配线接通，CF共通电极和TFT配线之间发生短路；
S2 :对液晶面板进行点灯测试，将发生短路的液晶面板进行检查和拦截。较佳地，步骤SI中的试压操作通过至少一试压滚轮使液晶面板及偏光板贴付在一起，贴付时试压滚轮对液晶面板进行挤压。较佳地，所述试压滚轮设置在偏光板的下方，液晶面板位于偏光板的上方，所述液晶面板设置在一面板基板的下方，所述试压滚轮滚动，对偏光板挤压，所述液晶面板分别受到面板基板和偏光板的施压。
较佳地，所述试压滚轮 设置在偏光板的侧下方。较佳地，所述试压滚轮与面板基板之间的空间可通过外力进行调整。较佳地，所述液晶面板包括CF玻璃和TFT玻璃，CF玻璃和TFT玻璃之间存在间隙， TFT玻璃的内侧设置有TFT配线，CF玻璃的内侧设置有CF共通电极，在此间隙内还设置一层液晶，此层液晶位于TFT配线和CF共通电极之间，微小金属异物颗粒夹杂在液晶层中。与现有技术相比，本发明存在以下技术效果
本发明一种液晶面板的点灯测试方法，在点灯测试之前先对液晶面板进行试压操作， 即对液晶面板进行挤压，将两玻璃层之间的间隙变小，此种方式可使得面板中的微小金属异物颗粒分别与CF共通电极和TFT配线接通，使得CF共通电极和TFT配线之间发生短路， 此种欠陷在点灯测试时可见，可将此处的不良液晶面板进行拦截，以免流到下一站，而造成偏光板以及其他模组耗材的大量浪费。
图I为液晶面板的基本构架示意图2为本发明所涉及的存在微小金属异物颗粒的液晶面板的结构示意图3为本发明液晶面板与偏光板的贴付不意图4为本发明液晶面板与试压滚轮之间的结构示意图5为本发明液晶面板与偏光板贴付时的受:力不意图6为本发明所涉及的微小金属异物颗粒受挤压后的结构示意图。
具体实施例方式本发明提供一种液晶面板的点灯测试方法，此点灯测试方法的目的是检测出液晶面板间隙内存在的微小金属异物。但是，对于夹杂在液晶层中的微小金属异物颗粒很难检测出来，因此，本发明在点灯测试之前，对液晶面板进行试压操作，即将液晶面板中的两玻璃层之间的间隙变小，使得间隙内存在的微小金属异物颗粒分别与CF共通电极和TFT配线接通，使得CF共通电极和TFT配线之间发生短路，形成欠陷，此种欠陷在点灯测试时可见， 可将此处的不良液晶面板进行拦截，以免流到下一站，而造成偏光板以及其他模组耗材的大量浪费。以下结合附图，加以详细说明。一种液晶面板的点灯测试方法，包括以下步骤
51:对液晶面板进行试压操作，两层玻璃之间的间隙变小，间隙内存在的微小金属异物颗粒分别与CF共通电极和TFT配线接通，CF共通电极和TFT配线之间发生短路；
52:对液晶面板进行点灯测试，将发生短路的液晶面板进行检查和拦截。步骤SI中的施压操作通过至少一试压滚轮使液晶面板及偏光板贴付在一起，贴付时试压滚轮对液晶面板进行挤压。试压滚轮设置在偏光板的下方，液晶面板位于偏光板的上方，液晶面板设置在一面板基板的下方，试压滚轮滚动，对偏光板挤压，液晶面板分别受到面板基板和偏光板的施压。在本发明中，面板基板与试压滚轮之间的空间可通过外界装置施加外力Ftl进行调整，本发明不做限制。本发明对试压滚轮的个数不做限制，以下以一个试压滚轮为例加以详细说明，但并不局限于此。请参考图2，在本发明中，液晶面板I包括两层玻璃TFT玻璃11和CF玻璃12，两层玻璃之间存在间隙13，在间隙13内设置一层液晶131，因此，在两玻璃层的连接处周围用框胶14密封胶合。在此间隙13内，在液晶层中，夹杂着微小金属异物颗粒132，由于这些微小金属异物颗粒132的直径很小，在点灯测试时很难检查出来，因此，在点灯测试之前需要，增设一试压步骤，即对液晶面板I进行挤压，将TFT玻璃11和CF玻璃12之间的间隙变小，进而使得液晶面板I中的微小金属异物颗粒132分别与CF共通电极121和TFT配线 111接通，使得CF共通电极121和TFT配线111之间发生短路，形成欠陷，此种欠陷在点灯测试时可见，可将此处的不良液晶面板I进行拦截，以免流到下一站，而造成偏光板以及其他模组耗材的大量浪费，具体操作请参考图3。请参考图3，在本发明中，将液晶面板I设置在一面板基板2下方，液晶面板I的下方设置偏光板3，试压滚轮4设置在偏光板3的下方，并且设置在偏光板3的侧下方，通过试压滚轮4旋转将液晶面板I及偏光板3贴付在一起。请参考图4，面板基板2与试压滚轮4 之间的空间可通过外界装置施加外力Ftl进行调整。请参考图5，贴付时，试压滚轮4将对液晶面板I有挤压的过程，面板基板2对液晶面板I施加一个向下的下压力F1,试压滚轮4对液晶面板I 一个向上的挤压力F2W1= F2。请参考图6，此液晶面板I经偏贴制程时，液晶面板I受到Fp F2挤压，使得液晶面板I的两玻璃层之间的间隙13发生变化，即变小，进而使得微小金属异物颗粒132分别与CF共通电极121和TFT配线111接通，使得CF共通电极 121和TFT配线111之间发生短路，形成欠陷，此种欠陷在点灯测试时可见，因此，液晶面板 I在点灯测试时会被检查出来并进行拦截。
以上公开的仅为本申请的一个具体实施例，但本申请并非局限于此，任何本领域的技术人员能思之的变化，都应落在本申请的保护范围内。
权利要求
1.一种液晶面板的点灯测试方法，其特征在于，包括以下步骤Si:对液晶面板进行试压操作，两层玻璃之间的间隙变小，间隙内存在的微小金属异物颗粒分别与CF共通电极和TFT配线接通，CF共通电极和TFT配线之间发生短路；S2 :对液晶面板进行点灯测试，将发生短路的液晶面板进行检查和拦截。
2.如权利要求I所述的液晶面板的点灯测试方法，其特征在于，步骤SI中的试压操作通过至少一试压滚轮使液晶面板及偏光板贴付在一起，贴付时试压滚轮对液晶面板进行挤压。
3.如权利要求2所述的液晶面板的点灯测试方法，其特征在于，所述试压滚轮设置在偏光板的下方，液晶面板位于偏光板的上方，所述液晶面板设置在一面板基板的下方，所述试压滚轮滚动，对偏光板挤压，所述液晶面板分别受到面板基板和偏光板的施压。
4.如权利要求3所述的液晶面板的点灯测试方法，其特征在于，所述试压滚轮设置在偏光板的侧下方。
5.如权利要求3所述的液晶面板的点灯测试方法，其特征在于，所述试压滚轮与面板基板之间的空间可通过外力进行调整。
6.如权利要求I所述的液晶面板的点灯测试方法，其特征在于，所述液晶面板包括CF 玻璃和TFT玻璃，CF玻璃和TFT玻璃之间存在间隙，TFT玻璃的内侧设置有TFT配线，CF玻璃的内侧设置有CF共通电极，在此间隙内还设置一层液晶，此层液晶位于TFT配线和CF共通电极之间，微小金属异物颗粒夹杂在液晶层中。
全文摘要
本发明涉及一种液晶面板的点灯测试方法，包括以下步骤S1对液晶面板进行试压操作，两层玻璃之间的间隙变小，微小金属异物颗粒分别与CF共通电极和TFT配线接通，CF共通电极和TFT配线之间发生短路；S2对液晶面板进行点灯测试，将发生短路的液晶面板进行检查和拦截。此方法是在点灯测试之前先对液晶面板进行试压操作，即对液晶面板进行挤压，将两玻璃层之间的间隙变小，此种方式可使得面板中的微小金属异物颗粒分别与CF共通电极和TFT配线接通，使得CF共通电极和TFT配线之间发生短路，此种欠陷在点灯测试时可见，可将此处的不良液晶面板进行拦截，以免流到下一站，而造成偏光板以及其他模组耗材的大量浪费。
文档编号G02F1/13GK102636891SQ20121013776
公开日2012年8月15日 申请日期2012年5月7日 优先权日2012年5月7日
发明者吕俊发, 张芬, 杨宣威, 王建峰 申请人:华映视讯(吴江)有限公司